CN107864017A - 一种相位校正方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种相位校正方法,包括:对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段;对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值;根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定所述每个平均块的相位偏移值;根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。本发明实施例还同时公开了一种相位校正装置。
Description
技术领域
本发明涉及光通信领域,尤其涉及一种相位校正方法和装置。
背景技术
在传输技术的发展中,光纤是一种不可或缺的媒介,如何用最少量的光纤传输最丰富的信息,出于这种探索,光传输的发展基本经历了以下几个阶段:空分复用(SDM,SpaceDivision Multiplexing)阶段、时分复用(TDM,Time Division)阶段和波分复用(WDM,Wavelength Division Multiplexing)阶段。
目前,有线传输以波分***为主,随着通信技术的发展,商用的40G波分传输逐渐演变到100G、400G传输,与此同时,在数据传输距离上也在不断的拓展,这样,波分***在传输过程中会带来色度色散、偏振膜色散、强滤波效应、频偏相偏等诸多问题需要解决。
其中,相偏的存在使得信号的星座图在弧度方向发生延展,如果过大,会导致信号点中间发生交叠,从而产生误码;目前主流的相偏相位校正方法是四次方法,但业界的大多数做法是采用平面直角坐标系下的数据进行计算,例如通过直角坐标系下的数据求出样点的幅度值,依据幅度值对样点分类,根据分类结果对样点在直角坐标系下进行四次方相偏估计,再根据相偏估计值计算相偏角度;虽然这一计算方法被广泛采用,但是该方法对每个样点均进行计算,进而导致数据运算量大,采用的电路结构复杂、固定,实现起来电路面积大、功耗大,进行相位校正时处理效率较低。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例期望提供一种相位校正方法和装置,减小了在进行相位校正过程中的运算量,提高了相位校正的处理效率。
为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:
第一方面,本发明实施例提供了一种相位校正方法,包括:对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,其中,M为预设值;对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值;根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定所述每个平均块的相位偏移值;根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
在上述技术方案中,所述将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,包括:根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到所述至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
在上述技术方案中,所述对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,包括:对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值。
在上述技术方案中,所述对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值,包括:对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标;相应地,所述对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值,包括:分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
在上述技术方案中,所述根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值,包括:将所述每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出所述每个平均块的相位偏移值。
在上述技术方案中,在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后,在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前,所述方法还包括:在所述每个并行段中,将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值。
在上述技术方案中,在根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值之后,所述方法还包括:将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值;对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
在上述技术方案中,所述根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值,包括:对所述每个平均块的相位偏移值、所述每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
第二方面,本发明实施例提供了一种相位校正装置,包括:划分模块,用于对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,其中,M为预设值;处理模块,用于对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值;确定模块,用于根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定所述每个平均块的相位偏移值;校正模块,用于根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
在上述技术方案中,所述划分模块具体用于根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到所述至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
在上述技术方案中,所述处理模块具体用于对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值。
在上述技术方案中,所述处理模块具体用于对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标;分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
在上述技术方案中,所述确定模块具体用于将所述每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出所述每个平均块的相位偏移值。
在上述技术方案中,所述装置还包括:第一调整模块,用于在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后,在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前,在所述每个并行段中,将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值。
在上述技术方案中,所述装置还包括:第二调整模块,用于在根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值之后,将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值;对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
在上述技术方案中,所述校正模块具体用于对所述每个平均块的相位偏移值、所述每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
本发明实施例所提供的相位校正方法和装置,首先对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分成至少一个并行段,然后对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,再对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,这样,避免了对每个样点的信号值都进行计算的缺陷,仅仅只需要对预设数目的平均块进行低通滤波处理来确定每个平均块的相位偏移值,最后,根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值,也就是说,本发明实施例,通过对每个并行段中样点的信号值划分和合并之后,再针对每个平均块来进行相位偏移值的确定,大大减少了在确定相位偏移值中的计算量,进而也减少了在进行相位校正过程中的运算量,进一步地提高了相位校正的处理效率。
附图说明
图1为本发明实施例中相位校正方法的流程示意图;
图2为本发明实施例中相位校正方法的一种可选的流程框图;
图3为本发明实施例中相位校正方法的另一种可选的流程框图;
图4为本发明实施例中一种可选的加法树形结构的示意图;
图5为本发明实施例中对相位偏移值进行调整的一种可选的流程框图;
图6为本发明实施例中对相位偏移值进行调整的另一种可选的流程框图;
图7为本发明实施例中相位校正装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本发明实施例提供一种相位校正方法,该方法可以应用于光传输网络中对相偏相位的校正,还可以应用于其他传输网络中对相位的校正,这里本发明不做具体限定;
图1为本发明实施例中相位校正方法的流程示意图,如图1所示,该方法包括:
S101:对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段;
其中,M为预设值,M的取值可以为4、8和12等,这里,本发明不做具体限定,另外,上述并行段包括有固定数目的经过M次方处理后的各样点的信号值,该固定数目等于下述滑动窗口的大小;
需要说明的是,仅仅对各样点的信号值的相位进行M次方处理,若以M=4为例,图2为本发明实施例中相位校正方法的一种可选的流程框图,如图2所示,接收信号的相位,可以表示如下:
θk=θs(k)+ΔωkTi+θn+θASE (1)
其中,θs(k)为第k个样点的信号相位,ΔwkTi为频偏相位,θn为由激光器线宽引起的相偏相位,θASE为噪声相位;其中,假设在进行四次方处理之前进行频偏估计,那么ΔwkTi经过频偏估计已经被去除,则剩下的相位进行四次方得到如下公式:
V4(k)=exp{j4θs(k)}·exp{j4θn}·exp{j4θASE} (2)
由上述公式(2)可以看出,经过四次方处理后的相位值V4(k)中还包括θs(k)、θn和θASE;其中,由于θs(k)的取值只有如下几个固定值:0,+π/2,-π/2和π,所以,V4(k)可以去掉θs(k),那么,四次方处理后的相位值V4(k)中还包括θn和θASE。
图3为本发明实施例中相位校正方法的另一种可选的流程框图,如图3所示,在对各样点的信号值进行M次方处理之后,有三路值,分别为直角坐标系下的(in_i,in_q),信号角度值in_theta和信号幅度值in_mod;其中,对(in_i,in_q)进行低通滤波处理,对信号角度值in_theta和信号幅度值in_mod进行相位偏移值的补偿处理。
在对各样点的信号值的相位进行M次方处理之后,为了对M次方处理后的各样点的信号值进行划分得到至少一个并行段,在一种可选的实施例中,S101可以包括:
根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;对M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
其中,由于应用于不同的场景,上述各样点的信号的传输距离是指信号从发射端到接收端之间的距离,上述各样点的信号的激光器线宽为产生相偏相位的激光器线宽;
举例来说,传输距离越长噪声越大,激光器线宽越宽相偏相位变化的越快,滑动窗口的大小越大对噪声的抑制作用越好,但是滑动窗口的大小越大,连续若干个符号的相偏相位视为相同的前提遭到破坏,该组第一个样点和最后一个样点的相位偏差实际上相差较大,从而影响相位估计的准确性,所以需要根据场景不同配置不同的滑动窗口的大小。
具体自适应调整滑动窗口的大小的方法为:***上电后,利用该滑动窗口的大小的默认值(比如滑动窗口的大小的默认值为4)进行相偏估计和补偿,并且统计此滑动窗口的大小下的误码率并在软件中记录下来,然后通过软件改变滑动窗口的大小,比如将滑动窗口的大小修改为12,统计12下的误码率,如果12下的误码率比4小,则继续增大滑动窗口的大小为36,如果36下的比12小,则继续增大滑动窗口的大小为84,如果84的误码率比36大,则选择36为最终的滑动窗口的大小;如果84下的误码率比36小,则继续增大滑动窗口的大小,直到硬件支持的最大值,如果最大值下的误码率最小,则选择最大的滑动窗口的大小,上述调整滑动窗口的大小的原则就是通过改变滑动窗口的大小,选择误码率最小的滑动窗口的大小。
上述滑动窗口的大小可以配置为84、36、12和4这4种不同值,滑动窗口的大小都为4的整数倍,根据滑动窗口的大小来对各样点的信号值进行划分,得到至少一个并行段,每个并行段的样点的个数等于滑动窗口的大小,针对每个并行段进行处理,而不是对每个样点进行处理,并且根据不同的应用场景灵活配置滑动窗口的大小,那么依场景不同自适应选择不同滑动窗口的大小,从而可以达到相位校正性能最优,并根据滑动窗口的大小采用了不同的加法树形结构,降低了运算量,减少了资源消耗,简化了设计。
S102:对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,对每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值;
仍然以图3为例进行说明,对直角坐标系下的(in_i,in_q)这两个偏振态相互独立地进行低通滤波处理,两者之间互不影响,得到低通滤波处理之后的结果为(i1,q1);
具体来说,在对各样点进行划分得到至少一个并行段之后,针对每个并行段,再对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,这里每个平均块的样点的个数为窗口滑动位移,窗口滑动位移可以配置为4、8、12等,其中,这里预设数目的取值为滑动窗口的大小除以窗口滑动位移;
在得到预设数目的平均块之后,针对每个平均块进行处理,为了得到每个平均块的信号值,在一种可选的实施例中,S102中对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,可以包括:对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到每个平均块的信号值。
上述在对每个平均块中样点的信号值进行求和计算中采用了一种加法树形结构,图4为本发明实施例中一种可选的加法树形结构的示意图,如图4所示,为12的加法分支复用窗口滑动位移为4的结构,对12个样点的信号值划分成3个平均块,每4个样点划分为一个平均块,对第0-3个样点的信号值进行求和计算得到sum4_0,对第4-7个样点的信号值进行求和计算得到sum4_1,对第8-11个样点的信号值进行求和计算得到sum4_2;这一方法是对于不同加法计算路径上采取复用,根据应用场景不同,滑动窗口的大小可配置为K1、K2、K3、K4等,其中K1、K2、K3、K4等为正整数,例如,滑动窗口的大小可配置为84、36、12和4这4种不同值,滑动窗口的大小都为4的整数倍,当滑动窗口的大小配置为12的加法分支时,复用窗口滑动位移为4的结构,滑动窗口的大小为36的加法分支复用窗口滑动位移为12的结构、滑动窗口的大小为84的加法分支也复用窗口滑动位移为12的结构;这里,84的加法分支、36加法分支与12的加法分支类似,图中仅仅给出了滑动窗口的大小为12的加法分支,通过加法树形结构可以较为方便的推算得到相位偏移值,进一步降低硬件实现复杂度及资源消耗。
在具体实施过程中,假设滑动窗口的大小为L,将窗口滑动位移采用固定值N,这样既能保证电路的精度足够,又能方便简化。首先,对并行的样点进行相邻N路求和合并,这样就将要处理的样点路数减少,这种预合并处理方法在满足处理精度需求的条件下,实现了运算量的压缩,并且,此后的处理都是基于合并后的平均块进行,大大降低了后续处理的复杂度;这种在精度允许的条件下将相邻路样点的信号值合并的方案在类似设计中也具有推广意义,在实际应用中,L可以取64、128、256等值,N可以取4、8等值。
由于各样点的信号值包括横坐标值和纵坐标值,为了将每个平均块中样点的信号值进行求和得到每个平均块的信号值,在一种可选的实施例中,对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到每个平均块的信号值,可以包括:对每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到每个平均块的信号值的横坐标和每个平均块的信号值的纵坐标;
相应地,S102中对每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值,可以包括:分别对每个平均块的信号值的横坐标和每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
其中,接收到的各样的信号值是在直角坐标系下的值,所以各样点的信号值中包含有横坐标和纵坐标,这里,分别对各样点的信号值的横坐标和纵坐标进行求和计算,得到每个平均块的信号值的横坐标和每个平均块的信号值的纵坐标;
这里,对每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值包括对每个平均块的信号值进行去噪处理和消除剩余频偏的处理,也就是说,通过低通滤波处理不仅能校正由于激光器线宽引起的相偏,还可以消除一部分剩余频偏;
通过低通滤波处理消除残余频偏为具体原理是:在接收机中,相偏估计和相偏补偿一般是在频偏补偿与频偏估计的后面,即相偏估计和相偏补偿中接收到的信号是将大部分的频偏去除之后的数据,但还是会有部分残余频偏;由于频偏和相偏都是对相角进行操作,本发明实施例中通过四次方处理、滑动窗口的大小可变的低通滤波操作估计出的相位偏移值是实时值,如果有残余频偏,估计出的相位偏移值也会随之变化,在进行相位偏移值补偿时也就相当于做了一个频偏补偿,从而消除了剩余频偏对信号的损伤。
由上述加法树形结构可知,根据应用场景不同,滑动窗口的大小可配置为K1、K2、K3、K4等等不同大小,根据剩余频偏的不同自适应采用不同的滑动窗口的大小,当剩余频偏较大时采用较大的滑动窗口的大小来消除剩余频偏,剩余频偏较小时采用较小的滑动窗口的大小来消除剩余频偏。
通过低通滤波进行去噪的过程,仍然以四次方处理为例,在对相位进行四次方处理之后得到公式(2),在上述公式(2)中,V4(k)可以去掉信号相位,然后采用多个V4(k)相加,也就是经过低通滤波去除噪声相位,再提取幅角,可得到相位估计的结果,得到的相位估计值θn表示如下:
由于四次方之后,噪声也被放大了,相角噪声的放大避免不了,为尽量减小幅度噪声被放大,将上式进行优化,得到相位偏移值θe为:
在低通滤波处理中,采用可变大小的滑动窗口来对窗口内的各样点的信号值取平均操作,该操作通过对滑动窗口内的样点的信号值求和来完成,为了兼顾处理精度、处理不同应用场景的适应性、尽量降低电路的复杂程度、尽量减小面积和功耗、加快处理速度等多方面的优化需求,本发明实施例提出了一种具有固定窗口滑动位移、支持几种不同滑动窗口的大小、最大限度的增加逻辑复用度的方案,与传统未加优化的做法相比,此种做法能够保证数据精度的需求,且显著减少电路面积50%以上,提高了电路的处理速度,同时显著降低了功耗。
S103:根据每个平均块低通滤波后的信号值,确定每个平均块的相位偏移值。
在图3中,将直角坐标系转换成极坐标系,得到(i1,q1)对应的相位偏移值为theta1;
经过上述低通滤波处理,得到的每个平均块低通滤波后的信号值中包含有相位偏移值是直角坐标系下的值,为了得到相位偏移值,在一种可选的实施例中,S103可以包括:
将每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;将极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出每个平均块的相位偏移值。
在实际应用中,是通过坐标旋转数字计算机(CORDIC,Coordinate RotationDigital Computer)来实现的,通过CORDIC可以将直角坐标系转换成极坐标系,这样可以得到极坐标系下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值,由于各样点进行M次方处理,每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出每个平均块的相位偏移值;如图2所示,在对样点的信号相位进行四次方处理之后,经过低通滤波去噪和消除剩余频偏,通过CORDIC求得幅角,将得到的幅角值除以4才能够得到相位偏移值;本发明实施例中加入CORDIC处理,使原来的直角坐标系下的乘法运算变为极坐标系下的加法运算,大大减少运算量。
在得到每个平均块的相位偏移值之后,为了得到更加精确的相位偏移值,消除求辐角时角度周期性变化导致的不连续性,即避免发生90度相位模糊,需要对相位偏移值进行段内调整,那么,在一种可选的实施例中,在S103之后,在S104之前,该方法可以包括:
在每个并行段中,将每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;根据第一差值所落入的预设数值区间,调整每个平均块的相位偏移值。
在图3中,对theta1先进行段内调整;在具体实施过程中,上述预设数值区间可以通过几个阈值来划分成5个预设数值区间;针对每个平均块之间,将前后两个平均块的相位偏移值的差值与几个阈值进行比较,根据比较的结果进行不同的调整操作,实现精细化调整,并行段内的调整具体如下:
段内第一个平均块不做调整,从第二个平均块开始,每个平均块的相位偏移值用PEk表示,每个平均块段内调整后的相位偏移值用PEk'∈[-π/4,π/4)表示,为了使得每个平均块段内调整后的相位偏移值用PEk'与前一平均块调整后的相偏估值PEk-1'∈[-π,π)之间的偏差不超过π/4,图5为本发明实施例中对相位偏移值进行调整的一种可选的流程框图,如图5所示,具体调整方法如下:
当PEk<0并且|PEk-PE'k-1|>3π/4时,PE'k=PEk+π;
当-3π/4≤(PEk-PE'k-1)<-π/4时,PE'k=PEk+π/2;
当-π/4≤(PEk-PE'k-1)<π/4时,PE'k=PEk;
当π/4≤(PEk-PE'k-1)<3π/4时,PE'k=PEk-π/2;
当PEk≥0并且|PEk-PE'k-1|>3π/4时,PE'k=PEk-π。
图5中先对PEk和PEk-1'做差值,根据该差值所在范围和PEk所在范围得到段内调整的方法分支,再根据得到的方法分支选择对应的段内调整结果PEk',图5中结构图的输入为相位偏移值,输出为经过段内调整后的相位偏移值PEk'。
为了进一步的对相位偏移值进行调整以得到更加精确的相位偏移值,在进行并行段内调整完成后,还需要进行段间调整,那么,在一种可选的实施例中,在根据第一差值所落入的预设数值区间,调整每个平均块的相位偏移值之后,该方法可以包括:将每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;根据第二差值所落入的预设数值区间确定修正值;对修正值与每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;根据修正值和调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
在图3中,对theta1进行段内调整之后,再进行段间调整得到theta2;在具体实施过程中,段间调整可以细化为两个步骤,图6为本发明实施例中对相位偏移值进行调整的另一种可选的流程框图,如图6所示,第一步是并行段的第一个平均块的修正:与段内调整一样,这里不再赘述,由上述段内调整可知,并行段的第一个平均块修正的角度值(相当于上述修正值)的范围如下所示:
第二步是并行段内的二次修正:根据第一个平均块的修正情况,对后一平均块从第二个开始的每一个平均块再次进行修正,其中,PEk'为段内调整后的样点,PEkf'为段间调整后的结果,具体方法如下:
1)当Δ=-π并且PEk'∈[-π,0)时,PE'kf=PE'k+π;
2)当Δ=-π并且PEk'∈[0,π)时,PE'kf=PE'k-π;
3)当Δ=-π/2并且PEk'∈[-π,-π/2)时,PE'kf=PE'k+3π/2;
4)当Δ=-π/2并且PEk'∈[-π/2,π)时,PE'kf=PE'k-π/2;
5)当Δ=π/2并且PEk'∈[-π,π/2)时,PE'kf=PE'k+π/2;
6)当Δ=π/2并且PEk'∈[π/2,π)时,PE'kf=PE'k-3π/2;
7)当Δ=π并且PEk'∈[-π,0)时,PE'kf=PE'k+π;
8)当Δ=π并且PEk'∈[0,π)时,PE'kf=PE'k-π;
9)当Δ=0时,PE'kf=PE'k;
结合以上9种情况和并行段的第一个平均块的修正方法进行分析,将上述方法分支1)和7)进行合并,2)和8)进行合并,可得包括段间调整第一步和第二步的整体结构图,图6中先对PEk和PEk-1'做差值,得到第二差值,根据该第二差值所在范围求出第一个平均块的修正角度值Δ,得到Δ后结合段内调整后的样点PEk'所在范围得出二次修正的分支,根据计算的分支选择对应的二次修正后的结果PEkf'。图6中结构图的输入为经过段内调整后的数据,输出为经过段间调整后的数据。
上述对相位偏移值进行调整的方法,采用了并行段内调整和段间调整两步计算相结合的方法,在调整过程中分区间计算调整值,具有调整精度高的特点。
S104:根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值。
在一种可选的实施例中,S104可以包括:对每个平均块的相位偏移值、每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值。
在图3中,经过段内调整和段间调整后,可以获得相位偏移值theta2,相位偏移值theta2和经由频偏校正后的信号角度值in_theta做补偿运算,在补偿运算中,每个样点的相位值是与每个样点所在的平均块的相位偏移值来做补偿的,即,在实际应用中,调整后相位偏移值加上频偏校正后的信号角度值再减去固定相位π/4,完成相偏的修正;完成相偏修正后的相角值(theta3)通过余弦cos和正弦sin查找表,得到相应cos(theta3)和sin(theta3)的值,cos(theta3)与输入的幅度值(in_mod)相乘得到直角坐标系下的输出out_i,sin(theta3)与输入的幅度值(in_mod)相乘得到直角坐标系下的输出out_q,完成由极坐标向直角坐标的转换,从而得到最终的输出。
本发明实施例所提供的相位校正方法,首先对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分成至少一个并行段,然后对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,再对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,这样,避免了对每个样点的信号值都进行计算的缺陷,仅仅只需要对预设数目的平均块进行低通滤波处理来确定每个平均块的相位偏移值,最后,根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值,也就是说,本发明实施例,通过对每个并行段中样点的信号值划分和合并之后,再针对每个平均块来进行相位偏移值的确定,大大减少了在确定相位偏移值中的计算量,进而也减少了在进行相位校正过程中的运算量,进一步地提高了相位校正的处理效率。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供一种相位校正装置,图7为本发明实施例中相位校正装置的结构示意图,如图7所示,该装置包括:划分模块71、处理模块72、确定模块73和校正模块74;
其中,划分模块71,用于对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,其中,M为预设值;处理模块72,用于对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,对每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值;确定模块73,用于根据每个平均块低通滤波后的信号值,确定每个平均块的相位偏移值;校正模块74,用于根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值。
相位校正装置在对各样点的信号值的相位进行M次方处理之后,为了对M次方处理后的各样点的信号值进行划分得到至少一个并行段,在一种可选的实施例中,上述划分模块71具体用于根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;对M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
相位校正装置在得到预设数目的平均块之后,针对每个平均块进行处理,为了得到每个平均块的信号值,,在一种可选的实施例中,上述处理模块72具体用于对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到每个平均块的信号值。
由于各样点的信号值包括横坐标值和纵坐标值,为了将每个平均块中样点的信号值进行求和得到每个平均块的信号值,在一种可选的实施例中,上述处理模块72具体用于对每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到每个平均块的信号值的横坐标和每个平均块的信号值的纵坐标;分别对每个平均块的信号值的横坐标和每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
经过上述低通滤波处理,得到的每个平均块低通滤波后的信号值中包含有相位偏移值是直角坐标系下的值,为了得到相位偏移值,在一种可选的实施例中,上述确定模块73具体用于将每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;将极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出每个平均块的相位偏移值。
在得到每个平均块的相位偏移值之后,为了得到更加精确的相位偏移值,消除求辐角时角度周期性变化导致的不连续性,即避免发生90度相位模糊,相位校正装置需要对相位偏移值进行段内调整,那么,在一种可选的实施例中,上述装置还包括:第一调整模块,用于在根据每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的每个平均块的相位偏移值之后,在根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值之前,在每个并行段中,将每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;根据第一差值所落入的预设数值区间,调整每个平均块的相位偏移值。
为了进一步的对相位偏移值进行调整以得到更加精确的相位偏移值,在进行并行段内调整完成后,还需要进行段间调整,那么,在一种可选的实施例中,上述装置还包括:第二调整模块,用于在根据第一差值所落入的预设数值区间,调整每个平均块的相位偏移值之后,将每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;根据第二差值所落入的预设数值区间确定第二差值对应的修正值;对修正值与每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;根据修正值和调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
在一种可选的实施例中,为了确定出校正后的相位值,上述校正模块74具体用于对每个平均块的相位偏移值、每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值。
在实际应用中,划分模块71、处理模块72、确定模块73和校正模块74均可由位于装置的中央处理器(CPU,Central Processing Unit)、微处理器(MPU,MicroprocessorUnit)、专用集成电路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit)或现场可编程门阵列(FPGA,Field-Programmable Gate Array)等实现。
本实施例记载一种计算机可读介质,可以为ROM(例如,只读存储器、FLASH存储器、转移装置等)、磁存储介质(例如,磁带、磁盘驱动器等)、光学存储介质(例如,CD-ROM、DVD-ROM、纸卡、纸带等)以及其他熟知类型的程序存储器;计算机可读介质中存储有计算机可执行指令,当执行指令时,引起至少一个处理器执行包括以下的操作:
对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段;对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,对每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到每个平均块低通滤波后的信号值;根据每个平均块低通滤波后的信号值,确定每个平均块的相位偏移值;根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值。
本发明实施例所提供的相位校正方法,首先对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分成至少一个并行段,然后对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,再对每个平均块中样点的信号值进行合并得到每个平均块的信号值,这样,避免了对每个样点的信号值都进行计算的缺陷,仅仅只需要对预设数目的平均块进行低通滤波处理来确定每个平均块的相位偏移值,最后,根据每个平均块的相位偏移值和每个平均块中每个样点的相位值,得到每个平均块中每个样点的校正后相位值,也就是说,本发明实施例,通过对每个并行段中样点的信号值划分和合并之后,再针对每个平均块来进行相位偏移值的确定,大大减少了在确定相位偏移值中的计算量,进而也减少了在进行相位校正过程中的运算量,进一步地提高了相位校正的处理效率。
这里需要指出的是:以上装置实施例项的描述,与上述方法描述是类似的,具有同方法实施例相同的有益效果,因此不做赘述。对于本发明装置实施例中未披露的技术细节,本领域的技术人员请参照本发明方法实施例的描述而理解,为节约篇幅,这里不再赘述。
这里需要指出的是:
应理解,说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此,在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外,这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解,在本发明的各种实施例中,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的设备和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,如:多个单元或组件可以结合,或可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另外,所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口,设备或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元;既可以位于一个地方,也可以分布到多个网络单元上;可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中,也可以是各单元分别单独作为一个单元,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中;上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:移动存储设备、只读存储器(Read Only Memory,ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
或者,本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括:移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (16)
1.一种相位校正方法,其特征在于,包括:
对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,其中,M为预设值;
对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值;
根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定所述每个平均块的相位偏移值;
根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,包括:
根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;
对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到所述至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,包括:
对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值,包括:
对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标;
相应地,所述对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值,包括:分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值,包括:
将所述每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;
将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出所述每个平均块的相位偏移值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后,在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前,所述方法还包括:
在所述每个并行段中,将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;
根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值之后,所述方法还包括:
将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;
根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值;
对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;
根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值,包括:
对所述每个平均块的相位偏移值、所述每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
9.一种相位校正装置,其特征在于,包括:
划分模块,用于对各样点的信号值进行M次方处理,将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段,其中,M为预设值;
处理模块,用于对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块,对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值,对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值;
确定模块,用于根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定所述每个平均块的相位偏移值;
校正模块,用于根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述划分模块具体用于根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小:各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽;对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分,得到所述至少一个并行段,其中,每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。
11.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述处理模块具体用于对每个平均块中样点的信号值进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述处理模块具体用于对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算,得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标;分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理,得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。
13.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述确定模块具体用于将所述每个平均块低通滤波后的信号值,转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值;将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M,得出所述每个平均块的相位偏移值。
14.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第一调整模块,用于在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值,确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后,在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前,在所述每个并行段中,将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值;根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值。
15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二调整模块,用于在根据所述第一差值所落入的预设数值区间,调整所述每个平均块的相位偏移值之后,将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值;根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值;对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和,得到调整后的第一个并行块的相位偏移值;根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值,调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值,其中,j大于等于2。
16.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述校正模块具体用于对所述每个平均块的相位偏移值、所述每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算,得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。
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