CN108490656A - 液晶显示器图像检测方法和装置 - Google Patents
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Abstract
一种液晶显示器图像检测方法和装置。包括获取第一图像并进行校正。从校正后的第一图像中获取第二图像。初步获取第二图像的缺陷像素的坐标。对第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，包括对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，Y行像素包括该N列像素，N列像素包括该Y行像素。本申请通过投影的方式确定实际缺陷像素坐标，避免由于相机位置不正、镜头畸变、拍照时候有漏光等情况造成确定的实际确定像素坐标不准确。
Description
技术领域
本申请涉及自动检测技术领域，尤其涉及一种液晶显示器图像检测方法和装置。
背景技术
液晶屏幕作为显示设备应用在日常生活的方方面面。液晶屏幕在生产完成后需要进行检测，以确保产品的质量。在对液晶屏检测过程中，包括通过相机对液晶屏幕进行拍照、分析，确定液晶屏幕内部是否存在缺陷，若灰尘、异物或其他缺陷等。
目前，液晶显示器包括采用点灯检测软件进行检测。液晶显示器(LCD,LiquidCrystal Display)点灯检测软件在检测缺陷时，大致步骤包括预处理、特征提取、检测出缺陷并给出具体坐标位置。此时给出的具体坐标位置是按照液晶单元数目排列的坐标。现在需要在原始图里精确计算出子像素的位置，即R,G,B的位置，以协助激光对缺陷位置液晶单元的修复。
但是，现在需要在原始图里精确计算出子像素的位置，即R,G,B的位置，甚至，可以通过激光对缺陷进行修复。而精确计算出子像素的位置会面临相机位姿不正、镜头畸变、图像上有缺陷、拍照时候有漏光等干扰。使确定出的具体故障的像素与实际故障的像素不同，导致定位的故障像素不正确。
发明内容
为解决上述技术问题，本申请具体实施例提供一种液晶显示器图像检测方法和装置，从而使图像检测过程中对检测出的缺陷能够定位到每个像素点。
本申请实施例是这样实现的：
第一方面，本申请具体实施例提供一种液晶显示器图像检测方法，所述方法包括：
图像检测装置获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域；
图像检测装置对获取的所述第一图像进行校正；
图像检测装置从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像；
图像检测装置初步获取所述第二图像缺陷像素的坐标；
图像检测装置对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
在一个可能的设计中，所述方法还包括：
图像检测装置确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
在一个可能的设计中，所述方法还包括：
图像检测装置确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量；
图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理。
在一个可能的设计中，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
图像检测装置确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数；
图像检测装置确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定；
图像检测装置确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数；
图像检测装置重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
在一个可能的设计中，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
对初步的缺陷像素的坐标进行偏移；
在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
第二方面，本申请具体实施例提供一种液晶显示器图像检测装置，包括：
获取单元，用于获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域；
处理单元，用于对获取的所述第一图像进行校正；
处理单元，还用于从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像；
处理单元，还用于初步获取所述第二图像的缺陷像素的坐标；
处理单元，还用于对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
在一个可能的设计中，包括：
处理单元，还用于确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
在一个可能的设计中，包括：
处理单元，还用于确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量；
处理单元，还用于对被测图像进行抗干扰处理。
在一个可能的设计中，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
处理单元，还用于确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数；
处理单元，还用于确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定；
处理单元，还用于确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数；
处理单元，还用于重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
在一个可能的设计中，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
处理单元，还用于对初步的缺陷像素的坐标进行偏移；
处理单元，还用于在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
本申请具体实施例提供一种液晶显示器图像检测方法和装置。包括，对拍摄的包括液晶显示器图像的第一图像进行校正，从校正的第一图像中确定仅包括被测液晶屏幕的第二图像。从而第二图像中初步确定缺陷像素的坐标。再根据初步确定的缺陷像素的坐标，通过投影的方式确定实际缺陷像素坐标。从而避免由于相机位位置不正、镜头畸变、相机拍摄的第一图像上有缺陷、拍照时候有漏光等情况造成确定的实际确定像素坐标不准确。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1为本申请具体实施例提供的一种液晶显示器图像检测方法；
图2为本申请具体实施例提供的一种第二图像；
图3为本申请具体实施例提供的一种液晶显示器图像检测装置；
图4为本申请实施例提供的一种液晶显示器图像检测设备示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。
图1为本申请具体实施例提供的一种液晶显示器图像检测方法。如图1所示，所示方法包括：
S101、图像检测装置获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域。
在通过图像检测装置对液晶显示器进行图像检测前，包括通过图像采集设备采集包括液晶显示器的第一图像。当然，图像采集设备采集的第一图像可能还包括被测液晶显示器之外的其他部分。在对所述被测液晶显示器通过图像采集设备采集第一图像时，该被测液晶显示器被点亮。所述图像采集设备采集的第一图像为原始图像，在一个例子中，第一图像可以是29M，60M或更高分辨率。
S102、图像检测装置对获取的所述第一图像进行校正。
图像检测装置对第一图像进行仿射变换(affine transformation)，校正原始图像。
S103、图像检测装置从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像。
从校正的图像中抠出点亮发光区域，所述点亮区域为第一图像中被测液晶显示器形成的图像。在一个例子中，从校正的第一图像中抠出点亮发光区域(第二图像)可以通过直线拟合的方式确定。
S104、图像检测装置初步获取第二图像的缺陷像素的坐标。
图像检测装置对第二图像进行快速建模优化，大小为屏真实的分辨率。先对图像进行分析的方式获得初步的缺陷像素的坐标X和Y。在本申请的具体实施例中，所述图像分析的方式不进行限定。
可选的，所述图像检测装置还对初步的缺陷像素的坐标进行灰尘过滤，从而避免错误检测。所述灰尘检测的方式与现有技术中灰尘检测的方式相同本申请对此不进行赘述。
S105、图像检测装置对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标。
根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
下面通过一个具体的例子对本申请具体实施例中通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标进行具体说明。图2为本申请具体实施例提供的一种第二图像。如图2所示，包括A-U行像素，没行像素包括26个像素。
在确定该第二图像中实际缺陷的像素的坐标时，例如，M16为初步确定的缺陷坐标。假设对第二图像进行投影的为21行和17列。
对行进行投影：
A6至U6求平均，得到α6；A7至U7求平均，得到α7；……；A26至U26求平均，得到α26。
通过对第二图像的行投影，最终得到一行(21个)数据，α6至α26。
对列进行投影：
对E1至E26求平均，得到βE，对F1至F26求平均，得到βF；……；对U1至U26求平均，得到βU；
通过对第二图像的行投影，最终得到一列(18个)数据，βE至βU。
于是：
假设，α13、α18、βk和βN均为波峰，由于βN为与初步确定的缺陷点最接近的波峰，因此，确定βN为实际缺陷的像素。
可选的，所述方法还包括确定βN所在的液晶单元的行数和列数。因为每个液晶单元都包括最亮点，因此，本申请可以通过投影结构中的局部最大值确定液晶单元的行数和列数。例如，确定投影的βE至βU和α6至α26中包括的局部最大值确定第二图像中包括的液晶单元；确定βE至βL和α6至α15确定βN所在的液晶单元的行数和列数。
可选的，图像检测装置还需要确定第二图像中包括的液晶单元的总数与被测液晶显示器的液晶单元的总数是否相同。当第二图像中包括的液晶单元的总数与被测液晶显示器的液晶单元的总数相同时，确定上述缺陷像素坐标X1和Y1为实际存在缺陷的像素的坐标。当第二图像中包括的液晶单元的总数与被测液晶显示器的液晶单元的总数不相同时，对被测图像进行抗干扰处理。例如，图像检测装置确定第二图像像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量。
在本申请具体实施例中，所述对被测图像进行抗干扰处理包括对第二图像进行动态分割或对初步的缺陷坐标进行偏移。
下面，通过具体实施例对动态分割进行具体说明。
由于第二图像中包括的被测液晶显示器不完成，所述动态分割是从第一图像中增加一定的像素到第二图像中，使第二图像中包括的被测液晶显示器完整。具体的，包括确定第二图像中包括的像素和第一图像中包括的像素，并确定第二图像边缘的像素在第一像素中的位置。确定所述第一图像中与所述第二图像边缘的像素相邻的像素。第一图像中与第二图像重叠的像素之外，获取第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素；
确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值通过均值、方差求得。同时，还分别对X行和/或列中的每行或没列像素的灰度值通过均值、方差求得。
从而将X行和/或列的动态阈值与X行和/或列中的每行或每列的动态阈值进行比较。当X行和/或列的动态阈值小于X行和/或列中的每行或每列的动态阈值时，丢弃该行或列。当X行和/或列的动态阈值大于X行和/或列中的每行或每列的动态阈值时，保留该行或列。
重新从第一图像中确定第二图像，重新确定的第二图像包括保留的行或列。下面，通过具体实施例对初步的缺陷坐标进行偏移作出具体说明。
具体的，当初步确定的缺陷像素坐标及周围存在油污时，需要对初步的缺陷像素的坐标进行偏移。在一个例子中，所述对初步的缺陷像素的坐标进行偏移是将初步确定的缺陷像素坐标(M16)，变为与该像素不同位置的坐标，例如G10、F15或P22中的任意一种。当然，也可以将该初步确定的缺陷像素坐标偏移到其他任意像素。在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。通过投影方法确定实际缺陷像素坐标具体可以如S105所述。
在本申请的具体实施例中，所述图像检测装置可以同时判断是否需要进行动态分割和/或偏移。例如，图像检测装置检测第二图像中包括的液晶单元的数量是否与被测显示器实际的液晶单元的数量相同。当第二图像中包括的液晶单元的数量小于被测液晶显示器实际的液晶单元的数量时，首先通过动态分割的方式重新对第二图像进行动态分割。其中，对第二图像重新进行动态分割可以根据缺少的液晶单元的行数和/或列数确定重新对行和/或列进行分割。
重新对第二图像分割后，再次对第二图像中包括的液晶单元的数量是否与被测显示器实际的液晶单元的数量相同进行对比。当第二图像中包括的液晶单元的数量仍然少于被测显示器实际的液晶单元的数量时，可以对初步确定的缺陷像素的坐标进行偏移。通过偏移后的初步确定的缺陷像素的坐标进行投影，从而再次对第二图像中包括的液晶单元的数量是否与被测显示器实际的液晶单元的数量相同进行对比。当第二图像中包括的液晶单元的数量任然少于被测显示器实际的液晶单元的数量时，进行报警。当第二图像中包括的液晶单元的数量与被测显示器实际的液晶单元的数量相同时，确定按照上述确定的值输出图像检测结果。
图3为本申请具体实施例提供的一种液晶显示器图像检测装置，如图3所示，所示液晶显示器图像检测装置包括获取单元301和处理单元302。
所述获取单元301，用于获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域。
所述处理单元302，用于对获取的所述第一图像进行校正；从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像。所述处理单元302，还用于初步获取所述第二图像的缺陷像素的坐标。处理单元302对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
可选的，所述处理单元302，还用于确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
可选的，所述处理单元302，还用于确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量；处理单元302，还用于对被测图像进行抗干扰处理。
可选的，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括，所述处理单元302，还用于确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数。处理单元302，还用于确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定。处理单元302，还用于确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数。处理单元302，还用于重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
可选的，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括，所述处理单元302，还用于对初步的缺陷像素的坐标进行偏移。处理单元302，还用于在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
图4为本申请实施例提供的一种液晶显示器图像检测设备示意图。
如图4所示，该程序集中存储设备包括：处理器401、存储器402、通信接口403。
处理器401可以采用通用的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，微处理器，应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，或者一个或多个集成电路，用于执行相关程序，以实现前述本发明方法实施例所提供的技术方案。
存储器402可以是只读存储器(Read Only Memory，ROM)，静态存储设备，动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)。存储器402可以存储应用程序。在通过软件或者固件来实现本发明实施例提供的技术方案时，用于实现本发明前述方法实施例提供的任一可选技术方案的程序代码保存在存储器402中，并由处理器401来执行。
通信接口403与其他设备通信。
具体的，通信接口403获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域。处理器401对获取的所述第一图像进行校正。处理器401从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像。处理器401初步获取所述第二图像的缺陷像素的坐标。处理器401对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
所述处理器401确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
所述处理器，确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量。所述处理器401，还对被测图像进行抗干扰处理。
所述处理器401对被测图像进行抗干扰处理包括：确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数。确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定。确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数。重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
所述处理器401对被测图像进行抗干扰处理包括：对初步的缺陷像素的坐标进行偏移，在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
本申请具体实施例提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序包括指令，所述指令当被包括多个应用程序的电子设备执行时，使得所示电子设备执行图1-图2所示的方法流程。
本申请的具体实施例中还提出了一种计算机程序产品，该计算机程序产品可用于接入网设备运行。当该计算机程序产品在接入网设备上运行时，使得接入网设备执行如图4所示的方法。
需要说明的是，本申请提供实施例只是本申请所介绍的可选实施例，本领域技术人员在此基础上，完全可以设计出更多的实施例，因此不在此处赘述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的***、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或40组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种液晶显示器图像检测方法，其特征在于，所述方法包括：
图像检测装置获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域；
图像检测装置对获取的所述第一图像进行校正；
图像检测装置从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像；
图像检测装置初步获取所述第二图像中缺陷像素的坐标；
图像检测装置对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
图像检测装置确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
图像检测装置确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量；
图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
图像检测装置确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数；
图像检测装置确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定；
图像检测装置确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数；
图像检测装置重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
对初步的缺陷像素的坐标进行偏移；
在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
6.一种液晶显示器图像检测装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取被检测液晶显示器的第一图像，所述第一图像包括被测液晶显示器的图像和周边区域；
处理单元，用于对获取的所述第一图像进行校正；
处理单元，还用于从校正后的第一图像中获取第二图像，所述第二图像仅包括液晶显示器的图像；
处理单元，还用于初步获得所述第二图像中缺陷像素的坐标；
处理单元，还用于对所述第二图像根据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标，据初步的缺陷像素的坐标通过投影的方法确定实际缺陷像素坐标包括：对Y行像素中的每行和N列像素中的每列求灰度值的平均值，确定N加Y个灰度值中与初步的缺陷像素的坐标相邻的局部最大值所在像素为实际缺陷像素坐标，所述Y行、N列像素包括初步的缺陷像素，所述Y行像素包括该N列像素，所述N列像素包括该Y行像素。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，包括：
处理单元，还用于确定所述实际缺陷像素所在的液晶单元的坐标，所述液晶单元的坐标根据所述N加Y个灰度值中局部最大值的数量确定。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，包括：
处理单元，还用于确定第二图像中像素的行和/或列的数量小于被测液晶显示器像素的行和/或列的数量；
处理单元，还用于对被测图像进行抗干扰处理。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
处理单元，还用于确定所述第一图像与所述第二图像重叠的像素之外，所述第一图像上下和/或左右X行和/或列的像素,X为大于等于1的正整数；
处理单元，还用于确定所述X行和/或列的像素的动态阈值，所述X行和/或列的像素的动态阈值根据的X行和/或列中的每个像素的灰度值确定；
处理单元，还用于确定所述X行和/或列的动态阈值小于所述X行和/或列中的Z行和/或列像素的动态阈值，Z为大于等于1的正整数；
处理单元，还用于重新确定第二图像，所述重新确定的第二图像包括该Z行和/或列的像素。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述图像检测装置对被测图像进行抗干扰处理包括：
处理单元，还用于对初步的缺陷像素的坐标进行偏移；
处理单元，还用于在偏移后的初步的缺陷像素的坐标的基础上，通过投影方法确定实际缺陷像素坐标。
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