CN107862224B - 一种ic卡读写器的测试设备及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种IC卡读写器的测试设备及其测试方法，利用通道芯片模拟IC卡，取得读写器指令，而由控制***提供模拟读写过程中所需要的响应数据，测试在不同情况下读写器的处理方法。本发明避免了大量的前期准备工作，能够实时修改响应数据模拟不同情景的方案，实时记录指令和响应数据，形成测试日志，以供用户查询，保证在出现问题后能够查找问题来源，同时由于业务数据由真正的IC卡提供，减少了用户的工作量，无需用户自己编写所有的响应数据，而且测试使用的是正常交易的通信接口，也能够检测出通信协议栈的错误。
Description
技术领域
本发明涉及一种IC卡读写器的测试设备及其测试方法。
背景技术
IC卡（Integrated Circuit Card，集成电路卡），也称智能卡（Smart card）、智慧卡（Intelligent card）、微电路卡（Microcircuit card）或微芯片卡等。IC卡与读写器之间的通信协议可以分为接触式（如ISO 7616等协议）和非接触式（如ISO 14443和ISO 15693协议）等，但是各个通信协议通常以一问一答的方式进行数据交互。在数据交互过程中，IC卡作为被动方接收读写器指令，并根据内置卡片逻辑进行运算，最后将响应数据作为应答返回给读写器。读写器根据不同的应用场景，具有不同的内置业务逻辑。读写器将按照业务逻辑流程对卡片发送一系列指令，如果卡片全部执行成功，即可认为安全认证成功或者交易成功。IC卡由于其固有的信息安全、便于携带、比较完善的标准化等优点，常用于安全认证、电子钱包等。
IC卡通常离不开IC卡读写器的支持，例如用于安全认证的门禁刷卡器、用于电子钱包的IC卡读写器等。而IC卡及IC卡读写器的应用场景决定了对读写器需要进行严格的测试，以保证IC卡读写器的安全性。
测试IC卡读写器不仅需要测试IC卡读写器在正确的流程下能否得到正确的结果，同时也需要测试IC卡读写器能否应对处理各种意外或者蓄意攻击带来的错误响应。而仅使用普通的IC卡不能测试读写器对错误流程能否进行正确的处理，因此需要特定工具或者特殊的方法对读写器进行测试。
目前最常用的测试方法有两种：
第一种测试方法是针对每一种错误流程准备一张专用测试卡片，能够在指定的流程中故意返回特定的错误数据，使用该卡片能够测试读写器对某一种错误流程是否进行了正确处理。这种测试方法需要针对每一种情景准备一张测试卡，每张测试卡都需要不同的卡片逻辑，前期准备工作量非常大，同时还需要记录每张卡片所对应的测试问题以及测试结果。而且由于难以获得通信日志，一旦测试失败，将很难定位问题。
另一种测试方法则通过读写器提供的额外的通信接口与PC连接，通过PC可以读取读写器发送的指令并返回响应数据。由于响应数据完全由PC端生成，可以对响应数据进行任意修改以进行测试。这种测试方法不仅需要自己完整的编写正确或者错误的响应数据，而且需要了解该接口的通信协议栈。而且该方法在测试时会需要用到保密的授权数据，而通常该数据将难以获得。另外，由于该接口并非正常交易时使用的数据通信接口，交易时可能存在的通信协议错误将无法通过该测试方法被发现。
发明内容
本发明提供一种IC卡读写器的测试设备及其测试方法，避免了大量的前期准备工作，能够实时修改响应数据模拟不同情景的方案，实时记录指令和响应数据，形成测试日志，以供用户查询，保证在出现问题后能够查找问题来源，同时由于业务数据由真正的IC卡提供，减少了用户的工作量，无需用户自己编写所有的响应数据，而且测试使用的是正常交易的通信接口，也能够检测出通信协议栈的错误。
为了达到上述目的，本发明提供一种IC卡读写器的测试设备，包含：
通道芯片，其模拟IC卡与待测IC卡读写器进行数据交互；该通道芯片既可以模拟接触式IC卡，也可以模拟非接触式IC卡；
控制***，其电性连接通道芯片，为通道芯片提供模拟测试过程中所需要的数据；
所述的控制***包含：电性连接通道芯片的主控芯片和电性连接主控芯片的上位机，上位机提供模拟IC卡的响应数据并可根据用户需求对响应数据进行修改，主控芯片控制通道芯片的响应数据。
本发明还提供一种IC卡读写器的测试方法，包含以下步骤：
测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
测试开始，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令；
通道芯片将待测IC卡读写器的指令发送给主控芯片；
主控芯片将读写器指令发送给上位机；
上位机计算响应数据，并将响应数据发送给主控芯片；
主控芯片将响应数据发送给通道芯片；
通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
上述测试开始后的测试过程将循环进行，直至用户终止测试。
所述的上位机计算响应数据的步骤包含：
上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据；
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片。
所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应；
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
在测试过程中，上位机实时记录读写器指令和对应的响应数据，形成测试日志。
本发明还提供一种IC卡读写器的测试设备，包含：
通道芯片，其模拟IC卡与待测IC卡读写器进行数据交互；该通道芯片既可以模拟接触式IC卡，也可以模拟非接触式IC卡；
控制***，其电性连接通道芯片，为通道芯片提供模拟测试过程中所需要的数据；
所述的控制***包含：电性连接通道芯片的主控芯片、电性连接主控芯片的上位机、电性连接主控芯片的读卡器芯片、以及电性连接读卡器芯片的IC卡，IC卡提供模拟IC卡的响应数据，读卡器芯片将IC卡中的响应数据读取并提供给主控芯片，上位机可对响应数据进行修改，主控芯片控制通道芯片的响应数据。
本发明还提供一种IC卡读写器的测试方法，包含以下步骤：
测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
测试开始，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令，读卡器芯片通过通信接口与IC卡连接；
通道芯片将待测IC卡的读写器指令发送给主控芯片；
主控芯片将读写器指令发送给读卡器芯片并通过读卡器芯片从IC卡中获取响应数据；
主控芯片将读写器指令和响应数据发送给上位机；
上位机计算响应数据，并将响应数据发给主控芯片；
主控芯片将响应数据发送给通道芯片；
通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
上述测试开始后的测试过程将循环进行，直至用户终止测试。
所述的上位机计算响应数据的步骤包含：
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片。
所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应；
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
在测试过程中，上位机实时记录读写器指令和对应的响应数据，形成测试日志。
本发明避免了大量的前期准备工作，能够实时修改响应数据模拟不同情景的方案，实时记录指令和响应数据，形成测试日志，以供用户查询，保证在出现问题后能够查找问题来源，同时由于业务数据由真正的IC卡提供，减少了用户的工作量，无需用户自己编写所有的响应数据，而且测试使用的是正常交易的通信接口，也能够检测出通信协议栈的错误。
附图说明
图1是本发明提供的一种IC卡读写器的测试设备的一个实施例的结构示意图。
图2是本发明提供的一种IC卡读写器的测试设备的另一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下根据图1～图2，具体说明本发明的较佳实施例。
本发明提供一种IC卡读写器的测试设备，包含：
通道芯片1，其模拟IC卡与待测IC卡读写器进行数据交互；该通道芯片既可以模拟接触式IC卡，也可以模拟非接触式IC卡；
控制***2，其电性连接通道芯片1，为通道芯片1提供模拟测试过程中所需要的数据。
如图1所示，在本发明的一个实施例中，所述的控制***2包含：电性连接通道芯片1的主控芯片201和电性连接主控芯片201的上位机202，上位机202提供模拟IC卡的响应数据并可对响应数据进行修改，主控芯片201控制通道芯片1的响应数据。
本实施例中，还提供一种IC卡读写器的测试方法，包含以下步骤：
步骤S0、测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
步骤S1、测试开始，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令；
步骤S2、通道芯片将待测IC卡读写器的指令发送给主控芯片；
步骤S3、主控芯片将读写器指令发送给上位机；
步骤S4、上位机计算响应数据，将响应数据发送给主控芯片，并记录读写器指令和该响应数据；
上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据；
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片；
步骤S5、主控芯片将响应数据发送给通道芯片；
步骤S6、通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
重复步骤S2-S6，直至用户终止测试。
所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应。
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
如图2所示，在本发明的另一个实施例中，所述的控制***2包含：电性连接通道芯片1的主控芯片201、电性连接主控芯片201的上位机202、电性连接主控芯片201的读卡器芯片203、以及电性连接读卡器芯片203的IC卡204，IC卡204提供模拟IC卡的响应数据，读卡器芯片203将IC卡中的响应数据读取并提供给主控芯片201，上位机202可对响应数据进行修改，主控芯片201控制通道芯片1的响应数据。
本实施例中，还提供一种IC卡读写器的测试方法，包含以下步骤：
步骤S0、测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
步骤S1、测试开始，读卡器芯片通过通信接口与IC卡连接，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令；
步骤S2、通道芯片将待测IC卡读写器的指令发送给主控芯片；
步骤S3、主控芯片将读写器指令发送给读卡器芯片并通过读卡器芯片从IC卡中获取响应数据；
步骤S4、主控芯片将读写器指令和响应数据发送给上位机；
步骤S5、上位机计算响应数据，将响应数据发送给主控芯片，并记录读写器指令和该响应数据；
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片；
步骤S6、通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
重复步骤S2-S6，直至用户终止测试。
所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应；
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
本发明利用通道芯片模拟一张IC卡，取得读写器指令，而由控制***提供模拟读写过程中所需要的响应数据，用户可以通过控制指定响应数据模拟读写器在实际使用中会遇到的各种问题，测试在不同情况下读写器的处理方法。本发明避免了大量的前期准备工作，能够实时修改响应数据模拟不同情景的方案，实时记录指令和响应数据，形成测试日志，以供用户查询，保证在出现问题后能够查找问题来源，同时由于业务数据由真正的IC卡提供，减少了用户的工作量，无需用户自己编写所有的响应数据，而且测试使用的是正常交易的通信接口，也能够检测出通信协议栈的错误。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。
Claims (10)
1.一种IC卡读写器的测试设备，其特征在于，包含：
通道芯片（1），其模拟IC卡与待测IC卡读写器进行数据交互；该通道芯片既可以模拟接触式IC卡，也可以模拟非接触式IC卡；
控制***（2），其电性连接通道芯片（1），为通道芯片（1）提供模拟测试过程中所需要的数据；
所述的控制***（2）包含：电性连接通道芯片（1）的主控芯片（201）和电性连接主控芯片（201）的上位机（202），上位机（202）提供模拟IC卡的响应数据并可根据用户需求对响应数据进行修改，主控芯片（201）控制通道芯片（1）的响应数据。
2.一种如权利要求1所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：
测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
测试开始，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令；
通道芯片将待测IC卡读写器的指令发送给主控芯片；
主控芯片将读写器指令发送给上位机；
上位机计算响应数据，并将响应数据发送给主控芯片；
主控芯片将响应数据发送给通道芯片；
通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
上述测试开始后的测试过程将循环进行，直至用户终止测试。
3.如权利要求2所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，所述的上位机计算响应数据的步骤包含：
上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据；
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片。
4.如权利要求3所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应；
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
5.如权利要求4所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，在测试过程中，上位机实时记录读写器指令和对应的响应数据，形成测试日志。
6.一种IC卡读写器的测试设备，其特征在于，包含：
通道芯片（1），其模拟IC卡与待测IC卡读写器进行数据交互；该通道芯片既可以模拟接触式IC卡，也可以模拟非接触式IC卡；
控制***（2），其电性连接通道芯片（1），为通道芯片（1）提供模拟测试过程中所需要的数据；
所述的控制***（2）包含：电性连接通道芯片（1）的主控芯片（201）、电性连接主控芯片（201）的上位机（202）、电性连接主控芯片（201）的读卡器芯片（203）、以及电性连接读卡器芯片（203）的IC卡（204），IC卡（204）提供模拟IC卡的响应数据，读卡器芯片（203）将IC卡中的响应数据读取并提供给主控芯片（201），上位机（202）可对响应数据进行修改，主控芯片（201）控制通道芯片（1）的响应数据。
7.一种如权利要求6所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：
测试开始前，上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据；
测试开始，通道芯片通过通信接口与待测IC卡读写器连接，接收待测IC卡读写器的指令，读卡器芯片通过通信接口与IC卡连接；
通道芯片将待测IC卡的读写器指令发送给主控芯片；
主控芯片将读写器指令发送给读卡器芯片并通过读卡器芯片从IC卡中获取响应数据；
主控芯片将读写器指令和响应数据发送给上位机；
上位机计算响应数据，并将响应数据发给主控芯片；
主控芯片将响应数据发送给通道芯片；
通道芯片将响应数据发送给待测IC卡读写器；
上述测试开始后的测试过程将循环进行，直至用户终止测试。
8.如权利要求7所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，所述的上位机计算响应数据的步骤包含：
上位机判断接收到的读写器指令是否是上位机在测试开始前设定的特定读写器指令，如果是，则上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据，并将该响应数据发送给主控芯片，如果否，则上位机计算针对该接收到的读写器指令的响应数据，并将该响应数据直接发送给主控芯片。
9.如权利要求8所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，所述的测试开始前上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：用户与上位机进行交互，用户设定对特定读写器指令的响应数据，或者用户修改得到正确的响应数据，或者用户设定对特定读写器指令不响应；
所述的上位机计算响应数据的步骤中，所述的上位机根据用户需求设定针对特定读写器指令的响应数据的方法包含：上位机设定对特定读写器指令的响应数据，或者上位机修改得到正确的响应数据，或者上位机设定对特定读写器指令不响应。
10.如权利要求9所述的IC卡读写器的测试设备的测试方法，其特征在于，在测试过程中，上位机实时记录读写器指令和对应的响应数据，形成测试日志。
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