CN108445301A - 一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置和方法,该方法用高精度直流电压源通过充电电阻给金属化膜电容器充电至设定电压,然后断开电源,电容器通过放电电阻放电;测量电容器的电容量和电压计算电容器中储存的能量,采集电容器的放电电流,并对放电电流的平方和电阻的乘积进行积分,得到电容器释放的能量,电容器释放的能量除以电容器中储存的能量即可得到电容器的放电效率。本发明还提供实现上述方法的装置:主要包括高精度直流电压源、充电电阻、恒温恒湿箱、放电电阻、电压表、继电器和静电计。本发明试验装置简单、测量方法便捷、可操作性强,对样品尺寸要求低。
Description
技术领域
本发明属于电容器储能测试领域,更具体地,涉及一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置和方法。
背景技术
作为储能电源,金属化膜电容器在脉冲功率***中起着重要的作用。金属化膜电容器大多数用聚合物薄膜作为储能介质,一方面,在高场强下,聚合物薄膜的电导损耗较大;另一方面,聚合物薄膜会在电场作用下产生极化过程,慢极化过程会消耗能量。因此,电容器中储存的能量不能完全提供给负载,影响了电容器的效率。
目前,在电容器放电效率的测量中,通常用Sawyer-Tower电路测量聚合物薄膜的电滞回线来计算储能介质的放电效率。但是,这种方法只能测量储能介质的放电效率,不能反映电容器元件的放电效率。另外,这种方法计算的是储能介质在固定频率下的放电效率,不能反映电容器在实际工作条件下(慢速充电,快速放电)的放电效率。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置和方法,由此解决现有电容器放电效率测量中存在的不能根据实际工作条件测量电容器元件放电效率的技术问题。
为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置,包括:高精度直流电压源1、第一继电器2、充电电阻3、恒温恒湿箱4、放电电阻6、静电计7、第二继电器8和电压表9;
所述恒温恒湿箱4包括第一接线端5和第二接线端5',用于分别与待测金属化膜电容器的正负极电连接,所述第一接线端5与所述充电电阻3、所述放电电阻6以及所述第二继电器8的第一端电连接,所述第二接线端5'与所述静电计7、所述电压表9以及所述高精度直流电压源1的第一端电连接,并接地;
所述高精度直流电压源1的第二端与所述第一继电器2的第一端电连接,所述第一继电器2的第二端与所述充电电阻3的第二端电连接,所述放电电阻6的第二端与所述静电计7的第二端电连接,所述第二继电器8的第二端与所述电压表9的第二端电连接。
优选地,所述静电计7的数据输出端用于与外部终端设备相连,以由所述外部终端设备记录所述静电计7的读数。
按照本发明的另一方面,提供了一种基于上述任意一项所述的高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置的高场强下金属化膜电容器放电效率测量方法,包括:
将待测金属化膜电容器放置在所述恒温恒湿箱4中,并将所述恒温恒湿箱4的温度设置为20℃-120℃,湿度设置为20%至40%,然后将所述待测金属化膜电容器在所述恒温恒湿箱4中保持2小时以上;
将放置在所述恒温恒湿箱4中的所述待测金属化膜电容器的正负极分别与所述恒温恒湿箱4的接线端电连接;
闭合所述第一继电器2和所述第二继电器8,由所述高精度直流电压源1通过所述充电电阻3给所述待测金属化膜电容器充电,并由所述电压表9实时监测所述待测金属化膜电容器两端的电压;
在所述待测金属化膜电容器两端的电压达到预设电压时,获取所述待测金属化膜电容器中储存的能量,并断开所述第一继电器2和所述第二继电器8,以使所述待测金属化膜电容器通过所述放电电阻6放电,并由所述静电计7对所述待测金属化膜电容器的放电电流进行测量;
在放电结束后,由测量到的所述待测金属化膜电容器的放电电流以及所述放电电阻6的阻值得到所述待测金属化膜电容器释放的能量,进而由所述待测金属化膜电容器释放的能量以及所述待测金属化膜电容器中储存的能量得到所述待测金属化膜电容器的放电效率。
优选地,所述预设电压为所述高精度直流电压源1的输出电压,所述待测金属化膜电容器中储存的能量为W=CU2/2,其中,C为所述待测金属化膜电容器的电容量,U为所述待测金属化膜电容器两端的电压。
优选地,所述待测金属化膜电容器释放的能量为:其中,id为所述待测金属化膜电容器的放电电流,R为所述放电电阻6的阻值,td为从放电开始至放电结束所持续的时间。
优选地,所述待测金属化膜电容器的放电效率为:η=Weff/W。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明可以计算电容器元件在实际工作条件下的放电效率;
(2)本发明试验装置可以测量的温度范围和场强范围更宽;
(3)本发明试验装置简单、测量方法便捷、可操作性强,对电容器尺寸要求低。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置的示意图;
图2是本发明实施例提供的一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示为本发明实施例提供的一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置的示意图,包括:高精度直流电压源1、第一继电器2、充电电阻3、恒温恒湿箱4、放电电阻6、静电计7、第二继电器8和电压表9;
恒温恒湿箱4包括第一接线端5和第二接线端5',用于分别与待测金属化膜电容器的正负极电连接,第一接线端5与充电电阻3、放电电阻6以及第二继电器8的第一端电连接,第二接线端5'与静电计7、电压表9以及高精度直流电压源1的第一端电连接,并接地;
高精度直流电压源1的第二端与第一继电器2的第一端电连接,第一继电器2的第二端与充电电阻3的第二端电连接,放电电阻6的第二端与静电计7的第二端电连接,第二继电器8的第二端与电压表9的第二端电连接。
本发明实施例中的高场强指:电场强度超过10MV/m。
本发明实施例中的高精度直流电压源指:输出的直流电压的纹波系数小于0.002%的电压源。
在一个可选的实施方式中,静电计7的数据输出端用于与外部终端设备相连,以由外部终端设备记录静电计7的读数。
图2所示是本发明实施例提供的一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量方法的流程图,基于上述高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置实现,该方法包括:
S1:将待测金属化膜电容器放置在恒温恒湿箱4中,并将恒温恒湿箱4的温度设置为20℃-120℃,湿度设置为20%至40%,然后将待测金属化膜电容器在恒温恒湿箱4中保持2小时以上;
S2:将放置在恒温恒湿箱4中的待测金属化膜电容器的正负极分别与恒温恒湿箱4的接线端电连接;
S3:闭合第一继电器2和第二继电器8,由高精度直流电压源1通过充电电阻3给待测金属化膜电容器充电,并由电压表9实时监测待测金属化膜电容器两端的电压;
S4:在待测金属化膜电容器两端的电压达到预设电压时,获取待测金属化膜电容器中储存的能量,并断开第一继电器2和第二继电器8,以使待测金属化膜电容器通过放电电阻6放电,并由静电计7对待测金属化膜电容器的放电电流进行测量;
在一个可选的实施方式中,预设电压为高精度直流电压源1的输出电压,待测金属化膜电容器中储存的能量为W=CU2/2,其中,C为待测金属化膜电容器的电容量,U为待测金属化膜电容器两端的电压。
在一个可选的实施方式中,可以用电桥测试金属化膜电容器的电容量C(测试频率为100Hz)。
S5:在放电结束后,由测量到的待测金属化膜电容器的放电电流以及放电电阻6的阻值得到待测金属化膜电容器释放的能量,进而由待测金属化膜电容器释放的能量以及待测金属化膜电容器中储存的能量得到待测金属化膜电容器的放电效率。
在一个可选的实施方式中,待测金属化膜电容器释放的能量为:其中,id为待测金属化膜电容器的放电电流,R为放电电阻6的阻值,td为从放电开始至放电结束所持续的时间。
在一个可选的实施方式中,待测金属化膜电容器的放电效率为:η=Weff/W。
在一个可选的实施方式中,可以通过静电计7将测量到的待测金属化膜电容器的放电电流传输至与静电计7相连的终端设备,由终端设备计算待测金属化膜电容器的放电效率。
由于测量结果中存在的分散性,可以对同一批金属化膜电容器在相同试验条件下进行放电效率测量,取平均值作为电容器放电效率的测量数据。本发明测试方法适用于电容器元件的放电效率测量。
应用实例1:
本发明实施例中使用的金属化膜电容器的额定电容量为17μF,对该电容器的放电效率进行测量。选择的电压为1kV,充电电阻为0.1kΩ,放电电阻为100MΩ,恒温恒湿箱温度设置为20℃,湿度设置为20%。金属化膜电容器在恒温恒湿箱中放置2h后,测量电容器的电容器量(测试频率为100Hz)。然后将电容器接入回路中,高精度直流电压源通过充电电阻给电容器充电至1kV后,断开电压源,电容器通过放电电阻放电,静电计采集放电电流并记录。分别用公式W=CU2/2和计算电容器中储存的能量和释放的能量,然后通过公式η=Weff/W计算电容器的放电效率为97%。
应用实例2:
本发明实施例中使用的金属化膜电容器的额定电容量为17μF,对该电容器的放电效率进行测量。选择的电压为1kV,充电电阻为0.1kΩ,放电电阻为100MΩ,恒温恒湿箱温度设置为20℃,湿度设置为40%。金属化膜电容器在恒温恒湿箱中放置2h后,测量电容器的电容器量(测试频率为100Hz)。然后将电容器接入回路中,高精度直流电压源通过充电电阻给电容器充电至1kV后,断开电压源,电容器通过放电电阻放电,静电计采集放电电流并记录。分别用公式W=CU2/2和计算电容器中储存的能量和释放的能量,然后通过公式η=Weff/W计算电容器的放电效率为95%。
应用实例3:
本发明实施例中使用的金属化膜电容器的额定电容量为17μF,对该电容器的放电效率进行测量。选择的电压为1kV,充电电阻为0.1kΩ,放电电阻为100MΩ,恒温恒湿箱温度设置为80℃,湿度设置为40%。金属化膜电容器在恒温恒湿箱中放置2h后,测量电容器的电容器量(测试频率为100Hz)。然后将电容器接入回路中,高精度直流电压源通过充电电阻给电容器充电至1kV后,断开电压源,电容器通过放电电阻放电,静电计采集放电电流并记录。分别用公式W=CU2/2和计算电容器中储存的能量和释放的能量,然后通过公式η=Weff/W计算电容器的放电效率为90%。
应用实例4:
本发明实施例中使用的金属化膜电容器的额定电容量为17μF,对该电容器的放电效率进行测量。选择的电压为1kV,充电电阻为0.1kΩ,放电电阻为100MΩ,恒温恒湿箱温度设置为120℃,湿度设置为40%。金属化膜电容器在恒温恒湿箱中放置2h后,测量电容器的电容器量(测试频率为100Hz)。然后将电容器接入回路中,高精度直流电压源通过充电电阻给电容器充电至1kV后,断开电压源,电容器通过放电电阻放电,静电计采集放电电流并记录。分别用公式W=CU2/2和计算电容器中储存的能量和释放的能量,然后通过公式η=Weff/W计算电容器的放电效率为83%。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置,其特征在于,包括:高精度直流电压源(1)、第一继电器(2)、充电电阻(3)、恒温恒湿箱(4)、放电电阻(6)、静电计(7)、第二继电器(8)和电压表(9);
所述恒温恒湿箱(4)包括第一接线端(5)和第二接线端(5'),用于分别与待测金属化膜电容器的正负极电连接,所述第一接线端(5)与所述充电电阻(3)、所述放电电阻(6)以及所述第二继电器(8)的第一端电连接,所述第二接线端(5')与所述静电计(7)、所述电压表(9)以及所述高精度直流电压源(1)的第一端电连接,并接地;
所述高精度直流电压源(1)的第二端与所述第一继电器(2)的第一端电连接,所述第一继电器(2)的第二端与所述充电电阻(3)的第二端电连接,所述放电电阻(6)的第二端与所述静电计(7)的第二端电连接,所述第二继电器(8)的第二端与所述电压表(9)的第二端电连接。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述静电计(7)的数据输出端用于与外部终端设备相连,以由所述外部终端设备记录所述静电计(7)的读数。
3.一种基于权利要求1或2所述的高场强下金属化膜电容器放电效率测量装置的高场强下金属化膜电容器放电效率测量方法,其特征在于,包括:
将待测金属化膜电容器放置在所述恒温恒湿箱(4)中,并将所述恒温恒湿箱(4)的温度设置为20℃-120℃,湿度设置为20%至40%,然后将所述待测金属化膜电容器在所述恒温恒湿箱(4)中保持2小时以上;
将放置在所述恒温恒湿箱(4)中的所述待测金属化膜电容器的正负极分别与所述恒温恒湿箱(4)的接线端电连接;
闭合所述第一继电器(2)和所述第二继电器(8),由所述高精度直流电压源(1)通过所述充电电阻(3)给所述待测金属化膜电容器充电,并由所述电压表(9)实时监测所述待测金属化膜电容器两端的电压;
在所述待测金属化膜电容器两端的电压达到预设电压时,获取所述待测金属化膜电容器中储存的能量,并断开所述第一继电器(2)和所述第二继电器(8),以使所述待测金属化膜电容器通过所述放电电阻(6)放电,并由所述静电计(7)对所述待测金属化膜电容器的放电电流进行测量;
在放电结束后,由测量到的所述待测金属化膜电容器的放电电流以及所述放电电阻(6)的阻值得到所述待测金属化膜电容器释放的能量,进而由所述待测金属化膜电容器释放的能量以及所述待测金属化膜电容器中储存的能量得到所述待测金属化膜电容器的放电效率。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设电压为所述高精度直流电压源(1)的输出电压,所述待测金属化膜电容器中储存的能量为W=CU2/2,其中,C为所述待测金属化膜电容器的电容量,U为所述待测金属化膜电容器两端的电压。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述待测金属化膜电容器释放的能量为:其中,id为所述待测金属化膜电容器的放电电流,R为所述放电电阻(6)的阻值,td为从放电开始至放电结束所持续的时间。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述待测金属化膜电容器的放电效率为:η=Weff/W。
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20180824 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |