CN107578168A - 一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备，涉及冷轧板带表面质量检测技术领域，所述方法包括：获取目标***的基础标识信息；将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。本发明提供的一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备，达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
Description
技术领域
本发明属于冷轧板带表面质量检测技术领域，特别涉及一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备。
背景技术
板带钢表面质量已成为了冷轧板带钢重要的评价指标，各种冷轧板带表面缺陷检测设备中的表面检测***，已成为冷轧带钢生产企业的标准配置。检测设备的准备周期的长短是制约高质量冷轧带钢产品生产、销售过程中的一个“瓶颈”，在很大程度上制约着各钢铁企业的发展。
表面质量检测***是用于检测带钢表面缺陷的可视化在线自动检测***，能够自动检出带钢表面缺陷，并对缺陷进行准确命名，同时为用户提供报警信息，提高质检工作的效率和质量。表面检测***缺陷库的建立是***能够有效、准确运行的基础，也是***启动过程中的关键环节。
但是，在现有技术中，由于存在目标***和源***不相适应的情景，就导致了无法实现将检测设备缺陷库快速的移植到不同的目标***的技术缺陷。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是无法实现将检测设备缺陷库快速的移植到不同的目标***。
为解决上述技术问题，依据本发明的一个方面，提供了一种用于缺陷库移植的方法，包括：获取目标***的基础标识信息；将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
进一步地，在所述将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配之后，所述方法还包括：若不匹配，则结束移植。
进一步地，所述将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应之后，所述方法还包括：若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
进一步地，所述基础标识信息包括：基础材质信息和基础生产工艺信息；所述标准标识信息包括：标准材质信息和标准生产工艺信息；所述将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配包括：将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比；若所述基础材质信息和所述标准材质信息相同，且所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息相同，则所述目标***和所述源***相匹配。
进一步地，所述将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比包括：若所述基础材质信息和所述标准材质信息不相同，和/或，所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息不相同，则所述目标***和所述源***不匹配。
进一步地，所述将所述源***的缺陷库移植到所述目标***之后，所述方法还包括：将所述源***的检测规则导入所述目标***中；将所述缺陷库的缺陷样本的缺陷名称与所述目标***的缺陷目录进行对比，判断所述检测规则和所述目标***是否相适应；若相适应，则对所述目标***进行本地自学习。
进一步地，所述将所述缺陷库的缺陷样本的缺陷名称与所述目标***的缺陷目录进行对比，判断所述检测规则和所述目标***是否相适应包括：若不相适应，则修改所述检测规则的规则内容，使所述规则内容与所述目标***相匹配后，所述目标***进行本地自学习。
进一步地，所述对所述目标***进行本地自学习之后，还包括：获得本地学习后的学习成绩A；将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比；其中，所述Y2≤所述Y1；若A＞Y1，则结束移植。
进一步地，所述将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比包括：若A≤Y2，则调整所述目标***的缺陷分类，使A＞Y1后，结束移植。
进一步地，所述Y1的取值范围是：65％≤Y1≤95％；所述Y2的取值范围是：65％≤Y2≤95％。
依据本发明的又一个方面，本发明还提供一种用于缺陷库移植的装置，所述装置包括：
基础标识获取模块，用于获取目标***的基础标识信息；判断匹配性模块，用于将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；产品类型信息获取模块，用于若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；判断适应性模块，用于将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；移植缺陷库模块，用于若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
进一步地，所述判断适应性模块还用于：若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
依据本发明的又一个方面，本发明还提供一种用于缺陷库移植的电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
依据本发明的又一个方面，本发明还提供一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
有益效果：
本发明提供一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备，由于将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种用于缺陷库移植的方法的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种用于缺陷库移植的装置的示意图；
图3为本发明实施例提供的一种用于缺陷库移植的电子设备的示意图；
图4为本发明实施例提供的一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质的示意图。
具体实施方式
本发明提供一种用于缺陷库移植的方法、装置及电子设备，由于将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围；其中本实施中所涉及的“和/或”关键词，表示和、或两种情况，换句话说，本发明实施例所提及的A和/或B，表示了A和B、A或B两种情况，描述了A与B所存在的三种状态，如A和/或B，表示：只包括A不包括B；只包括B不包括A；包括A与B。
实施例一
请参见图1，本发明实施例提供的一种用于缺陷库移植的方法，包括：
步骤S110,获取目标***的基础标识信息。所述基础标识信息包括：基础材质信息和基础生产工艺信息。
具体而言，目标***即是在生产企业中，需要植入缺陷库的板带钢表面检测***。
基础材质信息是指：上述目标***的检测对象的材质。
基础生产工艺信息是指：上述目标***的检测对象的生产工艺。
可以同时采集目标***的基础材质信息和基础生产工艺信息，将目标***的检测对象的材质信息和目标***的检测对象的生产工艺信息通过各类传感器等进行实时收集。
步骤S120,将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配。若不匹配，则结束移植。若匹配，则进入步骤S130。其中，所述标准标识信息包括：标准材质信息和标准生产工艺信息。
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比即是：将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比。若所述基础材质信息和所述标准材质信息相同，且所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息相同，则所述目标***和所述源***相匹配。若所述基础材质信息和所述标准材质信息不相同，和/或，所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息不相同，则所述目标***和所述源***不匹配。
具体而言，源***即是可以将需要移植的缺陷库植入到目标***，源***中具有此缺陷库。
标准材质信息是指：上述源***的检测对象的材质。
标准生产工艺信息是指：上述源***的检测对象的生产工艺。
在源***中预存有标准材质信息和标准生产工艺信息。即将源***的检测对象的材质信息和源***的检测对象的生产工艺信息，在进行缺陷库移植之前便存储在源***。
为了更详细的解释将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，和对比之后将出现目标***和源***是相匹配，或者目标***和源***不匹配的两种情况。现提供两种实施方式进行以下详细说明：
第一种实施方式，将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比之后，目标***和源***是相匹配。将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比，来判断所述目标***和所述源***是否匹配。
当目标***的基础材质信息和源***的标准材质信息相同，并且目标***的基础生产工艺信息和源***的标准生产工艺信息也相同时，则目标***和源***相匹配。此时，通过将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比后，可以判断出目标***的检测对象和源***的检测对象都具有相同的材质、相近或相同的生产工艺，所以具备使用源***在目标***中进行移植的条件，从而达到能向使用者反馈可以使用此源***对该目标***进行缺陷库的移植的技术效果。
第二种实施方式，将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比之后，目标***和源***不匹配。将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比，来判断所述目标***和所述源***是否匹配。
当所述基础材质信息和所述标准材质信息不相同，和/或，所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息不相同时，则所述目标***和所述源***不匹配。即第一种情况：所述基础材质信息和所述标准材质信息不相同，并且所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息不相同时；第二种情况：所述基础材质信息和所述标准材质信息不相同，或者所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息不相同时。当出现这两种情况中的任意一种时，则所述目标***和所述源***不匹配。当目标***和所述源***不匹配时，可以结束对目标***的缺陷库移植。并且，此时，可以判断出目标***的检测对象和源***的检测对象都不具有相同的材质、相近或相同的生产工艺，所以不具备使用源***在目标***中进行移植的条件，从而达到能向使用者反馈不能使用此源***对该目标***进行缺陷库的移植的技术效果。
步骤S130,若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息。
具体而言，目标***的目标产品类型信息可以是：目标***检测对象的类型。可以将目标***所检测的产品的类型信息通过各类传感器等进行实时收集。
步骤S140,将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应。
具体而言，源***的标准产品类型信息即是：源***检测对象的类型信息。标准产品类型信息可以预先存储在源***中，即在进行缺陷库移植之前，将标准产品类型信息存储在源***中。
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比即是：将目标***的目标产品类型信和源***的标准产品类型信息进行对比。通过判断目标***的目标产品类型信和源***的标准产品类型信息是否相同，来判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应。
如果目标***的目标产品类型信和源***的标准产品类型信息是相同，则所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应。如果目标***的目标产品类型信和源***的标准产品类型信息不相同，则所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息不适应。
步骤S150,若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
在将所述源***的缺陷库移植到所述目标***之后，将所述源***的检测规则导入所述目标***中，并且将所述缺陷库的缺陷样本的缺陷名称与所述目标***的缺陷目录进行对比，来判断所述检测规则和所述目标***是否相适应。
若所述检测规则和所述目标***相适应，则对所述目标***进行本地自学习；若所述检测规则和所述目标***不相适应，则修改所述检测规则的规则内容，使所述规则内容与所述目标***相匹配后，所述目标***进行本地自学习。
在所述目标***进行本地自学习之后，将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比。
在对比后，若A＞Y1，则结束移植；若A≤Y2，则通过调整所述目标***的缺陷分类，使A＞Y1后，结束移植。其中，所述Y2≤所述Y1，所述Y1的取值范围是：65％≤Y1≤95％，所述Y2的取值范围是：65％≤Y2≤95％，假设获得本地学习后的学习成绩A。
具体而言，通过步骤S140对所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应的判断。若判断结果是：标产品类型信息和标准产品类型信息相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***中。
若步骤S140判断的结果是：标产品类型信息和标准产品类型信息不适应，则对源***中缺陷库内的缺陷样本进行修正，通过对缺陷样本的修正，使修正后的缺陷库移植到所述目标***。
将所述源***的缺陷库移植到所述目标***之后，再将所述源***的检测规则导入所述目标***中。通过将缺陷库的缺陷样本的缺陷名称与目标***的缺陷目录进行对比，来判断移植到目标***中的检测规则和所述目标***是否相适应。即判断检测规则移植到目标***之后，该检测规则能否在目标***中应用。此时将出现目标***中的检测规则和所述目标***是相适应、目标***中的检测规则和所述目标***不适用这两种情况，现提供两个实施方式进行如下说明：
第一种实施方式，如果缺陷库的缺陷样本的缺陷名称在目标***的缺陷目录中，则移植到目标***中的检测规则和所述目标***是相适应。此时，所述目标***开始进行本地自学习，即对所述目标***进行自学习。
第二种实施方式，如果缺陷库的缺陷样本的缺陷名称不在目标***的缺陷目录中，则移植到目标***中的检测规则和所述目标***不适用。此时，通过修改移植到目标***中，检测规则的规则内容，使所述规则内容与所述目标***相匹配后，所述目标***开始进行本地自学习，即对所述目标***进行自学习。
在上述两种实施方式中，所述目标***开始进行本地自学习之后，将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比。即将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2分别进行对比，并且所述Y2≤所述Y1。
Y1的取值范围是：65％≤Y1≤95％。当Y1＜65％时，反映目标***自学习的正确率较低，此时，目标***缺陷库的建立将失去自身的作用，无法对目标进行缺陷检测。当Y1＝95％，在实际生产线中，95％的正确率已经达到了目标***正确率的极限。
Y2的取值范围是：65％≤Y2≤95％。当Y2＜65％时，反映目标***自学习的正确率较低，此时，目标***缺陷库的建立将失去自身的作用，无法对目标进行缺陷检测。当Y2＝95％，在实际生产线中，95％的正确率已经达到了目标***正确率的极限。
上述第一预期目标Y1和第二预期目标Y2都可以预先的存储在目标***或者源***中。Y1和Y2的取值可以不同，但需符合：Y2≤Y1。
为了对上述A与Y1、Y2分别进行对比进行更详细的解释，现提供两种实施方式进行以下详细说明：
第一种实施方式，当A＞Y1时，即目标***进行本地自学习之后，学习的成绩A大于第一预期目标Y1，这说明目标***自学习的正确率达到了第一预期目标，此时，可以结束对目标***进行缺陷库的移植。通过对目标***本地自学习，使移植到目标***中的缺陷库的缺陷样本和检测规则，都能与目标***有机地结合。从而使进行缺陷库移植后的目标***具备更高的稳定性的技术效果。
第二种实施方式，当A≤Y2时，可以通过调整所述目标***的缺陷分类，使A达到A＞Y1后，再结束对目标***进行缺陷库的移植。A≤Y2反映目标***自学习的正确率没有达到了第二预期目标，即自学习的正确率较低。通过调整所述目标***的缺陷分类，使目标***再次进入自学习，直到目标***的自学习的成绩A满足：A＞Y1时，即说明学习的成绩A大于第一预期目标Y1，这反映出目标***自学习的正确率达到了第一预期目标，此时，可以结束对目标***进行缺陷库的移植。通过对目标***本地自学习，使移植到目标***中的缺陷库的缺陷样本和检测规则，都能与目标***有机地结合。从而使进行缺陷库移植后的目标***具备更高的稳定性的技术效果。
本发明提供一种用于缺陷库移植的方法，由于将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
基于同一发明构思，本申请提供了与实施例一所对应的，一种用于缺陷库移植的装置的实施例，详见实施例二。
实施例二
如图2所示，本发明实施例二提供了一种用于缺陷库移植的装置，所述装置包括：
基础标识获取模块210，用于获取目标***的基础标识信息；
判断匹配性模块220，用于将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
产品类型信息获取模块230，用于若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
判断适应性模块240，用于将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
其中，上述判断适应性模块240还用于：若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
移植缺陷库模块250，用于若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
本发明提供一种用于缺陷库移植的装置，由于通过判断匹配性模块220，将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续通过判断适应性模块240，来对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
基于同一发明构思，本申请提供了与实施例一所对应的，一种用于缺陷库移植的电子设备的实施例，详见实施例三。
实施例三
如图3所示，本发明实施例三提供了一种用于缺陷库移植的电子设备，包括存储器310、处理器320及存储在存储器310上并可在处理器320上运行的计算机程序311，所述处理器320执行所述程序时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
本发明提供一种用于缺陷库移植的电子设备，由于将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
基于同一发明构思，本申请提供了与实施例一所对应的，一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质400的实施例，详见实施例四。
实施例四
如图4所示，本发明实施例四提供了一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质400，其上存储有计算机程序411，该程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
本发明提供一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质400，由于将所获取的目标***的基础标识信息，和源***的标准标识信息进行对比后，所述目标***和所述源***是相匹配，即目标***可以用于对源***进行缺陷库的移植。所以继续对比目标产品类型信息和源***的标准产品类型信息，如果所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是相适应，则可以将所述源***中的缺陷库移植到所述目标***中。因为先判断出上述目标***可以应用于源***，然后判断出源***中的缺陷库能够在目标***中进行移植，最后将源***中的缺陷库移植到目标***。所以在不同的目标***中，能及时判断出源***和目标***是否相适应，并且在目标***和源***相适应时，能及时将源***中的缺陷库移植到目标***中，从而达到了将检测设备缺陷库快速的移植到不同目标***的技术效果。
在上述实施过程中，上述计算机程序411被处理器执行时，可以实现实施例一中任一实施方式。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(***)、和计算机程序411产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种用于缺陷库移植的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取目标***的基础标识信息；
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应之后，所述方法还包括：
若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；
将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于：
所述基础标识信息包括：基础材质信息和基础生产工艺信息；
所述标准标识信息包括：标准材质信息和标准生产工艺信息；
所述将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配包括：
将所述基础材质信息和所述标准材质信息，以及所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息分别进行对比；
若所述基础材质信息和所述标准材质信息相同，且所述基础生产工艺信息和所述标准生产工艺信息相同，则所述目标***和所述源***相匹配。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述源***的缺陷库移植到所述目标***之后，所述方法还包括：
将所述源***的检测规则导入所述目标***中；
将所述缺陷库的缺陷样本的缺陷名称与所述目标***的缺陷目录进行对比，判断所述检测规则和所述目标***是否相适应；
若相适应，则对所述目标***进行本地自学习。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述目标***进行本地自学习之后，还包括：
获得本地学习后的学习成绩A；
将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比；其中，所述Y2≤所述Y1；
若A＞Y1，则结束移植。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述学习成绩A，与预设的所述目标***的第一预期目标Y1和第二预期目标Y2进行对比包括：
若A≤Y2，则调整所述目标***的缺陷分类，使A＞Y1后，结束移植。
7.一种用于缺陷库移植的装置，其特征在于，所述装置包括：
基础标识获取模块，用于获取目标***的基础标识信息；
判断匹配性模块，用于将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
产品类型信息获取模块，用于若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
判断适应性模块，用于将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
移植缺陷库模块，用于若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：
所述判断适应性模块还用于：若不相适应，则对所述源***中所述缺陷库内的缺陷样本进行修正；将修正后的所述缺陷库移植到所述目标***。
9.一种用于缺陷库移植的电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
10.一种用于缺陷库移植的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取目标***的基础标识信息；
将所述基础标识信息和源***的标准标识信息进行对比，判断所述目标***和所述源***是否匹配；
若匹配，则获取所述目标***的目标产品类型信息；
将所述目标产品类型信息和所述源***的标准产品类型信息进行对比，判断所述目标产品类型信息和所述标准产品类型信息是否相适应；
若相适应，则将所述源***的缺陷库移植到所述目标***。
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|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| CN108037739A (zh) * | 2017-11-09 | 2018-05-15 | 广州兴森快捷电路科技有限公司 | Pcb产品的过程管控方法和*** |
| CN113435759A (zh) * | 2021-07-01 | 2021-09-24 | 贵州电网有限责任公司 | 一种基于深度学习的一次设备风险智能评估方法 |
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| US3648349A (en) * | 1968-06-24 | 1972-03-14 | Georges Schaumburg | Method for treating a hot-rolled metal body and the like |
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2017
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