CN107621337A - 用于组合电器法兰盘六氟化硫检漏的包扎及计算方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,包括步骤有:第一步,对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎,具体包括(1)将由两侧板及脚板构成的多个三角形支架沿法兰盘周边粘结固定,(2)将壳体及法兰盘使用塑料薄膜包扎出弧面空腔、螺栓头部空腔及螺栓尾部空腔三个独立空腔;第二步,对组合电器法兰的六氟化硫进行初步检漏,具体包括(1)检漏取点部位,(2)检测方法,(3)漏点判断;第三步,对组合电器法兰的六氟化硫泄漏进行计算,分别得到法兰盘总体单位时间泄漏量F0=F1+F2+F3和总体年泄漏率本发明方法可判断出法兰接触的具体泄漏情况,提高包扎法检漏的准确性。
Description
技术领域
本发明属于六氟化硫检漏技术领域,特别是一种用于组合电器法兰盘六氟化硫检漏的包扎及计算方法。
背景技术
随着用电负荷的提高,高电压等级设备的应用越发普及,六氟化硫电气设备如组合电器等的应用也更加普遍。众所周知,六氟化硫电气设备中气体介质的绝缘与灭弧能力主要依赖于有足够的充气密度(压力)和气体的高纯度,设备中气体的泄露将导致气压降低,影响设备正常运行。泄露出的六氟化硫气体中电弧分解产物含有有毒杂质,对人体有害。六氟化硫气体本身温室效应是二氧化碳的近25000倍,排放到大气中将存在3400年。六氟化硫气体价格昂贵,一旦泄露应检查原因以于消除,避免浪费。所以六氟化硫检漏试验作为电气设备交接与运行监督的主要项目时时刻刻都在进行。
现阶段六氟化硫检漏分为定量与定性两种,其中定量检漏相比于定性检漏的检出限低接近2个数量级,是计算年泄漏率,判断设备密封性合格与否的必要检测手段。目前由于电压等级的不断提高,组合电器的体积越来越大,定量检漏中的扣罩法、挂瓶法等越发凸显局限性,局部包扎法由于其方法简单更经济实用被广大试验人员采用。然而局部包扎法给检测人员带来的主要问题体现在其包扎体积不易计算,法兰盘弧面缝隙处包扎空间过小等问题。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足,提出一种用于组合电器法兰盘六氟化硫检漏的包扎及计算方法。
本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:
一种用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,所述被包扎的连接法兰包括柱状壳体,两个柱状壳体的两端通过各自的法兰盘对接,对接的两个法兰盘由穿装在法兰盘周边的螺栓固定,本发明的方法包括步骤如下:
第一步,对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎
(1)三角形支架的制作及安置,三角形支架包括两个顶部对接成60°-65°的侧板在两个侧板的底端分别固装水平的脚板,将制作好的多个三角形支架沿连接法兰盘外侧周边匀距间隔进行粘结固定,
(2)对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎,首先将塑料薄膜的一侧通过气密胶带粘结固定在两个法兰盘左侧一周的柱状壳体上,然后将塑料薄膜经由三角形支架顶端横跨对接的两个法兰盘延伸至两个法兰盘右侧,再将塑料薄膜通过气密胶带粘结固定在右侧一周的柱状壳体上,由此构成环状的弧面空腔、螺栓头部空腔及螺栓尾部空腔,同时,为保证上述三个空腔的独立密闭性,在所述两个法兰盘的顶端外侧一周使用气密胶带将法兰盘与所述塑料薄膜内侧表面粘合;
第二步,对组合电器法兰的六氟化硫进行初步检漏
(1)检漏取点部位,所有支架处的三个空腔处均为检漏点位
(2)检测方法,戳破支架处附近塑料薄膜层将检漏仪探头深入空腔内进行测量,首先测量对接法兰盘最低端的三个空腔处,通过对底部的测量初步判断是否有漏气情况发生,如果有漏气情况发生,然后由最低端向两侧依次检测,记录检测数据;
(3)漏点判断,经初步断定存在漏气情况下,进行漏点判断,对每个支架附近的三个空腔进行检测,寻找检测数值较大的点位,为排除六氟化硫沉积底部的因素,在此点位水平镜像的另一点位进行检测,进而判断是否泄露,当检测的点位数值较大,并且水平镜像的另一点位检测数值相对较小,则该处附近存在漏点,然后针对该处附近的对接法兰盘缝隙,或附近的螺栓连接处仔细检测,找出具体泄漏部位;
第三步,对组合电器法兰的六氟化硫泄漏进行计算
检漏计算,设壳体直径为h,x1为对接两法兰盘的宽度,x2为螺栓头尾两空腔底部外侧角之间的宽度,y1为法兰盘顶端至壳体的高度,y2为三角形支架顶端至壳体的高度,气室内六氟化硫气体总量为Q,六氟化硫密度为ρ,包扎完成至测量间隔时间为Δt,以年计算的时间为t
(1)空腔体积,
螺栓头尾两空腔:V1=V2=πhy1(x1-x2)/4
弧面空腔:V3=πx1(y2-y1)(h+y1)/2
(2)单位时间泄漏量F0,假设每点测量含量为βi(μL/L),平均测量含量
则单个空腔单位时间泄漏量
法兰盘总体单位时间泄漏量F0=F1+F2+F3
(3)年泄漏率Fy
而且,所述三角形支架,选用质量轻,机械强度高的铝合金材料,并对表面进行抛光处理,三角形支架通过脚板由粘结强度高的气密胶带粘结固定在连接法兰盘外侧周边,而且为防止三角形支架顶端将塑料薄膜刺破,所述三角形支架顶端作圆角处理,圆角角度在210°-250°之间。
而且,所述匀距间隔粘结固定在连接法兰盘外侧周边的多个三角形支架具体为8-12个。
本发明的优点和积极效果是:
1、通过本发明包扎方法,可将法兰盘的弧面部分完全暴露在空腔中,不存在薄膜完全贴住弧面的情况,可以判断出法兰接触的缝隙是否存在泄漏情况,提高包扎法检漏的准确性。
2、通过本发明包扎方法,可以包扎出形状规则的环形空腔,进而可精确计算出空腔体积,根据公式可得出准确的年泄漏率。
3、通过本发明包扎方法,可以科学有效的取点测量六氟化硫含量,用定量分析仪分别测量8-12个支架处及其两侧空腔,经过计算可得出法兰盘平均泄露量,提高测量的精准度。
4、通过本发明包扎方法,可以在判定年泄漏率的基础上,确定具体泄露位置,可精确到法兰盘螺丝的头、尾和法兰盘缝隙三个泄露点位。
附图说明
图1是本发明方法中使用支架及支架安装结构图;
图2是本发明方法中支架的放大结构示意图;
图3是本发明方法中包扎的局部放大结构示意图;
图4是本发明方法中标注示意图;
具体实施方式
以下结合附图对本发明实例做进一步详述:需要强调的是,本发明所述的实施例是说明性的,而不是限定性的,因此本发明并不限于具体实施方式中所述的实施例,凡是由本领域技术人员根据本发明的技术方案得出的其它实施方式,同样属于本发明保护的范围。
一种用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,如图1所示,所述被包扎的连接法兰包括柱状壳体5,两个柱状壳体的两端通过各自的法兰盘2对接,对接的两个法兰盘由穿装在法兰盘周边的螺栓1固定,本发明的方法包括步骤如下:
第一步,对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎
(1)制作三角形支架3,如图1所示,将制作好的多个所述三角形支架沿连接法兰盘外侧周边匀距间隔进行粘结固定,其中,所述三角形支架,如图2所示,选用质量轻,机械强度高的铝合金材料,并对表面进行抛光处理,减小表面粗糙度,从而降低六氟化硫吸附率,三角形支架具体包括两个顶部对接成60°-65°的侧板7,在两个侧板的底端分别固装水平的脚板6,三角形支架通过脚板由粘结强度高的气密胶带粘结固定在连接法兰盘外侧周边;
而且,为防止三角形支架顶端将塑料薄膜刺破,所述三角形支架顶端作圆角处理,圆角角度在210°-250°之间。
在本发明的具体实施中,所述匀距间隔粘结固定在连接法兰盘外侧周边的多个三角形支架具体为8-12个。
(2)对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎,如图1或3所示,首先将塑料薄膜4的一侧通过气密胶带粘结固定在两个法兰盘左侧一周的柱状壳体上,然后将塑料薄膜经由三角形支架顶端横跨对接的两个法兰盘延伸至两个法兰盘右侧,再将塑料薄膜通过气密胶带粘结固定在右侧一周的柱状壳体上,由此构成环状被包裹内部的弧面空腔8、螺栓头部空腔9及螺栓尾部空腔10,同时,为保证上述三个空腔的独立密闭性,在所述两个法兰盘的顶端外侧一周使用气密胶带将法兰盘与所述塑料薄膜内侧表面粘合。
第二步,对组合电器法兰的六氟化硫进行初步检漏
(1)检漏取点部位,所有支架处的三个空腔处均为检漏点位
(2)检测方法,戳破支架处附近塑料薄膜层将检漏仪探头深入空腔内进行测量,首先测量对接法兰盘最低端的三个空腔处,由于六氟化硫密度接近空气的5倍,因此泄露的六氟化硫气体会聚集在空腔底部,通过对底部的测量初步判断是否有漏气情况发生,如果有漏气情况发生,然后由最低端向两侧依次检测,记录检测数据;
(3)漏点判断,经初步断定存在漏气情况下,进行漏点判断,对每个支架附近的三个空腔进行检测,寻找检测数值较大的点位,为排除六氟化硫沉积底部的因素,在此点位水平镜像的另一点位进行检测,进而判断是否泄露,当检测的点位数值较大,并且水平镜像的另一点位检测数值相对较小,则该处附近存在漏点,然后针对该处附近的对接法兰盘缝隙,或附近的螺栓连接处仔细检测,找出具体泄漏部位;
第三步,对组合电器法兰的六氟化硫泄漏进行计算
检漏计算,如图4所示,设壳体直径为h,x1为对接两法兰盘的宽度,x2为螺栓头尾两空腔底部外侧角之间的宽度,y1为法兰盘顶端至壳体的高度,y2为三角形支架顶端至壳体的高度,气室内六氟化硫气体总量为Q,六氟化硫密度为ρ,包扎完成至测量间隔时间为Δt,以年计算的时间为t
(1)空腔体积,
螺栓头尾两空腔:V1=V2=πhy1(x1-x2)/4
弧面空腔:V3=πx1(y2-y1)(h+y1)/2
(2)单位时间泄漏量F0
假设每点测量含量为βi(μL/L),平均测量含量
则单个空腔单位时间泄漏量
法兰盘总体单位时间泄漏量F0=F1+F2+F3
(3)年泄漏率Fy
Claims (3)
1.一种用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,所述被包扎的连接法兰包括柱状壳体,两个柱状壳体的两端通过各自的法兰盘对接,对接的两个法兰盘由穿装在法兰盘周边的螺栓固定,其特征在于:本发明的方法包括步骤如下:
第一步,对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎
(1)三角形支架的制作及安置,三角形支架包括两个顶部对接成60°-65°的侧板在两个侧板的底端分别固装水平的脚板,将制作好的多个三角形支架沿连接法兰盘外侧周边匀距间隔进行粘结固定,
(2)对连接的柱状壳体及连接法兰盘进行包扎,首先将塑料薄膜的一侧通过气密胶带粘结固定在两个法兰盘左侧一周的柱状壳体上,然后将塑料薄膜经由三角形支架顶端横跨对接的两个法兰盘延伸至两个法兰盘右侧,再将塑料薄膜通过气密胶带粘结固定在右侧一周的柱状壳体上,由此构成环状的弧面空腔、螺栓头部空腔及螺栓尾部空腔,同时,为保证上述三个空腔的独立密闭性,在所述两个法兰盘的顶端外侧一周使用气密胶带将法兰盘与所述塑料薄膜内侧表面粘合;
第二步,对组合电器法兰的六氟化硫进行初步检漏
(1)检漏取点部位,所有支架处的三个空腔处均为检漏点位
(2)检测方法,戳破支架处附近塑料薄膜层将检漏仪探头深入空腔内进行测量,首先测量对接法兰盘最低端的三个空腔处,通过对底部的测量初步判断是否有漏气情况发生,如果有漏气情况发生,然后由最低端向两侧依次检测,记录检测数据;
(3)漏点判断,经初步断定存在漏气情况下,进行漏点判断,对每个支架附近的三个空腔进行检测,寻找检测数值较大的点位,为排除六氟化硫沉积底部的因素,在此点位水平镜像的另一点位进行检测,进而判断是否泄露,当检测的点位数值较大,并且水平镜像的另一点位检测数值相对较小,则该处附近存在漏点,然后针对该处附近的对接法兰盘缝隙,或附近的螺栓连接处仔细检测,找出具体泄漏部位;
第三步,对组合电器法兰的六氟化硫泄漏进行计算
检漏计算,设壳体直径为h,x1为对接两法兰盘的宽度,x2为螺栓头尾两空腔底部外侧角之间的宽度,y1为法兰盘顶端至壳体的高度,y2为三角形支架顶端至壳体的高度,气室内六氟化硫气体总量为Q,六氟化硫密度为ρ,包扎完成至测量间隔时间为Δt,以年计算的时间为t
(1)空腔体积,
螺栓头尾两空腔:V1=V2=πhy1(x1-x2)/4
弧面空腔:V3=πx1(y2-y1)(h+y1)/2
(2)单位时间泄漏量F0,假设每点测量含量为βi(μL/L),平均测量含量
则单个空腔单位时间泄漏量
法兰盘总体单位时间泄漏量F0=F1+F2+F3
(3)年泄漏率Fy
<mrow>
<msub>
<mi>F</mi>
<mi>y</mi>
</msub>
<mo>=</mo>
<mfrac>
<mrow>
<msub>
<mi>F</mi>
<mn>0</mn>
</msub>
<mi>t</mi>
</mrow>
<mi>Q</mi>
</mfrac>
<mo>&times;</mo>
<mn>100</mn>
<mi>%</mi>
<mo>.</mo>
</mrow>
2.根据权利要求1所述的用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,其特征在于:所述三角形支架,选用质量轻,机械强度高的铝合金材料,并对表面进行抛光处理,三角形支架通过脚板由粘结强度高的气密胶带粘结固定在连接法兰盘外侧周边,而且为防止三角形支架顶端将塑料薄膜刺破,所述三角形支架顶端作圆角处理,圆角角度在210°-250°之间。
3.根据权利要求1或2所述的用于组合电器法兰六氟化硫检漏的包扎及计算方法,其特征在于:所述匀距间隔粘结固定在连接法兰盘外侧周边的多个三角形支架具体为8-12个。
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