CN107976265A - 一种温度传感器的时间常数测试***及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种温度传感器的时间常数测试***及方法。一种温度传感器的时间常数测试***包括：数字示波器、电源、第一水槽、第二水槽和两个测试工装；所述电源用于为被测温度传感器供电；所述数字示波器用于测量所述被测温度传感器的电压；所述第一水槽用于盛装第一预设温度的水；所述第二水槽用于盛装第二预设温度的水；两个所述测试工装，分别设于所述第一水槽和所述第二水槽上，且所述测试工装上设有第一通孔，所述第一通孔使得所述被测温度传感器的探头通过所述测试工装，所述被测温度传感器探头以外的部分不能通过所述测试工装。本发明实施例可以实现经济、快速、稳定测试温度传感器的时间常数。

Description

一种温度传感器的时间常数测试***及方法

技术领域

本发明实施例涉及航空电气技术，尤其涉及一种温度传感器的时间常数测试***及方法。

背景技术

时间常数是航空温度传感器的一项重要指标，每台温度传感器出厂前均需进行时间常数测试。随着各种新型号飞机的不断发展，温度传感器数量与日俱增，我们将会面临更加繁重的时间常数测试任务。

对于温度传感器来说，时间常数是温度传感器感应到的介质温度由起始温度，变化到最终温度与起始温度之差的63.2％所对应的温度，所需的时间。对于测量介质为液体的温度传感器或接触式温度传感器，一般要求为“流速为v(m/s)时，时间常数τ_0.632≤t(s)”，从制造过程符合性角度来说，在工艺参数方面不存在任何默认值或者经验值使得制造的温度传感器所具有的时间常数符合上述要求。因此，每一台温度传感器都进行时间常数测试才能确定其时间常数是否符合标准。

同时温度传感器的水检测试要求在一定的水流速下进行，现有技术中，进行时间常数测试时，无法检测和控制水流速，当水流速极小时，就默认水的流速为0，但是水的流速越小，对应传感器时间常数的要求越严格，当水流不稳定时会导致测试数据不稳定，从而影响温度传感器时间常数的测试重复性。而且国内有测试装置的厂家数量较少，此外测试周期较长，而且测试装置复杂，测试成本高。

发明内容

本发明实施例提供一种温度传感器的时间常数测试***及方法，以实现经济快速测试时间常数，并提供高稳定性的时间常数测试***。

第一方面，本发明实施例提供了一种温度传感器的时间常数测试***，包括：

数字示波器、电源、第一水槽、第二水槽和两个测试工装；

所述电源用于为被测温度传感器供电；

所述数字示波器用于测量所述被测温度传感器的电压；

所述第一水槽用于盛装第一预设温度的水；

所述第二水槽用于盛装第二预设温度的水；

两个所述测试工装，分别设于所述第一水槽和所述第二水槽上，且所述测试工装上设有第一通孔，所述第一通孔使得所述被测温度传感器的探头通过所述测试工装，所述被测温度传感器探头以外的部分不能通过所述测试工装。

进一步的，所述电源为恒流源。

进一步的，所述测试工装包括第一固定装置，所述第一固定装置用于当所述测温度传感器***所述第一通孔时，将所述被测温度传感器固定于所述测试工装上。

进一步的，所述***还包括两个搅拌设备和两个加热设备；两个所述搅拌设备分别设置于所述第一水槽和所述第二水槽中，用于搅拌所述第一水槽和所述第二水槽中的水；两个所述加热设备分别设置于所述第一水槽和所述第二水槽中，用于加热所述第一水槽和所述第二水槽中的水。

进一步的，所述第一水槽和所述第二水槽均为恒温数显水槽。

进一步的，所述***还包括：两个标准温度计，分别用于测量所述第一水槽和所述第二水槽中水的温度。

进一步的，所述测试工装上还设有第二通孔，其中，所述第二通孔使得所述标准温度计的探头通过所述测试工装，所述第一通孔与所述第二通孔的距离小于预设距离。

进一步的，所述测试工装还包括第二固定装置；所述第二固定装置用于当所述标准温度计的探头***所述第二通孔时，将所述标准温度计固定于所述测试工装上。

第二方面，本发明实施例提供了一种温度传感器的时间常数测试方法，基于上述温度传感器的时间常数测试***，包括：

加热并搅拌所述第一水槽盛装的水至所述第一预设温度，且加热并搅拌所述第二水槽盛装的水至所述第二预设温度，其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度不同；

由所述电源为所述被测温度传感器供电，并将所述被测温度传感器的探头置于所述第一水槽盛装的水中；

当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第一预设时间时，停止对所述第二水槽的水进行加热和搅拌；

将所述被测温度传感器在预设时间内由所述第一水槽盛装的水中转移到所述第二水槽盛装的水中；

当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间时，获取所述数字示波器输出的波形；

基于所述数字示波器输出的波形，获取所述被测温度传感器的时间常数。

本发明实施例，通过通用设备组成温度传感器的时间测试***，简化被测温度传感器的时间常数的测试过程，解决了现有技术中测试装置复杂，测试成本高，测试***中水速无法控制的问题，实现减少测试周期，提高测试效率，从而减少测试成本的效果。

附图说明

图1是本发明实施例一中的一种温度传感器的时间常数测试***的结构示意图；

图2a是本发明实施例二中的一种温度传感器的时间常数测试***的结构示意图；

图2b是本发明实施例二中的一种温度传感器的时间常数测试方法的流程图；

图3a是本发明实施例三中的一种温度传感器的时间常数测试***的结构示意图；

图3b是本发明实施例三中的一种温度传感器的时间常数测试方法的流程图；

图3c是本发明实施例三中的数字示波器输出的电压波形的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1是本发明实施例一提供的一种温度传感器的时间常数测试***的结构示意图，本发明实施例温度传感器的时间常数测试***中的被测温度传感器可以测量液体的温度变化。

如图1所示，温度传感器的时间常数测试***包括：数字示波器16、电源15、第一水槽11、第二水槽12、两个测试工装14和被测温度传感器13。

在本发明实施例中，电源15用于为被测温度传感器13供电。

可选的，电源15为恒流源，为被测温度传感器13提供恒定电流，保证被测温度传感器13可以稳定工作。被测温度传感器13是接触式温度传感器，可以是热敏电阻或者热电偶。

在本发明实施例中，数字示波器16用于测量所述被测温度传感器13的电压。

具体的，在数字示波器输出波形的曲线中，将电压变化至阶跃量的63.2％时所在的纵轴点所对应的横轴点所代表的时间，作为被测温度传感器的时间常数。通过数字示波器测量温度传感器的电压，获取被测温度传感器的时间常数，不单独对被测温度传感器的温度变化前后的温场进行监测，且不对被测温度传感器的其他数据进行数据处理，仅采用数字示波器对被测温度传感器进行数据采集，简化时间常数的测试过程。

在本发明实施例中，第一水槽11用于盛装第一预设温度的水，第二水槽12用于盛装第二预设温度的水。

具体的，两个水槽为恒温水槽，具有相同的材质和结构。例如，两个水槽均为中空箱体结构的不锈钢恒温水槽。其中，水槽中盛装的水为蒸馏水。两个恒温水槽可以为被测温度传感器提供两个温场，提高被测温度传感器在测试过程中的稳定性，减小被测温度传感器受到的室内环境影响。

在本发明实施例中，两个所述测试工装14，分别设于第一水槽11和第二水槽12上，且测试工装14上设有第一通孔，所述第一通孔使得被测温度传感器13的探头通过测试工装14，被测温度传感器13探头以外的部分不能通过测试工装14。

具体的，测试工装的形状、面积分别与水槽的横截面的形状、面积相匹配，例如，水槽的横截面为正方形，则测试工装为正方形，且测试工装的面积大于水槽的横截面的面积。测试工装的中心点处设有与被测温度传感器探头相匹配的第一通孔，更详细的，第一通孔使得被测温度传感器的探头通过测试工装，但被测温度传感器探头以外的部分不能通过测试工装。测试工装的材料可以是不锈钢，或者其他材料。

将测试工装设于水槽上由多种方式，例如，在平面的测试工装上设有一个凹槽，通过凹槽固定在水槽中。又如，在水槽上设有多个固定装置，可以是夹具，将测试工装固定于水槽上。

可选的，测试工装14包括第一固定装置，第一固定装置用于当测温度传感器3***第一通孔时，将被测温度传感器13固定于测试工装14上。其中，固定装置可以为夹具。通过第一固定装置将被测温度传感器13固定于测试工装14，保证被测温度传感器13的探头每次浸入水槽的深度和位置不变，以实现测试过程中的被测温度传感器13的状态的一致性，减少***的人为误差。

温度传感器的时间常数测试***的工作过程：向第一水槽和第二水槽放入不同温度的水，由恒流源为被测温度传感器供电，并通过测试工装的第一固定装置，将被测温度传感器的探头置于所述第一水槽盛装的水中，采用数字示波器测量被测温度传感器的电压，当数字示波器输出的电压波形稳定，转移被测温度传感器至第二水槽中，当数字示波器输出的电压再次稳定时，获取数字示波器输出的波形，并基于该波形，获取被测温度传感器的时间常数。

本发明实施例，通过通用设备组成温度传感器的时间测试***，简化被测温度传感器的时间常数的测试过程，解决了现有技术中测试装置复杂，测试成本高，测试***中水速无法控制的问题，实现减少测试周期，提高测试效率，从而减少测试成本的效果。

实施例二

图2a是本发明实施例二提供的一种温度传感器的时间常数测试***，图2b是本发明实施例二提供的一种温度传感器的时间常数测试方法的流程图。本实施例在上述实施例一的基础上进行了优化。该***具体包括：

数字示波器26、电源25、第一水槽21、第二水槽22、两个测试工装24和被测温度传感器23。

其中，电源25用于为被测温度传感器23供电，数字示波器26用于测量所述被测温度传感器23的电压，第一水槽21用于盛装第一预设温度的水，第二水槽22用于盛装第二预设温度的水，两个所述测试工装24，分别设于第一水槽21和第二水槽22上，且测试工装24上设有第一通孔，所述第一通孔使得被测温度传感器23的探头通过测试工装24，被测温度传感器23探头以外的部分不能通过测试工装24。

具体的，电源25为恒流源，测试工装24包括第一固定装置，第一固定装置用于当测温度传感器23***第一通孔时，将被测温度传感器23固定于测试工装24上。

可选的，温度传感器的时间常数测试***还包括两个搅拌设备27和两个加热设备28；两个搅拌设备27分别设置于第一水槽21和第二水槽22中，用于搅拌第一水槽21和第二水槽22中的水；两个加热设备28分别设置于第一水槽21和第二水槽22中，用于加热第一水槽21和第二水槽22中的水。

具体的，加热设备用于加热水槽中的水，使得两个水槽中的水具有不同温度，搅拌设备用于搅拌水槽中的水，保证水槽中各个位置处的水温均匀。

可选的，第一水槽21和第二水槽22均为恒温数显水槽。

具体的，水槽具有恒温功能，使得水槽中的水在一定时间内的温度保持不变，即为被测温度传感器提供一个温场，保证被测温度传感器不受外界环境影响。水槽具有温度显示功能，可以测量水槽中水的温度，并以数字显示，优选的，水槽的数字温度的精度为0.01℃，温度稳定性为±0.05℃。

如图2b所示，基于上述温度传感器的时间常数测试***，其测试方法步骤如下：

步骤210，加热并搅拌所述第一水槽盛装的水至所述第一预设温度，且加热并搅拌所述第二水槽盛装的水至所述第二预设温度，其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度不同。

在本实施例中，第一水槽和第二水槽为相同水槽，且两个水槽所盛装的水的体积相同，同时第一水槽中的水保持第一预设温度，第二水槽中的水保持第二预设温度，为被测温度传感器提供第一预设温度和第二预设温度的温场。其中，水槽进水的方式可以是通过自动给水设备进水，也可以是通过人工方式进水。

步骤220，由所述电源为所述被测温度传感器供电，并将所述被测温度传感器的探头置于所述第一水槽盛装的水中。

可选的，电源为恒流源，为被测温度传感器提供恒定电流。同时通过测试工装上的第一固定装置将被测温度传感器的探头置于第一水槽盛装的水中，同时确定探头浸入水槽的深度和位置，并以此为基准，保证每次被测温度传感器的探头浸入水槽的深度和位置一致。

步骤230，当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第一预设时间时，停止对所述第二水槽的水进行加热和搅拌。

具体的，调节数字示波器的时基，至能够看出被测温度传感器输出的电压波形呈现平稳不变的状态结束，此时认为被测温度传感器达到了稳定状态，可以进行下一步操作。其中，第一预设时间可以是10min。在所述数字示波器输出的波形稳定之后，再等待第一预设时间后开始测试被测温度传感器，保证两个水槽中的水温均达到了稳定状态，以及保证置于第一水槽中的被测温度传感器达到了稳定状态。同时通过停止对第二水槽的水进行加热和搅拌，保证在被测温度传感器置于第二水槽中的水中时，第二水槽中的水速为0m/s，避免水的水流不稳定影响时间常数测试的重复性和稳定性。

步骤240，将所述被测温度传感器在预设时间内由所述第一水槽盛装的水中转移到所述第二水槽盛装的水中。

具体的，快速将被测温度传感器由第一水槽盛装的水中转移到第二水槽盛装的水中，同时保证被测温度传感器在两个水槽中浸入水的深度和位置相同，其中，可以将被测温度传感器单独转移，也可以将被测温度传感器和第一固定装置共同转移，预设时间可以为1s。此外，转移方式可以是通过人工方式实现转移，或者可以是通过机械化方式自动转移。

步骤250，当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间时，获取所述数字示波器输出的波形。

优选的，调节数字示波器的电压灵敏度，使得被测温度传感器在由第一预设温度变化至第二预设温度时，对应的在数字示波器中的电压阶跃量的高度占数字示波器屏幕工作面的50％或50％以上。同时调节数字示波器的时基，至能够看出被测温度传感器输出的阶跃后的电压波形呈现平稳不变的状态结束。通过调节数字示波器的电压灵敏度和时基，提高数字示波器波形采集的分辨率和准确性。其中，当数字示波器输出波形稳定并达到第二预设时间时按下驻停键，获取波形。第二预设时间可以是15min。

步骤260，基于所述数字示波器输出的波形，获取所述被测温度传感器的时间常数。

本发明实施例，通过设置搅拌设备和加热设备，且两个水槽为数显恒温水槽，为被测温度传感器提供两个稳定且均匀的温场，保证时间常数测试的重复性，提高时间常数的测试***稳定性。

实施例三

图3a是本发明实施例三提供的一种温度传感器的时间常数测试***的结构示意图，图3b是本发明实施例三中的一种温度传感器的时间常数测试方法的流程图，图3c是本发明实施例三中的数字示波器输出的电压波形的示意图。本实施例在上述实施例的基础上进行了优化。

如图3a所示，温度传感器的时间常数测试***包括：数字示波器36、电源35、第一水槽31、第二水槽32、两个测试工装34、两个标准温度计37和被测温度传感器33。

其中，电源35用于为被测温度传感器33供电，数字示波器36用于测量所述被测温度传感器33的电压，第一水槽31用于盛装第一预设温度的水，第二水槽32用于盛装第二预设温度的水，两个标准温度计37，分别用于测量所述第一水槽31和所述第二水槽32中水的温度，两个所述测试工装34，分别设于第一水槽31和第二水槽32上，且测试工装34上设有第一通孔和第二通孔，所述第一通孔使得被测温度传感器33的探头通过测试工装34，被测温度传感器33探头以外的部分不能通过测试工装34，所述第二通孔使得所述标准温度计37的探头通过所述测试工装，所述第一通孔与所述第二通孔的距离小于预设距离。

具体的，第一通孔和第二通孔关于测试工装的中心点对称，且第一通孔与第二通孔的距离小于预设距离，此时认为标准温度计测量点的水温等于所述被测温度传感器的测量点处的水温，实现准确测量被测温度传感器的测量点处的水温。其中，第一通孔与第二通孔的距离越小越好。示例的，预设距离小于等于0.5m。

可选的，电源35为恒流源，为被测温度传感器33提供恒定电流，保证被测温度传感器33可以稳定工作。

可选的，测试工装34包括第一固定装置，第一固定装置用于当测温度传感器33***第一通孔时，将被测温度传感器33固定于测试工装34上。

可选的，温度传感器的时间常数测试***还包括两个搅拌设备38和两个加热设备39；两个搅拌设备38分别设置于第一水槽31和第二水槽32中，用于搅拌第一水槽31和第二水槽32中的水；两个加热设备39分别设置于第一水槽31和第二水槽32中，用于加热第一水槽31和第二水槽32中的水。

可选的，第一水槽31和第二水槽32均为恒温水槽。

可选的，测试工装34还包括第二固定装置，第二固定装置用于当标准温度计37的探头***第二通孔时，将标准温度计37固定于测试工装34上。

其中，固定装置可以为夹具。通过第二固定装置将标准温度计37固定于测试工装34，保证标准温度计37的探头每次浸入水槽的深度和位置不变，以实现测试过程中的标准温度计37的测量点固定不变，从而准确测量被测温度传感器的探头感应到的温度。优选的，标准温度计的测量误差为±0.15℃。

如图3b所示，基于上述温度传感器的时间常数测试***，其时间常数测试方法步骤如下：

步骤310，加热并搅拌所述第一水槽盛装的水至所述第一水槽中的标准温度计的示数达到所述第一预设温度，且加热并搅拌所述第二水槽盛装的水至所述第二水槽中的标准温度计的示数达到所述第二预设温度，其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度不同。

具体的，当第一水槽中的标准温度计显示的温度与第一预设温度的差值低于0.1℃时，可以认为第一水槽中的标准温度计的示数达到了第一预设温度。可以基于同样的方法确定第二水槽中的标准温度计的示数达到了第二预设温度。可选的，基于所述标准温度计的温度示数和第一水槽的温度示数确定所述第一水槽中的水温，加热并搅拌所述第一水槽盛装的水至所述第一水槽中的水温到所述第一预设温度，并基于所述标准温度计的温度示数和所述第二水槽的温度示数确定所述第二水槽中的水温，加热并搅拌所述第二水槽盛装的水至所述第二水槽中的水温到所述第二预设温度。例如，可以分别获取标准温度计显示的温度和第一水槽显示的数字温度，确定二者的平均值，并作为第一水槽的水温。

步骤320，由所述电源为所述被测温度传感器供电，并将所述被测温度传感器的探头置于所述第一水槽盛装的水中。

步骤330，当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第一预设时间时，停止对所述第二水槽的水进行加热和搅拌。

步骤340，将所述被测温度传感器在预设时间内由所述第一水槽盛装的水中转移到所述第二水槽盛装的水中。

步骤350，当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间时，获取所述数字示波器输出的波形。

在本实施例中，可选的，获取第二水槽中的标准温度计在第二水槽停止加热和搅拌时的温度，以及在所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间之后的温度，确定二者的温度差，若温度差不大于预设阈值时，确定在测试过程中停止加热和搅拌对第二水槽的温度影响较小，即在测试过程中，第二水槽形成的温场稳定性高。其中，预设阈值可以是0.1℃。

步骤360，基于所述数字示波器输出的波形，获取所述被测温度传感器的时间常数。

例如，本发明实施例的温度传感器的时间常数测试***的设备清单如表1所示：

表1温度传感器的时间常数测试***的设备清单

序号	名称	型号	厂家	数量
					1	数字示波器	C026215	Tektronic	1
2	恒流源	D16074	北京亿良	1
					3	水槽1	B64923	Fluke	1
4	水槽2	B64923	Fluke	1
					5	标准温度计	PT1000	MINCO	2
6	测试工装	无	厂内自制	2

基于表1设备清单中的设备组装成的温度传感器的时间常数测试***，采用PT500铂电阻温度传感器作为被测温度传感器，且设定第一预设温度为25℃，第二预设温度为80℃，测试PT500铂电阻温度传感器由25℃阶跃至80℃时的时间常数。调节恒流源电流为2mA，并采用数字示波器采集PT500铂电阻温度传感器的电压。通过提前测试可知，PT500铂电阻温度传感器由25℃阶跃至80℃时电压阶跃量为211.6mV，从而调整数字示波器的电压灵敏度为50mV、采样时基4s，此时数字示波器测量精度最高。

其具体工作过程为：加热并搅拌第一水槽的水温至25℃，且加热并搅拌第二水槽的水温至80℃，将PT500铂电阻温度传感器通过测试工装的第一固定装置固定于第一水槽内，待数字示波器输出波形稳定后并达到10min时，关断第二水槽的电源，同时将PT500铂电阻温度传感器迅速固定于第二水槽的测试工装上，观察数字示波器输出波形变化，当波形平稳时按下驻停键。此时，第二水槽中的标准温度计在第二水槽停止加热和搅拌时显示的温度，与在所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间之后显示的温度之间温度差为0.1℃。如图3c所示，数字示波器输出的电压曲线中，电压值等于电压阶跃量的63.2％的纵轴点是点a，其对应的横轴点是点b，读取横轴点b所代表的时间为1.2s，则此次被测温度传感器的时间常数为1.2s。

此外通过实验证实，该***的测试稳定性能够达到±6％以内。

在本实施例中，在两个测试工装上分别设置标准温度计，近距离测量被测温度传感器测量点的温度，提供更精确的温度，以提高温度传感器的时间常数测试***的测试精度。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (9)

1.一种温度传感器的时间常数测试***，其特征在于，包括：

数字示波器、电源、第一水槽、第二水槽和两个测试工装；

所述电源用于为被测温度传感器供电；

所述数字示波器用于测量所述被测温度传感器的电压；

所述第一水槽用于盛装第一预设温度的水；

所述第二水槽用于盛装第二预设温度的水；

两个所述测试工装，分别设于所述第一水槽和所述第二水槽上，且所述测试工装上设有第一通孔，所述第一通孔使得所述被测温度传感器的探头通过所述测试工装，所述被测温度传感器探头以外的部分不能通过所述测试工装。

2.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述电源为恒流源。

3.根据权利要求2所述的***，其特征在于，所述测试工装包括第一固定装置，所述第一固定装置用于当所述测温度传感器***所述第一通孔时，将所述被测温度传感器固定于所述测试工装上。

4.根据权利要求3所述的***，其特征在于，还包括两个搅拌设备和两个加热设备；两个所述搅拌设备分别设置于所述第一水槽和所述第二水槽中，用于搅拌所述第一水槽和所述第二水槽中的水；两个所述加热设备分别设置于所述第一水槽和所述第二水槽中，用于加热所述第一水槽和所述第二水槽中的水。

5.根据权利要求4所述的***，其特征在于，所述第一水槽和所述第二水槽均为恒温数显水槽。

6.根据权利要求4所述的***，其特征在于，还包括：两个标准温度计，分别用于测量所述第一水槽和所述第二水槽中水的温度。

7.根据权利要求6所述的***，其特征在于，所述测试工装上还设有第二通孔，其中，所述第二通孔使得所述标准温度计的探头通过所述测试工装，所述第一通孔与所述第二通孔的距离小于预设距离。

8.根据权利要求6所述的***，其特征在于，所述测试工装还包括第二固定装置；所述第二固定装置用于当所述标准温度计的探头***所述第二通孔时，将所述标准温度计固定于所述测试工装上。

9.一种温度传感器的时间常数测试方法，其特征在于，基于权利要求4-8任一项所述的温度传感器的时间常数测试***，包括：

加热并搅拌所述第一水槽盛装的水至所述第一预设温度，且加热并搅拌所述第二水槽盛装的水至所述第二预设温度，其中，所述第一预设温度与所述第二预设温度不同；

由所述电源为所述被测温度传感器供电，并将所述被测温度传感器的探头置于所述第一水槽盛装的水中；

当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第一预设时间时，停止对所述第二水槽的水进行加热和搅拌；

将所述被测温度传感器在预设时间内由所述第一水槽盛装的水中转移到所述第二水槽盛装的水中；

当所述数字示波器输出的波形稳定并达到第二预设时间时，获取所述数字示波器输出的波形；

基于所述数字示波器输出的波形，获取所述被测温度传感器的时间常数。