CN107884764A - 接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；获取与该发射电流参数值对应的目标低噪值；根据该目标低噪值，对该接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；根据校正后的接近值进行接近状态的检测。本申请可以提高接近状态检测的准确度。

Description

接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备

技术领域

本申请属于传感器技术领域，尤其涉及一种接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

目前，绝大多数终端上都安装有接近传感器(Proximity Sensor)。接近传感器包括信号发射端和信号接收端。其中，信号发射端可以为用于向外界发射红外线的LED灯。在终端进行通话时，接近传感器可以根据信号发射端向外发出的红外线来判断用户是否将终端贴近脸部。当判断出用户将终端贴近脸部时，终端可以进行熄屏。当判断出用户将终端远离脸部时，终端可以点亮屏幕。

发明内容

本申请实施例提供一种的接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高接近状态检测的准确度。

本申请实施例提供一种接近状态的检测方法，包括：

获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

本申请实施例提供一种接近状态的检测装置，包括：

第一获取模块，用于获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

第二获取模块，用于获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

校正模块，用于根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

检测模块，用于根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

本申请实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上执行时，使得所述计算机执行本申请实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。

本申请实施例还提供一种电子设备，包括存储器，处理器，所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，用于执行本申请实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。

本申请实施例提供的接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备，终端可以先获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值，以及与该发射电流参数值对应的目标低噪值。然后，终端可以根据该目标低噪值对接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测。由于终端可以根据与接近传感器信号发射端的发射电流相关的参数对接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测，因此本申请实施例可以提高终端进行接近状态检测的准确度。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其有益效果显而易见。

图1是本申请实施例提供的接近传感器的接近检测示意图。

图2是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的流程示意图。

图3是本申请实施例提供的接近传感器的接近检测的另一种示意图。

图4是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的另一流程示意图。

图5是本申请实施例提供的接近传感器信号发射端发射电流参数的变化示意图。

图6至图7是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的场景示意图。

图8是本申请实施例提供的接近状态的检测装置的结构示意图。

图9是本申请实施例提供的接近状态的检测装置的另一结构示意图。

图10是本申请实施例提供的移动终端的结构示意图。

图11是本申请实施例提供的移动终端的另一结构示意图。

具体实施方式

请参照图式，其中相同的组件符号代表相同的组件，本发明的原理是以实施在一适当的运算环境中来举例说明。以下的说明是基于所例示的本发明具体实施例，其不应被视为限制本发明未在此详述的其它具体实施例。

接近传感器可以在通话时，检测用户是否将终端贴近脸部。若检测到用户将终端贴近脸部，那么终端可以关闭显示屏的背光。若检测到用户将终端远离脸部，那么终端可以点亮显示屏。

请参阅图1，图1为接近传感器的工作示意图。接近传感器10可以包括信号发射端11和信号接收端12。信号发射端11可以向外发射红外线(IR)探测信号，红外线探测信号可以穿过盖板20。当接近传感器10前方有障碍物时，红外线探测信号经障碍物反射后进入信号接收端12。信号接收端12在接收到红外线探测信号后，可以根据接收到的红外线探测信号的强度输出一个接近值。若该接近值大于一预定的阈值，则终端会判断出处于接近状态。若该接近值小于一预定的阈值，则终端会判断出处于远离状态。

可以理解的是，本申请实施例的执行主体可以是诸如智能手机或平板电脑等的终端设备。

请参阅图2，图2是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的流程示意图，流程可以包括：

在步骤S101中，获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值。

比如，在接近传感器处于工作状态时，终端可以先获取接近传感器信号发射端有关发射电流的参数的当前值。

例如，接近传感器的信号发射端为用于向外界发射红外探测信号的LED灯，那么终端可以先获取该LED灯有关发射电流的参数值。

在步骤S102中，获取与该发射电流参数值对应的目标低噪值。

比如，在获取到信号发射端有关发射电流的参数值之后，终端可以获取与该参数值对应的低噪值，即目标低噪值。也即，该目标低噪值是在该发射电流参数值条件下接近传感器的低噪值。

需要说明的是，接近传感器的低噪值是指在外界没有任何物体遮挡时，接近传感器的信号接收端接收到的来自发射端的绕射值。如图3所示，接近传感器10的信号发射端11向外发射红外线探测信号，其中一部分红外线探测信号111穿过盖板20，发射到外界，由于外界没有任何遮挡物体，因此这部分红外线探测信号111不会被信号接收端12接收到。信号发射端11向外发射的红外线探测信号的另一部分112未穿过盖板20，而是在盖板20上发生反射并被信号接收端接收到。信号接收端12接收到的这部分红外线探测信号112后，会对应计算出一个接近值，这个接近值就是低噪值。可见低噪值会对接近传感器输出的接近值产生影响，低噪值是对接近值造成误差的一个因素。

在步骤S103中，根据该目标低噪值，对该接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正。

在步骤S104中，根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

比如，步骤S103和S104可以包括：

在获取到与该发射电流参数值对应的目标低噪值之后，终端可以根据该目标低噪值对接近传感器的信号接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

可以理解的是，在不同的发射电流参数值条件下，接近传感器具有不同的低噪值。在本申请实施例中，由于可以根据与接近传感器的发射电流参数值对应的目标低噪值去校正接近值，因此校正后的接近值是符合实际的接近值，误差很小。即，本申请实施例根据校正后的接近值进行接近状态的检测，可以提高接近检测的准确度。

请参阅图4，图4为本申请实施例提供的接近状态的检测方法的另一流程示意图，流程可以包括：

在步骤S201中，终端获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长。

比如，在接近传感器处于工作状态时，终端可以先获取信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

在步骤S202中，终端获取与该发射电流值以及该持续时长对应的目标低噪值。

比如，在获取到信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长后，终端可以获取与该发射电流值以及该持续时长对应的低噪值，即目标低噪值。

需要说明的是，接近传感器的低噪值是指在外界没有任何物体遮挡时，接近传感器的信号接收端接收到的来自发射端的绕射值。如图3所示，接近传感器的信号发射端11向外发射红外线探测信号，其中一部分红外线探测信号111穿过盖板20，发射到外界，由于外界没有任何遮挡物体，因此这部分红外线探测信号111不会被信号接收端12接收到。信号发射端11向外发射的红外线探测信号的另一部分112未穿过盖板20，而是在盖板20上发生反射并被信号接收端接收到。信号接收端12接收到的这部分红外线探测信号112后，会对应计算出一个接近值，这个接近值就是低噪值。可见低噪值会对接近传感器输出的接近值产生影响，低噪值是对接近值造成误差的一个因素。

在一种实施方式中，终端可以预先测得在不同的发射电流数值以及每次进行电流发射的持续时长条件下，接近传感器信号接收端的低噪值。然后，终端可以根据获取到的不同的发射电流值、持续时长及其对应的低噪值，生成一张对应关系表。那么，当获取到信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长后，终端就可以查询该对应关系表，并从中获取与当前的发射电流值及持续时长对应的目标低噪值。

在步骤S203中，根据该目标低噪值，终端对该接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正。

在获取到目标低噪值之后，终端可以根据该目标低噪值，对接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正。

比如，与当前的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长对应的目标低噪值为X1，而信号接收端输出的接近值为X2，那么在对信号接收端输出的接近值进行校正时，终端可以计算X2和X1之间的差值，并将该差值确定为校正后的接近值。

在步骤S204中，终端根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

比如，X2和X1之间的差值为X3，那么终端就可以按照X3的数值进行接近状态的检测。即，当X3的数值大于一预定的阈值时，可以判断出终端处于接近状态。当X3的数值小于一预定的阈值时，可以判断出终端处于远离状态。

在步骤S205中，终端统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数。

比如，在每次执行完接近状态的检测操作后，终端可以统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数，并检测该次数是否达到预设数值。

如果检测到该次数未达到预设数值，那么可以认为终端输出的接近状态检测结果较为准确。在这种情况下，终端可以执行其它操作。

如果检测到该次数达到预设数值，那么进入步骤S206。

在步骤S206中，若检测到该次数达到预设数值，则终端降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

比如，终端统计到预设时间范围内，其输出的接近状态检测结果的出错次数达到了预设数值，那么可以认为终端输出的接近状态检测结果不够准确。在这种情况下，终端可以降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

当然，降低后的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长均满足接近传感器的最低穿透能量需求。

例如，在一种实施方式中，终端可以按照如下方式降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长：

若检测到该次数达到预设数值，则终端获取与该次数对应的预设幅度值；

按照该预设幅度值，终端降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

例如，终端统计到预设的一星期内，其输出的接近状态检测结果的出错次数为5次，超过了预设数值3次。此时，终端可以获取与出错次数5次对应的预设幅度值，例如与5次对应的预设幅度值为10％。那么，终端就可以将信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长均降低10％。

在降低发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长的数值后，可以触发终端获取降低数值后的发射电流大小以及每次进行电流发射的持续时长，并获取与降低数值后的发射电流大小以及每次进行电流发射的持续时长对应的目标低噪值，以及根据该目标低噪值对接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

需要说明的是，如图5所示，在降低发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长的数值前，例如，发射电流值的大小为a1，每次进行电流发射的持续时长为t1。而在降低发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长的数值后，例如，发射电流值的大小为a2，每次进行电流发射的持续时长为t2。那么，a2小于a1，t2小于t1。

发射电流大小对应于LED灯的发射能量峰值。由于发射电流越大，用于向外发射红外线探测信号的LED灯的能量越强，其发射的红外线探测信号穿透能力越强，但同时没有穿透盖板而被盖板反射的红外线也变多，导致接近传感器内部的绕射值变大，即低噪值变大。所以，降低发射电流可以降低接近传感器的低噪值。

而用于向外发射红外线探测信号的LED灯在工作时，存在点亮和熄灭两种状态。当向外发射红外线探测信号时，LED灯点亮，并持续一段时间(即每次进行电流发射的持续时长)，然后LED熄灭，等待下一个点亮时刻的到来。其中，LED灯处于点亮状态的持续时长和处于熄灭状态的持续时长的总和是一固定值，例如该固定值为T，即T＝t1+t3＝t2+t4。因此，降低每次进行电流发射的持续时长后，LED灯处于熄灭状态的持续时长就会变长，所以t4会大于t3。可以理解的是，降低每次进行电流发射的持续时长后，LED灯的总体发射能量也降低了。

即，降低发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长都可以降低LED灯的发射能量，从而降低低噪值。降低低噪值可以提高接近传感器的信噪比，因此也就可以提高接近传感器进行接近检测的准确度。

当然，在另一种实施方式中，若终端统计到预设时间范围内，接近状态检测出错的次数达到预设数值，那么终端也可以仅单独降低信号发射端的发射电流值或者单独降低每次进行电流发射的持续时长。

在一种实施方式中，终端执行所述降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长的步骤时，可以包括如下步骤：

终端获取当前电量值；

若检测到该当前电量值大于或等于预设阈值，则终端降低接近传感器信号发射端的发射电流值或每次进行电流发射的持续时长；

若检测到该当前电量值小于预设阈值，则终端降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。

比如，当统计到预设时间范围内，接近传感器输出的接近状态检测结果的出错次数达到预设数值时，终端可以获取其当前的剩余电量值，并检测该当前的剩余电量值是否大于或等于预设阈值。

若检测到该当前的剩余电量值大于或等于预设阈值，则可以认为终端当前的剩余电量较多。在这种情况下，终端可以仅降低接近传感器信号发射端的发射电流值的数值，或仅降低每次进行电流发射的持续时长。

若检测到该当前的剩余电量值小于预设阈值，则可以认为终端当前的剩余电量较少。在这种情况下，终端可以同时降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。可以理解的是，通过同时降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长的方式，可以为终端节省电量。

请参阅图6至图7，图6至图7为本申请实施例提供的接近状态的检测方法的场景示意图。

如图6所示为全面屏的终端，在该终端的屏幕下安装有接近传感器10。利用多个接近传感器，终端可以做手势识别操作。

例如，如图7所示，用户利用该全面屏的终端中的接近传感器做手势识别操作，用户的手在A位置和B位置之间做来回移动，从而靠近和远离终端。在用户停止手势移动后，终端可以根据靠近和远离终端的次数，识别用户的手势，并实现对应的功能。在这一过程中，终端可以检测接近状态结果是否出错，并统计接近传感器输出的接近状态检测结果的出错次数。例如，终端统计到接近传感器输出的接近状态检测结果的出错次数为4次，超过了预设的2次。在这种情况下，可以触发终端降低接近传感器的信号发射端的发射电流大小以及每次进行电流发射的持续时间。

之后，终端可以获取降低数值后的信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。然后，终端可以获取与该发射电流值以及持续时长对应的目标低噪值。例如，该目标低噪值为X1。

此后，终端在获取到接近传感器的信号接收端输出的接近值之后，可以根据该目标低噪值X1对该接近值进行校正。例如，接近传感器的信号接收端输出的接近值为X2。那么，终端可以计算X2和X1之间的差值，并将该差值确定为校正后的接近值。例如，X2和X1之间的差值为X3。那么，终端就可以将X3确定为校正后的接近值，并根据X3进行接近状态的检测。即，当X3的数值大于一预定的阈值时，可以判断出终端处于接近状态。当X3的数值小于一预定的阈值时，可以判断出终端处于远离状态。

请参阅图8，图8为本申请实施例提供的接近状态的检测装置的结构示意图。接近状态的检测装置300可以包括：第一获取模块301，第二获取模块302，校正模块303，以及检测模块304。

第一获取模块301，用于获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值。

比如，在接近传感器处于工作状态时，第一获取模块301可以先获取接近传感器信号发射端有关发射电流的参数的当前值。

例如，接近传感器的信号发射端为用于向外界发射红外探测信号的LED灯，那么第一获取模块301可以先获取该LED灯有关发射电流的参数值。

第二获取模块302，用于获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值。

比如，在第一获取模块301获取到信号发射端有关发射电流的参数值之后，第二获取模块302可以获取与该参数值对应的低噪值，即目标低噪值。也即，该目标低噪值是在该发射电流参数值条件下接近传感器的低噪值。

需要说明的是，接近传感器的低噪值是指在外界没有任何物体遮挡时，接近传感器的信号接收端接收到的来自发射端的绕射值。如图3所示，接近传感器的信号发射端11向外发射红外线探测信号，其中一部分红外线探测信号111穿过盖板20，发射到外界，由于外界没有任何遮挡物体，因此这部分红外线探测信号111不会被信号接收端12接收到。信号发射端11向外发射的红外线探测信号的另一部分112未穿过盖板20，而是在盖板20上发生反射并被信号接收端接收到。信号接收端12接收到的这部分红外线探测信号112后，会对应计算出一个接近值，这个接近值就是低噪值。可见低噪值会对接近传感器输出的接近值产生影响，低噪值是对接近值造成误差的一个因素。

校正模块303，用于根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正。

检测模块304，用于根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

比如，在第二获取模块302获取到与该发射电流参数值对应的目标低噪值之后，校正模块303可以根据该目标低噪值对接近传感器的信号接收端输出的接近值进行校正，并由检测模块304根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

在一种实施方式中，所述第一获取模块301可以用于：获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长。

所述第二获取模块302可以用于：获取与所述发射电流值以及所述持续时长对应的目标低噪值。

比如，在接近传感器处于工作状态时，第一获取模块301可以先获取信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

在第一获取模块301获取到信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长后，第二获取模块302可以获取与该发射电流值以及该持续时长对应的低噪值，即目标低噪值。

在一种实施方式中，终端可以预先测得在不同的发射电流数值以及每次进行电流发射的持续时长条件下，接近传感器信号接收端的低噪值。然后，终端可以根据获取到的不同的发射电流值、持续时长及其对应的低噪值，生成一张对应关系表。那么，当获取到信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长后，第二获取模块302就可以查询该对应关系表，并从中获取与当前的发射电流值及持续时长对应的目标低噪值。

请一并参阅图9，图9为本申请实施例提供的接近状态的检测装置的另一结构示意图。在一实施例中，接近状态的检测装置300还可以包括：统计模块305

统计模块305，用于：统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数；若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

比如，在每次执行完接近状态的检测操作后，统计模块305可以统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数，并检测该次数是否达到预设数值。

如果检测到该次数未达到预设数值，那么可以认为终端输出的接近状态检测结果较为准确。在这种情况下，终端可以执行其它操作。

如果终端统计到预设时间范围内，其输出的接近状态检测结果的出错次数达到了预设数值，那么可以认为终端输出的接近状态检测结果不够准确。在这种情况下，统计模块305可以降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

当然，降低后的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长均满足接近传感器的最低穿透能量需求。

在一种实施方式中，统计模块305可以用于：若检测到所述次数达到预设数值，则获取与所述次数对应的预设幅度值；按照所述预设幅度值，降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

例如，统计模块305统计到预设的一星期内，其输出的接近状态检测结果的出错次数为5次，超过了预设数值3次。此时，统计模块305可以获取与出错次数5次对应的预设幅度值，例如与5次对应的预设幅度值为10％。那么，统计模块305就可以将信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长降低10％。

在一种实施方式中，统计模块305可以用于：

获取终端的当前电量值；

若检测到所述当前电量值大于或等于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值或每次进行电流发射的持续时长；

若检测到所述当前电量值小于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。

比如，当统计到预设时间范围内，接近传感器输出的接近状态检测结果的出错次数达到预设数值时，统计模块305可以获取其当前的剩余电量值，并检测该当前的剩余电量值是否大于或等于预设阈值。

若检测到该当前的剩余电量值大于或等于预设阈值，则可以认为终端当前的剩余电量较多。在这种情况下，统计模块305可以仅降低接近传感器信号发射端的发射电流值的数值，或仅降低每次进行电流发射的持续时长。

若检测到该当前的剩余电量值小于预设阈值，则可以认为终端当前的剩余电量较少。在这种情况下，统计模块305可以同时降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。可以理解的是，通过同时降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长的方式，可以为终端节省电量。

本申请实施例提供一种计算机可读的存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上执行时，使得所述计算机执行如本实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。

本申请实施例还提供一种电子设备，包括存储器，处理器，所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，用于执行本实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。

例如，上述电子设备可以是诸如平板电脑或者智能手机等移动终端。请参阅图10，图10为本申请实施例提供的移动终端的结构示意图。

该移动终端400可以包括传感器401、存储器402、处理器403等部件。本领域技术人员可以理解，图10中示出的移动终端结构并不构成对移动终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

传感器401可以包括陀螺仪传感器(例如三轴陀螺仪传感器)、加速度传感器以及接近传感器等传感器。

存储器402可用于存储应用程序和数据。存储器402存储的应用程序中包含有可执行代码。应用程序可以组成各种功能模块。处理器403通过运行存储在存储器402的应用程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。

处理器403是移动终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个移动终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器402内的应用程序，以及调用存储在存储器402内的数据，执行移动终端的各种功能和处理数据，从而对移动终端进行整体监控。

在本实施例中，移动终端中的处理器403会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行代码加载到存储器402中，并由处理器403来运行存储在存储器402中的应用程序，从而实现步骤：

获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

请参阅图11，移动终端500可以包括传感器501、存储器502、处理器503、输入单元504、输出单元505等部件。

传感器501可以包括陀螺仪传感器(例如三轴陀螺仪传感器)、加速度传感器以及接近传感器等传感器。

存储器502可用于存储应用程序和数据。存储器502存储的应用程序中包含有可执行代码。应用程序可以组成各种功能模块。处理器503通过运行存储在存储器502的应用程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。

处理器503是移动终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个移动终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器502内的应用程序，以及调用存储在存储器502内的数据，执行移动终端的各种功能和处理数据，从而对移动终端进行整体监控。

输入单元504可用于接收输入的数字、字符信息或用户特征信息(比如指纹)，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。

输出单元505可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及移动终端的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图形、文本、图标、视频和其任意组合来构成。输出单元可包括显示面板。

在本实施例中，移动终端中的处理器503会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行代码加载到存储器502中，并由处理器503来运行存储在存储器502中的应用程序，从而实现步骤：

获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

在一种实施方式中，处理器503执行所述获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值的步骤时，可以执行：获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长。

那么，处理器503执行所述获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值的步骤时，可以执行：获取与所述发射电流值以及所述持续时长对应的目标低噪值。

在一种实施方式中，处理器503还可以执行：统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数；若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

在一种实施方式中，处理器503执行所述若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长的步骤时，可以执行：若检测到所述次数达到预设数值，则获取与所述次数对应的预设幅度值；按照所述预设幅度值，降低接近传感器信号发射端的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。

在一种实施方式中，处理器503执行所述降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长时，可以执行：获取终端的当前电量值；若检测到所述当前电量值大于或等于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值或每次进行电流发射的持续时长；若检测到所述当前电量值小于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对接近状态的检测方法的详细描述，此处不再赘述。

本申请实施例提供的所述接近状态的检测装置与上文实施例中的接近状态的检测方法属于同一构思，在所述接近状态的检测装置上可以运行所述接近状态的检测方法实施例中提供的任一方法，其具体实现过程详见所述接近状态的检测方法实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，对本申请实施例所述接近状态的检测方法而言，本领域普通技术人员可以理解实现本申请实施例所述接近状态的检测方法的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来控制相关的硬件来完成，所述计算机程序可存储于一计算机可读取存储介质中，如存储在存储器中，并被至少一个处理器执行，在执行过程中可包括如所述接近状态的检测方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储器(ROM，ReadOnly Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)等。

对本申请实施例的所述接近状态的检测装置而言，其各功能模块可以集成在一个处理芯片中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中，所述存储介质譬如为只读存储器，磁盘或光盘等。

以上对本申请实施例所提供的一种接近状态的检测方法、装置、存储介质以及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种接近状态的检测方法，其特征在于，包括：

获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

2.根据权利要求1所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值，包括：

获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长；

所述获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值包括：获取与所述发射电流值以及所述持续时长对应的目标低噪值。

3.根据权利要求2所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数；

若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

4.根据权利要求3所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长，包括：

若检测到所述次数达到预设数值，则获取与所述次数对应的预设幅度值；

按照所述预设幅度值，降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

5.根据权利要求3所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长，包括：

获取终端的当前电量值；

若检测到所述当前电量值大于或等于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值或每次进行电流发射的持续时长；

若检测到所述当前电量值小于预设阈值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和每次进行电流发射的持续时长。

6.一种接近状态的检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；

第二获取模块，用于获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；

校正模块，用于根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；

检测模块，用于根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

7.根据权利要求6所述的接近状态的检测装置，其特征在于，所述第一获取模块用于：获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长；

所述第二获取模块用于：获取与所述发射电流值以及所述持续时长对应的目标低噪值。

8.根据权利要求7所述的接近状态的检测装置，其特征在于，所述装置还包括：统计模块，用于：

统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数；

若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。

9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序在计算机上执行时，使得所述计算机执行如权利要求1至5中任一项所述的方法。

10.一种电子设备，包括存储器，处理器，其特征在于，所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，用于执行如权利要求1至5中任一项所述的方法。