CN107977292A - Spi-nand的测试方法和装置 - Google Patents

Spi-nand的测试方法和装置 Download PDF

Info

Publication number
CN107977292A
CN107977292A CN201711284157.1A CN201711284157A CN107977292A CN 107977292 A CN107977292 A CN 107977292A CN 201711284157 A CN201711284157 A CN 201711284157A CN 107977292 A CN107977292 A CN 107977292A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
cases
code
parameter
spi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711284157.1A
Other languages
English (en)
Inventor
庄开锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GigaDevice Semiconductor Beijing Inc
Original Assignee
GigaDevice Semiconductor Beijing Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GigaDevice Semiconductor Beijing Inc filed Critical GigaDevice Semiconductor Beijing Inc
Priority to CN201711284157.1A priority Critical patent/CN107977292A/zh
Publication of CN107977292A publication Critical patent/CN107977292A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明公开了一种SPI‑NAND的测试方法和装置。本发明SPI‑NAND的测试方法，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。本发明实现对SPI‑NAND的多测试案例的灵活组合，提高测试效率。

Description

SPI-NAND的测试方法和装置
技术领域
本发明实施例涉及SPI-NAND技术，尤其涉及一种SPI-NAND的测试方法和装置。
背景技术
调试模块(Debug module)是SPI-NAND的固件(Firmware)开发中重要的组成模块，用于对Firmware的代码(codes)进行测试、验证。Debug module包括针对被测试Firmwarecodes的测试代码(test codes)的设计，其涵盖输入输出测试、逻辑功能验证测试、异常情况处理测试、参数越界测试等。在Firmware的开发过程中，通过调用相应的test codes，反复测试验证已开发或调整的代码的功能，为Firmware codes的功能验证和继续优化提供测试数据支持。
现有技术的Debug module以test codes的source文件为测试基础，针对被测对象的测试需求，设计相应的test codes，然后将test codes加载在主函数中，将编译好的工程文件烧录到controller中，上电运行验证结果。
但是，上述方法测试项目、参数的设定不灵活，只能提前固定写入工程文件中，如果改变测试项目、参数需要重新编译烧录，严重降低测试效率。
发明内容
本发明提供一种SPI-NAND的测试方法和装置，以实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，提高测试效率。
第一方面，本发明实施例提供了一种SPI-NAND的测试方法，包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
可选的，在所述接收测试指令之前，还包括：
通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
可选的，在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前，还包括：
接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
第二方面，本发明实施例还提供了一种SPI-NAND的测试装置，包括：
接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
测试模块，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
输出模块，用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
可选的，还包括：
通信模块，用于通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
可选的，所述接收模块，还用于接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
第三方面，本发明实施例还提供了一种存储设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述第一方面任一所述的SPI-NAND的测试方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种包含存储设备可执行指令的存储介质，所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法，该方法包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
本发明通过将测试案例按编号部署并提供测试案例选择和入参输入的外部通道，实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，即使只下载一次工程文件，也可以通过外部通道随机选择测试案例和测试参数，提高测试效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种存储设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试方法的流程图，该方法可以由SPI-NAND存储装置来执行，具体包括如下步骤：
步骤101、接收测试指令，该测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，测试案例和各测试案例对应的测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
本实施例中，以良好人机界面的上位机程序为测试指令的发送端，SPI-NAND设备端接收来自该程序传入的测试案例编号，测试参数。根据被测对象的测试需求设置测试案例和其对应的测试参数，其中，被测对象是SPI-NAND，可以将测试案例分为三类，分别对应SPI-NAND前端、传输、后台，然后在各大类中设置输入输出测试、逻辑功能验证测试、异常情况处理测试、参数越界测试等相关测试案例，有的测试案例还可以包含测试参数，即同一个案例可以通过改变测试参数测试SPI-NAND的不同性能。用户通过在计算机的应用程序上输入相关数据产生测试指令以启动对SPI-NAND的测试，即输入对应测试项目的测试案例的编号(或者测试案例的其他标识信息)，并输入在该测试案例下的测试参数。
存储装置提前和计算机进行信息交互，以确定测试案例的编号和测试参数的传输格式，包括测试数据在数据包中的位置、编号的字符串长度、测试参数的字符串个数和各字符串的长度，例如，编号可以采用16bit的格式，测试参数最多可以有6个，每个测试参数采用16bit的格式，这样存储装置接收测试指令后，可以在数据包固定的位置提取约定长度的数据并解析得到上述编号和测试参数。
步骤102、根据测试指令调用测试案例的编号对应的测试代码对SPI-NAND进行测试，其中，以测试参数作为测试代码的入参，测试代码是预先根据测试案例生成的；
各个测试案例的测试代码已经预先生成了，因此得到测试案例的编号和测试参数后，就可以直接调用该编号对应的测试案例的测试代码，并且以测试参数为入参运行测试代码。
步骤103、根据测试代码的运行结果输出测试结果。
当测试代码运行完后就可以得到测试结果，存储装置将测试结果输出给计算机，供用户参考。
本实施例的技术方案，通过将测试案例按编号部署并提供测试案例选择和入参输入的外部通道，实现对SPI-NAND的多测试案例的灵活组合，即使只下载一次工程文件，也可以通过外部通道随机选择测试案例和测试参数，提高测试效率。
在上述技术方案的基础上，接收工程文件，该工程文件包括所述测试案例的测试代码。本实施例中，可以将测试案例的调用接口设置在SPI-NAND的Firmware的主函数中，编译后生成工程文件烧录存储装置，在后续的测试中只需要输入测试案例的编号和相应的测试参数即可，不需要每次改变测试案例都重新生成工程文件并烧录，提高测试效率。
图2为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图，参照图2，该装置包括：接收模块11、测试模块12和输出模块13，其中，接收模块11，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；测试模块12，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；输出模块13，用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
在上述技术方案的基础上，图3为本发明实施例提供的SPI-NAND的测试装置的结构示意图，参照图3，该装置还包括：通信模块14，用于通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
在上述技术方案的基础上，所述接收模块11，还用于接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
本发明实施例所提供的SPI-NAND的测试装置可执行本发明任意实施例所提供的SPI-NAND的测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
图4为本发明实施例提供的一种存储设备的结构示意图，如图4所示，该存储设备包括处理器20、存储器21、输入装置22和输出装置23；存储设备中处理器20的数量可以是一个或多个，图4中以一个处理器20为例；存储设备中的处理器20、存储器21、输入装置22和输出装置23可以通过总线或其他方式连接，图4中以通过总线连接为例。
存储器21作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的SPI-NAND的测试方法对应的程序指令/模块。处理器20通过运行存储在存储器21中的软件程序、指令以及模块，从而执行存储设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的SPI-NAND的测试方法。
存储器21可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器21可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器21可进一步包括相对于处理器20远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至存储设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置22可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与存储设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置23可包括显示屏等显示设备。
本发明实施例还提供一种包含存储设备可执行指令的存储介质，所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法，该方法包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
当然,本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作,还可以执行本发明任意实施例所提供的SPI-NAND的测试方法中的相关操作.
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是，上述SPI-NAND的测试装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种SPI-NAND的测试方法，其特征在于，包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述接收测试指令之前，还包括：
通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前，还包括：
接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
4.一种SPI-NAND的测试装置，其特征在于，包括：
接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
测试模块，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
输出模块，用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，还包括：
通信模块，用于通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述接收模块，还用于接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
7.一种存储设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-3中任一所述的SPI-NAND的测试方法。
8.一种包含存储设备可执行指令的存储介质，所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法，其特征在于，该方法包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
CN201711284157.1A 2017-12-07 2017-12-07 Spi-nand的测试方法和装置 Pending CN107977292A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711284157.1A CN107977292A (zh) 2017-12-07 2017-12-07 Spi-nand的测试方法和装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711284157.1A CN107977292A (zh) 2017-12-07 2017-12-07 Spi-nand的测试方法和装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107977292A true CN107977292A (zh) 2018-05-01

Family

ID=62009489

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711284157.1A Pending CN107977292A (zh) 2017-12-07 2017-12-07 Spi-nand的测试方法和装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107977292A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109062178A (zh) * 2018-07-20 2018-12-21 深圳市雷赛控制技术有限公司 一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质
CN109256173A (zh) * 2018-08-13 2019-01-22 中国航空无线电电子研究所 机载存储设备测试***
CN109976804A (zh) * 2019-03-21 2019-07-05 平安普惠企业管理有限公司 微服务注解的应用方法、装置和计算机设备
CN112858876A (zh) * 2021-01-04 2021-05-28 北京智芯微电子科技有限公司 一种自适应的芯片自动化测试方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727989B (zh) * 2008-10-16 2013-11-27 杭州华澜微科技有限公司 一种nand flash存储芯片测试***
CN104461895A (zh) * 2014-12-17 2015-03-25 广东欧珀移动通信有限公司 测试序列的编辑方法和***以及自动化测试***
CN106383786A (zh) * 2016-09-27 2017-02-08 北京金山安全软件有限公司 一种接口压力性能测试方法、装置及电子设备

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727989B (zh) * 2008-10-16 2013-11-27 杭州华澜微科技有限公司 一种nand flash存储芯片测试***
CN104461895A (zh) * 2014-12-17 2015-03-25 广东欧珀移动通信有限公司 测试序列的编辑方法和***以及自动化测试***
CN106383786A (zh) * 2016-09-27 2017-02-08 北京金山安全软件有限公司 一种接口压力性能测试方法、装置及电子设备

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109062178A (zh) * 2018-07-20 2018-12-21 深圳市雷赛控制技术有限公司 一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质
CN109256173A (zh) * 2018-08-13 2019-01-22 中国航空无线电电子研究所 机载存储设备测试***
CN109976804A (zh) * 2019-03-21 2019-07-05 平安普惠企业管理有限公司 微服务注解的应用方法、装置和计算机设备
CN109976804B (zh) * 2019-03-21 2024-01-23 浙江贰贰网络有限公司 微服务注解的应用方法、装置和计算机设备
CN112858876A (zh) * 2021-01-04 2021-05-28 北京智芯微电子科技有限公司 一种自适应的芯片自动化测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107977292A (zh) Spi-nand的测试方法和装置
CN108376073B (zh) 一种测试软件包生成方法及终端
US9317405B2 (en) Test double generation
JP2008176793A (ja) ソフトウェアテストシステム、ソフトウェアのテスト方法、および、そのテスト方法を実行するためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体
CN108255701B (zh) 场景测试方法及移动终端
CN112416318B (zh) 微服务开发方法、装置、存储介质及电子设备
CN109871312B (zh) 一种接口测试方法、装置、设备及可读存储介质
CN107832059A (zh) 一种基于Makefile的代码静态分析方法和装置
CN109766261A (zh) 覆盖测试方法、装置、计算机设备和存储介质
US20210232486A1 (en) Synthesizing printf and scanf statements for generating debug messages in high-level synthesis (hls) code
CN110069404A (zh) 代码调试方法、装置、设备及介质
CN111913889A (zh) 一种测试***搭建方法及测试***
CN113268243A (zh) 内存预测方法及装置、存储介质、电子设备
CN113127361A (zh) 应用程序的开发方法、装置、电子设备和存储介质
CN115658042A (zh) 混合应用组件式开发方法、***、设备及存储介质
CN109756948B (zh) 通过用户设备中的应用连接无线接入点的方法与设备
CN113535578B (zh) 一种cts测试方法、装置及测试设备
CN114816364A (zh) 基于Swagger动态生成范本文件的方法、装置及应用
CN109408063B (zh) 基于虚拟机的指令插桩方法及装置
CN113536716A (zh) Soc***验证方法、装置、计算机设备和可读存储介质
CN112486497A (zh) 编译配置文件的生成方法、装置、电子设备及存储介质
US8359456B2 (en) Generating random addresses for verification of distributed computerized devices
CN113127019A (zh) 验证方法及相关设备
CN112925698A (zh) 一种测试脚本生成方法和集成开发环境
CN108304188B (zh) 一种数据类型转换方法及终端

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180501

RJ01 Rejection of invention patent application after publication