CN108614185B - 一种针座插反测试装置和ict测试仪以及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种针座插反测试装置和ICT测试仪以及其使用方法，待测试的针座的上台阶和下台阶具高度差，针座插反测试装置包括：开关型压件，内部设有间距可调的第一导电件和第二导电件，开关型压件具有抵压在针座的下台阶、第一导电件和第二导电件分离的断开状态，和抵压在针座的上台阶、第一导电件和第二导电件导通的导通状态；测试电路，用于测试开关型压件处于导通状态和断开状态时的第一端和第二端之间的电阻值。通过针座插反测试装置自动监测针座，解决了现有技术中缺乏测试电路板上针座是否插反的测试设备，需要操作员人工对电路板进行逐一排查，其检测效率低、排查准确率差和排查成本高的问题。
Description
技术领域
本发明涉及测试治具技术领域，具体涉及一种针座插反测试装置和ICT测试仪以及其使用方法。
背景技术
随着电子技术的不断发展，电子产品正不断丰富着我们的生活，而电路板作为其中最重要的部分，电路板上的电子元器件能否正确安装直接影响电子设备质量。针座作为电路板上的常见电器元件，在插接到电路板表面时容易将针座的台阶方向插反造成插针位置发生偏移，如果出现插反的问题，会影响同类印制板的一致性从而使插排和针座无法通过自动化设备插接，甚至还会改变电路板上电子元件的排布方式导致电路板无法使用的问题。
现有技术中缺乏测试电路板上针座是否插反的测试设备，如果需要检测针座是否正确安装只能通过操作员人工对电路板进行逐一排查，检测效率极低严重影响电路板的生产效率，并且人工排查的方式也无法保证排查准确率仍旧存在大量针座插反的不合格产品。
发明内容
因此，本发明所要解决的技术问题在于现有技术中缺乏检测针座是否插反的针座插反测试装置，只能依靠人工排查针座插导致其检测准确率低、检测效率差和检测成本高的问题。为此，本发明提供一种针座插反测试装置，待测试的针座的上台阶和下台阶具有一定的高度差，上台阶高于下台阶，用于与插排相连的插针位于下台阶上。
所述针座插反测试装置包括
开关型压件，内部设有间距可调的第一导电件和第二导电件，所述开关型压件具有抵压在所述针座的下台阶、所述第一导电件和第二导电件分离的断开状态，和抵压在所述针座的上台阶、所述第一导电件和第二导电件导通的导通状态；
测试电路，第一端电连接所述第一导电件，第二端电连接所述第二导电件，用于测试所述开关型压件处于所述导通状态和所述断开状态时的所述第一端和所述第二端之间的电阻值。
所述开关型压件还包括向所述第一导电件和/或第二导电件施加使其二者分离的偏压力的偏压件，所述开关型压件抵压所述上台阶通过克服所述偏压力使所述第一导电件和所述第二导电件导通。
所述偏压件为弹簧，所述弹簧的两端分别与所述第一导电件和所述第二导电件相连。
所述开关型压件处于所述导通状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值趋近于0。
所述第一导电件和所述第二导电件为金属导体。
所述开关型压件还包括套设在所述第一导电件和所述第二导电件外侧的保护套。
所述开关型压件具有外露设置且分别与所述第一导电件和所述第二导电件连接的第一电连接端和第二电连接端，所述第一端连接在所述第一电连接端上，所述第二端连接在所述第二电连接端上。
所述测试电路包括：电阻表，所述电阻表上设有与所述第一端和所述第二端二者其一相连的正极导线，以及与所述第一端和所述第二端二者另一相连的负极导线。
一种ICT测试仪，包括上述针座插反测试装置，所述针座插反测试装置集成在所述ICT测试仪的天板上。
所述的针座插反测试装置的测试方法，包括如下步骤：
使开关型压件向下移动预设距离抵压在待检测的针座上；
若测试电路测得的开关型压件的电阻值为趋近于零的定值，则针座插反；
若测试电路测得的开关型压件的电阻值为无穷大，则针座安装正确。
本发明的技术方案，具有如下优点：
1.本发明提供的针座插反测试装置，通过与测试电路相配合的开关型压件可以测量具有上下台阶高度差的针座是否插反，在开关型压件内部设有间距可调的第一导电件和第二导电件，当开关型压件朝向电路板上预设的针座的下台阶位置移动设置好的固定高度过程中，如果针座插反开关型压件则会抵压在针座上台阶上，上台阶会阻挡开关型压件继续下移从而使位于上部的第一导电件与第二导电件相连通，此时测试电路测得的电阻值为第一导电件和第二导电件上的第一端和第二端之间趋近于零的定值电阻值；如果针座安装正确开关型压件则会安装预设的计划抵压在针座下台阶上，开关型压件预设的下降高度足够第一导电件和第二导电件不会相互靠近接触相连，此时因为第一导电件和第二导电件之间具有间隙，空气在没被电离时候电阻非常大所以测试电路测得的电阻值为无穷大。通过上述针座插反测试装置可以自动化检测电路板上的针座是否安装正确，通过观察阻值变化即可判断针座是否插反还具有检测效率快的优点，避免了现有技术中只能依靠人工排查针座插导致其检测准确率低、检测效率差和检测成本高的问题。
2.本发明提供的针座插反测试装置，通过设置偏压件，偏压件向第一导电件和第二导电件施加使它们相互分离的偏压力，从而保证第一导电件和第二导电件不会因为意外因素相连从而使测试电路测得的结果发生错误，当第二导电件抵接在上台阶时驱动开关型压件朝向预定针座下台阶位置移动的驱动力驱动第一导电件克服偏压件带来的偏压力与第二导电件相连从而使测试电路测得第一导电件和第二导电件其二者趋近于零的定值电阻值。
3.本发明提供的针座插反测试装置，采用弹簧作为偏压件，具有采购方便，生产维护成本低的优点。
4.本发明提供的针座插反测试装置，通过在第一导电件和第二导电件外侧设置保护套用于防止其它零部件触碰第一导电件和/或第二导电件影响测试电路测得电阻的准确性，从而影响针座插反测试装置的测量结果。
5.本发明提供的针座插反测试装置，通过将第一导电件和第二导电件设置为金属导体，使开关型压件处于导通状态时测试电路测得的电阻值趋近于0，从而避免因为测试电路电阻量程设置的问题，在小电阻量程时测得的第一导电件和第二导电件电阻大于电阻表的最大值造成电阻为无穷大的假象，使针座插反测试装置无法准确的判断针座是否插反。
6.本发明提供的针座插反测试装置，测试电路包括电阻表，通过电阻表可以简单有效的测量第一导电件和第二导电件的第一端与第二端之间的阻值。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的针座插反时针座插反测试装置的结构示意图；
图2为本发明提供的针座安装正确时针座插反测试装置的结构示意图；
图3为本发明提供的开关型压件的结构示意图；
附图标记说明：
1-针座；2-上台阶；3-下台阶；4-开关型压件；5-第一导电件；6-第二导电件；7-测试电路；8-偏压件；9-保护套；10-第一电连接端；11-第二电连接端；12-电阻表；13-正极导线；14-负极导线；15-外保护套。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
实施例1
本实施例提供一种ICT测试仪，ICT测试仪的天板上设置有如图1和图2所示的针座插反测试装置，针座插反测试装置用于测量放置在载板上的电路板上的针座是否发生插反的问题，应用于电路板上的针座1大多数具有高度较高的上台阶2以及高度较低的下台阶3，用于与插排相连的插针位于下台阶3上。
如图1至图3所示，所述针座插反测试装置包括：
设置在所述ICT测试仪的天板上受天板驱动朝向载板移动的开关型压件4，所述开关型压件4包括金属材质电阻趋近于零的第一导电件5和第二导电件6，圆柱形结构的所述第一导电件5和所述第二导电件6通过弹簧向其二者施加它们分离的偏压力从而使第一导电件5和第二导电件6之间的间隙可调。所述开关型压件4具有抵压在所述针座1的下台阶3、所述第一导电件5和所述第二导电件6受所述弹簧的偏压力作用使它们分离的断开状态；和第二导电件6抵压在所述针座1的上台阶2，第一导电件5受天板的驱动继续下降从而使第一导电件5和第二导电件6相连导通的导通状态；所述开关型压件4具有外露设置且分别与所述第一导电件5和所述第二导电件6连接的第一电连接端10和第二电连接端11；其中，图3所示，圆柱形结构的所述第一导电件5和所述第二导电件6其二者相互远离的一侧上套置有保护套9，所述弹簧套置在所述柱状体外侧并且弹簧的两端分别与套置在所述第一导电件5和所述第二导电件6上的保护套9端部固定相连；
测试电路7，包括：电阻表12，电阻表12用于测试所述开关型压件4处于所述导通状态和所述断开状态时第一导电件5上的第一端和第二导电件6上的第二端之间的电阻值，所述电阻表12上设有具有与第一端相连的正极导线13，以及与第二端相连的负极导线14。当开关型压件朝向电路板上预设的针座的下台阶位置移动设置好的固定高度过程中，如果针座插反开关型压件则会抵压在针座上台阶上，上台阶会阻挡开关型压件继续下移从而使位于上部的第一导电件与第二导电件相连通，此时测试电路测得的电阻值为第一导电件和第二导电件上的第一端和第二端之间趋近于零的定值电阻值；如果针座安装正确开关型压件则会安装预设的计划抵压在针座下台阶上，开关型压件预设的下降高度足够第一导电件和第二导电件不会相互靠近接触相连，此时因为第一导电件和第二导电件之间具有间隙，空气在没被电离时候电阻非常大所以测试电路测得的电阻值为无穷大。通过上述针座插反测试装置可以自动化检测电路板上的针座是否安装正确，通过观察阻值变化即可判断针座是否插反还具有检测效率快的优点，避免了现有技术中只能依靠人工排查针座插导致其检测准确率低、检测效率差和检测成本高的问题。
本实施例中设置在ICT测试仪上的针座插反测试装置的测试方法如下：
使开关型压件4向下移动预设距离抵压在待检测的针座1上；
若测试电路7测得的开关型压件4的电阻值为趋近于零的定值，则针座插反；
若测试电路7测得的开关型压件4的电阻值为无穷大，则针座安装正确。
实施例2
本实施例与实施例1的区别在于，如图3所示，套置在所述第二导电件6上的保护套9，所述保护套9朝向针座1的一侧为避开位于针座1的上台阶2上的插针的尖头结构。将第二导电件6上的保护套9设置为尖头可以有效的防止针座插反测试装置在使用过程中保护套9与插针相接触损伤插针的问题。
实施例3
本实施例与实施例1的区别在于，所述第一导电件5和所述第二导电件6其二者相互远离的一侧上套置有保护套9，分别设置在所述第一导电件5和所述第二导电件6上的两个保护套9之间还设置有用于罩住所述第一导电件5和所述第二导电件6连接部分的外保护套15。外保护套15用于防止其它零部件触碰第一导电件和第二导电件的连接位置影响测试电路测得电阻的准确性，从而影响针座插反测试装置的测量结果。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
Claims (8)
1.一种针座插反测试方法，其特征在于，待测试的针座（1）的上台阶（2）和下台阶（3）具有一定的高度差，所述针座插反测试方法适用于针座插反测试装置，所述针座插反测试装置包括
开关型压件（4），内部设有间距可调的第一导电件（5）和第二导电件（6），所述开关型压件（4）具有抵压在所述针座（1）的下台阶（3）、所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）分离的断开状态，和抵压在所述针座（1）的上台阶（2）、所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）导通的导通状态；
测试电路（7），第一端电连接所述第一导电件（5），第二端电连接所述第二导电件（6），用于测试所述开关型压件（4）处于所述导通状态和所述断开状态时的所述第一端和所述第二端之间的电阻值，
所述开关型压件（4）还包括向所述第一导电件（5）和/或第二导电件（6）施加使其二者分离的偏压力的偏压件（8），所述开关型压件抵压所述上台阶（2）通过克服所述偏压力使所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）导通，
该测试方法，包括如下步骤：
使开关型压件（4）向下移动预设距离抵压在待检测的针座（1）上；
若测试电路（7）测得的开关型压件（4）的电阻值为趋近于零的定值，则针座插反；
若测试电路（7）测得的开关型压件（4）的电阻值为无穷大，则针座安装正确。
2.根据权利要求1所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述偏压件（8）为弹簧，所述弹簧的两端分别与所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）相连。
3.根据权利要求1或2所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述开关型压件（4）处于所述导通状态时所述第一端和所述第二端之间的电阻值趋近于0。
4.根据权利要求3所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）为金属导体。
5.根据权利要求1或2所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述开关型压件（4）还包括套设在所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）外侧的保护套（9）。
6.根据权利要求1或2所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述开关型压件（4）具有外露设置且分别与所述第一导电件（5）和所述第二导电件（6）连接的第一电连接端（10）和第二电连接端（11），所述第一端连接在所述第一电连接端（10）上，所述第二端连接在所述第二电连接端（11）上。
7.根据权利要求1或2所述的针座插反测试方法，其特征在于，所述测试电路（7）包括：电阻表（12），所述电阻表（12）上设有与所述第一端和所述第二端二者其一相连的正极导线（13），以及与所述第一端和所述第二端二者另一相连的负极导线（14）。
8.一种ICT测试仪，其特征在于：包括针座插反测试装置，所述针座插反测试装置用于实施权利要求1-7中任一项所述的针座插反测试方法，所述针座插反测试装置集成在所述ICT测试仪的天板和/或地板上。
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