CN108182897B - 测试像素驱动电路的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试像素驱动电路的方法，其包括：在间接测试时段通过导通第四晶体管将用于在直接测试时段导通第一晶体管的电压存储在第电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则第四晶体管和电容器正常；在间接测试时段之后的直接测试时段导通第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第五晶体管、第六晶体管和第七晶体管，并检测第二晶体管的第一端和第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第五晶体管、第六晶体管和第七晶体管正常。本发明能够对像素驱动电路中的所有晶体管和电容器进行测试，从而不会出现漏检现象。
Description
技术领域
本发明属于电路测试技术领域，具体地讲，涉及一种测试像素驱动电路的方法。
背景技术
近年来，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示器成为国内外非常热门的新兴平面显示设备产品，这是因为OLED显示器具有自发光、广视角、短反应时间、高发光效率、广色域、低工作电压、薄厚度、可制作大尺寸与可挠曲的显示器及制程简单等特性，而且它还具有低成本的潜力。
OLED显示器按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED显示器(即PMOLED显示器)和有源矩阵型OLED(即AMOLED显示器)两大类。
AMOLED是电流驱动器件，当有电流流过有机发光二极管时，有机发光二极管发光，且发光亮度由流过有机发光二极管自身的电流决定。大部分已有的集成电路(IntegratedCircuit，IC)都只传输电压信号，故AMOLED的像素驱动电路需要完成将电压信号转变为电流信号的任务。传统的AMOLED像素驱动电路通常为2T1C，即两个晶体管加一个电容器的结构，将电压变换为电流，但传统2T1C像素驱动电路一般无补偿功能。因此，业内提出采用7T1C、6T1C、6T2C等具有补偿功能的像素驱动电路。
但是在这些具有补偿功能的像素驱动电路中，当对该像素驱动电路的各晶体管和各电容器进行测试时，某些晶体管和/或某些电容器将无法被进行测试，从而出现漏检现象。
发明内容
为了解决上述现有技术的问题，本发明的目的在于提供一种能够对像素驱动电路中的所有晶体管和所有电容器进行检测的测试像素驱动电路的方法。
根据本发明的一方面，提供了一种测试像素驱动电路的方法，所述像素驱动电路包括：第一晶体管，其栅电极连接到第一节点，且其第一端连接到第二节点，且其第二端连接到第三节点；第二晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第二节点，且其第一端用于接收数据电压；第三晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第三节点，且其第一端连接到所述第一节点；第四晶体管，其栅电极用于接收上一级扫描信号，且其第一端连接到所述第一节点，且其第二端用于接收第二电源电压；第五晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端用于接收第一电源电压，且其第二端连接到所述第二节点；第六晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端连接到所述第三节点；第七晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第一端连接到所述第四晶体管的第二端，且其第二端连接到所述第六晶体管的第二端；电容器，其第一端连接所述第五晶体管的第一端，且其第二端连接所述第一节点；其中，所述测试像素驱动电路的方法包括：在间接测试时段通过导通所述第四晶体管将用于在直接测试时段导通所述第一晶体管的电压存储在所述第电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则所述第四晶体管和所述电容器正常；在所述间接测试时段之后的直接测试时段导通所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管，并检测所述第二晶体管的第一端和所述第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管正常。
进一步地，所述第一晶体管至所述第七晶体管中的每个晶体管是p沟道晶体管。
进一步地，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号为低电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为高电位。
进一步地，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号为低电位，所述当前级扫描信号为高电位。
进一步地，在所述直接测试时段，所述上一级扫描信号为高电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为低电位。
进一步地，在所述间隔测试时段之前的第一时段，所述上一级扫描信号、所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位。
进一步地，在所述间隔测试时段之前的第二时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述当前级扫描信号为低电位。
进一步地，在所述第二时段之前的第一时段，所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述上一级扫描信号为低电位。
本发明的有益效果：本发明通过在测试时段改变各驱动信号的高低电位的时序，从而来完成对像素驱动电路中的各晶体管和各电容器的测试，进而不会出现漏检现象。
附图说明
通过结合附图进行的以下描述，本发明的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中：
图1是根据本发明的实施例的用于OLED显示器的像素驱动电路的电路图；
图2是根据本发明的实施例的像素驱动电路正常工作时各信号的时序图；
图3是根据本发明的实施例的测试像素驱动电路时各信号的时序图；
图4是根据本发明的另一实施例的测试像素驱动电路时各信号的时序图；
图5是根据本发明的又一实施例的测试像素驱动电路时各信号的时序图；
图6是根据本发明的实施例的测试像素驱动电路时电流的流经方向示意图。
具体实施方式
以下，将参照附图来详细描述本发明的实施例。然而，可以以许多不同的形式来实施本发明，并且本发明不应该被解释为限制于这里阐述的具体实施例。相反，提供这些实施例是为了解释本发明的原理及其实际应用，从而使本领域的其他技术人员能够理解本发明的各种实施例和适合于特定预期应用的各种修改。
在附图中，为了清楚起见，夸大了层和区域的厚度。相同的标号在整个说明书和附图中表示相同的元器件。
图1是根据本发明的实施例的用于OLED显示器的像素驱动电路的电路图。
参照图1，根据本发明的实施例的用于OLED显示器的像素驱动电路具有7T1C像素结构。具体地，所述7T1C像素结构包括有机发光二极管OLED、第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6、第七晶体管T7和电容器C。
第一晶体管T1的栅电极电性连接于第一节点g，且其第一端电性连接于第二节点s，且其第二端连接到第三节点d。
第二晶体管T2的栅电极用于接收当前级扫描信号Scan[n]，且其第一端用于接收数据电压Vdata，且其第二端连接到第二节点s。在本实施例中，数据电压Vdata为高电位(或称高电平)。
第三晶体管T3的栅电极用于接收当前级扫描信号Scan[n]，且其第一端电性连接到第一节点g，且其第二端电性连接到第三节点d。
第四晶体管T4的栅电极用于接收上一级扫描信号Scan[n-1]，且其第一端连接到第一节点g，且其第二端用于接收第二电源电压Vi。在本实施例中，第二电源电压Vi为低电位。
第五晶体管T5的栅电极用于接收使能信号Em，且其第一端用于接收第一电源电压Vdd，且其第二端连接到第二节点s。在本实施例中，第一电源电压Vdd为高电位。
第六晶体管T6的栅电极用于接收使能信号Em，且其第一端连接到第三节点d，且其第二端连接到有机发光二极管OLED的阳极。
第七晶体管T7的栅电极用于接收当前级扫描信号Scan[n]，且其第一端连接到第四晶体管T4的第二端，且其第二端连接到第六晶体管T6的第二端。
电容器C的第一端连接到第五晶体管T5的第一端，且其第二端电性连接于第一节点g。
有机发光二极管OLED的阴极电性接地。
在本实施例中，第一晶体管T1作为驱动晶体管。
这里，第一晶体管T1至第七晶体管T7中的每个的第一端可以是源电极或漏电极，并且第一晶体管T1至第七晶体管T7中的每个的第二端可以是与第一端不同的电极。
例如，当第一端是漏电极时，第二端是源电极；而当第一端是源电极时，第二端是漏电极。
第一晶体管T1至第七晶体管T7中的每个可以具有相同的沟道形状。
例如，第一晶体管T1至第七晶体管T7中的每个可以具有p沟道形状。
因此，第一晶体管T1至第七晶体管T7中的每个可利用多晶硅薄膜晶体管、非晶硅薄膜晶体管或者氧化物薄膜晶体管来实现。
此外，上一级扫描信号Scan[n-1]和当前级扫描信号Scan[n]通常是由OLED显示器中的GOA驱动电路(未示出)产生的级传扫描信号，该级传扫描信号沿着扫描线一级一级传递。
以下将对根据本发明的实施例的像素驱动电路的工作原理进行详细描述。图2是根据本发明的实施例的像素驱动电路进行正常工作(即驱动OLED发光正常显示)时各信号的时序图。
参照图1和图2，在第一时段T1，上一级扫描信号Scan[n-1]保持低电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号EM都是高电位。
此时，第四晶体管T4导通，从而第二电源电压Vi将第一节点g(即电容器C的第二端)的电位拉低，第一电源电压Vdd对电容器C进行充电。
在第二时段T2，上一级扫描信号Scan[n-1]和使能信号EM都是高电位，当前级扫描信号Scan[n]为低电位。
此时，第二晶体管T2导通而将数据电压Vdata提供至到第二节点s(即第一晶体管T1的第一端)，第三晶体管T3导通，第一晶体管T1的第一端和第二端短接，并且第一节点g的电压|Vg|＞|Vth|，第一晶体管T1成为二极管，第一晶体管T1导通，直至第一节点g的电压Vg＝Vdata-|Vth|时第一晶体管T1截止，第七晶体管T7导通，从而使有机发光二极管OLED复位。这里，Vth为第一晶体管T1的阈值电压。
在第三时段T3，使能信号Em保持低电位，而上一级扫描信号Scan[n-1]和当前级扫描信号Scan[n]保持高电位，第五晶体管T5被导通而将第一电源电压Vdd提供至第二节点s(即第一晶体管T1的第一端)，第二节点s的电压Vs＝Vdd；此时第一节点g的电压Vg＝Vdata-|Vth|，第一晶体管T1的第一节点g和第二节点s之间的电压差Vsg＝Vdd-Vdata+|Vth|。
经过第一晶体管T1的电流I表示为：
I＝(1/2)k(Vsg-|Vth|)2＝(1/2)k(Vdd-Vdata+|Vth|-|Vth|)2＝(1/2)k(Vdd-Vdata)2
其中，k表示第一晶体管T1的本征导电因子，由第一晶体管T1本身特性决定。
第六晶体管T6被导通而使电流I流至有机发光二极管OLED，以使有机发光二极管OLED正常发光。
因此，在流经有机发光二极管OLED的电流I的表达式中，电流I与第一晶体管T1的阈值电压Vth无关，这样可以消除第一晶体管T1的阈值电压Vth漂移引起的画面显示不良现象。
在现有的测试像素驱动电路的方法中，在第三阶段T3，通常在第二晶体管T2的第一端和第五晶体管T5的第一端之间测试电流的状态来判断晶体管的正常与否，而在第三阶段T3中电流I沿着第五晶体管T5、第一晶体管T1、第六晶体管T6和有机发光二极管OLED的方向流动，因此现有的测试方法中电流I并不是被测试时检测到的电流，这样会导致漏检第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7。为了解决该问题，本发明提出了如下的测试方法，以对第一晶体管T1至第七晶体管T7和电容器C能够进行全面检测，避免漏检。
图3是根据本发明的实施例的测试像素驱动电路时的各信号的时序图。需要说明的是，在测试像素驱动电路时，各信号由测试机提供。
参照图3，在第一时段T1，上一级扫描信号Scan[n-1]、当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em均为高电位，第一晶体管T1至第七晶体管T7均截止。
在第二时段T2，即间接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]为低电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em为高电位；此时，第四晶体管T4打开，将第一节点g的电位变成低电位，同时将该低电位存储在电容器C中，以作为第三时段T3导通第一晶体管T1的电压，从而能够间接检测第四晶体管T4和电容器C的功能正常与否。这里，所述间接检测指的是：如果在第二时段T2中，第四晶体管T4和/或电容器C出现异常，那么是无法进入之后的第三时段T3的。因此，如果正常进入第三时段T3，那么表示第四晶体管T4和电容器C的功能正常。
在第三时段T3，即直接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]为高电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em为低电位。此时，第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7均导通，而第一晶体管T1根据电容器C在第二时段T2存储的电压也导通，通过检测第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流来确定第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7是否正常。若检测到第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流在预定电流范围内，则表示第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7正常。其中，图6所示的像素驱动电路中的虚线箭头表示测试像素驱动电路时第三时段T3中电流的流经方向。需要说明的是，所述预定电流范围指的是在长期的检测过程中确定的适用于检测像素驱动电路的合理电流范围。
图4是根据本发明的另一实施例的测试像素驱动电路时的各信号的时序图。需要说明的是，在测试像素驱动电路时，各信号由测试机提供。
在第一时段T1，上一级扫描信号Scan[n-1]为低电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em均为高电位。在第一时段T1中实质上并不对像素驱动电路进行测试，而各信号的在第一时段T1的高电位或低电位仅是测试机提供时的缓冲波段。
在第二时段T2，上一级扫描信号Scan[n-1]和使能信号Em为高电位，当前级扫描信号Scan[n]为低电位。在第二时段T2中实质上也并不对像素驱动电路进行测试，而各信号的在第二时段T2的高电位或低电位仅是测试机提供时的缓冲波段。
在第三时段T3，即间接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]和使能信号Em为低电位，当前级扫描信号Scan[n]为高电位；此时第一晶体管T1、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6导通，第一节点g的电位变成低电位，同时将该低电位存储在电容器C中，以作为第四时段T4导通第一晶体管T1的电压，从而能够间接检测第四晶体管T4和电容器C的功能正常与否。这里，所述间接检测指的是：如果在第三时段T3中，第四晶体管T4和/或电容器C出现异常，那么是无法进入之后的第四时段T4的。因此，如果正常进入第四时段T4，那么表示第四晶体管T4和电容器C的功能正常。
在第四时段T4，即直接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]为高电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em均为低电位。此时，第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7均导通，而第一晶体管T1根据电容器C在第三时段T3存储的电压也导通，通过检测第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流来确定第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7是否正常。若检测到第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流在预定电流范围内，则表示第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7正常。其中，图6所示的像素驱动电路中的虚线箭头表示测试像素驱动电路时第四时段T4中电流的流经方向。需要说明的是，所述预定电流范围指的是在长期的检测过程中确定的适用于检测像素驱动电路的合理电流范围。
图5是根据本发明的又一实施例的测试像素驱动电路时的各信号的时序图。需要说明的是，在测试像素驱动电路时，各信号由测试机提供。
在第一时段T1，上一级扫描信号Scan[n-1]为低电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em均为高电位。在第一时段T1中实质上并不对像素驱动电路进行测试，而各信号的在第一时段T1的高电位或低电位仅是测试机提供时的缓冲波段。
在第二时段T2，上一级扫描信号Scan[n-1]和使能信号Em为高电位，当前级扫描信号Scan[n]为低电位。在第二时段T2中实质上也并不对像素驱动电路进行测试，而各信号的在第二时段T2的高电位或低电位仅是测试机提供时的缓冲波段。
在第三时段T3，即间接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]为低电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em为高电位；此时第四晶体管T4导通，第一节点g的电位变成低电位，同时将该低电位存储在电容器C中，以作为第四时段T4导通第一晶体管T1的电压，从而能够间接检测第四晶体管T4和电容器C的功能正常与否。这里，所述间接检测指的是：如果在第三时段T3中，第四晶体管T4和/或电容器C出现异常，那么是无法进入之后的第四时段T4的。因此，如果正常进入第四时段T4，那么表示第四晶体管T4和电容器C的功能正常。
在第四时段T4，即直接测试时段，上一级扫描信号Scan[n-1]为高电位，当前级扫描信号Scan[n]和使能信号Em均为低电位。此时，第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7均导通，而第一晶体管T1根据电容器C在第三时段T3存储的电压也导通，通过检测第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流来确定第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7是否正常。若检测到第二晶体管T2的第一端和第四晶体管T4的第二端之间的电流在预定电流范围内，则表示第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5、第六晶体管T6和第七晶体管T7正常。其中，图6所示的像素驱动电路中的虚线箭头表示测试像素驱动电路时第四时段T4中电流的流经方向。需要说明的是，所述预定电流范围指的是在长期的检测过程中确定的适用于检测像素驱动电路的合理电流范围。
此外，需要说明的是，在对所述像素驱动电路进行测试时，可以不需要有机发光二极管OLED，但本发明并不限制于此。
综上所述，根据本发明的实施例通过在测试时段改变各驱动信号的高低电位的时序，从而来完成对像素驱动电路中的各晶体管和各电容器的测试，进而不会出现漏检现象。
虽然已经参照特定实施例示出并描述了本发明，但是本领域的技术人员将理解：在不脱离由权利要求及其等同物限定的本发明的精神和范围的情况下，可在此进行形式和细节上的各种变化。
Claims (8)
1.一种测试像素驱动电路的方法，其特征在于，所述像素驱动电路包括：
第一晶体管，其栅电极连接到第一节点，且其第一端连接到第二节点，且其第二端连接到第三节点；
第二晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第二节点，且其第一端用于接收数据电压；
第三晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第二端连接到所述第三节点，且其第一端连接到所述第一节点；
第四晶体管，其栅电极用于接收上一级扫描信号，且其第一端连接到所述第一节点，且其第二端用于接收第二电源电压；
第五晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端用于接收第一电源电压，且其第二端连接到所述第二节点；
第六晶体管，其栅电极用于接收使能信号，且其第一端连接到所述第三节点；
第七晶体管，其栅电极用于接收当前级扫描信号，且其第一端连接到所述第四晶体管的第二端，且其第二端连接到所述第六晶体管的第二端；
电容器，其第一端连接所述第五晶体管的第一端，且其第二端连接所述第一节点；
其中，所述测试像素驱动电路的方法包括：
在间接测试时段通过导通所述第四晶体管，以将用于在直接测试时段导通所述第一晶体管的电压存储在所述电容器中，若从间接测试时段进入直接测试时段，则所述第四晶体管和所述电容器正常；
在所述间接测试时段之后的直接测试时段导通所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管，并检测所述第二晶体管的第一端和所述第四晶体管的第二端之间的电流，若检测到的电流在预定电流范围内，则确定所述第一晶体管、所述第二晶体管、所述第三晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管正常。
2.根据权利要求1所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，所述第一晶体管至所述第七晶体管中的每个晶体管是p沟道晶体管。
3.根据权利要求2所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号为低电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为高电位。
4.根据权利要求2所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间接测试时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号为低电位，所述当前级扫描信号为高电位。
5.根据权利要求3或4所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述直接测试时段，所述上一级扫描信号为高电位，所述当前级扫描信号和所述使能信号为低电位。
6.根据权利要求3所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间隔测试时段之前的第一时段，所述上一级扫描信号、所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位。
7.根据权利要求3或4所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述间隔测试时段之前的第二时段，所述上一级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述当前级扫描信号为低电位。
8.根据权利要求7所述的测试像素驱动电路的方法，其特征在于，在所述第二时段之前的第一时段，所述当前级扫描信号和所述使能信号均为高电位，所述上一级扫描信号为低电位。
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