CN107966458A - 一种基板半板检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基板半板检测装置，包括：底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位；所述底座上设有轨道，所述承载台滑动设置于轨道上，且包含第一载台A及第二载台B；所述检测组件设置于轨道上方，包括龙门头和检测头，所述龙门头设置于底座上，所述检测头滑动设置于龙门头上；所述探针组件设置于轨道上方；所述暂存工位设置于所述轨的第二端。本发明提供的玻璃基板半板检测装置，能够实现玻璃基板半板的全自动检测，大大提高了玻璃基板灰度及缺陷检测的效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示面板检测领域，尤其涉及一种基板半板检测装置。
背景技术
通常屏幕的制作有很多段制程，其中玻璃基板的制作便是其中的一个重要步骤。而在屏幕玻璃基板的生产过程中，总是会在玻璃基板表面或玻璃基板内部产生各种类型的缺陷，缺陷可包括表面不连续性、线状缺陷、条纹、结石、气泡以及玻璃基板体的光学不均匀性等。而为了不让有缺陷的玻璃基板流入到后面的制程上，通常需要对玻璃基板是否存在上述缺陷进行检测。随着显示面板尺寸的不断增加，整张面板的搬运、生产及检测的难度逐渐增大，通常会把整张大的基板切成两张半板甚至更小，以便于搬运和生产，而现有技术中显示面板的检测设备仅能适用于整张面板的检测，不能同时对两张半板进行检测，用现有的设备每次只能检测半张基板，严重影响检测效率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：为解决现有技术中玻璃基板半板检测效率低下的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基板半板检测装置，包括：底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位；
所述底座上设有轨道，所述承载台滑动设置于轨道上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道具有相对的第一端和第二端；
所述检测组件设置于轨道上方，包括龙门头和检测头，所述龙门头设置于底座上，所述检测头滑动设置于龙门头上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件设置于轨道上方，用于对半板进行电性检测；
所述暂存工位设置于所述轨的第二端；其中，
所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位。
进一步改进为，所述承载台上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚。
进一步改进为，所述承载台上均匀分布有多个吸附孔，所述吸附孔与抽真空设备相连接。
进一步改进为，所述承载台下设置有驱动承载台旋转的驱动器。
进一步改进为，所述承载台四周设置有可伸缩的夹脚，用于夹住玻璃基板。
进一步改进为，所述承载台底部设有垂直于轨道方向的移动机构，且所述轨道两侧各设有一个摄像头，所述摄像头用于获取玻璃基板的位置信息。
进一步改进为，所述底座下设置有除震台。
进一步改进为，所述暂存工位还包括卡匣，所述卡匣用于存放多组探针组。
进一步改进为，还包括探针更换组件，所述探针更换组件通过支架设置于底座上，所述探针更换组件具有用于夹取探针组的机械手，所述机械手通过第二轨道在卡匣与探针组件之间移动。
进一步改进为，所述卡匣两侧设有举升组件，用以将待取探针组举升或下移至取料高度。
本发明的有益效果是：
本发明提供的玻璃基板半板检测装置实现了玻璃基板光学性能及电学性能的全自动检测，大大提高了检测效率，节省了人力。同时，实现了两个半板的同时检测，及不同产品可使用一个装置进行检测，提高了检测效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1为本发明的基板半板检测装置结构示意图；
图2为本发明的承载台结构示意图；
图3为本发明的检测组件及探针组件结构示意图；
图4为图1中C部放大图；
图5为本发明的驱动器及除震台结构示意图；
图中的附图标记为：
1-底座，2-承载台，3-检测组件，4-探针组件，5-支架，6-除震台，7-暂存工位，8-探针更换组件，11-轨道，12-摄像头，21-支脚，22-驱动器，23-夹脚，24-移动机构，25-吸附孔，31-龙门头，311-Y向轨道，32-检测头，41-固定座，42-探针组，51-X向移动轨道，71-举升组件，72-卡匣，81-机械手，82-第二轨道。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
在发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在发明中的具体含义。
实施例
如图1所示，本实施例提供一种基板半板检测装置，其特征在于，包括：底座1、承载台2、检测组件3、探针组件4及暂存工位7；
所述底座1上设有轨道11，所述承载台2滑动设置于轨道11上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道11具有相对的第一端(图1中装置的左端)和第二端(图1中装置的右端)；
所述暂存工位7设置于所述轨道11的第二端；其中，所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位7；探针组件4对基板进行灰度及缺陷检测；
如图3所示，所述检测组件3设置于轨道11上方，包括龙门头31和检测头32，所述龙门头31通过支架5设置于底座1上，所述支架5上安装有X向移动轨道51和驱动设备，在驱动设备的驱动下，所述龙门头31能够沿X向(轨道11的第二端方向)移动，所述检测头32通过龙门头上的Y向轨道311滑动设置于龙门头31上，所述检测头32通过在驱动设备的驱动下沿Y向移动，实现对半板的全面扫描，完成光学性能的检测，例如对半板灰度、微观缺陷等的检查。
所述探针组件4设置于轨道11上方，包括固定座41及设置于固定座41上的探针组42，所述固定座41架设与轨道11上方，当承载有玻璃基板的承载台2移动到探针组件4下方时，所述探针组42压接于玻璃基板上的接触点上，用于为玻璃基板提供电源、显示内容信号使其工作，此时检测头拍摄该玻璃基板的显示效果并发送给检测设备，同时也对玻璃基板进行电性检测。
所述检测设备与检测头32连接，获取检测头拍摄的玻璃基板的显示效果信息，并分析该被检测的玻璃基板的灰度以及是否具有缺陷。其中，检测设备为电脑、服务器或其他具有计算分析功能的设备。
如图2所示，进一步改进为，所述承载台2上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚21。通常玻璃基板的生产车间均具有机器人手臂，并通过该机器人手臂的梳子型机械手将玻璃基板放置在承载台2上，若直接放置而无相应承接则玻璃基板会划伤、放置不到位甚至掉落。而本技术方案中，梳子型机械手将玻璃基板放置在承载台2上时，支脚21上升承接住玻璃基板后，梳子型机械手再抽离，支脚21下降，便避免上述问题发生。
如图2所示，进一步改进为，所述承载台2上均匀分布有多个吸附孔25，所述吸附孔25与抽真空设备相连接。当支脚21下降，玻璃基板置于承载台2上后，抽真空设备进行抽真空，将玻璃基板与承载台2之间的空气吸走并保持，进而使得玻璃基板牢牢固定于承载台2上，从而避免了再探针组件4的探针组42进行压接是发生翘起或位移而压接不准造成玻璃基板不能被点亮问题的发生。
进一步改进为，所述承载台2下设置有驱动承载台旋转的驱动器22。由于不同产品的玻璃基板上的接触点位置不同，有的位于玻璃基板的长边上，有的则位于玻璃基板的短边上，因此通过在承载台2下设置驱动器使其能够转动，便能够对不同产品的玻璃基板进行检测，而无需更换设备。
如图4所示，进一步改进为，所述承载台2四周设置有可伸缩的夹脚23，用于夹住玻璃基板，本实施例中该夹脚23为L型夹脚。由于转移玻璃基板的机器人手臂的移动误差以及其上玻璃基板的位移等因素影响，玻璃基板放置于承载台2上时，位置并不十分准确，而承载台2四周设置的可伸缩的夹脚23在未放置玻璃基板时为伸出状态，当玻璃基板放置于承载台2上后，夹脚23收缩，以使得玻璃基板对位并夹住；或者在支脚21伸出的同时，夹脚23伸出，当玻璃基板放置于承载台2上后，夹脚23收缩。
进一步改进为，所述承载台2底部设有垂直于轨道方向的移动机构24，且所述轨道11两侧各设有一个摄像头12，所述摄像头12用于获取玻璃基板的位置信息。通过夹脚进行的对位是机械对位，还是有0.3mm左右的误差，通过摄像头12拍取承载台2上玻璃基板的位置图，获取玻璃基板的位置，进而控制承载台2移动的设备控制承载台2沿轨道11方向和/或垂直于轨道11方向移动，使得承载台2移动到相应的位置，确保后面探针组42压接到玻璃基板的接触点上位置是准确的。
如图5所示，进一步改进为，所述底座1下设置有除震台6。本装置为精密检测装置，而通常工厂内设备非常多，人也很多，因此会有很多震源影响装置的检测精度，而通过该除震台6能够有效地排除外界振动对本装置的干扰。
进一步改进为，本装置的暂存工位7处还包括卡匣72，所述卡匣72用于存放多组探针组。方便不同产品的玻璃基板用探针组的更换。
如图1和图3所示，进一步改进为，本装置还包括探针更换组件8，所述探针更换组件8通过支架5设置于底座1上，所述探针更换组件8具有用于夹取探针组的机械手81，所述机械手81通过第二轨道82往返于卡匣72与探针组件4之间，且所述卡匣72底部设有举升组件71，用以将待取探针组举升或下移至取料高度。当需要更换探针组件4上的探针组时，机械手81通过直线电机沿第二轨道82移动到探针组件4处取下其上的探针组并返回卡匣72，卡匣72举升组件71工作，使卡匣72上升或下降，进而卡匣72内未存放探针组的空位置处对应机械手81，而后机械手81将探针组放置在该位置，完成探针组取回；卡匣72举升组件71工作，使卡匣72上升或下降，进而卡匣72内存放对应需要更换的探针组位置与机械手81对应，机械手81取下该探针组并沿第二轨道82移动到探针组件4处，并放置在探针组的固定座41上，完成探针组更换。
第一载台A和第二载台B上的两个半板检测过程：两个半板同时检测时，首先通过机器人手臂将两个半板分别放置于第一载台A和第二载台B上后，首先进行第二载台B上的玻璃基板的半板检测，若该玻璃基板上的接触点位于短边，则先旋转第二载台B后沿轨道11移动到探针组件4处，探针组42压接于接触点上对其供电，检测头32进行拍照获取显示效果，检测结束后，第二载台B继续向前移动到轨道11第二端的暂存工位7，进而第一载台A移动到检测组件4处进行检测，第一载台A上的玻璃基板半板检测结束后返回到第一端，同时，第二载台B也返回第一端。
本发明提供的玻璃基板半板检测装置实现了玻璃基板灰度及缺陷的全自动检测，大大提高了检测效率，节省了人力。同时，实现了两个半板的同时检测，及不同产品可使用一个装置进行检测，提高了检测效率。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (10)
1.一种基板半板检测装置，其特征在于，包括：底座(1)、承载台(2)、检测组件(3)、探针组件(4)及暂存工位(7)；
所述底座(1)上设有轨道(11)，所述承载台(2)滑动设置于轨道(11)上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道(11)具有相对的第一端和第二端；
所述检测组件(3)设置于轨道(11)上方，包括龙门头(31)和检测头(32)，所述龙门头(31)设置于底座(1)上，所述检测头(32)滑动设置于龙门头(31)上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件(4)设置于轨道(11)上方，用于对半板进行电性检测；
所述暂存工位(7)设置于所述轨道(11)的第二端；其中，
所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位(7)。
2.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚(21)。
3.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)上均匀分布有多个吸附孔(25)，所述吸附孔(25)与抽真空设备相连接。
4.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)下设置有驱动承载台旋转的驱动器(22)。
5.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)四周设置有可伸缩的夹脚(23)，用于夹住玻璃基板。
6.根据权利要求5所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)底部设有垂直于轨道方向的移动机构(24)，且所述轨道(11)两侧各设有一个摄像头(12)，所述摄像头(12)用于获取玻璃基板的位置信息。
7.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述底座(1)下设置有除震台(6)。
8.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述暂存工位(7)还包括卡匣(72)，所述卡匣(72)用于存放多组探针组。
9.根据权利要求8所述的基板半板检测装置，其特征在于，还包括探针更换组件(8)，所述探针更换组件(8)通过支架(5)设置于底座(1)上，所述探针更换组件(8)具有用于夹取探针组的机械手(81)，所述机械手(81)通过第二轨道(82)在卡匣(72)与探针组件(4)之间移动。
10.根据权利要求8中任一项所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述卡匣(72)两侧设有举升组件(71)，用以将待取探针组举升或下移至取料高度。
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