CN108663792A - 一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法 - Google Patents

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张百顺
奚居仁
凌高
管刚
李蕾
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Abstract

本发明公开了一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,包括以下步骤:在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作;将左右物镜设置为相同的放大倍率,使现有数码比较显微镜消除倍率差的工作由人工变为自动,且简化了操作方式,提高了工作效率,利用软件评判,提高了校准精度,精度由步进电机最小步进距离决定,且倍率校正板可以在载物台任意位置放置,且与放置角度无关,简化了初始条件,与此同时,使用一片倍率校正板即可,降低了成本,且排除了原来两块倍率校正板本身精度不够引入的误差。

Description

一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法
技术领域
本发明涉及比较显微镜技术领域,具体为一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法。
背景技术
现有新型数码比较显微镜是通过光学放大,由同一组目镜或显示器同时观察左右两物方视场物体的像,运用视场切割对接、重叠比对等方法对两个物体进行宏观或微观比较。由于光学材料本身差异和加工过程的误差,每对物镜的放大倍率不可能完全一致,当需要左右物镜倍率严格一致时,使用者需进行左右倍率差校准。
现有倍率差校正方法,是将两个倍率校正板分别置于左右载物台台面上,通过目镜观察其分划像,调焦使两分划像同样清晰,移动倍率校正板,使两分划线对应队齐,若左右物镜倍率不一致,视场内的分划线不能全部对齐,这时正向或逆向旋转倍率调节轮,可微调右物镜倍率。这时须重新对该物镜调焦至分划像清晰,并移动倍率校正板重新使分划线对应对齐(图2所示),如此反复几次调节即可使左右物镜倍率基本一致。当更换物镜倍率时,需再次对变换后的物镜倍率进行同样步骤的调校,但现有技术存在的问题主要有以下四个方面:一是手动调整,必须两个倍率校正板摆放位置准确、刻度线平行,且须调整比较棱线,费时费力;二是目视判断,精度不高;三是需要两块倍率校正板,增加了成本;四是两块倍率校正板受制作精度限制,无法完全相同,引入了新的误差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,包括以下步骤:
(1)在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作;
(2)将左右物镜设置为相同的放大倍率;
(3)将倍率校正板放置于左载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像1;
(4)利用成熟的图像处理算法分析图像1,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据A;
(5)然后再将倍率校正板放置于右载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像2;
(6)再利用成熟的图像处理算法分析图像2,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据B;
(7)将数据A与数据B进行比较。
优选的,所述步骤(7)中,数据A与数据B的比较步骤如下:
S1.若A>B,则驱动步进电机正向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等;
S2.若A<B,则驱动步进电机反向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等。
优选的,所述比较显微镜的型号为WBY-18B/18D。
优选的,所述成熟的图像处理算法为Laplacian算子,Canny算子或Prewitt算子。
优选的,所述步进电机的型号为57BYGH350E。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、使现有数码比较显微镜消除倍率差的工作由人工变为自动,且简化了操作方式,提高了工作效率;
2、软件评判,提高了校准精度,精度由步进电机最小步进距离决定;
3、倍率校正板可以在载物台任意位置放置,且与放置角度无关,简化了初始条件;
4、使用一片倍率校正板即可,降低了成本,且排除了原来两块倍率校正板本身精度不够引入的误差。
附图说明
图1为本发明工作流程图;
图2为比较显微镜中左右物镜左右倍率差基本一致时,目镜视场的图像示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
(1)在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作,比较显微镜的型号为WBY-18B/18D,步进电机的型号为57BYGH350E;
(2)将左右物镜设置为相同的放大倍率;
(3)将倍率校正板放置于左载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像1;
(4)利用成熟的图像处理算法分析图像1,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据A,成熟的图像处理算法为Laplacian算子;
(5)然后再将倍率校正板放置于右载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像2;
(6)再利用成熟的图像处理算法分析图像2,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据B;
(7)将数据A与数据B进行比较,比较步骤如下:
S1.若A>B,则驱动步进电机正向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等;
S2.若A<B,则驱动步进电机反向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等。
实施例2
(1)在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作,比较显微镜的型号为WBY-18B/18D,步进电机的型号为57BYGH350E;
(2)将左右物镜设置为相同的放大倍率;
(3)将倍率校正板放置于左载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像1;
(4)利用成熟的图像处理算法分析图像1,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据A,成熟的图像处理算法为Canny算子;
(5)然后再将倍率校正板放置于右载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像2;
(6)再利用成熟的图像处理算法分析图像2,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据B;
(7)将数据A与数据B进行比较,比较步骤如下:
S1.若A>B,则驱动步进电机正向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等;
S2.若A<B,则驱动步进电机反向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等。
实施例3
(1)在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作,比较显微镜的型号为WBY-18B/18D,步进电机的型号为57BYGH350E;
(2)将左右物镜设置为相同的放大倍率;
(3)将倍率校正板放置于左载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像1;
(4)利用成熟的图像处理算法分析图像1,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据A,成熟的图像处理算法为Prewitt算子;
(5)然后再将倍率校正板放置于右载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像2;
(6)再利用成熟的图像处理算法分析图像2,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据B;
(7)将数据A与数据B进行比较,比较步骤如下:
S1.若A>B,则驱动步进电机正向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等;
S2.若A<B,则驱动步进电机反向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等。
按实施例1-3实施后,倍率差自动消除的时间依次为5分钟,9分钟和13分钟,相比于传统的人工调整,采用本发明的方法可以有效的缩短调整的时间,提高工作效率的同时,也简化的操作方式。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)在比较显微镜的右倍率调节手动轮处,加装步进电机,由计算机上的软件控制步进电机工作;
(2)将左右物镜设置为相同的放大倍率;
(3)将倍率校正板放置于左载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像1;
(4)利用成熟的图像处理算法分析图像1,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据A;
(5)然后再将倍率校正板放置于右载物台,对焦后,计算机获取其图像,记作图像2;
(6)再利用成熟的图像处理算法分析图像2,计算+1刻度和-1刻度处两条刻度线之间的距离,得到数据B;
(7)将数据A与数据B进行比较。
2.根据权利要求1所述的一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,其特征在于:所述步骤(7)中,数据A与数据B的比较步骤如下:
S1.若A>B,则驱动步进电机正向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等;
S2.若A<B,则驱动步进电机反向转动一步,然后重复步骤(5)和步骤(6),直到数据A与数据B相等。
3.根据权利要求1所述的一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,其特征在于:所述比较显微镜的型号为WBY-18B/18D。
4.根据权利要求1所述的一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,其特征在于:所述成熟的图像处理算法为Laplacian算子,Canny算子或Prewitt算子。
5.根据权利要求1所述的一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法,其特征在于:所述步进电机的型号为57BYGH350E。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1393719A (zh) * 2001-06-25 2003-01-29 麦克奥迪实业集团有限公司 一种自动校准方法
US20030071191A1 (en) * 2001-09-04 2003-04-17 Arkady Nikitin Simple method of precision calibration of magnification of a scanning microscopes with the use of test diffraction grating
US20050220362A1 (en) * 1999-07-02 2005-10-06 Arkady Nikitin Method of precision calibration of a microscope and the like
CN1825158A (zh) * 2005-02-25 2006-08-30 宝钢集团上海梅山有限公司 一种数码金相显微图像放大倍率的标定方法
CN201035214Y (zh) * 2007-04-20 2008-03-12 芜湖市皖江光电仪器有限公司 比对显微镜微机手动双控机构
CN103885168A (zh) * 2012-12-19 2014-06-25 徕卡显微***(瑞士)股份公司 用于显微镜装置的自校准的方法
CN104406519A (zh) * 2014-11-25 2015-03-11 深圳市计量质量检测研究院 一种放大倍率数字化测量方法和装置
CN205562936U (zh) * 2015-12-30 2016-09-07 芜湖市奥普康光电仪器厂 一种比较显微镜的两组物镜结构

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050220362A1 (en) * 1999-07-02 2005-10-06 Arkady Nikitin Method of precision calibration of a microscope and the like
CN1393719A (zh) * 2001-06-25 2003-01-29 麦克奥迪实业集团有限公司 一种自动校准方法
US20030071191A1 (en) * 2001-09-04 2003-04-17 Arkady Nikitin Simple method of precision calibration of magnification of a scanning microscopes with the use of test diffraction grating
CN1825158A (zh) * 2005-02-25 2006-08-30 宝钢集团上海梅山有限公司 一种数码金相显微图像放大倍率的标定方法
CN201035214Y (zh) * 2007-04-20 2008-03-12 芜湖市皖江光电仪器有限公司 比对显微镜微机手动双控机构
CN103885168A (zh) * 2012-12-19 2014-06-25 徕卡显微***(瑞士)股份公司 用于显微镜装置的自校准的方法
CN104406519A (zh) * 2014-11-25 2015-03-11 深圳市计量质量检测研究院 一种放大倍率数字化测量方法和装置
CN205562936U (zh) * 2015-12-30 2016-09-07 芜湖市奥普康光电仪器厂 一种比较显微镜的两组物镜结构

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