CN108051578A - 通过局部电位测量进行的纳米孔感测 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及通过局部电位测量进行的纳米孔感测，其中提供了设置在支撑结构中的纳米孔，具有在第一流体储存器与纳米孔入口之间的流体连接和在第二流体储存器与纳米孔出口之间的第二流体连接。第一缓冲浓度的第一离子溶液设置在第一储存器中，不同于第一浓度的第二缓冲浓度的第二离子溶液设置在第二储存器中，纳米孔提供了第一与第二储存器之间的唯一流体连通路径。在纳米孔传感器中的位置上设置有电连接，其在目标物移位通过两个储存器之间的纳米孔时产生表示局部到纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号。

Description

通过局部电位测量进行的纳米孔感测
本申请是一项发明专利申请的分案申请，其母案的申请日为2011年4月29日、申请号为201180071394.4 (PCT/US2011/034426)、发明名称为“通过局部电位测量进行的纳米孔感测”。
相关申请的交叉引用
本申请要求2011年4月4日提交的美国临时申请No. 61/471,345的权益，在此其整体通过引用并入。
关于联邦资助研究的声明
本发明是在美国国立卫生研究院（NIH）颁发的合同No. 5DP1OD003900下政府资助作出的。政府在本发明中享有一定的权利。
技术领域
本发明一般涉及采用纳米孔传感器的感测***，并且更特别地涉及当物质通过纳米孔传感器移位时感测物质的技术。
背景技术
固态和生物纳米孔日益成为对于开发低成本、高通量感测***作出的大量努力的焦点，所述感测***可以用于感测宽范围的物质，包括单一分子。例如，已经提出使用固态纳米孔来使单一分子DNA测序技术成为可能。虽然已经使用改性蛋白质纳米孔来检测和区分通过DNA的酶裂解制备的单一DNA碱基，但是由通过纳米孔的分子移位测序单链DNA（ssDNA）分子的目的尚未完全实现。
一种提出的纳米孔感测的方法是基于检测通过设置在膜或其它支撑结构中的纳米孔的离子电流的调制的方法。给定在离子溶液中提供的待通过纳米孔移位的分子，当该分子通过纳米孔移位时，穿过纳米孔的离子电流与没有该分子的情况下通过纳米孔的离子电流相比相应地减少。该纳米孔感测方法的局限性在于通常记录小的微微安离子电流信号是相当难的，所述小的微微安离子电流信号是在与非常快的分子移位速度一致的带宽下的分子纳米孔移位的特征。DNA分子通过纳米孔的移位的速度可以是~1 µs/核苷酸。此外，以并行多路传输格式记录这种在高带宽下的小电流信号已被证明是极其困难的。
为了避开用于纳米孔感测的离子电流测量方法的技术挑战，已经提出了几种替代的纳米孔感测方法。这些替代的方法可以归纳为意在努力采用与纳米孔整合的电子传感器来记录较大的并且相对更局部的纳米孔信号。这些纳米孔感测方法包括例如测量跨纳米孔的电容耦合和测量通过移位纳米孔的物质的隧穿电流。虽然提供了令人感兴趣的替代感测技术，这些电容耦合和隧穿电流测量技术尚未改进用于纳米孔感测的常规离子电流检测技术，并且离子电流检测技术仍然受到信号幅度和信号带宽问题的挑战。
发明内容
通过采用局部电位感测方法提供了一种纳米孔传感器，其克服了常规纳米孔传感器和纳米孔传感技术的测量敏感性和信号带宽限制。在一个这样的实例中，提供了一种纳米孔传感器，包括设置在支撑材料中的纳米孔，具有在第一流体储存器与纳米孔入口之间的流体连接和在第二流体储存器与纳米孔出口之间的第二流体连接。第一缓冲浓度的第一离子溶液设置在第一储存器中，并且第二缓冲浓度（不同于所述第一浓度）的第二离子溶液设置在第二储存器中，纳米孔提供了第一与第二储存器之间的唯一流体连通路径。电连接被设置在纳米孔传感器中的位置上，其在目标物(object)移位通过在两个储存器之间的纳米孔时产生电信号，该电信号表示局部到纳米孔传感器中的至少一个位点的电位。
该纳米孔传感器构造使得能够通过转换元件(如电连接)实现局部电位感测，其提供了高敏感性、高带宽和在移位通过纳米孔的不同目标物之间的大的信号差异。作为结果，纳米孔感测应用，如DNA测序，可以用该纳米孔传感器实现。
由以下说明书和附图以及由权利要求，本发明的其它特征和优点将变得显而易见。
附图说明
图1A是用于测量局部电位的第一示例性纳米孔传感器构造的示意性电路图；
图1B是图1A的纳米孔传感器构造的一个示例性晶体管实施方式的电路图；
图1C是用于测量局部电位的第二示例性纳米孔传感器构造的示意性电路图；
图1D是图1C的纳米孔传感器构造的一个示例性晶体管实施方式的电路图；
图1E是图1A和1C的传感器构造的组合的一个示例性晶体管实施方式的电路图；
图1F是用于测量局部电位的纳米孔传感器构造的单电子晶体管实施方式的示意性平面视图；
图1G是用于测量局部电位的纳米孔传感器构造的量子点接触实施方式的示意性平面视图；
图1H是为实施用于测量局部电位的蛋白质纳米孔传感器构造而设置的包括荧光染料的脂质二重层的示意性侧视图；
图2A是用于测量局部电位的纳米孔传感器的示意性图和相应的电路元件；
图2B是图1B的纳米孔传感器晶体管实施方式的电路图；
图3A是为了定量分析传感器而定义的用于测量局部电位的纳米孔传感器构造的几何特征的示意性侧视图；
图3B-3C是用于测量局部电位的纳米孔传感器的纳米孔中的电位图，其中以距进入顺储存器的纳米孔的距离为函数作图，分别针对其中顺和反储存器包含相同离子浓度的流体溶液的构造，和针对顺和反储存器包含不同离子浓度的流体溶液的构造；
图3D-3E是用于测量局部电位的纳米孔传感器的纳米孔中的电场图，分别对应于图3B-3C的电位图；
图4A是当dsDNA分子移位通过纳米孔时，对于50nm厚的纳米孔膜和用于电泳物质移位的1V跨膜电压（TMV）的配置来说，在纳米孔中电位的变化作为在10nm以下的不同纳米孔直径C 顺 /C 反 离子浓度比的函数的图，其中纳米孔被设置用于局部电位测量；
图4B是图4A的图的条件下对于10nm直径纳米孔在1V TMV 下在反储存器中电位的变化图；
图4C是对于设置用于局部电位测量的纳米孔传感器，噪声源和信号作为记录带宽的函数的图；
图4D是对于一定范围的储存器溶液浓度比，设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的带宽作为顺室溶液浓度的函数的图；
图4E是在设置用于局部电位测量的纳米孔中纳米孔位点的信号衰减长度作为顺和反储存器溶液浓度比的函数的图；
图5是具有设置在膜上的纳米线FET的设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的示意图；
图6是图5的纳米孔传感器构造的一个示例性实施方式的透视图；
图7A-7B分别是具有设置在石墨烯膜上的纳米线FET的设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的示意图，和该纳米孔传感器示例性的实施方式的平面图；
图8A-8B分别是具有设置在纳米线FET上的石墨烯层的设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的示意图，和该纳米孔传感器的示例性实施方式的平面图；
图9A-9B分别是具有石墨烯膜的设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的示意图和该纳米孔传感器的示例性实施方式的平面图；
图10A-10D是纳米孔相对于设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的纳米线的示例性位置的示意性平面图；
图11是当DNA碱基移位通过纳米孔时对四个DNA碱基的每一个测量的电位信号作为设置用于局部电位测量的纳米孔传感器的纳米孔直径的函数的图；
图12是在纳米线位置上形成纳米孔之前和之后设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的纳米线的敏感性图；
图13A分别是当DNA移位通过在设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的纳米孔时i）测量的通过纳米孔的离子电流和ii）测量的纳米线FET电导率的图，TMV为2V，顺/反储存器溶液浓度比为100:1，局部电位测量在反储存器中进行；
图13B分别是当DNA移位通过在设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的纳米孔时i）测量的通过纳米孔的离子电流和ii）测量的纳米线FET电导率的图，TMV为2.4V，顺/反储存器溶液浓度比为100:1，局部电位测量在反储存器中进行；
图13C分别是当DNA移位通过在设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的纳米孔时i）测量的通过纳米孔的离子电流和ii）测量的纳米线FET电导率的图，TMV为0.6V，顺/反储存器溶液浓度比为1:1，局部电位测量在反储存器中进行；和
图14分别是当DNA移位通过在设置用于局部电位测量的纳米孔传感器中的三个传感器中的纳米孔时，i）通过共享储存器的三个纳米孔测量的总离子电流，ii）测量的通过第一个纳米孔的纳米线FET电导率，iii）测量的通过第二个纳米孔的纳米线FET电导率，和iv）测量的通过第三个纳米孔的纳米线FET电导率的图。
具体实施方式
在某些优选实施方式中，本发明提供了以下的技术方案：
方案1. 一种纳米孔传感器，包括：
设置在支撑结构中的纳米孔；
第一流体储存器与纳米孔入口之间的流体连接，第一缓冲浓度的第一离子溶液设置在第一存储器中；
第二流体储存器与纳米孔出口之间的流体连接，不同于第一浓度的第二缓冲浓度的第二离子溶液设置在第二存储器中，所述纳米孔提供了第一与第二储存器之间的唯一流体连通路径；和
设置在纳米孔传感器中的位置上的电连接，其在目标物移位通过在两个储存器溶液之间的纳米孔时产生电信号，该电信号表示局部到纳米孔传感器中的至少一个位点的电位。
方案2. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在与两个储存器流体溶液中的一个连通的传感器位置上，该溶液具有比两个储存器流体溶液中的另一个低的缓冲浓度。
方案3. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在传感器的某个位置上，该位置产生表示在纳米孔入口和纳米孔出口之一处的局部电位的电信号。
方案4. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在传感器的某个位置上，该位置产生表示在纳米孔入口和纳米孔出口处的局部电位之间的差异的电信号。
方案5. 方案1的纳米孔传感器，其中所述纳米孔通过流体溶液电阻表征，该较低流体溶液缓冲浓度的储存器通过存储器接入电阻表征，所述存储器接入电阻具有与纳米孔流体溶液电阻相同的数量级并且比该较高流体溶液缓冲浓度的储存器的特征存储器接入电阻高至少一个数量级。
方案6. 方案5的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在产生表示储存器之一中的局部电位的电信号的传感器位置上，该储存器通过较大的储存器接入电阻表征。
方案7. 方案1的纳米孔传感器，其中流体溶液缓冲浓度中的一个比流体溶液缓冲浓度中的另一个大至少约20倍。
方案8. 方案1的纳米孔传感器，其中流体溶液缓冲浓度中的一个比流体溶液缓冲浓度中的另一个大至少约50倍。
方案9. 方案1的纳米孔传感器，其中流体溶液缓冲浓度中的一个比流体溶液缓冲浓度中的另一个大至少约100倍。
方案10. 方案1的纳米孔传感器 ，其中第一流体储存器的流体溶液缓冲浓度和第二流体储存器的流体溶液缓冲浓度之间的差异足以产生由纳米孔的入口和纳米孔的出口之一测量的至少约5nm的局部电位信号衰减长度。
方案11. 方案1的纳米孔传感器，其中第一流体储存器的流体溶液缓冲浓度和第二流体储存器的流体溶液缓冲浓度之间的差异足以产生以至少约50MHz的带宽表征的局部电位信号。
方案12. 方案1的纳米孔传感器，其中所述纳米孔的特征在于直径在约1nm和约5nm之间。
方案13. 方案1的石墨烯纳米孔传感器，其中所述纳米孔的特征在于直径小于约2nm。
方案14. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在纳米孔的入口和纳米孔的出口之一上，并且产生了表示局部到纳米孔的入口和纳米孔的出口之一的电位的电信号。
方案15. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接设置在所述纳米孔上并且产生了表示局部到纳米孔入口的电位和局部到纳米孔出口的电位之间的差异的电信号。
方案16. 方案1的纳米孔传感器 ，其中所述电连接包括电气器件或器件区域。
方案17. 方案1的纳米孔传感器 ，其中所述电连接包括电路。
方案18. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接包括晶体管。
方案19. 方案18的纳米孔传感器，其中所述电连接包括场效应晶体管。
方案20. 方案19的纳米孔传感器，其中所述电连接包括纳米线场效应晶体管。
方案21. 方案20的纳米孔传感器，其中所述纳米线包括硅纳米线。
方案22. 方案18的纳米孔传感器，其中所述电连接包括单电子晶体管。
方案23. 方案18的纳米孔传感器，其中所述晶体管设置在所述纳米孔支撑结构上。
方案24. 方案19的纳米孔传感器，其中所述场效应晶体管包括设置在纳米孔上的电子传导通道。
方案25. 方案1的纳米孔传感器 ，其中设置纳米孔的所述支撑材料包括膜。
方案26. 方案1的纳米孔传感器 ，其中设置纳米孔的所述支撑材料包括石墨烯的悬浮层。
方案27. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接包括其中设置纳米孔的石墨烯层。
方案28. 方案25的纳米孔传感器，其中所述电连接包括设置在纳米孔的入口和纳米孔的出口之一的位置处的膜上的纳米线。
方案29. 方案1的纳米孔传感器 ，其中设置纳米孔的所述支撑结构包括固态材料。
方案30. 方案1的纳米孔传感器，其中设置纳米孔的所述支撑结构包括生物材料。
方案31. 方案1的纳米孔传感器 ，进一步包括在第一流体溶液和第二流体溶液之间的电连接，其在纳米孔的入口和纳米孔的出口之间施加电偏压以电泳地驱动目标物通过纳米孔。
方案32. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接响应于分子移位通过纳米孔而产生表示局部到在纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号。
方案33. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接响应于选自DNA、RNA、核苷酸、核苷、寡核苷酸、蛋白质、多肽和氨基酸中的至少一种移位通过纳米孔而产生表示局部到在纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号。
方案34. 方案1的纳米孔传感器 ，其中所述电连接响应于A、T、G和C DNA碱基中的每一个相应之一移位通过纳米孔而产生明显不同的表示局部到在纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号。
方案35. 方案34的纳米孔传感器，其中两种流体溶液缓冲浓度中的一个比两种流体溶液缓冲溶度的另一个大至少约100倍，且其中所述电连接响应于A、T、G和C DNA碱基中的每一个相应之一移位通过纳米孔而产生不同的表示局部到在纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号，每一个不同的电信号之间的差异为至少约5mV。
方案36. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接响应于DNA片段移位通过纳米孔而产生表示局部到在纳米孔传感器中的至少一个位点的电位的电信号。
方案37. 方案1的纳米孔传感器，其中所述电连接产生了可以作为时间的函数处理的电信号以确定目标物通过纳米孔的移位的时间和持续时间。
方案38. 一种纳米孔传感器，包括：
设置在支撑结构中的纳米孔；
第一流体储存器与纳米孔入口之间的流体连接，第一缓冲浓度的第一离子溶液设置在第一存储器中；
第二流体储存器与纳米孔出口之间的流体连接，不同于第一浓度的第二缓冲浓度的第二离子溶液设置在第二存储器中，所述纳米孔提供了第一与第二储存器之间的唯一流体连通路径；和
设置在纳米孔传感器中的位置上的转换元件，其在目标物移位通过所述纳米孔时产生特征表示局部到纳米孔传感器中的至少一个位点的电位。
方案39. 方案31的纳米孔传感器，其中所述支撑结构包括脂质二重层且其中所述转换元件包括脂质二重层的区域，该区域包括响应于局部电位的变化而改变荧光的荧光染料。
方案40. 方案30的纳米孔传感器，其中所述支撑材料包括固态材料。
图1A-1E是能够进行纳米孔感测的局部电位感测方法的示例性纳米孔传感器构造的示意图。为了讨论的清楚起见，在图中示出的设备特征没有按比例显示。参照图1A，显示了包括支撑结构(如膜14)的纳米孔传感器3，在所述支撑结构中设置有纳米孔12。在该支撑结构中纳米孔12被设置在作为反储存器和顺储存器示意性显示在这里的两个流体储存器之间，使得纳米孔12是所述顺和反储存器之间仅有的流体联通路径。一个储存器连接到纳米孔的入口，而另一个储存器连接到纳米孔的出口。在该纳米孔传感器局部电位测量检测通过纳米孔的物质移位的操作中，在储存器之一中的流体溶液中提供一种或多种物质目标物，例如分子，用于移位通过纳米孔至两个储存器的另一个中。对于许多应用，并且特别是分子感测应用，可以优选在储存器之一中的离子流体溶液中提供分子或其它物质目标物。
所述纳米孔作为支撑结构中的孔、间隙或其它洞提供，并且以适于感测感兴趣的物质目标物的大小(或者为对应于几何形状，直径)提供。例如，为了感测分子纳米孔移位，可以优选小于约100nm的纳米孔，并且可以更优选小于10nm、5nm或2nm的纳米孔。如以下所讨论的，甚至1nm的纳米孔也可以是合适的并且对于某些分子感测应用甚至是优选的。
可以设置储存器或纳米孔传感器的其它组件以提供移动物质目标物，如分子，由一个储存器通过纳米孔至另一个储存器的驱动力。例如，可以在具有电压和电流元件16、18的电路中提供电极13和15以在储存器之间产生电泳力，用于以电泳的方式驱动流体溶液，如电导性的离子溶液，和溶液中的物质由一个储存器通过纳米孔至另一个储存器。为了能够电泳驱动物质通过纳米孔，储存器的流体溶液可以作为具有顺从于溶液中的物质的pH和其它特性的电导性离子溶液提供。由此，电路可以通过纳米孔与储存器溶液串联连接，电极13、15如在图中所示，提供了跨纳米孔的在溶液之间的电偏压。
如在图1A中所示，可以在纳米孔传感器中提供转换元件，其感应局部到元件位点的电位并且产生表示局部电位的特征。例如可以提供感应局部到器件和/或电路7的位点的电势的电连接，如器件或器件区域和/或电路7，线，或电路元件的组合，以产生表示局部电位的信号。电位感应的位置可以在储存器中，在支撑结构的表面上，或在纳米孔传感器内的其它位置。
例如，如在图1B中所示，可以提供包括例如晶体管器件22的电路20，所述晶体管器件22具有源极，S，漏极，D和沟道区24。在该实例中，沟道区24被物理设置在纳米孔传感器环境中进行局部电位测量的位置上。晶体管沟道区24的物理位置可以是在任何方便和适于获取局部电位的位点。
在图1A-1B的示例性设置中，设置电位感应电路局部至反储存器以在纳米孔12的反储存器侧提供测量局部至反储存器的电位的晶体管或其它器件。或者，如在图1C中所示，电位感应器件或电路7可以设置在纳米孔的顺储存器侧。这里，例如如在图1D中所示，可以在纳米孔12的顺储存器侧提供包括晶体管24或其它器件的电路用于测量局部至顺储存器的电位。
在另一示例性的替代设置中，如在图1E中所示，可以包括两个或更多个电路20a、20b等，具有例如感测纳米孔传感器***中的两个或更多个位置，如纳米孔膜的每一侧，处的电位的晶体管22a、22b。取决于电位感应电路的物理实施，从而可以用这种设置测量在纳米孔膜14的两侧的电位。这是其中能够测量在纳米孔传感器中的两个位点之间的局部电位差异的示例性的设置。因此术语“测量的局部电位”意在指在纳米孔传感器中单一位点的电位，指在两个或更多个位点之间的局部电位的差异或总和，和指在纳米孔传感器设置中两个或更多个位点的局部电位。
局部电位测量可以通过任何合适的器件和/或电路或其它转换元件作出，包括生物的或其它非固态的转换元件，并且不限于上述晶体管实施方式。例如，如在图1F中所示，可以在膜14或其它支撑结构上提供单电子晶体管（SET）电路27。该SET的源极S和漏极D区域被设置在膜或其它支撑结构上，提供了SET的隧道壁垒。在得到的量子点***中，通过SET27的电导率取决于关于源极S和漏极D的费米能级的SET的能量水平。有了位于SET附近的纳米孔12，当物质目标物移位通过纳米孔，改变SET电路的电导率时，SET的电位和相应的能级水平发生变化。
在另一实例中，如在图1G中所示，可以在膜14或其它结构上提供量子点接触（QPC）***29用于进行局部电位测量。在该***中，提供了电传导区域31，其形成源极S和漏极D区域，它们在纳米孔12的位点上通过非常薄的传导通道区域连接。通道区域足够薄使得垂直于通道区域的电子载体颗粒能量态被量子化。当物质目标物移位通过纳米孔时，该薄传导通道区域内的费米能级发生改变，导致在费米能级以下的量子化态的数目的变化，和QPC电导率的相应变化。
因此，纳米孔传感器不限于具有固态电压传感器件的固态纳米孔构造。也可以采用生物纳米孔和电位感应设置，例如具有蛋白质纳米孔或其它合适的构造的。例如，如在图1H中所示，可以提供其中设置有蛋白质纳米孔33的脂质二重层膜31。在脂质二重层中提供有电压敏感性染料，例如荧光直接染料37。在这种设置下，当物质目标物例如分子或聚合物移位通过蛋白质纳米孔时，跨脂质二重层的电压降发生变化，并且染料的荧光性通过该电压变化发生改变。光学检测或感测染料荧光和该荧光的变化提供了对该膜位置的电位的感测。可以采用光学显微镜或其它设置来进行作为来自纳米孔传感器的光学输出信号的该电位测量。
该脂质二重层纳米孔传感器是基于感测在纳米孔的位点的局部电位的生物纳米孔传感器的一个实例。用于纳米孔移位检测的局部电位测量方法不限于特定的固态或生物构造并且可以应用于任何合适的纳米孔构造。
参照 图2A，可以在感测物质通过纳米孔的移位的方法中采用这些用于测量在纳米孔传感器中的一个或多个位点上的局部电位的构造。为了解释这种感测的原理，有益地作为电路35建模纳米孔传感器，该电路包括对应于传感器的物理元件的电组件，如在图2A中所示。顺和反存储器可以各自用特征的流体接入电阻R 反 36，R 顺 38模型化。该接入电阻是从储存器溶液的本体至纳米孔位点的流体电阻。纳米孔可以用特征的纳米孔溶液电阻，R 孔 模型化，其是穿过位于膜或其中设置纳米孔的其它结构的两侧之间的纳米孔的长度的溶液的流体电阻。该纳米孔也可以用特征电容C 孔 来模型化，其是膜或其中设置纳米孔的其它支撑结构的函数。两个室的接入电阻和纳米孔溶液电阻40是可变的。
在其中没有物质移位通过纳米孔的纳米孔传感器起始条件中，纳米孔可以通过以上给出的溶液电阻，R 孔 表征，并且两个流体储存器可以分别通过反储存器和顺储存器的接入电阻R 反 和R 顺 来表征。随后，当物质目标物(如生物分子45)移位通过纳米孔12时，如图2A中所示，纳米孔的溶液电阻R 孔 和每一个储存器的接入电阻R 反 和R 顺 发生变化，因为在纳米孔中的分子至少部分阻塞了穿过纳米孔长度的通路，改变了纳米孔的有效直径。伴随着这种阻塞，纳米孔的流体溶液电阻和两个储存器的接入电阻增大，超过在纳米孔中没有分子存在时的纳米孔电阻和两个储存器的接入电阻。
如以下详细解释的，物质目标物部分阻塞纳米孔对纳米孔溶液电阻和储存器接入电阻的影响不同。作为结果，移位物质部分阻塞纳米孔导致在纳米孔与顺和反储存器溶液之间发生电压的相应再分配，并且由此调整整个纳米孔传感器的位点上的电位。在图2A中示为A和B的两个位点的局部电位因此随着纳米孔溶液电阻的该变化和储存器溶液与纳米孔之间的电压的再分配而变化。在这些位点中的任一个上或在纳米孔传感器构造的另一位点上的电位的测量，或在两个或更多个位点之间的局部电位的差异的测量，从而提供了一种分子移位通过纳米孔的指示。
在选择的纳米孔传感器位点上的局部电位和该电位的变化可以通过例如晶体管器件中的传导通道的电导率的变化来感测。因此可以采用晶体管通道的电导率作为局部到晶体管通道的物理位置的电位的直接指示。因此，图1A-1B的纳米孔传感器设置对应于在图2A的电路35中的位点A的局部电位测量。图1C-1D的纳米孔传感器设置对应于在图2A的电路35中的位点B的局部电位测量。图1E的纳米孔传感器设置对应于在图2A的电路35中的位点A和B二者的局部电位测量，并且允许测定这两个位点电位之间的差异。
图1B的示例性构造的一种等同电路显示在图2B中。这里分别表示了顺和反储存器的接入电阻R 顺 ，R 反 ，和纳米孔的流体溶液电阻，R 孔 。用于测量局部电位的器件(如晶体管22的通道)的位置在这里设置在图2A的A位点，在纳米孔的反储存器侧提供了反储存器中的局部电位指示。通过这种设置，当物质目标物(如分子)移位通过纳米孔时，可以监控电位测量电路的输出信号在电位上的变化，对应于纳米孔的状态的变化和在纳米孔中一个或多个目标物的存在或不存在。
该分析可以应用于任何其中提供了局部电位测量电路和/或器件的纳米孔传感器中。该分析不限于上述FET实施方式，并且可应用于以上示出的所有实施方式，以及其它实施方式中。唯一需要的只是提供当物质目标物移位通过纳米孔时做出局部电位测量的器件或电路。
为了进一步分析纳米孔传感器***参数，可以如在图3A的示意性表示中显示的来模型化纳米孔传感器。可以采用几种假设来使能够分析计算。首先，可以忽略由包括局部电位感应器件或电路所引起的纳米孔传感器膜、纳米孔或其它区域的几何变化，并且所述电位感应器件可以模型化为点电位检测器。假设储存器包含电传导的离子溶液。两种储存器溶液规定为通过区别离子浓度来表征。通过此说明，通过纳米孔***的浓度分布由通过顺/反储存器浓度差驱动的稳态扩散决定。可以通过将在纳米孔的两侧上的小半球中缓冲浓度分布和电位近似为常数作出进一步的假设。假设纳米孔传感器为稳态。在这些条件下，纳米孔传感器的扩散方程如下：
其中C是浓度，t是时间，r是在储存器中测量的点离纳米孔的位置，和z是通过纳米孔长度的距离。如果这些扩散方程在远离纳米孔的顺储存器中C=C顺，在远离纳米孔的反存储器中C=C反的边界条件下求解时，在纳米孔中和对于两个储存器来说通量(flux)是相同的，并且该浓度在每一个储存器中的纳米孔开口处是连续的，那么两个储存器和纳米孔的离子浓度可以如下给出：
其中l和d分别是膜或其它支撑结构的厚度和纳米孔直径。从而由于离子浓度分布是已知的并且溶液导电率与浓度成比例，那么溶液的导电率σ如下给出：
其中Σ是溶液的摩尔导电率。假设总电流是I，那么通过纳米孔传感器的电位降，顺储存器电压VC，反储存器电压VT和纳米孔电压VP可以如下给出：
。
如果这三个方程在远离纳米孔的顺储存器中的边界条件下求解，那么电位等于跨结构或膜施加的电压，即跨膜电压（TMV）以以电泳的方式驱动目标物通过纳米孔，和如果这三个方程在远离纳米孔的反室中的边界条件下求解，电位为0 V，那么在纳米孔传感器中的电压，即在顺储存器中的电压V C (r)，在反储存器中的电压V T (r)和在纳米孔中的电压V P (r)如下给出：
。
因为电位在进入储存器的两个纳米孔开口处是连续的和因为总施加电压为V，表达式（5）可以进一步简化为：
。
利用该表达式，在纳米孔内部的电场E P (r)可以如下给出：
。
利用该表达式，在纳米孔的反储存器侧的电位变化可以通过由于在纳米孔中物质目标物(如分子)的存在而导致的纳米孔面积A的减少所造成的电位变化来评估，如下：
其中δA是分子的横截面积。
纳米孔传感器的电阻，即R 顺 ，R 反 和R 孔 可以基于以上跨储存器和纳米孔电压降的表达式计算，如下：
。
因此，纳米孔传感器的总电阻和离子电流如下给出：
。
通过这些表达式，证明了纳米孔传感器的电特性和特别是在传感器中电位分布直接取决于在顺和反储存器中的流体溶液的离子浓度。具体地，储存器溶液的浓度之比直接影响由于物质移位通过纳米孔导致的局部电位变化的大小。
图3B-3E是证明这些条件的在纳米孔中的电位和电场的图。给定顺/反缓冲溶液浓度比=1:1，50nm厚的氮化物膜，在该膜中10nm直径的纳米孔，和1V的跨膜电压，即在两个储存器中的溶液之间施加的1V，则基于以上表达式（6），在图3B中绘出了纳米孔中的电位作为在顺储存器上离纳米孔开口的距离的函数的图。在图3C中给出了相同的电位的图，条件是其中顺/反缓冲溶液浓度比替换为100:1。请注意在更接近较低浓度储存器的点上对于不平衡的缓冲溶液比在给定纳米孔位置上电位的增加。
图3D是基于以上表达式（7），在以上给定的条件下纳米孔中的电场图，这里是对于平衡的缓冲溶液比。相同的电场图在图3E中作出，条件是其中顺/反缓冲溶液浓度比替换为100:1。请注意对于不平衡的缓冲溶液比在给定纳米孔位置处电位的增加，和在更接近低浓度、更高电阻的储存器的点处电场显著更强。
利用这一发现，据发现在其中储存器溶液二者均以相同离子浓度的导电离子溶液提供的条件下，顺储存器的接入电阻R 顺 、反储存器接入电阻R 反 和纳米孔溶液电阻R 孔 之比全部固定并且纳米孔电阻比两个储存器接入电阻大得多。但在非平衡离子浓度条件下，具有较低离子浓度的储存器具有较大的接入电阻，其可以是纳米孔电阻的量级，而较高离子浓度的储存器的电阻变得相对可以忽略不计。
基于对这种对应的认知，在本文中发现为了最大化纳米孔传感器中的局部电位测量，优选以不同的离子浓度提供离子储存器溶液。在该不平衡离子浓度的设置下，局部电位测量优选在包含较低离子浓度的储存器中的位点处作出。进一步优选选择较低离子浓度溶液的缓冲浓度以使得该储存器的接入电阻与纳米孔电阻具有相同的数量级并且比高离子浓度溶液的电阻大得多，例如比高离子浓度溶液的电阻大至少一个数量级，使得，例如，如果局部电位测量在反储存器中作出，则：
。
基于该发现，那么对于给点纳米孔直径，其设置了纳米孔的电阻R p ，优选降低指定用于局部电位测量的储存器的离子溶液缓冲浓度至该储存器的接入电阻与纳米孔电阻为相同的数量级的水平。该储存器接入电阻不应当主导纳米孔传感器电阻，但应当是纳米孔电阻的数量级。
该条件可以直接通过以上述方式电模型化纳米孔传感器组件来定量确定。基于以上表达式（8），可以确定对于给定的纳米孔传感器参数，在选择的目标物的纳米孔移位期间使电位变化最大化的溶液浓度之比。例如，图4A是当一个dsDNA分子移位通过纳米孔时，对于50nm厚的纳米孔膜和用于电泳物质移位的1V TMV设置来说表达式（8）的图。对于小于10nm的不同纳米孔直径，作为C 顺 /C 反 离子浓度比的函数显示了电位变化。由该图，发现反储存器中的局部电位变化对于这里模型化的任何纳米孔直径在~ 100:1的C 顺 /C 反 室缓冲浓度比最大化。图4B是10nm直径的纳米孔，在1V TMV下对于选择的100:1C 顺 /C 反 离子浓度比，在反储存器中相应计算的电位变化分布图。
这证明了基于本文的发现，对于给定的为进行电位测量而选择的储存器位点，要选择两个储存器中的离子流体缓冲浓度之比，使得较低的缓冲浓度溶液在测量储存器中，以在该选择的测量位点处使电位变化的幅度最大化。如在图4B中所示，该得到的电位变化分布高度局部化在纳米孔的数十纳米内。对于示例性的100:1的C 顺 /C 反 离子浓度比和刚刚以上给出的纳米孔参数，可以例如基于以上表达式（9）确定反储存器的接入溶液电阻和纳米孔的溶液电阻确实在相同的数量级。
通过储存器流体缓冲浓度的这种设置和电位测量配置，注意到局部电位感测技术产生了取决于跨膜电压（TMV）和离子电流信号的局部电位测量信号。其它基于传感器的纳米孔技术通常依赖于移位物质和纳米孔传感器之间通过例如电耦合或量子力学隧道效应产生的直接相互作用。对于这些技术，纳米孔输出信号通常不与TMV或离子电流直接相关并且当TMV变化时不显著变化。相反，在本文的局部电位测量***中，纳米孔传感器信号与TMV成比例并且可以被认为是离子电流信号的线性放大。作为结果，局部电位测量信号和离子电流信号的幅度均线性地取决于TMV，但它们之间的比对于给定的纳米孔几何形状和储存器溶液浓度是常数，如通过以上给出的表达式所证实的。
局部电位测量方法的一个优点是特有的低噪声的高带宽测量容量。低信号带宽是限制通过常规离子电流阻塞测量技术直接感测纳米孔的问题之一，这是由于非常小的测量电流信号的高带宽放大的难度。当用于DNA感应时对于小的纳米孔来说尤其如此。在局部电位感应方法中，测量大的局部电位信号代替小的电流信号，由此信号的带宽不被电流放大器的能力所限制。作为结果，可以将高带宽信号处理电子元件整合在固态纳米孔感测结构上。
此外，除了内在的散粒噪声和约翰逊噪声，对于离子流阻塞测量技术的主要噪声贡献是通过跨纳米孔膜的电容耦合引入的并且该噪声的电容耦合组件在纳米孔工作的某些阶段可能是压倒性的。惯例地，在最小化噪声的努力中要求非常小的膜面积暴露于储存器溶液。在本文的局部电位测量方法中，因为对于合理的储存器浓度比局部电位信号在纳米孔周围几十纳米内衰减，该局部电位测量信号仅受在该局部体积内储存器溶液之间的电容耦合影响。因此，在该局部电位测量感应方法中，自动剔除了大部分电容耦合噪声。
参照图4C-4D，可以选择储存器缓冲溶液浓度比以优化纳米孔传感器的信号带宽。假设在纳米孔的反侧进行局部电位测量，那么将反储存器溶液浓度设置尽可能合理地高，例如约4M，约饱和溶液，以最小化纳米孔溶液电阻。随后，作为带宽的函数分析了信号噪声，例如基于图4C的图。其中绘制了各种噪声的贡献以及流体纳米孔操作的预期信号。标记为“自由空间”的曲线是指基于自由空间分子尺寸的计算。标记为“Bayley”的曲线是指基于来自Baylay等，在J. Clarke等，“Continuous Base Identification for Single-MoleculeNanopore DNA Sequencing,” Nature Nanotechnology, N. 4, 第265-270页, 2009中的先前工作的分子尺寸的计算。所述两种信号线是在四种DNA碱基之间获得的最小的信号差异，该最小的信号存在于A碱基和T碱基之间。其中纳米孔作为在石墨烯膜中的1nm直径的纳米孔给出，具有4M的反储存器溶液浓度，储存器之间的缓冲浓度比为50:1，电压噪声密度为约10-9 V/√Hz。石墨烯的介电损耗因子是未知的，所以为了方便使用了1。发现在图中信号和总噪声的交叉点设置了1:1的信噪比（S/N）。这是可能的最高的信号带宽。例如对于流体纳米孔操作，1:1的S/N比在约100MHz的带宽处。大于约50MHz的带宽以及大于100MHz带宽可以是优选的。
参照图4D的图，100MHz带宽对应于约50:1的储存器溶液浓度比，其中局部电位测量在纳米孔的低浓度储存器侧进行。对于在该实施例中使用的纳米孔传感器参数，任何高于约50:1的储存器浓度比将降低带宽。任何低于约50:1的浓度比将降低信噪比。因此，本文发现可以优化带宽并且存在储存器浓度比的优化点。因此，基于纳米孔传感器的特性噪声和纳米孔传感器的理想操作带宽之间的权衡选择储存器溶液浓度比。因此认识到为了最小化噪声，可以增大储存器溶液浓度比，但带宽可能相应地降低。或者，可以采用电子信号处理，如低通滤波，或其它信号处理。
进一步认识到通常对于给定物质目标物移位通过纳米孔，较小的纳米孔产生较大的信号。然而，对于例如感测特殊的分子(如DNA)的应用，纳米孔的大小优选基于分子来选择，并且相应地调节储存器浓度比。
也可以选择储存器缓冲溶液浓度比以产生由纳米孔位点测量的能容纳选择的局部电位测量器件的信号衰减长度。认识到该信号衰减长度应当足够大以在衰减长度之内容纳局部测量器件的设置。图4E是一系列缓冲浓度比的信号衰减长度的图，假定局部电位测量在纳米孔的反储存器侧进行。该图基于在图中***显示的电路模型。
基于该分析，显示了在大于约20或30的浓度比下，产生了足够的衰减长度以容纳可以在衰减长度内测量局部电位的器件。在大于约50:1的浓度比，提供了足够的衰减长度用于在衰减长度内进行电位测量。大于约5nm的信号衰减长度以及大于例如约10nm和约20nm的信号衰减长度可以是优选的。
转向局部电位测量器件的实施方式，如以上所解释的，局部电位测量可以在纳米孔传感器中使用能容纳该纳米孔实施的任何合适的器件或电路进行。对于许多应用，基于纳米线的FET器件可以是非常合适的器件，但在本文中这不是必需的。可以采用SET、QPC、脂质二重层或其它器件和纳米孔实施方式，无论是生物的还是固态的。可以采用能够进行局部电位测量的任何电路或器件。
在一个实施例中，可以如在图5中所示的在纳米孔的位点上设置纳米线FET。在该纳米线实施方式60中，在其中设置纳米孔12的支撑结构或膜14上提供纳米线62。该纳米线可以由任何合适的导电或半导体材料，包括富勒烯结构和半导体线形成。本文所使用的术语“纳米线”是指一种导电通道，其特征在于与由如上所述的纳米孔测量的信号衰减长度相配的宽度。该通道宽度优选与衰减长度在相同的数量级并且可以更大。该纳米线可以由在选择的储存器溶液中稳定的任何半导体材料制成。
图6是图5纳米孔传感器一个示例性实施方式的透视图。其中显示了提供在膜14上的纳米线62，膜14是自支撑的并且被设置在支撑结构64（如基板）上。纳米线提供在膜上，纳米孔延展穿过纳米线和膜的厚度。如在图5和6中所示，纳米孔12不延伸跨过纳米线的宽度。存在沿着纳米孔的长度不间断的纳米线区域，使得电传导沿着纳米线的长度是连续的。在纳米线的各个末端提供金属化区域或其它导电区域66以形成源极（S）和漏极（D）区域。在这种设置下，可以用所示的顺和反储存器设置纳米孔传感器用于检测物质由一个储存器通过纳米孔至另一个储存器的移位。
还参照图7A-7B，可以以各种各样的替代设置实施膜和纳米线的设置，并且膜对于其中纳米线材料是自支撑的并且可以自身充当在其中安置纳米孔的支撑结构的应用来说不是必需的。例如，如在图7A-B中所示，在基于石墨烯的纳米孔传感器68中，可以提供膜70，其反过来支撑石墨烯膜72。石墨烯膜72是跨膜70中的孔自支撑的。该石墨烯反过来支撑纳米线62，纳米孔12延伸穿过纳米线和石墨烯的厚度，并且纳米线沿着纳米线的某些点保持连续。如在图8A-8B中所示，可以改变该设置，纳米线62替代地放置在膜70上石墨烯层72之下。
在替代的基于石墨烯的纳米孔传感器75中，如在图9A-9B中所示，可以设置一个支撑结构，例如膜70，在其上放置一个石墨烯层72，所述石墨烯层72用于提供其中设置纳米孔12的结构且其本身用于提供纳米线。所述石墨烯可以以在纳米孔12的位点上提供必要的纳米线的任何合适的几何形状提供。在这种设置中，由于其厚度和导电性，该石墨烯层72感测在纳米孔的两侧上的局部电位，即石墨烯层的导电性作为在反和顺储存器二者中的电位的函数变化。因此，对于该基于石墨烯的纳米孔传感器，局部电位测量的纳米孔传感器信号是顺和反储存器电位的差异的指示。
如通过这些示例性的设置所证明的，可以以任何宽范围的材料组合和厚度设置该膜、纳米线和支撑材料。对于许多应用，可以优选其中纳米孔尽可能薄地设置的结构，并且优选不比物质目标物的长度，或待检测的目标物区域更厚。示例性的膜材料包括氮化物、氧化物、石墨烯、塑料或其它合适的材料，其可以是电绝缘的或是导电的。
如在图10A-10D中所示，对于纳米线的实施方式，在纳米线62的位置提供纳米孔，使得通过纳米线提供了不间断的连续导电路径。如在图10A中所描绘的，纳米孔可以提供在纳米线的中央区域；如在图10B-10C中所描绘的，纳米孔可以提供在纳米线的边缘；或如在图10D中所描绘的，纳米孔可以提供在接近或邻近纳米线的位点。在所有情况中，通过纳米线提供了连续的导电路径。
在图10A-10C的纳米孔设置中，与在纳米孔打孔之前的同一区域的敏感性相比据发现纳米孔区域的敏感性也显著地提高。这种敏感性局域化可以通过一个解释作为传导通道的纳米线的横截面积减少的模型所理解，假设所有其他材料性能(如掺杂水平和迁移率)保持不变。纳米线的减小的横截面积增加了纳米孔区域的电阻并且因此减轻了串联电阻和由纳米线的其它部分的信号衰减。定量地，对于作为一个实例的矩形纳米孔，纳米孔区域的该敏感性增强可以由以下方程获得：
。
其中Δ是定义为具有纳米孔的器件的敏感性除以不具有纳米孔的灵敏度增强，ρ 0 和 ρ分别是具有和不具有纳米孔的纳米线导电通道的线性电阻率。L是总通道长度，L 0 是纳米孔区域的通道长度，其对于该方形实例来说等于沿着纳米孔轴向方向的纳米孔侧面长度。对于纳米线的其它部分，因为所有的参数保持相同但总通道电阻由于纳米孔而略微增加，在纳米孔打孔之后敏感性应当略有降低。在纳米孔区域增加的敏感性和所有其它纳米线部分的降低的敏感性的组合使得纳米孔传感器的敏感性提高，在纳米孔处自对准并且局域化。
在纳米孔传感器的制造中，首先考虑基于纳米线的固态纳米孔传感器，短通道纳米线可以是优选的，并且对于许多应用，可以优选硅纳米线（SiNW），因为SiNW已被证明是用于亚细胞和单病毒水平信号传导的优异的电位和电荷传感器，并在溶液中具有非凡的稳定性。为了使由通道串联电阻的信号衰减最小化，如果需要，可以通过镍固态扩散将SiNW通道缩小至小于约200nm。可以通过例如化学气相沉积或其它合适的方法制造SiNW，并且通过溶液放置在选择的膜上，例如氮化物膜。对于许多应用，可以合适地采用可商购的氮化物膜基片(chip)。可以采用电子束蚀刻或光学光刻来在纳米线的末端制备源级和漏极。所有的电极和电接触用例如氮化物或氧化物材料钝化，其可以在金属蒸发之后和在剥离（lift-off）工艺之前完成。纳米孔可以通过例如电子束或通过其它束种类或产生选择的纳米孔尺寸的刻蚀工艺在选择的场所制备。
在石墨烯膜之上包括纳米线结构的基于石墨烯的纳米孔传感器的制造中，如图7A-7B的基于石墨烯的纳米孔传感器，首先加工一种膜(如氮化物膜)以在所述膜中例如通过电子束蚀刻或光刻和反应离子刻蚀（RIE）形成微尺寸的孔。随后将石墨烯片材或片放置在氮化物膜上，覆盖所述孔，以形成石墨烯膜。该石墨烯片材可以通过CVD或其它方法合成，或者通过机械剥离制备，并且转移到氮化物膜，在氮化物膜孔的上方。
随后可以随金属蒸发进行电子束蚀刻或光刻以常规地方式在氮化物膜上限定电极。之后可以采用介电电泳或其它合适的方法在石墨烯膜之上在氮化物膜中孔的位置处排列纳米线（例如硅纳米线）。随后可以随金属蒸发进行电子束蚀刻或光刻以在SiNW的末端限定源电极和漏电极触点。此后可以通过电子束蚀刻或光刻和例如UV-臭氧清洗机(stripper)、氧等离子体或其它合适的方法移除过量的石墨烯来从预定的石墨烯膜位置之外的区域移除石墨烯。最后，通过例如电子束穿过在纳米线处的位点和之下的石墨烯膜制备纳米孔。
在包括位于纳米线FET结构之上的石墨烯膜的基于石墨烯的纳米孔传感器的制造中，如图8A-8B的基于石墨烯的纳米孔传感器，可以采用合适的结构来设置排列，例如使用绝缘层上覆硅基片（SOI）。在该实例中，首先例如通过XF2刻蚀穿过SOI基片的背侧厚的硅部分形成孔，在氧化物层上停止以形成氧化物硅膜。随后，采用电子束蚀刻或光刻在更小的孔区域中由SOI基片移除氧化物层，由SOI基片的薄硅区域制备了硅膜。随后将该硅膜刻蚀以形成硅纳米线，例如使用电子束蚀刻或光刻和化学刻蚀或RIE。在一个实例中，如在图8B中所示形成了燕尾形的Si片，与在SOI基片的氧化物膜中的孔对齐。
随后可以随金属蒸发进行电子束蚀刻或光刻以在氧化物膜上以常规的方式限定电极。随后将石墨烯片材或片放置在氧化物膜上，覆盖所述孔以在硅纳米线上形成石墨烯膜。该石墨烯片材可以通过CVD或其它方法合成，或者通过机械剥离制备，并且转移到氧化物膜，在SiNW和氧化物膜孔的上方。认识到因为该石墨烯片材被叠加到图案化硅层之上，因此石墨烯片可能不是平的。如果考虑到该设置的泄漏（leakage），那么可以将例如SiOx的薄层涂覆在石墨烯边缘周围以形成密封边缘条件。
此后可以通过电子束蚀刻或光刻和例如UV-臭氧清洗机、氧等离子体或其它合适的方法移除过量的石墨烯以从预定的石墨烯膜位置之外的区域移除石墨烯。最后，通过例如电子束穿过在叠加的石墨烯的位点和硅纳米线制备纳米孔，涉及最窄的Si几何形状的位置。
在基于石墨烯的纳米孔传感器(如图9A中描绘的)的制造中，首先例如通过电子束蚀刻或光刻和反应性离子刻蚀（RIE）加工膜（例如氮化物膜）以在膜中形成微米尺寸的孔。随后将石墨烯片材或片放置在氮化物膜上，覆盖孔以形成石墨烯膜。该石墨烯片材可通过CVD或其它方法合成，或者通过机械剥离制备，并且转移到氮化物膜，在氮化物膜孔的上方。
随后可以随金属蒸发进行电子束蚀刻或光刻以在石墨烯膜上以常规的方式限定源电极和漏电极。之后，通过电子束蚀刻或光刻和例如UV-臭氧清洗机、氧等离子体或其它合适的方法以燕尾或其它选择的形状将石墨烯图案化以在接近所选择的纳米孔位置制备窄的石墨烯区域。最后，通过例如电子束穿过石墨烯膜制备纳米孔。
在基于SET的纳米孔传感器(如图1F的)的制造中，可以采用任何合适的膜材料，导电的和电绝缘的二者均可。可以采用氮化物膜结构或其它结构，例如如上所述的石墨烯膜或组合的石墨烯-氮化物膜结构。如果采用导电的膜材料，优选可以用绝缘层例如氧化物或氮化物层在该膜的待形成SET的一侧涂覆该材料。随后可以采用电子束蚀刻和金属蒸发技术由合适的金属形成源极和漏极区域以及SET区域。随后，以以上给出的方式在SET的位置形成纳米孔。如果在导电膜材料上提供绝缘层，并且绝缘层涂覆了纳米孔穿过该膜的长度，那么可以优选通过例如HF或其它合适的刻蚀从纳米孔侧壁，从纳米孔的背侧移除该绝缘材料，以从纳米孔和从纳米孔的相邻周边移除绝缘层。
在具有纳米孔的QPC设置(如图1G中的)的制造中，可以采用SOI结构，以上述的方式移除厚的硅层，然后使用电子束蚀刻在QPC设置中限定顶硅层结构。随后可以穿过该膜以上述方式形成纳米孔。
这些示例性的方法不旨在限制，它们是作为制备纳米孔传感器的技术的一般实例提供的。可以采用任何合适的膜材料和器件材料。对于许多应用，可能优选的是与导电纳米线材料一起采用非导电性膜材料。该局部电位测量方法可以应用于任何纳米孔传感器，并且不限于特定的设置或制备该设置的方法。
在这些示例性方法的每一个中，优选基于选择的储存器缓冲溶液浓度比选择纳米孔的尺寸以实现以上述方式的理想的电位测量，并且考虑到用纳米孔传感器研究的物质目标物。可以采用以上分析表达式来确定对于给定的待通过移位通过纳米孔检测的物质来说最佳的纳米孔尺寸，和其它纳米孔传感器参数和操作相一致，以使得能够进行用于纳米孔感测该物质的电位测量。
当进行目标物的纳米孔移位时，使区别不同物质目标物的能力最大化是特别重要的。例如，上述基于石墨烯的纳米孔传感器对于感测分子物质(如DNA)和其它生物聚合物物质是特别吸引人的，因为石墨烯厚度是DNA碱基长度的数量级。但是由于石墨烯在石墨烯的两侧通过顺和反储存器溶液电闸控(gated)，并且在两个储存器中的电位是相反的，通过石墨烯电位测量指示的电位之和比通过在膜的一侧上的纳米线的实施方式指示的要小。但对于小的纳米孔，例如约1nm直径的，和在足够大的顺和反储存器之间缓冲浓度比之下，通过石墨烯电位测量指示的电位的和与纳米线纳米孔传感器的相当。
基于以上表达式（8），可以显示石墨烯纳米孔传感器使得能够进行区分A、G、C和TDNA碱基的局部电位测量。基于例如M. Zwola等“Colloquium: Physical Approaches toDNA Sequencing and Detection,” Review of Modern Physics, No. 80, 第141-165页,2008给出的先前的工作，下表显示了这些DNA碱基（包括DNA骨架）中的每一个的横截面积。
表I
碱基+骨架 横截面积 (nm2)
A 0.4731
G 0.5786
T 0.5140
C 0.3932
假设在溶液中石墨烯的有效厚度为约0.6nm和顺和反储存器缓冲溶液离子浓度之间的浓度比为约50:1，那么纳米孔传感器测量的局部电位如图11中的图所示是作为纳米孔直径的函数。如在该图中所示，其证明了用不同的顺和反储存器溶液浓度设置的基于石墨烯的纳米孔传感器在各个不同的碱基之间提供了毫伏级的局部电位测量信号差异，例如至少约5mV，并且提供了当碱基移位通过石墨烯纳米孔时识别碱基的能力。
实施例 I
用于纳米孔感测的SiNW FET器件的制造
使用Au纳米颗粒催化的化学气相沉积（CVD）方法合成SiNW。将30nm直径的金纳米颗粒（Ted Pella Inc.）置于涂覆有600nm厚的氧化硅层(NOVA Electronic Materials Inc.)的硅片上。在435℃和30托下合成硼掺杂的p型SiNW，使用每分钟2.4标准立方厘米（sccm）的硅烷作为硅源，3sscm的乙硼烷（在氦气中100ppm）作为硼掺杂源和10sccm的氩气作为载气。标称掺杂比例为4000:1（Si：B）并且生长时间为20分钟。通过温和地超声~ 10秒将得到的SiNW溶解在乙醇中。随后将NW溶液沉积在50nm厚的，100μm×100μm的氮化硅TEM膜网格（SPIsupplies）。进行60nm厚的镍层的电子束蚀刻和蒸发以在纳米线上制造~ 1 μm间隔的源极和漏极。随后在金属蒸发之后立即在基片上通过等离子体增强CVD（NEXX Systems）沉积约75-100nm厚的氮化硅层以钝化所有电极。
随后进行掩膜（mask）的剥离以在具有钝化的源极和漏极的氮化物膜上制备纳米线。随后在成形气体中在380℃下通过快速热处理器（HeatPulse 610, Total FabSolutions）对该结构退火135秒以收缩纳米线通道至小于约200nm的长度。在测试得到的SiNW FET的导电率之后，通过UV-臭氧清洗机（Samco International Inc.）在150℃下在每一侧清洁该结构25分钟。随后将该结构装入场发射透射电子显微镜（TEM）(JEOL 2010,200kV)中并且通过收敛高能电子束至一点大约2-5分钟在选择的位置通过纳米线钻长度为约9nm或10nm的纳米孔。该纳米孔设置在纳米线的边缘，如在图10B的设置中描绘的，借此大部分的纳米线宽度是连续的。
实施例 II
用于纳米孔感测的SiNW FET器件的灵敏度分析
纳米孔传感器的SiNW FET的灵敏度通过扫描栅极显微镜（SGM）表征。根据实施例I的方法制备SiNW FET器件，其中具有~2 µm长的通道长度以适应SGM的有限的空间分辨率。通过作为10V偏压的导电性AFM针尖(PPP-NCHPt, Nanosensors Inc.)的位置的函数记录纳米线的导电率来在Nanoscope IIIa Multi-Mode AFM中进行SGM。在SGM记录期间AFM针尖在表面以上20nm。
在纳米线位置上形成纳米孔之前，跨纳米线制作SGM图。随后，在图10B中描绘的设置中的纳米线的边缘形成纳米孔。在纳米孔的存在下，再次制作纳米线的SGM图。通过使用WSxM软件在垂直方向将SiNW的表面宽度（~ 100 nm）上的电导率求平均来确定SGM图。图12是在纳米孔形成之前和在纳米孔形成之后沿纳米线的灵敏度图，所述灵敏度被定义为电导率变化除以AFM针尖栅极电压。显然，器件的灵敏度显著地局域化并且与纳米孔匹配。更重要地，与在形成纳米孔之前同一区域的灵敏度相比，纳米孔区域的灵敏度还显著的提高。
实施例 III
用于纳米孔感测的纳米线-纳米孔器件的清洗和组装
通过以上实施例I的方法制备的纳米线-纳米孔组件在纳米孔形成之后通过UV-臭氧清洗机(Samco International Inc.)在150℃下在每一侧清洁25分钟。该清洁过程优选移除在该结构上的任何可能的碳沉积。随后在成形气体中在250-350℃对该结构退火30秒以恢复纳米线的导电性。紧接在组装之前，在该结构的每一侧上进行另外25分钟室温UV-臭氧清洁以确保纳米孔的亲水性。
为了组装用于物质移位通过纳米孔的具有流体储存器的纳米线-纳米孔结构，首先在DI水中，随后在70%的乙醇中和最后在纯的乙醇中超声处理PDMS室各30分钟，然后在醇的乙醇中储存。紧接在组装之前，在80℃下在干净的玻璃培养皿中烘烤PDMS室~2小时以移除大部分吸收的乙醇。
为了制备纳米孔传感器的电连接，制备了印刷电路板（PCB）基片载体，并且通过Scotch-Brite (3M)清洁以移除铜表面氧化物和任何污染物(如胶)。随后在异丙醇中然后在70%的乙醇中超声处理该PCB各~30分钟。紧接在组装之前在食人鱼洗液（piranhasolution）中清洗金溶液电极~1小时。
使用Kwik-Cast (World Precision Instruments, Inc.)硅树脂胶水将清洗过的纳米线-纳米孔结构粘到PCB基片载体的~250 µm深的中心凹陷中，器件侧表面与PCB基片载体的其余部分的表面大致齐平。通过引线连接（West-Bond Inc.）将器件的源极和漏极电触点线连接到基片载体上的铜手指上。前PDMS室由一片在中心具有~1.8mm的孔的PDMS形成，围绕孔开口的一侧具有~ 0.5 mm的凸起，用于挤压纳米孔膜表面以保证紧密的密封。PDMS室被机械地夹到基片载体的两侧上并且Au电极被经由PDMS储存器***。该金电极充当电连接，用于使PDMS室溶液带偏压以产生跨膜电压（TMV）用于驱动物质以电泳的方式移位通过纳米孔。
选择反室作为将进行纳米孔传感器电位测量的储存器。由此，设置该组件使膜的取向满足使纳米线面向反储存器放置。该反室填充有具有~10mM缓冲液浓度的溶液，10mMKCl+0.1 × TAE缓冲液：4mM三羟基氨甲烷醋酸盐(tris-acetate)和0.1mM EDTA溶液。相应地，顺室填充有更高离子浓度的溶液以提供必需的储存器浓度比从而在反室中的局部电位测量位点处提供更高的接入电阻。反室填充有~1M的缓冲溶液，如1M KCl+1 × TAE缓冲液:40 mM 三羟基氨甲烷醋酸盐和1 mM EDTA。在使用前两种溶液均自动切割(auto-cleaved)，通过室内真空脱气并且用20nm Anotop针头式过滤器（Whatman Ltd.）过滤。
实施例 IV
DNA移位通过纳米孔的纳米孔感测
操作通过以上实施例的方法制备并且与具有实施例III规定的缓冲浓度的溶液组装的纳米线-纳米孔结构，以感测物质目标物(即1.4nMpUC19的双链DNA分子（dsDNA）)的移位。测量了通过纳米孔的离子电流和来自纳米线FET器件的电流两者。
通过具有β = 0.1（1nA转化为100mV）和2kHz带宽的Axon Axopatch 200B膜片钳放大器(Molecular Devices, Inc.)放大该离子电流。通过具有106放大倍率（1nA转化为1mV）和0.3ms上升时间的DL 1211电流放大器（DL Instruments）放大该纳米线FET电流。跨膜电压（TMV）和纳米线FET源极和漏极之间的电压Vsd通过Axon Digidata 1440A数字转换器(Molecular Devices, Inc.)获得。纳米孔离子电流和纳米线FET信号二者均输入1440A数字转换器并且通过电脑在5kHz下记录。在黑暗的Faraday笼中进行纳米孔传感器操作。为了避免可能通过由不同的仪器电接地引入的60Hz噪声，从所有的电流放大器和所有的仪器（放大器和数字转换器）和Faraday笼移除地线，并且一起手动接地到建筑地线。
在将dsDNA引入到顺储存器之后，立即由纳米孔离子电流信号通道记录当TMV到达~2V时的间歇性移位事件。对于纳米线FET信号通道，在电导跟踪中记录了相似的事件，与离子电流测量几乎完美地时间相关。图13A是通过纳米孔测量的离子电流图i，和在2.0V TMV下测量的纳米线FET导电率图ii。图13B是通过纳米孔测量的离子电流图i，和在2.4V TMV下测量的纳米线FET导电率图ii。当TMV增大时，通过经由纳米孔的离子电流测量的和通过纳米线FET局部电压感应测量的移位事件的持续时间和频率分别减小和增大。由该图显示了局部电位测量感应方法完美地跟踪了通过常规离子电流测量进行的感测。因而，局部电位测量方法使得能够测量目标物通过纳米孔移位的时间和持续时间。
为了直接比较FET局部电位测量信号和纳米孔离子电流测量信号的信号幅度，将~200nS的FET导电信号和~24μS的基线通过将信号乘以150mV源-漏电压而转化为电流。该计算表明了对于经由纳米孔的离子电流的~2nA的变化，基线为~12nA，在纳米线局部电位测量中产生了到~30nA的FET电流的放大，基线为~3.6μA。考虑到目前的制造工艺并未针对低噪音器件进行优化并且一般而言对于SiNW已经证实具有高得多的信噪比，纳米线FET本身的噪音和信噪比不是该测量的根本限制因素。
实施例 V
局部电位测量对顺和反储存器缓冲浓度差异的依赖性
为了确定纳米孔传感器的顺和反储存器中不同离子浓度流体的影响，按照以上实施例III中的步骤设置了纳米线-纳米孔结构，但这里顺和反室二者均填充1M KCl缓冲液而非具有不同缓冲浓度的溶液。然后按照以上实施例IV的步骤，在反储存器中提供dsDNA进行纳米孔传感器的操作，TMV为0.6V。通过以实施例IV的方式的纳米线FET导电率，测量了通过纳米孔的离子电流，以及局部电位。
图13C提供了测量的离子电导率图i和测量的FET导电率图ii。如在图中所示，当TMV达到0.5-0.6V时通过离子电流的变化感测到移位事件，但同时记录的FET导电率变化在该电压下是可以忽略不计的。因此，储存器溶液浓度比被理解为在信号生成中起到重要作用。
在该实验的平衡的缓冲溶液浓度条件下（1M/1M），纳米孔溶液电阻贡献了纳米孔传感器电阻的大部分；因此几乎所有的TMV跨纳米孔降低。相应地，由于物质移位期间的阻塞，对于该条件，在纳米线传感器附近的电位非常接近地，无论纳米孔的溶液电阻和储存器的接入电阻的任何变化。在以上实施例IV的非平衡缓冲条件（10nM/1M）下，纳米孔溶液电阻和反室接入电阻是可比的，而反室的接入电阻仍然是可忽略不计的。纳米孔中的溶液电阻和反储存器中接入电阻的任何变化引起相应的TMV的再分配并且由此引起在反室中纳米孔附近的电位的变化，并且该电位变化是通过纳米孔传感器局部电位测量所容易检测到的。
此实施例验证了本文中的发现，局部电位测量纳米孔感测要求在纳米孔传感器的储存器之间缓冲溶液浓度的差异，并且局部电位测量要在纳米孔的具有更高电阻或相应地具有更低浓度的储存器侧进行。该条件对于其中膜薄到足以作为纳米线操作和足以感应膜的两侧的电位的纳米孔传感器是不适用的，如在石墨烯纳米孔传感器，其中石墨烯纳米线提供对纳米孔两侧的电位之间的差异的指示。在该情况下，缓冲溶液浓度的差异仍然是优选的，但鉴于纳米线测量固有地感测膜两侧的电位，局部电位测量不严格地限于纳米孔的一侧或另一侧，
注意在以上其中储存器溶液浓度相同和不同的试验中，要求不同的跨膜电压来引发通过纳米孔的移位。对于在具有相同溶液浓度的反储存器中的电位测量，通过纳米孔的电场是恒定的，如在图3D的图中所示的。当储存器浓度不同时，例如以上实施例的100:1的浓度，则通过纳米孔的电场在纳米孔的顺储存器侧更小。为了产生如相同储存器溶液浓度所获得的相同的电场，要求跨膜电压增大约4倍。这解释了图12和13的曲线的数据。
实施例 VI
多通道纳米孔感测
按照以上实施例的方法构建了三个纳米线纳米孔传感器。将所述三个纳米孔传感器与普通的储存器***整合，在顺室中具有1M KCl的缓冲溶液和在反室中具有10mM KCl的缓冲液。采用了3V的跨膜电压，并且为了移位通过纳米孔提供了1.4nM的pUC19 DNA。
图14提供了在DNA纳米孔移位操作期间三个纳米孔传感器每一个分别的总离子电流和纳米线FET导电率的曲线i-iv。如在曲线中所示，在所有三个纳米孔传感器中以及总离子电流通道中观察到连续的移位事件。所有的纳米孔传感器独立地操作并且在离子电流通道中的每一个明显的下降或上升边缘可以唯一地与在三个纳米孔传感器之一的相应边缘相关。使用来自所有三个纳米孔传感器的信号的下降和上升边缘来重建总离子流追踪，对于所有事件，重建几乎完美。该纳米孔操作证明了纳米孔传感器的重要优点是大规模整合能力。可以实施多个独立的纳米孔传感器而无需复杂的微流体***。
在这些实施例和先前的描述下，证明了纳米孔传感器可以提供物质移位通过纳米孔的感测并且当这些目标物移位通过纳米孔时可以区别不同的目标物，例如DNA碱基。纳米孔传感器不限于感应特定物质或物质种类，其可以用于宽范围的应用。认识到该纳米孔传感器特别良好地适于感应提供用于移位通过纳米孔的生物聚合物分子。这种分子包括例如核酸链如DNA链、寡核苷酸或单链DNA片段、核苷酸、核苷、多肽或蛋白质、一般地氨基酸，或其它生物聚合物链。对于待通过纳米孔传感器感测的物质目标物没有特别的限制。在不同的储存器溶液浓度下，已证明纳米孔传感器可以以合理的带宽和灵敏度操作用于区别DNA碱基，并且因此使得能够进行DNA测序。应当理解，本领域技术人员可以对以上描述的实施方案作出多种修改和添加而不脱离本发明对现有技术的贡献的精神和范围。因此，应当理解寻求由此提供的保护应当被视为延伸到主题权利要求和其所有在本发明范围内的等同物。

Claims (20)

1.一种感测分子通过纳米孔的移位的方法，包括：
将位于具有第一离子浓度的第一离子溶液中的分子引导至纳米孔的入口；
使该分子移位通过所述纳米孔自所述纳米孔的入口至该纳米孔的出口，并进入具有不同于所述第一离子浓度的第二离子浓度的第二离子溶液；以及
在所述分子移位通过所述纳米孔时，测量所述第一和第二离子溶液中具有较低离子浓度的那个离子溶液的局部电位。
2.根据权利要求1所述的方法，其中测量电位包括，在所述分子移位通过所述纳米孔时，测量所述第一和第二离子溶液中具有较低离子浓度的那个离子溶液中位于所述纳米孔大约20 nm内的电位。
3.根据权利要求1所述的方法，其中测量电位包括，在所述分子移位通过所述纳米孔时，测量所述第一和第二离子溶液中具有较低离子浓度的那个离子溶液中所述纳米孔入口处和所述纳米孔出口处中一者的电位。
4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括产生指示所测量的电位的电信号。
5.根据权利要求4所述的方法，其中产生指示所测量的电位的电信号包括产生具有至少约50 MHz的信号带宽的电信号。
6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括在所述第一离子溶液和所述第二离子溶液之间施加电压，其促使所述分子以电泳方式移位通过所述纳米孔。
7.根据权利要求1所述的方法，其中将位于具有第一离子浓度的第一离子溶液中的分子引导至纳米孔的入口包括将选自DNA、DNA片段、RNA、RNA片段、核苷酸、核苷、寡核苷酸、蛋白质、多肽和氨基酸的分子引导至纳米孔的入口。
8.根据权利要求1所述的方法，其中将位于具有第一离子浓度的第一离子溶液中的分子引导至纳米孔的入口包括将A、T、G和C DNA碱基的序列引导至纳米孔的入口。
9.根据权利要求8所述的方法，进一步包括产生指示所测量的电位且对A、T、G和C DNA碱基中每一者均不同的电势信号，其中每一不同电势信号之间的电势差异为至少约5 mV。
10.根据权利要求4所述的方法，进一步包括处理随时间变化的所述电信号，以测定分子通过所述纳米孔的移位的持续时间。
11.根据权利要求4所述的方法，进一步包括处理随时间变化的所述电信号，以确定所述分子。
12.根据权利要求8所述的方法，进一步包括：
产生指示所测量的电位且对A、T、G和C DNA碱基中每一者均不同的电势信号；以及
处理随时间变化的所述电信号，以确定所述A、T、G和C DNA碱基的序列中的A、T、G和CDNA碱基。
13.根据权利要求1所述的方法，其中将分子引导至纳米孔中所述的纳米孔包括位于石墨烯膜中的纳米孔。
14.根据权利要求1所述的方法，其中将分子引导至纳米孔中所述的纳米孔包括位于固态材料中的纳米孔。
15.根据权利要求1所述的方法，其中将分子引导至纳米孔中所述的纳米孔包括生物纳米孔。
16.根据权利要求1所述的方法，其中将分子引导至纳米孔中所述的纳米孔包括蛋白质纳米孔。
17.根据权利要求1所述的方法，其中将分子引导至纳米孔中所述的纳米孔包括位于脂质二重层中的纳米孔。
18.根据权利要求1所述的方法，其中测量电位包括测量由位于所述第一和第二离子溶液中具有较低离子浓度的那个离子溶液中的晶体管产生的信号。
19.根据权利要求1所述的方法，进一步包括基于所测量的电位确定所述分子。
20.根据权利要求1所述的方法，进一步包括基于所测量的电位确定分子的序列。
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