CN107947869A - 带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法 - Google Patents

带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法，包括计算机、综合测试仪、频谱仪、通讯天线和喇叭天线，在计算机与综合测试仪、频谱仪、通讯天线和喇叭天线之间设有微波集成切换开关，所述微波集成切换开关包括以下部件：天线极化A开关、微波切换B开关、综合测试仪接口切换C开关和能够发出高低逻辑组合电平来控制天线极化A开关、微波切换B开关、通讯天线、综合测试仪接口切换C开关，达到OTA测试***与辐射谐波测试***的切换的控制器。本发明在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，同时减小现有技术兼容***拆装产生的***测试误差问题，并无需手动操作，提高了测试效率。

Description

带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法
技术领域
本发明涉及一种微波集成切换开关***，特别是一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法。
背景技术
当前在手机射频性能测试中越来越关注整机的辐射性能的测试，这种辐射性能反映了手机的最终发射和接收性能。目前主要有两种方法对手机的辐射性能进行考察：一种是从天线的辐射性能进行判定，是目前较为传统的天线测试方法，称为无源测试；另一种是在特定微波暗室内，测试手机的辐射功率和接收灵敏度，称为有源测试。OTA(Over TheAir)测试就属于有源测试，但是目前在辐射谐波测试***中的微波切换开关在频段选择切换开关时，通信天线需通过手动连接，而且在频段切换和极化切换时都需要手动来操作开关完成，导致操作比较麻烦，并且在现有技术中辐射谐波测试***为了兼容天线OTA测试***，导致现有测试设备连接线缆比较多，同时需要手动切换测试模式，最终容易导致兼容测试***来回切换拆装比较麻烦，每一次拆装都会带来***误差，因此如何设计一款解决实际在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，并减小兼容***拆装产生的***测试误差问题尤为重要。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述现有技术的不足而提供一种能够解决实际在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，减小兼容***拆装产生的***测试误差，并无需手动操作，提高了测试效率的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法。
为了实现上述目的，本发明所设计的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***，包括计算机、综合测试仪、频谱仪、通讯天线和喇叭天线，在计算机与综合测试仪、频谱仪、通讯天线和喇叭天线之间设有微波集成切换开关，所述微波集成切换开关包括以下部件：
一个天线极化A开关，且所述天线极化A开关上设有四个射频端口；
一个微波切换B开关，且所述微波切换B开关上设有四个射频端口；
一个综合测试仪接口切换C开关，且所述综合测试仪接口切换C开关上设有三个射频端口；
一个控制器，且所述控制器是能够发出高低逻辑组合电平来控制天线极化A开关、微波切换B开关、通讯天线、综合测试仪接口切换C开关后，达到OTA测试***与辐射谐波测试***进行切换的控制器；
其中，所述天线极化A开关的A1射频端口通过同轴线缆与综合测试仪接口切换C开关上的C1射频端口连接，天线极化A开关的A2射频端口和A3射频端口均与喇叭天线连接，天线极化A开关的A4射频端口通过同轴线缆与微波切换B开关上的B2射频端口连接，所述微波切换B开关的B4射频端口与频谱仪连接，所述综合测试仪接口切换C开关上的C2射频端口与综合测试仪连接，所述综合测试仪接口切换C开关上的C3射频端口与通讯天线连接，且所述控制器分别与天线极化A开关、微波切换B开关和综合测试仪接口切换C开关控制连接。
本技术根据预先在计算机内储存相应的测试指令，然后当需要某个测试***工作时，将对应的测试指令发送给控制器，由控制器获取该指令信息，然后开启对应的测试支路工作，实现自动测试，最终实现辐射谐波测试与OTA测试之间的自动切换，在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，同时减小现有技术兼容***拆装产生的***测试误差问题，并无需手动操作，提高了测试效率。
进一步提高检测效率，所述微波切换B开关的B4射频端口通过低噪声放大器与频谱仪连接。
本发明还公开了带微波集成切换开关的辐射谐波测试***的切换方法，其具体包括以下两个切换过程：
一、OTA测试***的切换过程如下：
S11、由计算机发出OTA测试指令，并传输给控制器；
S12、此时控制器判断为OTA测试指令，并向综合测试仪接口切换C开关发出高电平1的指令，综合测试仪接口切换C开关上的C3射频端口立即连接到C1射频端口，此时由于C1射频端口与A1射频端口相连；控制器也向天线极化A开关发出高电平1并切换到A1射频端口，而A2射频端口，A3 射频端口分别作为垂直极化和水平极化端口进行OTA测试；
二、辐射谐波测试***的切换过程如下：
S21、计算机发出辐射谐波测试指令，传输到控制器；
S22、控制器向综合测试仪接口切换C开关发出低电平0，使得C3射频端口连接到C2射频端口；控制器向天线极化A开关发出低电平0，切换到天线极化A开关的A4射频端口，A4射频端口与微波切换B开关相连；控制器向微波切换B开关发出控制指令，驱使微波切换B开关上的B4射频端口与对应的微波切换B开关内的B1射频端口或B2射频端口或B3射频端口导通，实现低频高通滤波或中频高通滤波或高频高通滤波后，通过频谱仪进行辐射谐波测试。
进一步，为了方便定义，在步骤S22中，控制器向微波切换B开关发出控制指令的具体表述方法是：发送00指令代表选择低频高通滤波器，使B1射频端口与B4射频端口相连，发送01指令代表选择中频高通滤波器，使B2射频端口与B4射频端口相连，发送11指令代表选择高频高通滤波器，使B3射频端口与B4射频端口相连。
本发明得到的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***及切换方法，本技术根据预先在计算机内储存相应的测试指令，然后当需要某个测试***工作时，将对应的测试指令发送给控制器，由控制器获取该指令信息，然后开启对应的测试支路工作，实现自动测试，最终实现辐射谐波测试与OTA测试之间的自动切换，在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，同时减小现有技术兼容***拆装产生的***测试误差问题，并无需手动操作，提高了测试效率。
附图说明
图1是本实施例中一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***的结构示意图。
图中：计算机1、综合测试仪2、频谱仪3、通讯天线4、喇叭天线5、微波集成切换开关6、天线极化A开关7、A1射频端口7-1、A2射频端口7-2 、A3射频端口7-3、A4射频端口7-4、微波切换B开关8、B1射频端口8-1、B2射频端口8-2、B3射频端口8-3、B4射频端口8-4、综合测试仪接口切换C开关9、C1射频端口9-1、C2射频端口9-2 、C3射频端口9-3、控制器10、低噪声放大器11。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
实施例：
如图1所示，本实施例提供的一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***，包括计算机1、综合测试仪2、频谱仪3、通讯天线4和喇叭天线5，在计算机1与综合测试仪2、频谱仪3、通讯天线4和喇叭天线5之间设有微波集成切换开关6，所述微波集成切换开关6包括以下部件：
一个天线极化A开关7，且所述天线极化A开关7上设有四个射频端口；
一个微波切换B开关8，且所述微波切换B开关8上设有四个射频端口；
一个综合测试仪接口切换C开关9，且所述综合测试仪接口切换C开关9上设有三个射频端口；
一个控制器10，且所述控制器10是能够发出高低逻辑组合电平来控制天线极化A开关7、微波切换B开关8、通讯天线4、综合测试仪接口切换C开关9后，达到OTA测试***与辐射谐波测试***进行切换的控制器10；
其中，所述天线极化A开关7的A1射频端口7-1通过同轴线缆与综合测试仪接口切换C开关9上的C1射频端口9-1连接，天线极化A开关7的A2射频端口7-2和A3射频端口7-3均与喇叭天线5连接，天线极化A开关7的A4射频端口7-4通过同轴线缆与微波切换B开关8上的B2射频端口8-2连接，所述微波切换B开关8的B4射频端口8-4与频谱仪3连接，所述综合测试仪接口切换C开关9上的C2射频端口9-2与综合测试仪2连接，所述综合测试仪接口切换C开关9上的C3射频端口9-3与通讯天线4连接，且所述控制器10分别与天线极化A开关7、微波切换B开关8和综合测试仪接口切换C开关9控制连接。
进一步提高检测精度，所述微波切换B开关8的B4射频端口8-4通过低噪声放大器11与频谱仪3连接。
本实施例还公开了带微波集成切换开关的辐射谐波测试***的切换方法，其特具体包括以下两个切换过程：
一、OTA测试***的切换过程如下：
S11、由计算机1发出OTA测试指令，并传输给控制器10；
S12、此时控制器10判断为OTA测试指令，并向综合测试仪接口切换C开关9发出高电平1的指令，综合测试仪接口切换C开关9上的C2射频端口9-2立即连接到C1射频端口9-1，此时由于C1射频端口9-1与A1射频端口7-1相连；控制器10也向天线极化A开关7发出高电平1并切换到A1射频端口7-1，而A2射频端口7-2，A3 射频端口分别作为垂直极化和水平极化端口进行OTA测试；
二、辐射谐波测试***的切换过程如下：
S21、计算机1发出辐射谐波测试指令，传输到控制器10；
S22、控制器10向综合测试仪接口切换C开关9发出低电平0，使得C3射频端口9-3连接到C2射频端口9-2；控制器10向天线极化A开关7发出低电平0，切换到天线极化A开关7的A4射频端口7-4，A4射频端口7-4与微波切换B开关8相连；控制器10向微波切换B开关8发出控制指令，驱使微波切换B开关8上的B4射频端口8-4与对应的微波切换B开关8内的B1射频端口8-1或B2射频端口8-2或B3射频端口8-3导通，实现低频高通滤波或中频高通滤波或高频高通滤波后，通过频谱仪3进行辐射谐波测试。
进一步，为了方便定义，在步骤S22中，控制器10向微波切换B开关8发出控制指令的具体表述方法是：发送00指令代表选择低频高通滤波器，使B1射频端口8-1与B4射频端口8-4相连，发送01指令代表选择中频高通滤波器，使B2射频端口8-2与B4射频端口8-4相连，发送11指令代表选择高频高通滤波器，使B3射频端口8-3与B4射频端口8-4相连，在实施例中的所有开关均是一个内置switch 芯片的集成开关，其能够通过高低电平的逻辑组合来判断和切换端口，在本实施例中其默认的状态是上一次测试完毕的状态，只要计算机发出OTA 或者辐射谐波测试命令，就会向控制器传输相应指令，通过控制器向各个开关里的switch芯片发出高低组合电平，通过内部switch 的切换来完成各个端口直接的连接和切换，且具体电路结构中各个电路的程序编译部分是本领域机技术人员在拿到本电路结构中均能够随意编译的，故在此不做具体描述。
本技术根据预先在计算机内储存相应的测试指令，然后当需要某个测试***工作时，将对应的测试指令发送给控制器，由控制器获取该指令信息，然后开启对应的测试支路工作，实现自动测试，最终实现辐射谐波测试与OTA测试之间的自动切换，在使用测试过程中为极化切换和频段选择切换带来便利，同时减小现有技术兼容***拆装产生的***测试误差问题，并无需手动操作，提高了测试效率。

Claims (4)

1.一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***，包括计算机（1）、综合测试仪（2）、频谱仪（3）、通讯天线（4）和喇叭天线（5），其特征是：在计算机（1）与综合测试仪（2）、频谱仪（3）、通讯天线（4）和喇叭天线（5）之间设有微波集成切换开关（6），所述微波集成切换开关（6）包括以下部件：
一个天线极化A开关（7），且所述天线极化A开关（7）上设有四个射频端口；
一个微波切换B开关（8），且所述微波切换B开关（8）上设有四个射频端口；
一个综合测试仪接口切换C开关（9），且所述综合测试仪接口切换C开关（9）上设有三个射频端口；
一个控制器（10），且所述控制器（10）是能够发出高低逻辑组合电平来控制天线极化A开关（7）、微波切换B开关（8）、综合测试仪接口切换C开关（9）后，达到OTA测试***与辐射谐波测试***进行切换的控制器（10）；
其中，所述天线极化A开关（7）的A1射频端口（7-1）通过同轴线缆与综合测试仪接口切换C开关（9）上的C1射频端口（9-1）连接，天线极化A开关（7）的A2射频端口（7-2）和A3射频端口（7-3）均与喇叭天线（5）连接，天线极化A开关（7）的A4射频端口（7-4）通过同轴线缆与微波切换B开关（8）上的B2射频端口（8-2）连接，所述微波切换B开关（8）的B4射频端口（8-4）与频谱仪（3）连接，所述综合测试仪接口切换C开关（9）上的C2射频端口（9-2）与综合测试仪（2）连接，所述综合测试仪接口切换C开关（9）上的C3射频端口（9-3）与通讯天线（4）连接，且所述控制器（10）分别与天线极化A开关（7）、微波切换B开关（8）和综合测试仪接口切换C开关（9）控制连接。
2.根据权利要求1所述的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***，其特征是：所述微波切换B开关（8）的B4射频端口（8-4）通过低噪声放大器（11）与频谱仪（3）连接。
3.一种带微波集成切换开关的辐射谐波测试***的切换方法，包括采用上述1-2中任意一项权利要求所述的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***，其特征是：具体包括以下两个切换过程：
一、OTA测试***的切换过程如下：
S11、由计算机（1）发出OTA测试指令，并传输给控制器（10）；
S12、此时控制器（10）判断为OTA测试指令，并向综合测试仪接口切换C开关（9）发出高电平1的指令，综合测试仪接口切换C开关（9）上的C2射频端口（9-2）立即连接到C1射频端口（9-1），此时由于C1射频端口（9-1）与A1射频端口（7-1）相连；控制器（10）也向天线极化A开关（7）发出高电平1并切换到A1射频端口（7-1），而A2射频端口（7-2）、A3 射频端口分别作为垂直极化和水平极化端口进行OTA测试；
辐射谐波测试***的切换过程如下：
S21、计算机（1）发出辐射谐波测试指令，传输到控制器（10）；
S22、控制器（10）向综合测试仪接口切换C开关（9）发出低电平0，使得C3射频端口（9-3）连接到C2射频端口（9-2）；控制器（10）向天线极化A开关（7）发出低电平0，切换到天线极化A开关（7）的A4射频端口（7-4），A4射频端口（7-4）与微波切换B开关（8）相连；控制器（10）向微波切换B开关（8）发出控制指令，驱使微波切换B开关（8）上的B4射频端口（8-4）与对应的微波切换B开关（8）内的B1射频端口（8-1）或B2射频端口（8-2）或B3射频端口（8-3）导通，实现低频高通滤波或中频高通滤波或高频高通滤波后，通过频谱仪（3）进行辐射谐波测试。
4.根据权利要求3所述的带微波集成切换开关的辐射谐波测试***的切换方法，其特征是：在步骤S22中，控制器（10）向微波切换B开关（8）发出控制指令的具体表述方法是：发送00指令代表选择低频高通滤波器，使B1射频端口（8-1）与B4射频端口（8-4）相连，发送01指令代表选择中频高通滤波器，使B2射频端口（8-2）与B4射频端口（8-4）相连，发送11指令代表选择高频高通滤波器，使B3射频端口（8-3）与B4射频端口（8-4）相连。
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