CN107843829A - 一种并行测试***及方法 - Google Patents

一种并行测试***及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107843829A
CN107843829A CN201711015455.0A CN201711015455A CN107843829A CN 107843829 A CN107843829 A CN 107843829A CN 201711015455 A CN201711015455 A CN 201711015455A CN 107843829 A CN107843829 A CN 107843829A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mainboard
test
determinand
port
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711015455.0A
Other languages
English (en)
Inventor
刘国梁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd filed Critical Shanghai Feixun Data Communication Technology Co Ltd
Priority to CN201711015455.0A priority Critical patent/CN107843829A/zh
Publication of CN107843829A publication Critical patent/CN107843829A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pinball Game Machines (AREA)

Abstract

本发明公开了一种并行测试***及方法，所述测试***包括：测试设备，安装有测试程序，通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口；测试治具，用于放置所述包括多个主板的待测物；RF测试仪器，用于通过功分器连接并测试所述待测物的各单板主板的RF模块，通过本发明，可实现多片手环主板并行同时测试，降低测试时间，提高设备使用率以及提高整个生产效率。

Description

一种并行测试***及方法
技术领域
本发明涉及一种测试***及方法，尤其涉及一种手环主板的并行测试***及方法。
背景技术
继智能手机、平板电脑的热潮之后，智能手环(Smart Wristband)作为一种新兴的可穿戴式的智能移动终端已经逐渐成为全球消费电子领域炙手可热的宠儿，因此对智能手环主板的测试变得十分重要。
目前，工厂手环PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的连板贴片完成之后会使用分板机分成单片主板，然后对其进行测试，测试方法一般采用单片单线程测试，具体如下：将单片手环PCBA放入测试治具，测试治具于找到端口后执行测试程序开始测试，测试完成后取出换下一片，按照同样方式测试。
然而，这种单片测试方法和单线程的测试方法存在如下缺点：由于手环单片主板比较小并且拿取不方便，单片测试方法会存在拿取动作较多及一台设备只能测试一片手环主板的单线程造成设备使用率和效率较低。因此，实有必要提出一种技术手段，以解决上述问题。
发明内容
为克服上述现有技术存在的不足，本发明之目的在于提供一种并行测试***及方法，以实现多片手环主板可以并行同时测试，降低测试时间，提高设备使用率以及提高整个生产效率。
为达上述目的，本发明提供的技术方案如下：
一种并行测试***，包括：
测试设备，安装有测试程序，通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口；
测试治具，用于放置所述包括多个主板的待测物；
RF测试仪器，用于通过功分器连接并测试所述待测物的各单板主板的RF模块。
在上述技术方案中，通过测试设备连接包括多个主板的待测物的多个端口，RF测试仪器通过功分器连接并测试所述待测物的各单板主板的RF模块，实现对整个连板的各主板同时进行测试，减小了测试时间，提高了测试效率。
进一步地，所述测试设备通过USB连接线连接所述包括多个主板的待测物的各主板的USB端口。
在上述技术方案中，通过所述测试设备利用USB连接线连接各主板的USB端口实现测试设备对各端口下达命令以及获取测试数据。
进一步地，所述测试设备读取所述待测物各主板的端口，执行测试用例通过每个端口对各主板同时下达命令进行测试，并通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
在上述技术方案中，通过测试设备读取各主板端口的数据，通过每个端口对各主板同时下达命令进行测试，并通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果，实现了多片手环主板可以并行同时测试的目的，提高了测试效率。
进一步地，所述RF测试仪器包括GPS测试仪和功分器，所述GPS测试仪通过所述功分器利用RF线连接所述待测物的各主板的RF模块，以进行各主板的RF功能测试。
在上述技术方案中，所述GPS测试仪通过功分器连接多个测试主板，使得多片手环主板可以并行同时测试。
进一步地，所述待测物为包括N个单板手环主板的连板手环主板。
在上述技术方案中，实现了包括N个单板手环主板的连板手环主板的多片手环主板的并行同时测试目的。
为达到上述目的，本发明还提供一种并行测试方法，包括如下步骤：
步骤一，将测试设备通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口，将RF测试仪器通过功分器利用RF线连接所述待测物的各单板主板的RF模块；
步骤二，所述测试设备读取待测物的各主板的端口；
步骤三，所述测试设备执行测试用例通过各端口对各主板同时下达命令进行测试；
步骤四，所述测试设备通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
进一步地，于步骤四后，还包括如下步骤：
关闭各端口线程；
将各线程数据保存于所述测试设备的本地数据库存档。
进一步地，于步骤一中，将所述测试设备通过USB连接线连接所述包括多个主板的待测物的各主板的USB端口。
进一步地，于步骤一中，所述RF测试仪器利用GPS测试仪通过所述功分器利用RF线连接所述待测物的各主板的RF模块。
进一步地，所述待测物为包括N个单板手环主板的连板手环主板。
与现有技术相比，本发明一种并行测试***及方法的有益效果在于：
本发明一种并行测试***及方法通过在手环连板PCBA贴片完成后先不进行分板，将整个连板手环主板放入测试治具中，测试仪器通过功分器连接多个单板主板，测试设备的测试程序同时找到各单板主板的各端口后采用多线程同时对整个连板的单片主板同时并行进行测试，于测试完成后再将该连板使用分板机分成单片，由于多片手环主板可以并行同时测试，降低了测试时间，同时提高了设备使用率，从而可以提高了整个生产效率。
附图说明
图1为本发明一种并行测试***的一个实施例的结构示意图；
图2为本发明具体实施例之手环并行测试***的***架构图；
图3为本发明一种并行测试方法的步骤流程图；
图4为本发明具体实施例中手环并行测试的步骤流程图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
在本发明的一个实施例中，如图1所示，本发明一种并行测试***，包括：测试设备101、测试治具102以及RF测试仪器103。
其中，测试设备101，安装有测试程序，通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口，在本发明具体实施例中，所述待测物为连板手环主板，即所述待测物包括N个单板手环主板(较佳地，N为6-8)，所述测试设备101通过USB连接线连接所述待测物N个单板的USB端口(USB1-USBN)，所述测试设备101为一内装有测试程序的测试电脑，启动测试程序后，测试程序会读取该连板手环主板中每个单板的端口，执行测试用例通过每个端口对各单板主板同时下达命令进行测试，并通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
测试治具102，用于放置所述包括多个主板的待测物，在本发明具体实施例中，测试治具102用于放置该包括N个单板手环主板(DUT1-DUTN)的连板手环主板。
RF测试仪器103，用于通过功分器连接并测试所述待测物的各单板主板的RF(射频)模块。具体地说，RF测试仪器103包括GPS测试仪和功分器，所述GPS测试仪通过功分器利用RF线连接所述待测物的各主板的RF模块(RF1-RFN)，以进行各主板的RF功能测试。
图2为本发明具体实施例之手环并行测试***的***架构图。在本发明具体实施例中，所述待测物105为包括6个单板手环主板(DUT1-DUT6)的连板手环主板，设置于测试治具102上，测试设备101为一安装有测试程序的测试PC，其通过USB线106连接至6个单板手环主板(DUT1-DUT6)的USB端口(USB1-USB6)，测试仪器103包括GPS测试仪和功分器，GPS测试仪连接功分器，并通过RF线104连接6个单板手环主板(DUT1-DUT6)的RF模块RF1-RF6。
上述手环并行测试***的测试过程如下：
1)测试PC中的测试程序读取控制整个连板手环主板中每片单板的端口；
2)测试程序执行测试用例通过每个端口对各单片主板同时下命令进行测试，
3)测试PC获取各线程的端口数据进行判断并显示测试结果
4)关闭各端口线程
5)将各线程数据保存于测试PC的本地数据库存档。
图3为本发明一种并行测试方法的步骤流程图。如图3所示，本发明一种并行测试方法，包括如下步骤：
步骤301，将测试设备通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口，将RF测试仪器通过功分器利用RF线连接所述待测物的各单板主板的RF模块。所述待测物为连板手环主板，即所述待测物包括N个单板手环主板(较佳地，N为6-8)，所述测试设备通过USB连接线连接所述待测物N个单板的USB端口，RF测试仪器采用GPS测试仪通过功分器利用RF线连接所述待测物的各单板主板的RF模块，以进行各主板的RF功能测试。
步骤302，所述测试设备读取待测物的每个单板的端口；在本发明具体实施例中，所述测试设备为一内装有测试程序的测试电脑，启动测试程序后，测试程序会读取该连板手环主板中每个单板的端口。
步骤303，所述测试设备执行测试用例通过每个端口对各单板主板同时下达命令进行测试。
步骤304，所述测试设备通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
优选地，于步骤304后，本发明之并行测试方法还包括如下步骤：
关闭各端口线程；
将各线程数据保存于测试设备的本地数据库存档。
图4为本发明具体实施例中手环并行测试的步骤流程图。如图4所示，该手环并行测试方法步骤如下：
1、测试PC通过测试程序读取待测物连板手环主板中每片单板(DUTi)的端口号；
2、测试PC的控制单元执行测试用例，对每个端口进行同时下发测试命令；
3、控制单元通过各端口获取各线程的测试数据并进行分析，通过显示单元显示测试结果；
4、关闭各测试线程；
5、控制单元将各线程的测试结果保存到本地数据库。
本发明之并行测试***及方法实现连板测试主要用于节省手环PCBA测试的拿取次数，即由之前1次拿取1单片PCBA改为1次拿取1连板6～8片PCBA，读取端口时间由之前1单片PCBA的寻找端口时间变为6～8片PCBA同时找到端口。测试时间由之前一单片测试时间变为测试一连板6～8片。测试设备由一台只能连接一片主板现在可以连接多个主板。
综上所述，本发明一种并行测试***及方法通过在手环连板PCBA贴片完成后先不进行分板，将整个连板手环主板放入测试治具中，测试仪器通过功分器连接多个单板主板，测试设备的测试程序同时找到各单板主板的各端口后采用多线程同时对整个连板的单片主板同时并行进行测试，于测试完成后再将该连板使用分板机分成单片，由于多片手环主板可以并行同时测试，降低了测试时间，同时提高了设备使用率，从而可以提高了整个生产效率。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种并行测试***，包括：
测试设备，安装有测试程序，通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口；
测试治具，用于放置所述包括多个主板的待测物；
RF测试仪器，用于通过功分器连接并测试所述待测物的各单板主板的RF模块。
2.如权利要求1所述的一种并行测试***，其特征在于：所述测试设备通过USB连接线连接所述包括多个主板的待测物的各主板的USB端口。
3.如权利要求2所述的一种并行测试***，其特征在于：所述测试设备读取所述待测物各主板的端口，执行测试用例通过每个端口对各主板同时下达命令进行测试，并通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
4.如权利要求1所述的一种并行测试***，其特征在于：所述RF测试仪器包括GPS测试仪和功分器，所述GPS测试仪通过所述功分器利用RF线连接所述待测物的各主板的RF模块，以进行各主板的RF功能测试。
5.如权利要求1所述的一种并行测试***，其特征在于：所述待测物为包括N个单板手环主板的连板手环主板。
6.一种并行测试方法，包括如下步骤：
步骤一，将测试设备通过连接线连接包括多个主板的待测物的多个端口，将RF测试仪器通过功分器利用RF线连接所述待测物的各单板主板的RF模块；
步骤二，所述测试设备读取待测物的各主板的端口；
步骤三，所述测试设备执行测试用例通过各端口对各主板同时下达命令进行测试；
步骤四，所述测试设备通过各线程的端口获取测试数据进行判断并显示测试结果。
7.如权利要求6所述的一种并行测试方法，其特征在于，于步骤四后，还包括如下步骤：
关闭各端口线程；
将各线程数据保存于所述测试设备的本地数据库存档。
8.如权利要求6所述的一种并行测试方法，其特征在于：于步骤一中，将所述测试设备通过USB连接线连接所述包括多个主板的待测物的各主板的USB端口。
9.如权利要求6所述的一种并行测试方法，其特征在于：于步骤一中，所述RF测试仪器利用GPS测试仪通过所述功分器利用RF线连接所述待测物的各主板的RF模块。
10.如权利要求6所述的一种并行测试方法，其特征在于：所述待测物为包括N个单板手环主板的连板手环主板。
CN201711015455.0A 2017-10-25 2017-10-25 一种并行测试***及方法 Pending CN107843829A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711015455.0A CN107843829A (zh) 2017-10-25 2017-10-25 一种并行测试***及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711015455.0A CN107843829A (zh) 2017-10-25 2017-10-25 一种并行测试***及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107843829A true CN107843829A (zh) 2018-03-27

Family

ID=61662838

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711015455.0A Pending CN107843829A (zh) 2017-10-25 2017-10-25 一种并行测试***及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107843829A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021093655A1 (zh) * 2019-11-15 2021-05-20 中兴通讯股份有限公司 单板检测方法、计算机设备及计算机可读介质

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7629809B2 (en) * 2007-11-28 2009-12-08 Yokogawa Electric Corporation IC tester
CN202133755U (zh) * 2011-04-29 2012-02-01 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种fpc测试线
CN104660465A (zh) * 2015-01-30 2015-05-27 深圳市极致汇仪科技有限公司 一种多dut并行测试方法及***
CN105376108A (zh) * 2015-10-10 2016-03-02 普联技术有限公司 一种并行测试***及测试方法
CN106714200A (zh) * 2016-12-29 2017-05-24 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种无线网络设备的测试***以及测试方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7629809B2 (en) * 2007-11-28 2009-12-08 Yokogawa Electric Corporation IC tester
CN202133755U (zh) * 2011-04-29 2012-02-01 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种fpc测试线
CN104660465A (zh) * 2015-01-30 2015-05-27 深圳市极致汇仪科技有限公司 一种多dut并行测试方法及***
CN105376108A (zh) * 2015-10-10 2016-03-02 普联技术有限公司 一种并行测试***及测试方法
CN106714200A (zh) * 2016-12-29 2017-05-24 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种无线网络设备的测试***以及测试方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021093655A1 (zh) * 2019-11-15 2021-05-20 中兴通讯股份有限公司 单板检测方法、计算机设备及计算机可读介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8384408B2 (en) Test module with blocks of universal and specific resources
CN101770089B (zh) 液晶显示模块测试机
CN101009853A (zh) 一种手机单板自动测试***及其方法
CN100364043C (zh) 半导体装置、其电检查方法、以及具备它的电子设备
CN203859750U (zh) 一种光模块测试***
DE102012024886A1 (de) Boundary Scan-Kette für gestapelten Speicher
CN104133185A (zh) 多节电量管理ic的多通道校准校验设备和方法
WO2007015582B1 (en) Providing precise timing control between multiple standardized test instrumentation chassis
CN108489510B (zh) 基于pxi总线的可扩展式平台电路箱自动化测试***
CN111650493A (zh) 一种支持高低温测试的同测装置
CN103713405A (zh) 一种液晶面板测试信号的转接板
CN107843829A (zh) 一种并行测试***及方法
CN102759648B (zh) 电源板测试方法和***
CN103389933A (zh) 测试卡及具有该测试卡的测试用电子装置
CN105575947A (zh) 一种显示基板、显示装置以及显示装置的身份识别方法
CN109283451A (zh) 一种集成电路良品检测***及方法
CN103777386A (zh) 一种lcm测试机
CN104112480A (zh) 用于测试半导体装置的设备和方法
CN102467243B (zh) 一种键盘矩阵分析结构及方法
CN102866348A (zh) 集成电路测试数据查询***及查询方法
CN207008599U (zh) 一种服务器主板测试板
CN100397359C (zh) 主机板的自动控制测试***及方法
CN210155335U (zh) 一种用于多模导航接收机的测试装置
CN212514891U (zh) 一种支持高低温测试的同测装置
CN107422276A (zh) 一种电源柜体检测装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20180327