CN108303640B - 一种线路检测的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明属于图像处理技术领域,提供了一种线路检测的方法和装置。该方法包括:采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图;对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。通过本发明降低了线路检测的误检率,提高了线路的检测速度。
Description
技术领域
本发明属于图像处理技术领域,尤其涉及一种线路检测的方法和装置。
背景技术
随着高端电子制造业如平板显示行业的技术发展及用户要求的不断提高,对电子产品的可靠性要求越来越高,电子零部件中负责电气连接的线路对于电子产品的功能展示具有重要作用,因此,对检测电子零部件中的电气连接的线路缺陷的要求也越来越高。例如,对于印刷电路板的线路检测、半导体显示器输出端子的线路检测等,都需要较高的缺陷检出要求。现在的元器件也越来越小,功能也越来越复杂,使得电气连接的线路密度越来越高,目前,高密度印刷电路板的线路检测需要在放大镜帮助下完成,半导体显示器中的输入输出线路,需要借助高倍率显微镜才能完成,自动光学检测设备比人工检测效率要高的多。在现有的自动光学检测设备中,通过图像采集获取待检测线路的数字图像,然后采用各种算法自动检测产品上的缺陷,如CN103413288A和CN102721695B,然而,CN103413288A涉及图像滤波,图像滤波一般用于减小噪声对线路缺陷检测的影响,使得某些缺陷的图像变得更模糊而检测失败,CN102721695B涉及图像配准,图像配准用于大尺寸图像,通常会与理想设计图纸发生偏移,而该偏移的大小超出了缺陷检测的尺寸限制,不能正确的检测线路缺陷。虽然,图像滤波和图像配准等算法可通过并行计算来实现线路检测,但并行计算的时间开销大,会导致检测节拍下降。
故,有必要提出一种新的技术方案,以解决上述技术问题。
发明内容
鉴于此,本发明实施例提供一种线路检测的方法和装置,以降低线路检测的误检率,提高线路的检测速度。
本发明实施例的第一方面,提供一种线路检测的方法,所述方法包括:
采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图;
对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
本发明实施例的第二方面,提供一种线路检测的装置,所述装置包括:
采集模块、计算模块、获得模块以及确定模块;
所述采集模块,用于采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
所述计算模块,用于检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
所述获得模块,用于根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布;
所述确定模块,用于对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本发明实施例通过待检测线路的图像中像素的邻域图像计算待检测线路的图像中像素的边缘方向,减小了噪声对计算待检测线路的图像中像素的边缘方向的影响,根据待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的标准方向分布图对待检测线路进行缺陷像素检测,避免了线路检测中对图像配准的要求,并对获得的待检测线路的图像的缺陷像素分布图进行分析,确定待检测线路存在缺陷的位置,在检测出线路存在缺陷的位置的同时,降低了线路检测的误检率,提高了线路的检测速度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的线路检测的方法的实现流程图;
图2是本发明实施例一提供的待检测线路的图像的方向分布图;
图3是本发明实施例一提供的待检测线路的图像的标准方向分布图;
图4是本发明实施例一提供的待检测线路存在缺陷的位置的显示图;
图5是本发明实施例二提供的线路检测的装置的组成示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例一:
图1示出了本发明实施例一提供的线路检测的方法的实现流程,所述实现流程详述如下:
在步骤S101中,采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
在本发明实施例中,从所述待检测线路的图像中位于第一行第一列的像素开始,获取所述待检测线路的图像中所有像素的邻域图像。以第一行第一列的像素为例,邻域图像为以第一行第一列的像素为中心的K×K图像块,K为大于等于3且小于21的奇数,单位为像素。
在步骤S102中,检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
在本发明实施例中,从所述待检测线路的图像中位于第一行第一列的像素的邻域图像开始检测是否存在边缘,依次检测完所述待检测线路的图像中所有像素的邻域图像。
在本发明实施例中,计算所述邻域图像中所有像素的像素值标准差,所述像素值为像素的灰度值,当所述邻域图像中所有像素的像素值标准差大于预设阈值时,则确定所述邻域图像中存在边缘,所述预设阈值根据无边缘的邻域图像中所有像素的像素值标准差确定。
进一步的,所述计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向包括:
获取以所述待检测线路的图像中像素为中心,r为半径的圆周上的像素,其中,r大于零;
在本发明实施例中,r为可设置的参数,r大于零且小于等于K。
根据所述圆周上的像素,对所述邻域图像进行插值计算,以获得所述邻域图像中像素的像素值曲线;
在本发明实施例中,根据所述圆周上的多个像素,所述多个像素在所述圆周的角度上均匀分布,可对所述圆周的角度进行等分,包括但不限于10等分、36等分等,根据所述圆周上的多个像素,对所述邻域图像进行插值计算,得到沿着角度方向展开的所述邻域图像中像素的像素值曲线,所述像素值曲线的纵轴为像素的灰度值,横轴为角度,所述插值计算包括但不限于三次样条插值、线性插值等。
对所述像素值曲线进行差分,以获得所述像素值曲线对应的差分曲线;
根据所述差分曲线的峰值,获得所述待检测线路的图像中像素的边缘方向。
在本发明实施例中,若所述邻域图像中存在边缘,则所述差分曲线有两个峰值,第一个峰值是边缘进入所述邻域图像的方向,第二个峰值是边缘退出所述邻域图像的方向,所述邻域图像中边缘进入方向和边缘退出方向为所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,由于所述待检测线路的图像中噪声为白噪声和椒盐噪声的和,这两种噪声均是各向同性的,不影响边缘方向的识别,因此利用所述邻域图像获取所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,可减小噪声对边缘方向计算结果的影响,降低线路检测的误检率。
在步骤S103中,根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图;
示例性的,图2是待检测线路的图像的方向分布图,图2中1为待检测线路的图像的线路,2为待检测线路的图像的背景,3为待检测线路的图像中像素,4为待检测线路的图像中像素的邻域图像,5为邻域图像中边缘进入方向,6为邻域图像中边缘退出方向,虚线7为待检测线路的图像的线路边缘方向分布图;图3是待检测线路的图像的标准方向分布图,图3中1为待检测线路的图像的标准方向分布图的线路,2为待检测线路的图像的标准方向分布图的背景,虚线为待检测线路的图像的标准线路边缘方向分布图。
在本发明实施例中,若待检测线路的图像中含有不为直线的线路,则可根据所述待检测线路的图像的方向分布图及与所述待检测线路的图像的方向分布图对应的待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图;若待检测线路的图像中线路均为直线,则可根据所述待检测线路的图像的方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图。所述待检测线路的图像的标准方向分布图是所述待检测线路的图像中不含缺陷像素的标准方向分布图,所述缺陷像素分布图是待检测线路的图像中每个像素是否为缺陷像素的分类图,所述缺陷像素为在像素或像素邻域图像中偏离像素正常排列的一种像素。
进一步的,所述根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图包括:
将所述待检测线路的图像的方向分布图分割为多个第一图像块,将所述待检测线路的图像的标准方向分布图分割为多个第二图像块;
在本发明实施例中,对待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图进行相同的分割,即第一图像块与第二图像块的大小相同,第一图像块在待检测线路的图像的方向分布图中位置与对应第二图像块在待检测线路的图像的标准方向分布图中位置相同。
将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素;和/或根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素;
对确定缺陷像素后的所述多个第一图像块进行拼接,以获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图。
进一步的,所述第一图像块的第一像素信息包括所述第一图像块中像素的标记,所述第二图像块中第一像素信息包括所述第二图像块中像素的标记;
所述将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
将所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记进行对比,若所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记不同,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
在本发明实施例中,将含有边缘方向的像素标记为1,无边缘方向的像素标记为0。
进一步的,所述第一图像块的第一像素信息包括所述第一图像块中像素的边缘方向,所述第二图像块中第一像素信息包括所述第二图像块中像素的边缘方向;
所述将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
将所述第一图像块中像素的边缘方向与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向进行对比,若所述第一图像块中像素的边缘方向相对于对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向的偏差大于第一角度阈值,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
在本发明实施例中,根据第二图像块中像素的边缘方向设置第一角度阈值,如第二图像块中像素的边缘方向为直线,则直线对应角度为第一角度阈值。
进一步的,所述第一图像块的第二像素信息包括所述第一图像块中像素的边缘方向;
所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行主角度分析,以获得所述第一图像块中像素的主角度方向,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述主角度方向的偏差大于第二角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
在本发明实施例中,通过分析第一图像块中像素边缘方向的直方图,获得第一图像块中像素的主角度方向,如在0°~10°区间有100个含有边缘方向的像素,10°~20°区间有1000个含有边缘方向的像素,20°~30°区间有10个含有边缘方向的像素,则在0°~30°区间像素的主角度方向为15°。根据第二图像块中像素边缘方向的角度区间设置第二角度阈值,如角度区间为10°~20°,则第二角度阈值的取值范围为5°~25°。
进一步的,所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行差分,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述第一图像块中第二像素的边缘方向的偏差大于第三角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
示例性的,第一图像块中第一行第一列的像素为含有边缘方向的像素,第一行第二列的像素为无边缘方向的像素,第一行第三列为含有边缘方向的像素,则对第一行第一列的像素与第一行第三列的像素进行边缘方向差分,若第一行第一列的像素的边缘方向相对于第一行第三列的像素的边缘方向的偏差大于第三角度阈值,则确定第一行第一列的像素为缺陷像素。较佳的,所述第三角度阈值为15°。
进一步的,所述第一图像块的第二像素信息包括含有边缘方向的像素的位置坐标;
所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中含有边缘方向的像素的位置坐标,对所述第一图像块中含有边缘方向的像素进行边缘距离计算,若位于所述待检测线路的第一条边的所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素与所述待检测线路的第二条边的含有边缘方向的像素最短距离小于预设距离,则确定所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素为缺陷像素。
需要说明的是,待检测线路有两条边,这两条边将导电材料围起来,形成一定的宽度才能导电。
在步骤S104中,对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
在本发明实施例中,对缺陷像素分布图进行斑点分析,通过斑点分析可获得缺陷像素分布图中联通区域的面积、长度等几何信息。所述预设面积阈值的取值大于4,单位为像素。可通过显示终端显示待检测线路存在缺陷的位置,如图4是待检测线路存在缺陷的位置的显示图,图4中虚线1为待检测线路存在缺陷的位置。
需要说明的是,本发明实施例第一图像块是指待检测线路的图像的方向分布图中的某一图像块,“第一”在此仅为表述和指代的方便,并不意味着在本发明的具体实现方式中一定会有与之对应的第一图像块。类似地,第二图像块中的“第二”也仅仅是为了表述和指代的方便,并不意味着在本发明的具体实现方式中一定会有与之对应的第二图像块;第一像素中的“第一”也仅仅是为了表述和指代的方便,并不意味着在本发明的具体实现方式中一定会有与之对应的第一像素;第二像素中的“第二”也仅仅是为了表述和指代的方便,并不意味着在本发明的具体实现方式中一定会有与之对应的第二像素。
本发明实施例通过待检测线路的图像中像素的邻域图像计算待检测线路的图像中像素的边缘方向,减小了噪声对计算待检测线路的图像中像素的边缘方向的影响,根据待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的标准方向分布图对待检测线路进行缺陷像素检测,避免了线路检测中对图像配准的要求,并对获得的待检测线路的图像的缺陷像素分布图进行分析,确定待检测线路存在缺陷的位置,在检测出线路存在缺陷的位置的同时,降低了线路检测的误检率,提高了线路的检测速度。
实施例二:
图2示出了本发明实施例二提供的线路检测的装置的组成示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
采集模块51,用于采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
计算模块52,用于检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
进一步的,所述计算模块52包括:
获取单元521、计算单元522、差分单元523以及获得单元524;
所述获取单元521,用于获取以所述待测线路的图像中像素为中心,r为半径的圆周上的像素,其中,r大于零;
所述计算单元522,用于根据所述圆周上的像素,对所述邻域图像进行插值计算,以获得所述邻域图像中像素的像素值曲线;
所述差分单元523,用于对所述像素值曲线进行差分,以获得所述像素值曲线对应的差分曲线;
所述获得单元524,用于根据所述差分曲线的峰值,获得所述待测线路图像中像素的边缘方向。
获得模块53,用于根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布;
进一步的,所述获得模块53包括:
分割单元531、确定单元532以及拼接单元533;
所述分割单元531,用于将所述待检测线路的图像的方向分布图分割为多个第一图像块,将所述待检测线路的图像的标准方向分布图分割为多个第二图像块;
所述确定单元532,用于将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素;和/或根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素;
进一步的,所述确定单元532用于:
将所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记进行对比,若所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记不同,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
进一步的,所述确定单元532用于:
将所述第一图像块中像素的边缘方向与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向进行对比,若所述第一图像块中像素的边缘方向相对于对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向的偏差大于第一角度阈值,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
进一步的,所述确定单元532用于:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行主角度分析,以获得所述第一图像块中像素的主角度方向,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述主角度方向的偏差大于第二角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
进一步的,所述确定单元532用于:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行差分,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述第一图像块中第二像素的边缘方向的偏差大于第三角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
进一步的,所述确定单元532用于:
根据所述第一图像块中含有边缘方向的像素的位置坐标,对所述第一图像块中含有边缘方向的像素进行边缘距离计算,若位于所述待检测线路的第一条边的所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素与所述待检测线路的第二条边的含有边缘方向的像素最短距离小于预设距离,则确定所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素为缺陷像素。
所述拼接单元533,用于对确定缺陷像素后的所述多个第一图像块进行拼接,以获得所述待测线路的图像的缺陷像素分布图。
确定模块54,用于对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
本发明实施例提供的线路检测的装置可以使用在前述对应的方法实施例一中,详情参见上述实施例一的描述,在此不再赘述。
所述领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块或单元的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块或单元完成,即所述装置的内部结构划分成不同的功能模块或单元,上述功能模块或单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件的形式实现。另外,各功能模块或单元的具体名称也只是为了便于相互区别,并不用于限制本申请的保护范围。
综上所述,本发明实施例通过待检测线路的图像中像素的邻域图像计算待检测线路的图像中像素的边缘方向,减小了噪声对计算待检测线路的图像中像素的边缘方向的影响,根据待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的标准方向分布图对待检测线路进行缺陷像素检测,避免了线路检测中对图像配准的要求,并对获得的待检测线路的图像的缺陷像素分布图进行分析,确定待检测线路存在缺陷的位置,在检测出线路存在缺陷的位置的同时,降低了线路检测的误检率,提高了线路的检测速度。
本领域普通技术人员还可以理解,实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可以在存储于一计算机可读取存储介质中,所述的存储介质,包括ROM/RAM、磁盘、光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (16)
1.一种线路检测的方法,其特征在于,所述方法包括:
采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图;
对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向包括:
获取以所述待检测线路的图像中像素为中心,r为半径的圆周上的像素,其中,r大于零;
根据所述圆周上的像素,对所述邻域图像进行插值计算,以获得所述邻域图像中像素的像素值曲线;
对所述像素值曲线进行差分,以获得所述像素值曲线对应的差分曲线;
根据所述差分曲线的峰值,获得所述待检测线路的图像中像素的边缘方向。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图包括:
将所述待检测线路的图像的方向分布图分割为多个第一图像块,将所述待检测线路的图像的标准方向分布图分割为多个第二图像块;
将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素;和/或根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素;
对确定缺陷像素后的所述多个第一图像块进行拼接,以获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布图。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一图像块的第一像素信息包括所述第一图像块中像素的标记,所述第二图像块中第一像素信息包括所述第二图像块中像素的标记;
所述将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
将所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记进行对比,若所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记不同,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一图像块的第一像素信息包括所述第一图像块中像素的边缘方向,所述第二图像块中第一像素信息包括所述第二图像块中像素的边缘方向;
所述将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
将所述第一图像块中像素的边缘方向与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向进行对比,若所述第一图像块中像素的边缘方向相对于对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向的偏差大于第一角度阈值,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一图像块的第二像素信息包括所述第一图像块中像素的边缘方向;
所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行主角度分析,以获得所述第一图像块中像素的主角度方向,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述主角度方向的偏差大于第二角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行差分,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述第一图像块中第二像素的边缘方向的偏差大于第三角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
8.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一图像块的第二像素信息包括含有边缘方向的像素的位置坐标;
所述根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素包括:
根据所述第一图像块中含有边缘方向的像素的位置坐标,对所述第一图像块中含有边缘方向的像素进行边缘距离计算,若位于所述待检测线路的第一条边的所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素与所述待检测线路的第二条边的含有边缘方向的像素最短距离小于预设距离,则确定所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素为缺陷像素。
9.一种线路检测的装置,其特征在于,所述装置包括:
采集模块、计算模块、获得模块以及确定模块;
所述采集模块,用于采集待检测线路的图像,并获取所述待检测线路的图像中像素的邻域图像;
所述计算模块,用于检测所述邻域图像,若检测到所述邻域图像中存在边缘,则计算所述待检测线路的图像中像素的边缘方向,以获得所述待检测线路的图像的方向分布图;
所述获得模块,用于根据所述待检测线路的图像的方向分布图和待检测线路的图像的标准方向分布图,获得所述待检测线路的图像的缺陷像素分布;
所述确定模块,用于对所述缺陷像素分布图进行分析,若分析得到所述缺陷像素分布图中的缺陷像素的面积大于预设面积阈值,则确定所述缺陷像素的位置为所述待检测线路存在缺陷的位置。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述计算模块包括:
获取单元、计算单元、差分单元以及获得单元;
所述获取单元,用于获取以所述待测线路的图像中像素为中心,r为半径的圆周上的像素,其中,r大于零;
所述计算单元,用于根据所述圆周上的像素,对所述邻域图像进行插值计算,以获得所述邻域图像中像素的像素值曲线;
所述差分单元,用于对所述像素值曲线进行差分,以获得所述像素值曲线对应的差分曲线;
所述获得单元,用于根据所述差分曲线的峰值,获得所述待测线路图像中像素的边缘方向。
11.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述获得模块包括:
分割单元、确定单元以及拼接单元;
所述分割单元,用于将所述待检测线路的图像的方向分布图分割为多个第一图像块,将所述待检测线路的图像的标准方向分布图分割为多个第二图像块;
所述确定单元,用于将所述第一图像块的第一像素信息与对应位置的所述第二图像块的第一像素信息进行对比,确定所述第一图像块中的缺陷像素;和/或根据所述第一图像块的第二像素信息,确定所述第一图像块中的缺陷像素;
所述拼接单元,用于对确定缺陷像素后的所述多个第一图像块进行拼接,以获得所述待测线路的图像的缺陷像素分布图。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述确定单元用于:
将所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记进行对比,若所述第一图像块中像素的标记与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的标记不同,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
13.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述确定单元用于:
将所述第一图像块中像素的边缘方向与对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向进行对比,若所述第一图像块中像素的边缘方向相对于对应位置的所述第二图像块中对应位置像素的边缘方向的偏差大于第一角度阈值,则确定所述第一图像块中像素为缺陷像素。
14.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述确定单元用于:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行主角度分析,以获得所述第一图像块中像素的主角度方向,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述主角度方向的偏差大于第二角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述确定单元用于:
根据所述第一图像块中像素的边缘方向,对所述第一图像块中像素的边缘方向进行差分,若所述第一图像块中第一像素的边缘方向相对于所述第一图像块中第二像素的边缘方向的偏差大于第三角度阈值,则确定所述第一图像块中第一像素为缺陷像素。
16.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述确定单元用于:
根据所述第一图像块中含有边缘方向的像素的位置坐标,对所述第一图像块中含有边缘方向的像素进行边缘距离计算,若位于所述待检测线路的第一条边的所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素与所述待检测线路的第二条边的含有边缘方向的像素最短距离小于预设距离,则确定所述第一图像块中含有边缘方向的第一像素为缺陷像素。
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