CN108169657B - 智能功率模块和智能功率模块的测试方法 - Google Patents

智能功率模块和智能功率模块的测试方法 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种智能功率模块和智能功率模块的测试方法。该模块包括：至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号；测试控制单元，与至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号；至少一个功率芯片，与测试控制单元连接，用于接收测试控制单元输出的测试控制信号。通过本申请，解决了相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题。

Description

智能功率模块和智能功率模块的测试方法
技术领域
本申请涉及智能功率模块技术领域，具体而言，涉及一种智能功率模块和智能功率模块的测试方法。
背景技术
智能功率模块通过内部集成芯片的方法提高了集成度和稳定性。因为智能功率模块的芯片都是塑封在树脂内部的，现有方法无法在不破坏其结构的情况下直接对其内部器件(主要是功率芯片及其主控芯片)进行测试。产品一旦失效后，现有的方法是通过X光、打磨、使用强酸腐蚀树脂等，通过肉眼观察判断分析失效原因，其过程比较复杂而且不能确保判断失效芯片的准确性。
针对上述相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种智能功率模块和智能功率模块的测试方法，以解决相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题。
为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种智能功率模块。该模块包括：至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将所述控制信号进行转换，输出转换后的控制信号，其中，所述转换后的控制信号为用于驱动对应的功率芯片工作的信号；测试控制单元，与所述至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对所述至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号，其中，根据所述转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；至少一个功率芯片，与所述测试控制单元连接，用于接收所述测试控制单元输出的测试控制信号，其中，检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。
进一步地，每个主控芯片包括多个端口，每个端口用于接收对应的控制信号。
进一步地，所述智能功率模块包括：第一判断模块，用于判断所述测试控制单元输出的每个主控芯片转换后的控制信号是否是预设信号；第一判定模块，用于在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片正常；第二判定模块，用于在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号不是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片失效。
进一步地，所述智能功率模块包括：检测模块，用于检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动工作；第三判定模块，用于在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片正常；第四判定模块，用于在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后未启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片失效。
进一步地，所述智能功率模块包括：测试控制切换模块，用于在输出低电平至所述测试控制单元时，控制所述测试控制单元切换为测试模式。
进一步地，所述智能功率模块用于驱动三相电机。
进一步地，所述智能功率模块用于驱动空调中的压缩机。
为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种智能功率模块的测试方法。该方法包括：将控制信号输入至少一个主控芯片；获取每个主控芯片对所述控制信号进行转换后的控制信号；基于所述转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；和/或，将测试控制信号输入至少一个功率芯片，其中，所述测试控制信号用于指示启动所述至少一个功率芯片；检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。
为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行上述任意一项所述的智能功率模块的测试方法。
为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行上述任意一项所述的智能功率模块的测试方法。
本申请的智能功率模块，包括：至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号；测试控制单元，与至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号；至少一个功率芯片，与测试控制单元连接，用于接收测试控制单元输出的测试控制信号，解决了相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题。根据测试控制单元输出的信号，分析主控芯片或功率芯片是否失效，进而达到了分析智能功率模块中芯片失效过程简单，提升分析芯片失效的准确性的效果。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1是根据本申请实施例提供的智能功率模块的示意图；
图2是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图一；
图3是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图二；
图4是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图三；
图5是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图四；以及
图6是根据本申请实施例提供的智能功率模块的测试方法的流程图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
根据本申请的实施例，提供了一种智能功率模块。
图1是根据本申请实施例的智能功率模块的示意图。如图1所示，该模块包括以下：
至少一个主控芯片10，用于每个主控芯片10接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号，其中，转换后的控制信号为用于驱动对应的功率芯片30工作的信号。
上述的主控芯片主要的功能是接收控制输入信号，将信号转换为可直接控制后端功率芯片动作的信号，并集成过流、过热、低压保护、防上下桥直通等功能。
测试控制单元20，与至少一个主控芯片10连接，用于在对每个功率芯片30进行测试时，输出与每个功率芯片30对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片30工作；在对至少一个主控芯片10进行测试时，输出每个主控芯片10转换后的控制信号，其中，根据转换后的控制信号判断对应的主控芯片10是否失效。
至少一个功率芯片30，与测试控制单元20连接，用于接收测试控制单元20输出的测试控制信号，其中，检测每个功率芯片30接收测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片30是否失效。
上述的功率芯片可以包括MOSFET、IGBT等电力电子器件。
本申请实施例提供的智能功率模块，包括至少一个主控芯片10，每个主控芯片10接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号；测试控制单元20，与至少一个主控芯片10连接，在对每个功率芯片30进行测试时，输出与每个功率芯片30对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片30工作；在对至少一个主控芯片10进行测试时，输出每个主控芯片10转换后的控制信号；至少一个功率芯片30，与测试控制单元20连接，接收测试控制单元20输出的测试控制信号，解决了相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题。根据测试控制单元输出的信号，分析主控芯片或功率芯片是否失效，进而达到了分析智能功率模块中芯片失效过程简单，提升分析芯片失效的准确性的效果。
如图2所示，图2是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图一，主控芯片和测试控制单元可以作为新主控芯片，通过将控制信号输入至该新主控芯片，新主控芯片对该控制信号进行转换输出驱动信号至功率芯片驱动功率芯片启动。通过测试控制单元可以输出主控芯片转换后的控制信号，也可以直接接收测试控制信号输入至功率芯片。通过本申请实施例提供的智能功率模块，根据测试控制单元输出的信号，分析主控芯片或功率芯片是否失效，进而达到了分析智能功率模块中芯片失效过程简单，提升分析芯片失效的准确性的效果。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，每个主控芯片10包括多个端口，每个端口用于接收对应的控制信号。
如图3所示，图3是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图二，对于图3中的主控芯片，其包括多个端口，如UP，VP，WP，UN，VN，WN，其中，UP接收的控制信号，通过主控芯片转换输出的信号驱动P、U之间的功率芯片，VP接收的控制信号，通过主控芯片转换输出的信号驱动V、U之间的功率芯片等等。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，智能功率模块包括：第一判断模块，用于判断测试控制单元20输出的每个主控芯片10转换后的控制信号是否是预设信号；第一判定模块，用于在测试控制单元20输出的目标主控芯片10转换后的控制信号是预设信号的情况下，判定目标主控芯片10正常；第二判定模块，用于在测试控制单元20输出的目标主控芯片10转换后的控制信号不是预设信号的情况下，判定目标主控芯片10失效。
如图4所示，图4是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图三，在测试模式下，依次逐项输入控制信号，“测试控制信号”端检测控制芯片其中某一路的输出。通过检测“测试控制信号”端是否是预设信号，若是预设信号则判定主控芯片正常，若“测试控制信号”端不是预设信号，判定主控芯片失效或损坏。例如，主控芯片接收到3.3V的信号，通过主控芯片转换后，应输出15V的信号，若“测试控制信号”端输出的信号为15V的信号,判定主控芯片正常，若“测试控制信号”端输出的信号不为15V的信号，则判定主控芯片失效或损坏。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，智能功率模块包括：检测模块，用于检测每个功率芯片30接收测试控制信号后是否启动工作；第三判定模块，用于在检测到目标功率芯片30接收测试控制信号后启动工作的情况下，判定目标功率芯片30正常；第四判定模块，用于在检测到目标功率芯片30接收测试控制信号后未启动工作的情况下，判定目标功率芯片30失效。
如图5所示，图5是根据本申请实施例提供的可选的智能功率模块的示意图四，在测试模式下，“测试控制信号”端可作为后端功率芯片的控制输入，控制端不输入信号，“测试控制信号”端输入功率芯片开启信号，使得后端所有功率芯片都接到控制信号，检测后端功率芯片是否动作(此处的动作对应上述的启动工作)，若检测到功率芯片动作则证明功率芯片正常，检测到功率芯片无动作则证明功率芯片失效或损坏。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，智能功率模块包括：测试控制切换模块，用于在输出低电平至测试控制单元20时，控制测试控制单元20切换为测试模式。
在“测试控制切换”端为低电平或者悬空时(对应上述的测试切换模块输出低电平)，为测试智能功率模块的模式(对应上述的测试模式)，会将功率芯片的控制端全部短接至“测试控制信号”端。需要说明的是，若“测试控制切换”引脚为高电平时，会切断测试控制单元中的连接，为智能功率模块正常的工作模式。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，智能功率模块用于驱动三相电机。
可选地，在本申请实施例提供的智能功率模块中，智能功率模块用于驱动空调中的压缩机。
本申请实施例还提供了一种智能功率模块的测试方法，需要说明的是，本申请实施例的智能功率模块可以用于执行本申请实施例所提供的用于智能功率模块的测试方法。以下对本申请实施例提供的智能功率模块的测试方法进行介绍。
图6是根据本申请实施例的智能功率模块的测试方法的流程图。如图6所示，该方法包括：
步骤S101，将控制信号输入至少一个主控芯片；
步骤S102，获取每个主控芯片对控制信号进行转换后的控制信号；
步骤S103，基于转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；
和/或，步骤S104，将测试控制信号输入至少一个功率芯片，其中，测试控制信号用于指示启动至少一个功率芯片；
步骤S105，检测每个功率芯片接收测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。
通过本申请实施例提供的智能功率模块的测试方法，通过将控制信号输入至少一个主控芯片；获取每个主控芯片对所述控制信号进行转换后的控制信号；基于所述转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；和/或，将测试控制信号输入至少一个功率芯片，其中，所述测试控制信号用于指示启动所述至少一个功率芯片；检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。解决了相关技术中分析智能功率模块中芯片失效过程复杂的问题。根据测试控制单元输出的信号，分析主控芯片或功率芯片是否失效，进而达到了分析智能功率模块中芯片失效过程简单，提升分析芯片失效的准确性的效果。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机***中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现智能功率模块的测试方法。
本发明实施例提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行智能功率模块的测试方法。
本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现以下步骤：至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号，其中，转换后的控制信号为用于驱动对应的功率芯片工作的信号；测试控制单元，与至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号，其中，根据转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；至少一个功率芯片，与测试控制单元连接，用于接收测试控制单元输出的测试控制信号，其中，检测每个功率芯片接收测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将控制信号进行转换，输出转换后的控制信号，其中，转换后的控制信号为用于驱动对应的功率芯片工作的信号；测试控制单元，与至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号，其中，根据转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；至少一个功率芯片，与测试控制单元连接，用于接收测试控制单元输出的测试控制信号，其中，检测每个功率芯片接收测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机***中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、***或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (7)

1.一种智能功率模块，其特征在于，包括：
至少一个主控芯片，用于每个主控芯片接收控制信号，将所述控制信号进行转换，输出转换后的控制信号，其中，所述转换后的控制信号为用于驱动对应的功率芯片工作的信号；
测试控制单元，与所述至少一个主控芯片连接，用于在对每个功率芯片进行测试时，输出与每个功率芯片对应的测试控制信号，以驱动每个功率芯片工作；在对所述至少一个主控芯片进行测试时，输出每个主控芯片转换后的控制信号，其中，根据所述转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；
至少一个功率芯片，与所述测试控制单元连接，用于接收所述测试控制单元输出的测试控制信号，其中，检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效；
其中，所述智能功率模块包括：第一判断模块，用于判断所述测试控制单元输出的每个主控芯片转换后的控制信号是否是预设信号；第一判定模块，用于在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片正常；第二判定模块，用于在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号不是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片失效；
所述智能功率模块包括：检测模块，用于检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动工作；第三判定模块，用于在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片正常；第四判定模块，用于在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后未启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片失效；
所述智能功率模块包括：测试控制切换模块，用于在输出低电平至所述测试控制单元时，控制所述测试控制单元切换为测试模式；在输出高电平至所述测试控制单元时，控制所述测试控制单元切换为工作模式。
2.根据权利要求1所述的智能功率模块，其特征在于，每个主控芯片包括多个端口，每个端口用于接收对应的控制信号。
3.根据权利要求1所述的智能功率模块，其特征在于，所述智能功率模块用于驱动三相电机。
4.根据权利要求1所述的智能功率模块，其特征在于，所述智能功率模块用于驱动空调中的压缩机。
5.一种智能功率模块的测试方法，其特征在于，包括：
将控制信号输入至少一个主控芯片；
获取每个主控芯片对所述控制信号进行转换后的控制信号；
基于所述转换后的控制信号判断对应的主控芯片是否失效；
将测试控制信号输入至少一个功率芯片，其中，所述测试控制信号用于指示启动所述至少一个功率芯片；
检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动以判断每个功率芯片是否失效；
其中，所述方法包括：判断测试控制单元输出的每个主控芯片转换后的控制信号是否是预设信号；在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片正常；在所述测试控制单元输出的目标主控芯片转换后的控制信号不是预设信号的情况下，判定所述目标主控芯片失效；
所述方法包括：检测每个功率芯片接收所述测试控制信号后是否启动工作；在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片正常；在检测到目标功率芯片接收所述测试控制信号后未启动工作的情况下，判定所述目标功率芯片失效；
所述方法包括：在输出低电平至所述测试控制单元时，控制所述测试控制单元切换为测试模式；在输出高电平至所述测试控制单元时，控制所述测试控制单元切换为工作模式。
6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求5所述的智能功率模块的测试方法。
7.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求5所述的智能功率模块的测试方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111193404A (zh) * 2020-01-15 2020-05-22 辽宁百思特达半导体科技有限公司 氮化镓芯片的三相全桥电路及智能功率模块及其控制方法
CN113655843B (zh) * 2021-07-01 2022-11-18 济南安时能源科技有限公司 功率芯片管理***及方法
CN114123834B (zh) * 2021-10-29 2024-03-29 广东汇芯半导体有限公司 半导体电路
CN115166407A (zh) * 2022-09-06 2022-10-11 广东汇芯半导体有限公司 一种测试电路及应用其的测试仪
CN117200546B (zh) * 2023-07-28 2024-04-02 海信家电集团股份有限公司 智能功率模块ipm、控制方法、芯片及电子设备

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5294882A (en) * 1992-07-28 1994-03-15 Sharp Kabushiki Kaisha Integrated circuit capable of testing reliability
JPH10267977A (ja) * 1997-03-28 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
CN103595227A (zh) * 2013-11-20 2014-02-19 西安永电电气有限责任公司 一种智能功率模块
CN105052030A (zh) * 2013-03-15 2015-11-11 三菱电机株式会社 功率模块
CN105445648A (zh) * 2015-12-18 2016-03-30 浙江大华技术股份有限公司 一种测试修调电路及一种集成电路
CN106597142A (zh) * 2016-11-08 2017-04-26 许继电气股份有限公司 一种svg功率模块的自动测试装置
CN107290650A (zh) * 2017-07-17 2017-10-24 青岛海信电器股份有限公司 Bist逻辑电路、低功耗芯片、存储器的测试方法及电子设备
TW201819938A (zh) * 2016-11-16 2018-06-01 財團法人工業技術研究院 智能型功率模組診斷系統及其方法
CN108122796A (zh) * 2016-11-28 2018-06-05 无锡华润华晶微电子有限公司 键合损伤的检测***

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5294882A (en) * 1992-07-28 1994-03-15 Sharp Kabushiki Kaisha Integrated circuit capable of testing reliability
JPH10267977A (ja) * 1997-03-28 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
CN105052030A (zh) * 2013-03-15 2015-11-11 三菱电机株式会社 功率模块
CN103595227A (zh) * 2013-11-20 2014-02-19 西安永电电气有限责任公司 一种智能功率模块
CN105445648A (zh) * 2015-12-18 2016-03-30 浙江大华技术股份有限公司 一种测试修调电路及一种集成电路
CN106597142A (zh) * 2016-11-08 2017-04-26 许继电气股份有限公司 一种svg功率模块的自动测试装置
TW201819938A (zh) * 2016-11-16 2018-06-01 財團法人工業技術研究院 智能型功率模組診斷系統及其方法
CN108122796A (zh) * 2016-11-28 2018-06-05 无锡华润华晶微电子有限公司 键合损伤的检测***
CN107290650A (zh) * 2017-07-17 2017-10-24 青岛海信电器股份有限公司 Bist逻辑电路、低功耗芯片、存储器的测试方法及电子设备

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