CN108020769A - 一种集成电路测试的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种集成电路测试的方法，包括：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，分析后得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，控制采集对应节点的数据，分析异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。本发明实施例还公开了一种集成电路测试的装置。

Description

一种集成电路测试的方法和装置

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种集成电路测试的方法和装置。

背景技术

目前传统的集成电路测试大多为板级测试，常用的板级测试有两种，第一种：利用现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)从集成电路管脚进行激励输入，然后采集集成电路管脚输出，并将输出结果在上位机上进行数据比对，判断是否通过用例；第二种：利用集成电路测试仪器对集成电路进行测试。

第一种传统测试方式缺点在于，集成电路管脚有限，内部可视度不高，一旦待测试的集成电路没有通过用例，就要进行用例仿真，以便确定待测试集成电路故障原因，因此故障定位周期长。

第二种传统测试方式缺点在于，在利用集成电路仪器测试时，每次测试都要搭建硬件环境，对测试的人员和设备依赖性高，人员不在工位或设备不齐全都会造成时间的浪费。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例期望提供一种集成电路测试的方法和装置，可减少仿真配合和对大量测试仪器的依赖性，快速定位集成电路故障位置，从而及时解决故障，加快商用进度。

本发明的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种集成电路测试的方法，包括：

从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；

实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果；

或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态；

或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。

上述方案中，所述预设的检测方式包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

上述方案中，在任意一个节点的检测结果为异常时，生成触发信号，包括：

通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号；

或者，通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号；

或者，通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号；

或者，通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号；

将所述功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

上述方案中，所述开始采集对应节点的数据包括：立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据；

所述停止采集对应节点的数据包括：立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

上述方案中，所述方法还包括：配置数据采集方式；

所述数据采集方式为：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据；所述节点的有效数据为：节点的数据中有效标志位为1的数据。

上述方案中，所述从集成电路M个待检测节点中选择N个节点，包括：通过软件配置在所述M个待检测节点中选择N个节点。

上述方案中，在通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果之前，所述方法还包括：将所选择的每个节点的数据保存到第一存储单元；

在触发开始采集对应节点的数据，或触发停止采集对应节点的数据之后，所述方法还包括：将所述异常节点的数据保存到第一存储单元。

上述方案中，所述方法还包括：所选择的任意一个节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时传递到第二存储单元；

或者，任意一个异常节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应异常节点的数据通过乒乓存储实时传递到第二存储单元；第二存储单元的存储容量大于第一存储单元的存储容量。

本发明实施例还提供的一种集成电路测试的装置，包括：选择模块、处理模块；其中，

所述选择模块，用于从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；

所述处理模块，用于实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果；

或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态；

或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。

上述方案中，所述预设的检测方式包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

上述方案中，所述处理模块，具体用于在通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号；或者，在通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号；或者，在通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号；或者，在通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号；将所述功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

上述方案中，所述处理模块，具体用于立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据；

或者，具体用于立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

上述方案中，所述装置还包括：第一配置模块；

所述第一配置模块，用于配置数据采集方式；

所述数据采集方式为：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据；所述节点的有效数据为：节点的数据中有效标志位为1的数据。

上述方案中，所述装置还包括：第二配置模块；所述第二配置模块，用于通过软件配置在所述M个待检测节点中选择N个节点。

上述方案中，所述装置还包括：第一存储单元；

第一存储单元，用于在通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果之前，保存所选择的每个节点的数据；

第一存储单元，还用于在触发开始采集对应节点的数据，或触发停止采集对应节点的数据之后，保存所述异常节点的数据。

上述方案中，所述装置还包括：第二存储单元；

第二存储单元，用于在所选择的任意一个节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时保存；

或者，所述第二存储单元，还用于当任意一个异常节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应异常节点的数据通过乒乓存储实时保存；所述第二存储单元的存储容量大于第一存储单元的存储容量。

本发明实施例中，从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析N个节点的数据，得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态；或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。如此，可减少仿真配合和对大量测试仪器的依赖性，快速定位集成电路故障位置。

附图说明

图1为本发明集成电路测试的方法的第一实施例的流程图；

图2为本发明实施例中时延检测原理图；

图3为本发明实施例中任务量检测原理图；

图4为本发明实施例中流量检测原理图；

图5为本发明集成电路测试的方法的第二实施例的流程图；

图6为本发明实施例集成电路测试的装置的第一组成结构示意图；

图7为本发明实施例集成电路测试的装置的第二组成结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

第一实施例

图1为本发明集成电路测试的方法的第一实施例的流程图，如图1所示，该方法包括：

步骤100：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数。

优选地，通过软件配置在所述M个待检测节点中选择N个节点。

这里，选择的N个节点可以是用户根据当前链路状态选择出需要观察的N个节点。当N取1时，是在M个节点中选择1个进行单点检测；当N取2时，可对2个节点的数据进行同时采集并分析，通常用于采集某个节点的输入输出数据，并与参考节点的数据进行对比，以此来判断该节点是否正常工作；当N取大于2的整数时，可对选择的N个节点数据同时进行采集并分析。

步骤102：实时采集所选择的N个节点的数据，分析后得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，控制采集对应节点的数据,分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。

本步骤中，可以包括以下三种不同的实现方式：

方式1：实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析N个节点的数据，得出集成电路的测试结果。

方式2：通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。

方式3：实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。

上述方式1、方式2和方式3中，在采集所选择的N个节点的数据之前，还可以配置所选择的N个节点的数据的标识信息。相应地，根据配置的标识信息，对所选择的N个节点的数据进行实时采集。

需要说明的是，其中标识信息可以包括以下至少一种：无线帧号、帧头信号、时延。这里，无线帧号是用来确定对节点的数据在哪一个无线帧周期进行采集，例如，无线帧号为7，无线帧周期为10ms时，确定对无线帧的第7个周期(即60ms-70ms时间段内)的数据进行采集，这里帧头信号用来指示所选择的N个节点的数据起始位置。当业务数据的无线帧号等于预先配置的无线帧号，N个节点对应的帧头到来，且帧头到来后到达配置的延时时间时，进行N个节点对应的数据采集。当通过软件配置无线帧号进行数据采集时，还可以实现多台设备采集同一段数据。

优选地，预设的检测方式可以包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

本步骤中，在任意一个节点的检测结果为异常时，生成触发信号，包括：

通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号。

或者，通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号。

或者，通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号。

或者，通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号。

将功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

优选地，功率检测的过程可以是：首先，计算节点的数据的平均功率和峰值功率；其次，如果节点的数据的平均功率大于平均功率上限值或者小于平均功率下限值，或者节点的数据的峰值功率大于峰值功率上限值或者小于峰值功率下限值时，功率异常指示信号被拉高变为高电平，此时功率异常指示信号的上升沿会触发节点的数据采集，这里，功率异常指示信号变为高电平信号时即为生成触发信号。

在实际实施时，在对节点的数据进行功率检测时，需要计算固定长度的节点数据的功率，以及得到至少两组功率数据。因此，可以通过软件配置功率检测方式，包括：节点的数据的功率计算起始点、节点的数据的固定长度和节点的数据的功率组数等。

优选地，时延检测的过程可以是：对所有节点的输入数据进行时延监控，记录各个节点任务输入时刻对应的***时间，任意两个节点间的***时间差就是这两个节点之间的时延；当某两个节点之间的时延大于预设的时延上限值，或小于预设的时延下限值时，则认为这两个节点之间存在时延异常，时延异常指示信号被拉高变为高电平，此时时延异常指示信号的上升沿会触发节点的数据采集，这里，时延异常指示信号变为高电平信号时即为生成触发信号。

图2为本发明实施例中时延检测原理图，如图2所示，对节点1、2和3的输入数据进行时延监控，记录各个节点任务输入时刻对应的***时间A、B和C。数据流经节点的顺序为节点1到节点2到节点3，那么节点1与节点2的时延为B-A，如果节点1和2的时延B-A大于预设的时延上限值，或小于预设的时延下限值时，生成时延异常指示信号，触发对节点1和节点2的数据采集并保存。

优选地，任务量检测的过程可以是：给各节点设置任务统计器对每个节点完成的任务数进行统计，如果某个节点在单位时间内完成的任务数大于预设的任务数上限值，或小于预设的任务数下限值时，则认为这个节点存在任务统计，任务异常指示信号被拉高变为高电平，此时任务异常指示信号的上升沿会触发节点的数据采集，这里，任务异常指示信号变为高电平信号时即为生成触发信号。

图3为本发明实施例中任务量检测原理图，如图3所示，在确定节点3的任务统计异常后，需要进一步的确认是哪一条任务引发节点3的数据错误。由于集成电路业务处理时，一般是进行流处理，任务连续不断的下发给集成电路，如果输出结果出错时很难知道是哪个任务下发时引起的错误，问题分析起来将比较困难。而如果设置任务计数，那么在任务处理出错时可以精确知道哪个任务引发的错误，进而更准确的分析集成电路故障原因。示例性的，对每个节点***任务统计器，当节点3的数据发生异常时，节点3的任务统计器记录的任务值为510，那么便可以得出任务510在节点3处的数据异常，在定位具体故障位置时，可以采集节点3在处理任务510时的数据进行采集并分析，如果节点3没有故障，可以逆流而上分别采集节点2或节点1在处理任务510时的数据，分析故障点是否在节点2或节点1处。

优选地，流量检测的过程可以是：对所有节点进行数据流量监控，当某个节点单位时间完成的数据量大于预设的数据量上限值，或小于预设的数据量下限值时，则认为这个节点存在流量异常，流量异常指示信号被拉高变为高电平，此时流量异常指示信号的上升沿会触发节点的数据采集，这里，流量异常指示信号变为高电平信号时即为生成触发信号。

图4为本发明实施例中流量检测原理图，如图4所示，对节点进行数据流量检测，即检测每个节点单位时间的数据吞吐率，在集成电路测试时对每个节点加入了流量统计器。示例性的，当节点1的数据吞吐率大于吞吐率上限值、或小于吞吐率下限值时，生成流量异常指示信号，触发对节点1的数据采集。

需要说明的是，上述实施例中在对节点进行功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测时，在节点正常时，各自对应的异常指示信号为低电平信号。

在实际实施时，每个节点具体检测方式可以通过软件进行配置，从而选择其中一种检测方式对所选择的N个节点进行检测。在选择每个节点的检测方式时，可以通过观察链路特点、或根据用户需要观察的信息，配置对应的检测方式。

在实际实施时，检测方式并不局限于上述公开的4种，还可以包括集成电路其他异常检测方式，限于篇幅限制在此不做多余赘述。

上述方式2中开始采集对应节点的数据可以包括：立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据。

上述方式3中停止采集对应节点的数据可以包括：立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

通过触发信号触发停止采集节点的数据，还可以包括：实时采集所选择的N个节点的数据，并对N个节点固定长度的数据进行保存。这里，固定长度的数据，可以是用户需要长度的数据，且对固定长度的数据进行动态的实时保存，即在保存最新采集的节点数据时，删除最旧的节点数据。

上述方式2或3中，当触发信号到来时，用户可以通过软件配置灵活的选择立刻开始或立刻停止采集当前异常节点的数据，或经过预设的延时时间后开始采集或停止采集，避免由于外界干扰造成节点的数据瞬时波动引起的瞬间异常现象。

本步骤中，还可以包括：配置数据采集方式。优选地，通过软件配置的数据采集方式可以是：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据。这里，当前节点的数据的有效标志位为1时，将当前节点的数据确定为有效数据。按节点工作时钟采集节点的数据可以是：在节点工作时钟上升沿到来时采集节点数据，包括节点的有效数据和无效数据。

上述方式1中在通过分析N个节点的数据，得出集成电路的测试结果之前，还可以包括：将所选择的每个节点的数据保存到第一存储单元。

上述方式2在触发开始采集对应节点的数据之后，或方式3在触发停止采集对应节点的数据之后，还可以包括：将异常节点的数据保存到第一存储单元；将异常节点的检测结果保存到第二存储单元。

在实际实施时，所选择的任意一个节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时传递到第二存储单元；或者，任意一个异常节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，对对应异常节点的数据通过乒乓存储实时传递到第二存储单元；所述第二存储单元的存储容量大于第一存储单元的存储容量。

进一步地，用户读取第二存储单元中节点的数据，并通过软件对节点的数据进行分析，将分析结果通过片上***(System on a chip，SOC)总线上报给软件用于分析集成电路的故障状态，并作为用户选择N个节点的参考依据。在实际实施时，节点的数据分析可以包括以下至少一种：数据对比、频谱分析、时序检测等。

示例性的，数据对比的过程可以是：将节点的数据与预先设置的数据模型进行对比，如果节点的数据与数据模型匹配，说明集成电路中该节点之前的所有的节点均正常；如果不匹配，说明该节点或该节点之前至少一个节点出现故障。

频谱呈现的过程可以是：利用MATLAB工具将节点的数据进行快速傅里叶变换(Fast Fourier Transformation，FFT)得到节点数据的频谱图，通过观察节点数据的频谱特性分析节点故障状态。

时序检测的过程可以是：在对某个节点的数据进行时序检测时，可以检测该节点的输入数据，即通过检测该节点的上一个节点的数据的时序是否正确，通过该方法可以首先该节点的输入数据是否正确。

在实际实施时，时序的检测可以包括：时序关系检测和帧格式检测。示例性的，对节点2的时序关系检测时，当节点2的上一个节点即节点1的数据的时序关系与预先设置的时序关系不符时，产生相应的告警信息，并通过SOC总线上报用于确定集成电路的故障状态。对节点2的帧格式检测时，节点1的数据的帧格式与预先设置的帧格式不符时，产生相应的告警信息，并通过SOC总线上报，以便于确定集成电路的故障状态。

通过以上对节点的数据分析，结合节点的检测结果，可以用于确定集成电路故障状态，或者作为下一次集成电路检测时选择N个节点的依据。

本发明实施例中，从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析N个节点的数据，得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态；或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。如此，可减少仿真配合和对大量测试仪器的依赖性，快速定位集成电路故障位置。

与现有技术相比，本发明实施例提供的一种集成电路测试的方法，具有以下优点：第一、通用性强，可用于所有的专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，ASIC)的测试中不局限于芯片的规模、业务功能等，第二、灵活性强，可进行不同检测方式、不同数据采集方式的灵活配置；第三、操作简单，只需进行简单的软件配置便可实现不同的检测工作，不需要搭建集成电路外部测试硬件平台，节省每次测试的环境搭建工作时间；第四、支持在线测试，即可以在集成电路正常工作的情况下测试，不需要将集成电路切换到测试模式；第五、提高了集成电路内部的可视度，减少了测试过程中对外部昂贵测试仪器的依赖性。

第二实施例

为了能更加体现本发明的目的，在本发明第一实施例的基础上，从M个待检测节点中选择1个节点为例进行进一步的举例说明。

图5为本发明集成电路测试的方法的第二实施例的流程图，该方法包括：

步骤500：暂停第一存储单元并记录当前第一存储单元的工作状态。

在实际实施时，需要***配置第一存储单元用于集成电路测试。由于第一存储单元在被占用前可能会执行其他业务操作，因此，在使用第一存储单元前需要记录第一存储单元被占用前业务数据节点和工作时钟，以便在集成电路测试完成后恢复该第一存储单元的工作状态。

需要说明的是，如果集成电路测试时分配有专门用于集成电路检测的存储单元，则可以省略此步骤，直接执行步骤501。

步骤501：配置第一存储单元为集成电路测试模式。

在实际实施时，可以是对第一存储单元的采数逻辑进行复位，使第一存储单元工作时钟频率切换到集成电路的工作时钟频率下，配置完成后，释放采数逻辑复位信号。

步骤502：从集成电路M个待检测节点中选择1个节点。

优选地，从集成电路M个待检测节点中选择1个节点的方法是：利用软件配置所选择的1个节点。用户可以根据当前链路状态、告警信息等信息，选择关心的节点进行检测。

步骤503：对选择的1个节点配置对应的检测方式。

本步骤中，节点的检测方式可以配置为：功率检测、时延检测、任务量检测或流量检测等。

优选地，每个节点具体检测方式可以通过软件进行配置，从而选择其中一种检测方式对所选择的N个节点进行检测。选择每个节点的检测方式，可以通过观察链路特点、或根据用户需要观察的信息，配置对应的检测方式。

步骤504：通过配置的检测方式检测节点的数据。

本步骤中，根据配置的检测方式启动该节点的检测，并将检测结果通过SOC总线保存到第二存储单元中，用于分析集成电路状态。第二存储单元可以是用户为集成电路测试专门申请的一块存储区域，用于当采集的节点数据量较大时，存储节点的数据及检测结果。

示例性的，节点1的检测方式配置为功率检测，对节点1的数据进行功率计算，功率计算可以包括平均功率计算和峰值功率检测。

步骤505：判断检测结果是否异常，如果是，生成触发信号并执行步骤506；如果否，返回步骤504。

示例性的，节点1正常工作时，功率异常指示信号为低电平，异常时，信号被拉高。判断节点1的平均功率是否大于平均功率上限值或者小于平均功率下限值，或者节点1的峰值功率是否大于峰值功率上限值或者小于峰值功率下限值，如果是，确定节点1的检测结果为异常，节点1的功率异常指示信号被拉高变为高电平，生成功率异常指示信号，此时功率异常指示信号的上升沿会触发采集节点1的数据；如果否，功率异常指示信号为低电平，即无触发信号生成。

步骤506：触发采集节点的数据。

在实际实施时，对异常节点的数据进行采集时，首先将采集到的节点数据保存到***配置的第一存储单元中。当***配置的第一存储单元容量无法满足节点数据的存储时，可以将存储空间内的数据通过SOC总线保存到第二存储单元中，用于分析集成电路故障状态。。

需要说明的是，在对单个节点的数据采集时，如果待采集节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，***可以利用预先设置的两个存储子单元对所采集的节点数据进行乒乓存储，并通过SOC总线实时的传递到第二存储单元中。

在另一种实施方式中，也可以通过软件配置进行数据采集，即跳过步骤503到步骤505，直接对选择的1个节点的数据进行实时采集并保存，通过分析节点的数据，得出集成电路的测试结果。可实现对任一个节点的数据采集。

在另一种实施方式中，实时采集所选择的1个节点的数据，通过触发信号触发停止采集对应节点的数据。可实现采集节点发生异常前的数据。

步骤507：用户读取存储单元中的节点数据进行数据分析。

本步骤中，用户可以从第一存储单元或第二存储单元读取节点数据，再将节点数据进行数据对比、频谱呈现、时序检测等分析，分析结果用于确定集成电路故障状态，或者作为下一次集成电路检测时选择N个节点的依据。

步骤508：恢复占用的第一存储单元的工作状态。

在实际实施时，在完成对集成电路测试后，需要对***配置的第一存储单元进行采数逻辑复位，使第一存储单元状态恢复到被占用前业务数据节点和工作时钟。恢复完成后，释放采数逻辑复位信号。

需要说明的是，如果集成电路测试时有专门用于集成电路检测的存储单元，省略此步骤。

第三实施例

图6为本发明实施例集成电路测试的装置的第一组成结构示意图，装置包括：选择模块600、处理模块601；其中

选择模块600，用于从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数。

处理模块601，用于实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析N个节点的数据，得出集成电路的测试结果。

或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态；

或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析异常节点的检测结果和数据，确定集成电路的故障状态。

优选地，预设的检测方式包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

处理模块601，具体用于在通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号；或者，在通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号；或者，在通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号；或者，在通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号；将功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

处理模块601：具体用于立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据；或者，具体用于立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

优选地，本发明实施例装置还可以包括：第一配置模块；第一配置模块，用于配置数据采集方式。

数据采集方式为：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据；节点的有效数据为：节点的数据中有效标志位为1的数据。

优选地，本发明实施例装置还可以包括：第二配置模块；第二配置模块，用于通过软件配置在M个待检测节点中选择N个节点。

优选地，本发明实施例装置还可以包括：所述装置还包括：第一存储单元；

第一存储单元，用于在通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果之前，保存所选择的每个节点的数据；

第一存储单元，还用于在触发开始采集对应节点的数据，或触发停止采集对应节点的数据之后，保存所述异常节点的数据。

所述装置还包括：第二存储单元；

第二存储单元，用于在所选择的任意一个节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时保存；

或者，所述第二存储单元，还用于当任意一个异常节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应异常节点的数据通过乒乓存储实时保存；所述第二存储单元的存储容量大于第一存储单元的存储容量。

在实际应用中，选择模块600、处理模块601、第一配置模块、第二配置模块、第一存储单元和第二存储单元均可由位于终端设备中的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、微处理器(Micro Processor Unit，MPU)、数字信号处理器(Digital SignalProcessor，DSP)、或现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)等实现。

第四实施例

图7为本发明实施例集成电路测试的装置的第二组成结构示意图，该装置可以包括：节点选择模块、功率检测模块、检测模块、采集模块；采集模块还包括：写入单元和存储单元。

节点选择模块，用于从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数。

图7中，每个节点传递到节点选择模块的信息可以是：节点本身的数据信号，以及标志信号，标志信号用于标志节点的有效数据。

功率检测模块，可以用于对所选择的N个节点进行功率检测，当功率检测结果异常时，生成触发信号控制采集模块的写入单元，采集异常节点的数据。并将检测结果通过SOC总线保存到外部存储单元，并上报用于集成电路故障状态的分析。

在实际实施时，在对节点的数据进行功率检测时，需要计算固定长度的节点数据的功率，以及得到至少两组功率数据。因此，可以通过软件配置功率检测方式，包括：节点的数据的功率计算起始点、节点的数据的固定长度和节点的数据的功率组数等。

检测模块，用于对所选择的N个节点进行时延检测、任务量检测、流量检测、或其他检测。当检测结果异常时，生成触发信号控制采集模块采集异常节点的数据；并将检测结果通过SOC总线保存到外部存储单元，并上传到软件用于集成电路故障状态的分析。

优选地，检测模块的具体检测方式可以通过软件进行配置，从而选择其中一种检测方式对所选择的N个节点进行检测。

采集模块可以包括：写入单元和存储单元，其中，

写入单元，用于采集节点的数据。

在实际实施时，可通过触发信号来控制开始采集节点的数据，或者停止采集节点的数据。

存储单元，用于对采集的节点的数据进行保存。

在实际实施时，对异常节点的数据进行采集时，首先将采集到的节点数据保存到装置内部的存储单元中，如果待采集节点的数据量大于装置内部的存储单元存储上限值时，可以利用装置内部预先设置的两个存储子单元对所采集的节点数据进行乒乓存储，并通过SOC总线实时的传递到外部的存储单元中。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (16)

1.一种集成电路测试的方法，其特征在于，所述方法包括：

从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；

实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果；

或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态；

或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的检测方式包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在任意一个节点的检测结果为异常时，生成触发信号，包括：

通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号；

或者，通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号；

或者，通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号；

或者，通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号；

将所述功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开始采集对应节点的数据包括：立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据；

所述停止采集对应节点的数据包括：立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：配置数据采集方式；

所述数据采集方式为：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据；所述节点的有效数据为：节点的数据中有效标志位为1的数据。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从集成电路M个待检测节点中选择N个节点，包括：通过软件配置在所述M个待检测节点中选择N个节点。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果之前，所述方法还包括：将所选择的每个节点的数据保存到第一存储单元；

在触发开始采集对应节点的数据，或触发停止采集对应节点的数据之后，所述方法还包括：将所述异常节点的数据保存到第一存储单元。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所选择的任意一个节点的数据量大于所述第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时传递到第二存储单元；

或者，任意一个异常节点的数据量大于所述第一存储单元存储上限值时，将对应异常节点的数据通过乒乓存储实时传递到所述第二存储单元；所述第二存储单元的存储容量大于所述第一存储单元的存储容量。

9.一种集成电路测试的装置，其特征在于，所述装置包括：选择模块、处理模块；其中，

选择模块，用于从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；

处理模块，用于实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果；

或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态；

或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述预设的检测方式包括：功率检测、时延检测、任务量检测、或流量检测。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述处理模块，具体用于在通过功率检测确定任意一个节点的数据功率异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成功率异常指示信号；或者，在通过时延检测确定任意一个节点的数据时延异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成时延异常指示信号；或者，在通过任务量检测确定任意一个节点的任务量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成任务量异常指示信号；或者，在通过流量检测确定任意一个节点的数据流量异常时，确定对应节点的检测结果为异常，生成流量异常指示信号；将所述功率异常指示信号、时延异常指示信号、任务量异常指示信号、或流量异常指示信号确定为触发信号。

12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述处理模块，具体用于立即开始采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后开始采集对应节点的数据；

或者，具体用于立即停止采集对应节点的数据、或经过预设的延时时间后停止采集对应节点的数据。

13.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第一配置模块；

所述第一配置模块，用于配置数据采集方式；

所述数据采集方式为：采集节点的有效数据，或按节点工作时钟采集节点的数据；所述节点的有效数据为：节点的数据中有效标志位为1的数据。

14.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二配置模块；所述第二配置模块，用于通过软件配置在所述M个待检测节点中选择N个节点。

15.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第一存储单元；

第一存储单元，用于在通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果之前，保存所选择的每个节点的数据；

第一存储单元，还用于在触发开始采集对应节点的数据，或触发停止采集对应节点的数据之后，保存所述异常节点的数据。

16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二存储单元；

第二存储单元，用于在所选择的任意一个节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应节点的数据通过乒乓存储实时保存；

或者，所述第二存储单元，还用于当任意一个异常节点的数据量大于第一存储单元存储上限值时，将对应异常节点的数据通过乒乓存储实时保存；所述第二存储单元的存储容量大于所述第一存储单元的存储容量。