CN107631859B - 一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置，方法包括：将光纤跳线的APC端连接光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将光纤跳线的LC端连接隔离器组件，启动光回波损耗测试仪；将光源输出端输出的光功率归零，并将隔离器组件连接在光回波损耗测试仪上的第一磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离度值，并显示；将第一磁环换成第二磁环，并将隔离器组件连接在第二磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出插损值，并显示。本发明仅利用一台光回波损耗测试仪并加入两个极性相反的磁环即可测试出隔离器组件的隔离度值和插损值，不仅准确测试出了隔离器组件的性能，而且大大简化了测试的繁琐程度，提高了测试效率。

Description

一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置

技术领域

本发明涉及移动终端技术领域，具体涉及一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置。

背景技术

隔离器组件是高速光纤通信***、光纤放大器、光传感***以及各种高精度光测试设备中的关键器件。因此隔离器组件的生产厂家和各使用单位需要准确测试出隔离器组件的性能。

现有技术中基本都是通过耦合光功率来计算插损值，主要是采用标准激光发射器驱动一定的电流和波长的光通过隔离器组件，然后耦合出最大光功率并通过软件转换方式计算出隔离器组件的插损值。但是采用方式测试隔离器组件的插损值，效率慢且制造成本高，并且耦合测试在对隔离器组件端面的跳线插拔次数较多，易造成隔离器组件端面损伤报废。而现有技术中，对于隔离器组件隔离度值的测试方法还并不成熟，基本都是将隔离器组件正反两次接入光路中进行测试，测试方法繁琐，延长了产品的制造周期。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置，旨在解决现有技术中测试隔离器组件的隔离度值和插损值操作复杂且效率低的问题。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述方法包括：

步骤A、将光纤跳线的APC端连接光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将光纤跳线的LC端连接隔离器组件，并启动光回波损耗测试仪；

步骤B、将光源输出端输出的光功率归零，并将隔离器组件连接在光回波损耗测试仪上的功率接收端上预装的用于制造出磁场环境的第一磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的隔离度值，并显示；

步骤C、将功率接收端上的第一磁环换成极性相反的第二磁环，并将隔离器组件连接在第二磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的插损值，并显示。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述第一磁环和第二磁环产生的磁场大小相等，方向相反，且所述第一磁环和第二磁环产生的磁场大小均大于等于3000高斯。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述光回波损耗测试仪的型号为A19508C 型光回波损耗测试仪。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤A之前还包括：

步骤S、预先对所述光源输出端输出的光功率进行点检。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤S具体包括：

步骤S1、将所述光纤跳线的APC端连接所述光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将所述光纤跳线的LC端连接所述光回波损耗测试仪上的功率接收端；

步骤S2、启动所述光回波损耗测试仪，光通过所述光纤跳线进行光纤传输，并将输出的光功率在所述光回波损耗测试仪进行显示；

步骤S3、通过输出的光功率判断所述光纤跳线及光回波损耗测试仪是否正常工作。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤S3具体包括：

步骤S31、当输出的光功率在预设的范围内，则说明所述光纤跳线和光回波损耗测试仪正常工作，则执行步骤A；

步骤S32、当输出的光功率不在预设的范围内，则重新将所述光纤跳线与所述光回波损耗测试仪连接并重新进行点检。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤A具体包括：

步骤A1、预先将所述光纤跳线的APC端连接所述光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将所述光纤跳线的LC端连接所述隔离器组件；

步骤A2、启动所述光回波损耗测试仪，所述光回波损耗测试仪的光源输出端输出光；

步骤A3、光从所述光纤跳线的APC端进入所述光纤跳线，并经过所述光纤跳线的LC端进入所述隔离器组件。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤B具体包括：

步骤B1、调节所述光回波损耗测试仪的参数，将输出的光功率调整成0dB输出；

步骤B2、预先将所述第一磁环安装在所述光回波损耗测试仪上的功率接收端上，并将所述隔离器组件连接所述第一磁环上；所述第一磁环用于阻止所述光通过所述隔离器组件；

步骤B3、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的隔离度值，并进行显示。

所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其中，所述步骤C具体包括：

步骤C1、将所述功率接收端上的所述第一磁环换成所述第二磁环；

步骤C2、将所述隔离器组件连接在所述第二磁环上；所述第二磁环用于使所述光通过所述隔离器组件；

步骤C3、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的插损值，并进行显示。

一种基于上述任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的测试装置，其中，包括：光回波损耗测试仪、光线跳线以及隔离器组件；所述光纤跳线的APC端与所述光回波损耗测试仪上的光源输出端连接，所述光纤跳线的LC端与所述隔离器组件连接；

所述光回波损耗测试仪的型号为A19508C 型光回波损耗测试仪；

所述光回波损耗测试仪上包括：光源输出端、功率接收端、自动计算模块以及显示屏；

所述隔离器组件包括：偏振起偏器、法拉第旋转片以及偏振检偏器；

所述测试装置采用上述任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法进行测试。

本发明的有益效果：本发明仅利用一台光回波损耗测试仪并加入两个极性相反的磁环即可测试出隔离器组件的隔离度值和插损值，不仅准确测试出了隔离器组件的性能，而且大大简化了测试的繁琐程度，提高了测试效率。

附图说明

图1是本发明的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的流程图。

图2是本发明的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的功能原理图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在高速率、长距离的光纤传输中需要用隔离器组件阻止反射光，隔离器组件是一种只允许单向光通过的无源光器件，其工作原理是基于法拉第旋转的非互易性，对于正向入射的信号光，通过偏振起偏器后成为线偏振光，法拉第旋磁介质与外磁场一起使信号光的偏振方向右旋转45°，并恰好低损耗通过与偏振起偏器成45°放置的偏振检偏器。对于反向光，偏振检偏器的线偏振光经过法拉第旋磁介质时,偏转方向也右旋转45°，从而使反向光的偏振方向与偏振起偏器方向正交，不能通过，这样就完全阻断了反射光的传输。

如图1所示，图1是本发明的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的流程图。所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法包括以下步骤：

步骤S100、将光纤跳线的APC端连接光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将光纤跳线的LC端连接隔离器组件，并启动光回波损耗测试仪。

较佳地，所述步骤S100具体包括：

步骤S101、预先将所述光纤跳线的APC（Angled Pressed Connector）端连接所述光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将所述光纤跳线的LC端连接所述隔离器组件；

步骤S102、启动所述光回波损耗测试仪，所述光回波损耗测试仪的光源输出端输出光；

步骤S103、光从所述光纤跳线的APC端进入所述光纤跳线，并经过所述光纤跳线的LC端进入所述隔离器组件。

具体实施时，如图2所示，图2是本发明的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的功能原理图。本发明采用光回波损耗测试仪10对所述隔离器组件的性能30进行测试。所述光回波损耗测试仪10的型号为A19508C 型光回波损耗测试仪。在对隔离器组件30进行测试之前，需要预先对光回波损耗测试仪10上光源输出端101输出的光功率进行点检。具体地，首先将光纤跳线20的APC端连接所述光回波损耗测试仪10上的光源输出端101，并将所述光纤跳线20的LC端连接所述光回波损耗测试仪10上的功率接收端102，启动所述光回波损耗测试仪10。光通过所述光纤跳线20进行光纤传输，并将输出的光功率在所述光回波损耗测试仪10的显示屏103上进行显示；用户即可根据输出的光功率判断所述光回波损耗测试仪10及光纤跳线20是否正常工作。

较佳地，当输出的光功率在预设的范围内，则说明所述光回波损耗测试仪10和光纤跳线20正常工作，则点检正常，继续执行测试步骤。若输出的光功率不在预设的范围内，则重新将所述光纤跳线20与所述光回波损耗测试仪10连接并重新进行点检，直到点检正常。本发明中通过采用一台型号为A19508C的光回波损耗测试仪10来测试所述隔离器组件30，所述光回波损耗测试仪10的成本较低，且测试方法简单，有效提高了隔离器组件的测试效率。

进一步地，当点检完成之后，将光纤跳线20的LC端与待测的所述隔离器组件20连接，启动所述光回波损耗测试仪10，所述光回波损耗测试仪10的光源输出端101输出光，光从所述光纤跳线20的APC端进入所述光纤跳线20，并经过所述光纤跳线20的LC端进入所述隔离器组件30。所述隔离器组件包括：偏振起偏器、法拉第旋转片以及偏振检偏器。

步骤S200、将光源输出端输出的光功率归零，并将隔离器组件连接在光回波损耗测试仪上的功率接收端上预装的用于制造出磁场环境的第一磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的隔离度值，并显示。

较佳地，所述步骤S200具体包括：

步骤S201、调节所述光回波损耗测试仪的参数，将输出的光功率调整成0dB输出；

步骤S202、预先将所述第一磁环安装在所述光回波损耗测试仪上的功率接收端上，并将所述隔离器组件连接所述第一磁环上；所述第一磁环用于阻止所述光通过所述隔离器组件；

步骤S203、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的隔离度值，并进行显示。

具体实施时，由于隔离器组件的工作原理是运用利用磁光晶体的法拉第效应，即根据磁场方向变化旋转方向，如S极方向进光，法拉第成左旋光方向，与偏振检偏器的偏振方向重合，光恰好通过；如N极反方向进光 ，则法拉第成左旋光方向， 则与偏振起偏器偏振方向成垂直90度，光无法通过，完全被隔离挡住；也就是说隔离器正向光可通过，反向光则被隔离。

为了测试所述隔离器组件30的隔离度值，本发明预先将第一磁环安装在所述光回波损耗测试仪10上的功率接收端102上，所述第一磁环用于阻止所述光通过所述隔离器组件30。较佳地，所述第一磁环产生的磁场强度大于等于3000高斯。然后，通过所述光回波损耗测试仪10上的“zero”按钮，调节所述光回波损耗测试仪10的参数，将光源输出端101输出的光功率归零，将输出的光功率调整成0dB输出。因此，由于加入了第一雌环，所述第一雌环产生了磁场，相当于00dB的光从方向经过将所述隔离器组件30连接所述第一磁环上，当使用0dB的光从反方向经过偏振检偏器进入所述隔离器组件30，因此光被隔离。所述光回波损耗测试仪10自动计算出所述隔离器组件30的隔离度值，并进行显示。

步骤S300、将功率接收端上的第一磁环换成极性相反的第二磁环，并将隔离器组件连接在第二磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的插损值，并显示。

所述步骤S300具体包括：

步骤S301、将所述功率接收端上的所述第一磁环换成所述第二磁环；

步骤S302、将所述隔离器组件连接在所述第二磁环上；所述第二磁环用于使所述光通过所述隔离器组件；

步骤S303、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的插损值，并进行显示。

具体实施时，在测试完所述隔离器组件30的隔离度值之后，将所述功率接收端102上的所述第一磁环换成所述第二磁环；将所述隔离器组件30连接在所述第二磁环上；所述第二磁环用于使所述光通过所述隔离器组件30。所述第二磁环和第一磁环产生的磁场强度相等，方向相反，且所第二磁环产生的磁场强度同样大于等于3000高斯。由于加入的第二磁环大小与第一磁环的方向不同，光从偏振检偏器进入，刚好与偏振起偏器的偏振方向重合，因此使得光能够顺利通过所述隔离器组件30。所述光回波损耗测试仪10自动计算出所述隔离器组件30的插损值，并在显示屏103上进行显示。本发明仅利用一台光回波损耗测试仪并加入极性相反的磁环即可测试出隔离器组件的隔离度值和插损值，不仅准确测试出了隔离器组件的性能，而且大大简化了测试的繁琐程度，提高了测试效率。

基于上述实施例，本发明还公开了一种基于上述任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的测试装置，如图2所示。其中，包括：光回波损耗测试仪10、光线跳线20以及隔离器组件30；所述光纤跳线20的APC端与所述光回波损耗测试仪10上的光源输出端101连接，所述光纤跳线20的LC端与所述隔离器组件30连接；

所述光回波损耗测试仪10的型号为A19508C 型光回波损耗测试仪；

所述光回波损耗测试仪10上包括：光源输出端101、功率接收端102、自动计算模块以及显示屏104；

所述隔离器组件30包括：偏振起偏器、法拉第旋转片以及偏振检偏器。所述测试装置上述实施例中任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法进行测试的。

综上所述，本发明提供的一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法及测试装置，方法包括：将光纤跳线的APC端连接光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将光纤跳线的LC端连接隔离器组件，并启动光回波损耗测试仪；将光源输出端输出的光功率归零，并将隔离器组件连接在光回波损耗测试仪上的功率接收端上预装的用于制造出磁场环境的第一磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的隔离度值，并显示；将功率接收端上的第一磁环换成极性相反的第二磁环，并将隔离器组件连接在第二磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的插损值，并显示。本发明仅利用一台光回波损耗测试仪并加入两个极性相反的磁环即可测试出隔离器组件的隔离度值和插损值，不仅准确测试出了隔离器组件的性能，而且大大简化了测试的繁琐程度，提高了测试效率。

应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤A、将光纤跳线的APC端连接光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将光纤跳线的LC端连接隔离器组件，并启动光回波损耗测试仪；

步骤B、将光源输出端输出的光功率归零，并将隔离器组件连接在光回波损耗测试仪上的功率接收端上预装的用于制造出磁场环境的第一磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的隔离度值，并显示；

步骤C、将功率接收端上的第一磁环换成极性相反的第二磁环，并将隔离器组件连接在第二磁环上，光回波损耗测试仪自动计算出隔离器组件的插损值，并显示；

其中，所述步骤A具体包括：

步骤A1、预先将所述光纤跳线的APC端连接所述光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将所述光纤跳线的LC端连接所述隔离器组件；

步骤A2、启动所述光回波损耗测试仪，所述光回波损耗测试仪的光源输出端输出光；

步骤A3、光从所述光纤跳线的APC端进入所述光纤跳线，并经过所述光纤跳线的LC端进入所述隔离器组件；

所述第一磁环和第二磁环产生的磁场大小相等，方向相反，且所述第一磁环和第二磁环产生的磁场大小均大于等于3000高斯；

所述步骤A还包括：预先将所述隔离器组件中的偏振起偏器成45°放置。

2.根据权利要求1所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述光回波损耗测试仪的型号为A19508C型光回波损耗测试仪。

3.根据权利要求1所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述步骤A之前还包括：

步骤S、预先对所述光源输出端输出的光功率进行点检。

4.根据权利要求3所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述步骤S具体包括：

步骤S1、将所述光纤跳线的APC端连接所述光回波损耗测试仪上的光源输出端，并将所述光纤跳线的LC端连接所述光回波损耗测试仪上的功率接收端；

步骤S2、启动所述光回波损耗测试仪，光通过所述光纤跳线进行光纤传输，并将输出的光功率在所述光回波损耗测试仪进行显示；

步骤S3、通过输出的光功率判断所述光纤跳线及光回波损耗测试仪是否正常工作。

5.根据权利要求4所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：

步骤S31、当输出的光功率在预设的范围内，则说明所述光纤跳线和光回波损耗测试仪正常工作，则执行步骤A；

步骤S32、当输出的光功率不在预设的范围内，则重新将所述光纤跳线与所述光回波损耗测试仪连接并重新进行点检。

6.根据权利要求1所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述步骤B具体包括：

步骤B1、调节所述光回波损耗测试仪的参数，将输出的光功率调整成0dB输出；

步骤B2、预先将所述第一磁环安装在所述光回波损耗测试仪上的功率接收端上，并将所述隔离器组件连接所述第一磁环上；所述第一磁环用于阻止所述光通过所述隔离器组件；

步骤B3、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的隔离度值，并进行显示。

7.根据权利要求1所述的适用于光纤接口隔离器组件的测试方法，其特征在于，所述步骤C具体包括：

步骤C1、将所述功率接收端上的所述第一磁环换成所述第二磁环；

步骤C2、将所述隔离器组件连接在所述第二磁环上；所述第二磁环用于使所述光通过所述隔离器组件；

步骤C3、所述光回波损耗测试仪自动计算出所述隔离器组件的插损值，并进行显示。

8.一种基于权利要求1-7任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法的测试装置，其特征在于，包括：光回波损耗测试仪、光线跳线以及隔离器组件；所述光纤跳线的APC端与所述光回波损耗测试仪上的光源输出端连接，所述光纤跳线的LC端与所述隔离器组件连接；

所述光回波损耗测试仪的型号为A19508C型光回波损耗测试仪；所述光回波损耗测试仪上包括：光源输出端、功率接收端、自动计算模块以及显示屏；

所述隔离器组件包括：偏振起偏器、法拉第旋转片以及偏振检偏器；

所述测试装置采用权利要求1-7任一项所述适用于光纤接口隔离器组件的测试方法进行测试。

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