CN107505113A - 一种冲击测试仪 - Google Patents

一种冲击测试仪 Download PDF

Info

Publication number
CN107505113A
CN107505113A CN201710761889.9A CN201710761889A CN107505113A CN 107505113 A CN107505113 A CN 107505113A CN 201710761889 A CN201710761889 A CN 201710761889A CN 107505113 A CN107505113 A CN 107505113A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pin
resistance
amplifier
connects
trigger
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710761889.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107505113B (zh
Inventor
杜寿余
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yangzhou Yun Sheng Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Yangzhou Yun Sheng Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yangzhou Yun Sheng Electronic Technology Co Ltd filed Critical Yangzhou Yun Sheng Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN201710761889.9A priority Critical patent/CN107505113B/zh
Publication of CN107505113A publication Critical patent/CN107505113A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107505113B publication Critical patent/CN107505113B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
    • G01M7/08—Shock-testing
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
    • H03K5/24—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

一种冲击测试仪。涉及一种仪器仪表，尤其涉及一种冲击测试仪。提供了一种数值显示稳定精确的冲击测试仪。包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。本发明中在采用了双峰值保持电路和阈值比较电路后，只有达到峰值的一定比例时，脉冲峰值和脉宽数据才能得到更新，有效地抑制了次波，脉冲峰值和脉宽数据稳定、精确，并且主波的峰值和脉宽能得到自动更新。

Description

一种冲击测试仪
技术领域
本发明涉及一种仪器仪表，尤其涉及一种冲击测试仪。
背景技术
许多设备在出厂之前需要进行冲击测试，也就是将产品放置在冲击台上进行冲击试验，并记录冲击试验过程中的相关参数，原来的冲击测量仪在测量脉冲的峰值、宽度时，没有采用双峰值保持电路，也没有采用阈值比较电路，不能抑制次波，从而脉冲峰值显示和脉宽显示跳动，不稳定，不精确。
国家知识产权局2016-1-27公开一项发明专利申请（CN 105277305 A，定量测量低冲击功的冲击试验装置）公开了包括机架，冲击块体，释放装置和测速***；所述机架包括导轨，安放试样的支撑卡槽，所述支撑卡槽位于机架正中间；所述冲击块体设置在导轨上并能滑动；所述释放装置包含电磁铁吸盘；所述测速***为两个对称放置的激光测速仪，高度低于试样支撑卡槽，与冲击块体凹槽平齐。它主要解决了此类仪器脆性材料冲击功不易测，造价高等问题，从而提供了一种廉价的简易、实用试验装置。它采用自由落体冲击，测速仪精确测速计算冲击功，并以数百元的造价优势即可替代造价数万元一台传统的落球或摆锤冲击试验机。并未针对冲击波的显示电路做出改进，在测量过程中仍然存在显示不稳定不精确的问题。
发明内容
本发明针对以上问题，提供了一种数值显示稳定精确的冲击测试仪。
本发明的技术方案是：包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；
所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。
所述次脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B；
所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7A的引脚三接地；
所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30，所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连，所述反向放大器N7B的引脚五接地，所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31；
所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七，所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b，所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33，所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34，所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二，所述电阻R35的另一端接地，所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二，所述比较器R34的另一端接正电源；
所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一，所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36，所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二级管D10，所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一，所述二极管D10的阳极接地；
所述双D触发器N9B的引脚十二连接双D触发器N9B的引脚十，所述双D触发器的引脚九连接单稳态触发器N11B的引脚十一；
所述单稳态触发器N11B的引脚十五和引脚十二分别接地，所述触发器的引脚十五和引脚十四之间设有电容C6，所述触发器N11B的引脚十四连接电阻R39后连接正电源，所述触发器N11B的引脚十三连接正电源，所述触发器N11B的引脚九接数码管数字显示器。
所述脉宽定义电路包括反向放大器N6A和比较器N6B，反向放大器N6A的引脚二上设有电阻R23，反向放大器N6A的引脚二连接反向放大器N6A的引脚一，反向放大器N6A的引脚三接地，反向放大器N6A的引脚二和反向放大器N6A的引脚一之间设有电阻R24，反向放大器N6A的引脚一连接反向放大器N6B的引脚六，反向放大器N6A的引脚一和比较器N6B的引脚六之间设有电阻R25；
比较器N6B的引脚六分别连接电阻R27和电阻R26，所述比较器N6B的引脚五接地，电阻R27连接电位器RS2，所述电位器RS2的一端接正电源，所述电位器RS2的另一端接负电源，所述电阻R26接峰值保持电路V2P；
输入信号VIN经由电阻R23与所述反向放大器N6A的引脚二相连，峰值保持电路V2P经过电阻R26所述比较器N6B的引脚六相连。这部分电路的输出为VIN-V2P/10；
所述比较器N6B的引脚七分别连接双D触发器N9B的引脚十三和单稳态触发器N11A的引脚四。
所述阈值比较电路包括加法器N5A和比较器N5B，加法器N5A的引脚一连接加法器N5A的引脚二，加法器N5A的引脚一和加法器N5A的引脚二之间设有电阻R17，加法器N5A的引脚一连接比较器N5B的引脚五，加法器N5A的引脚一和比较器N5B的引脚五之间设有电阻R18,。加法器N5A的引脚二经由电阻R16与峰值保持器电路的V2P相连，加法器N5A的引脚三经由电阻R15与峰值保持电路的V1P相连；
比较器N5B的引脚五连接比较器N5B的引脚七，比较器N5B的引脚五和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R19，比较器N5B的引脚六分别接电阻R20和电阻R21，所述电阻R21接地，所述电阻R20连接电位器RS1，电位器RS1的一端接正电源，电位器RS1的另一端接负电源；
比较器N5B的引脚七接次波抑制电路，比较器N5B的引脚七和次波抑制电路之间设有电阻R22；
所述次波抑制电路包括单稳态触发器N11A和单稳态触发器N10B，触发器N11A的引脚一接地，触发器N11A的引脚二接正电源，触发器N 11A的引脚一和触发器N 11A的引脚二之间设有电容C5，触发器N11A的引脚二和正电源之间设有电阻R38，触发器N11 A的引脚四连接比较器N6B的引脚七，触发器N11A的引脚三接正电源，触发器N11A的引脚五与引脚三连接，触发器N11A的引脚六连接峰值保持电路；
单稳态触发器N10B的引脚十四接正电源，触发器N10B的引脚十四和正电源之间设有电阻R37，触发器N10B的引脚十五接地，触发器N10B的引脚十四和触发器N10B的引脚十五之间设电容C3，触发器N10B的引脚十二连接比较器N5B的引脚七，触发器N10B的引脚十二和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R22，电阻R22和比较器N5B的引脚七之间设有二级管D9，二极管D 9的阳极接地，触发器N10B的引脚十一和触发器N10B的引脚十三连接，触发器N10B的引脚十三接正电源，触发器N10B的引脚十接峰值保持电路。
所述峰值保持电路包括运放N1~N4，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六连接，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六之间设有二级管D2，运放N1的引脚二和运放N2的引脚二之间设有电阻R1，运放N1的引脚六连接二级管D3和晶体管D1，晶体管D1正极经由电阻R2与N2的引脚六相连，晶体管D1阴极连接比较器N2的引脚三；
运放N2的引脚三和晶体管D1阴极之间设有电阻R3，运放N2的引脚六连接运放N2的引脚二；
晶体管D1阴极依次连接电阻R4和电阻R5，电阻R5接三极管D4的集电极，三极管D4的发射极接地，三极管D4的基极分别接电阻R6和电阻R7，电阻R7接地，电阻R6接触发器N11A的引脚六，电阻R4和电阻R5之间连接电容C1，电容C1接地；
运放N2的引脚六接运放N3的引脚三，运放N3的引脚二和运放N3的引脚六连接，运放N3的引脚二和运放N3的引脚六之间设有二级管D6，运放N3的引脚二和运放N4的引脚二之间设有电阻R8，运放N3的引脚六连接二级管D7和二极管D6，二极管D7的阳极和电阻R8之间设电阻R9；
运放N4的引脚三连接电阻R10，电阻R10与二极管D5的阴极相连，并通过电阻R11与电容C2组成峰值保持电路。电阻R12连接三极管D6的集电极，三级管D6的发射极接地，三极管D6的基极分别连接电阻R13和电阻R14，电阻R14接地，电阻R13连接触发器N10B的引脚十，电阻R11和电阻R12之间连接电容C2，电容C2接地；
运放N4的引脚二经由电阻R16连接运放N5A的引脚二，运放N2的引脚二经由电阻R15连接运放N5A的引脚三，运放N4的引脚六接电压表。
所述数码管数字显示器包括BCD码计数器N13B、非门N12A、非门N12F和七段码译码器N15，BCD码计数器N13B的引脚十一~引脚十四一一对应连接七段码译码器N15的引脚七、引脚一、引脚二和引脚六，N13B的引脚十分别连接非门N12A的引脚一、双D触发器N9B的引脚十三和比较器N6B的引脚七，触发器N13B的引脚十五连接非门N12F的引脚十二；
非门N12F的引脚十三分别连接电阻R40和电容C7，电阻R40接正电源，电容C7接非门N12A的引脚二；
七段码译码器N15的引脚三与引脚四相连并接正电源，七段码译码器N15的引脚五接单稳态触发器N11B的引脚九， N15的引脚九~引脚十五为数字输出显示。
所述数码管数字显示器上设有振荡电路，所述振荡电路连接BCD码计数器N13B的引脚九，所述振荡电路包括非门N12E和非门N12D，非门N12E的引脚十连接非门N12D的引脚九，BCD码计数器N13B的引脚九依次连接电阻R41和电位器RS3，所述电位器RS3的一端连接非门N12E的引脚十一，所述电位器的另一端连接电阻R41，非门N12E的引脚十一和电位器之间设有电阻R42，电阻R42分别连接电位器RS3接非门N12D的引脚八，电阻R42和非门N12D的引脚八之间设有电容C10。
本发明中在采用了双峰值保持电路和阈值比较电路后，只有达到峰值的一定比例时，脉冲峰值和脉宽数据才能得到更新，有效地抑制了次波，脉冲峰值和脉宽数据稳定、精确，并且主波的峰值和脉宽能得到自动更新。
附图说明
图1是本发明的电路图，
图2是本发明脉宽抑制电路电路图，
图3是本发明脉宽定义电路电路图，
图4是本发明阈值比较电路电路图，
图5是本发明次波抑制电路电路图，
图6是本发明峰值保持电路电路图，
图7是本发明数码管数字显示器的电路图，
图8是本发明振荡器的电路图。
具体实施方式
本发明如图1-8所示，包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；
所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。
所述脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B；
所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7A的引脚三接地；
所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30，所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连，所述反向放大器N7B的引脚五接地，所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31；
所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七，所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b，所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33，所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34，所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二，所述电阻R35的另一端接地，所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二，所述比较器R34的另一端接正电源；
所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一，所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36，所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二级管D10，所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一，所述二极管D10的阳极接地；
所述双D触发器N9B的引脚十二连接双D触发器N9B的引脚十，所述双D触发器的引脚九连接单稳态触发器N11B的引脚十一；
所述单稳态触发器N11B的引脚十五和引脚十二分别接地，所述触发器的引脚十五和引脚十四之间设有电容C6，所述触发器N11B的引脚十四连接电阻R39后连接正电源，所述触发器N11B的引脚十三连接正电源，所述触发器N11B的引脚九接数码管数字显示器。
所述脉宽定义电路包括反向放大器N6A和比较器N6B，反向放大器N6A的引脚二上设有电阻R23，反向放大器N6A的引脚二连接反向放大器N6A的引脚一，反向放大器N6A的引脚三接地，反向放大器N6A的引脚二和反向放大器N6A的引脚一之间设有电阻R24，反向放大器N6A的引脚一连接反向放大器N6B的引脚六，反向放大器N6A的引脚一和比较器N6B的引脚六之间设有电阻R25；
比较器N6B的引脚六分别连接电阻R27和电阻R26，所述比较器N6B的引脚五接地，电阻R27连接电位器RS2，所述电位器RS2的一端接正电源，所述电位器RS2的另一端接负电源，所述电阻R26接峰值保持电路V2P；
输入信号VIN经由电阻R23与所述反向放大器N6A的引脚二相连，峰值保持电路V2P经过电阻R26所述比较器N6B的引脚六相连。这部分电路的输出为VIN-V2P/10，也就是脉宽定义电路；
所述比较器N6B的引脚七分别连接双D触发器N9B的引脚十三和单稳态触发器N11A的引脚四；
所述阈值比较电路包括加法器N5A和比较器N5B，加法器N5A的引脚一的输出为4*V1P-3*V2P,比较器N5B为过零比较器，电位器RS1调整比较器的零点。当V1P＞3/4V2P时，比较器V5B引脚七产生正脉冲。加法器N5A的引脚一连接加法器N5A的引脚二，加法器N5A的引脚一和加法器N5A的引脚二之间设有电阻R17，加法器N5A的引脚一连接比较器N5B的引脚五，加法器N5A的引脚一和比较器N5B的引脚五之间设有电阻R18,。加法器N5A的引脚二经由电阻R16与峰值保持器V2P相连，引脚三经由电阻R15与峰值保持电路V1P相连；
比较器N5B的引脚五连接比较器N5B的引脚七，比较器N5B的引脚五和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R19，比较器N5B的引脚六分别接电阻R20和电阻R21，所述电阻R21接地，所述电阻R20连接电位器RS1，电位器RS1的一端接正电源，电位器RS1的另一端接负电源；
比较器N5B的引脚七接次波抑制电路，比较器N5B的引脚七和次波抑制电路之间设有电阻R22；
所述次波抑制电路包括单稳态触发器N11A和单稳态触发器N10B，触发器N11A的引脚一接地，触发器N11A的引脚二接正电源，触发器N 11A的引脚一和触发器N 11A的引脚二之间设有电容C2，触发器N11A的引脚二和正电源之间设有电阻R38，触发器N11 A的引脚四连接比较器N6B的引脚七，触发器N11A的引脚三接正电源，触发器N11A的引脚五与引脚三连接，触发器N11A的引脚六连接峰值保持电路V1P的复位电路；
单稳态触发器N10B的引脚十四接正电源，触发器N10B的引脚十四和正电源之间设有电阻R37，触发器N10B的引脚十五接地，触发器N10B的引脚十四和触发器N10B的引脚十五之间设电容C3，触发器N10B的引脚十二连接比较器N5B的引脚七，触发器N10B的引脚十二和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R22，电阻R22和比较器N5B的引脚七之间设有二级管D9，二极管D 9的阳极接地，触发器N10B的引脚十一和触发器N10B的引脚十三连接，触发器N10B的引脚十三接正电源，触发器N10B的引脚十接峰值保持电路V2P的复位电路；
所述峰值保持电路包括运放N1~N4，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六连接，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六之间设有二级管D2，运放N1的引脚二和运放N2的引脚二之间设有电阻R1，运放N1的引脚六连接二级管D3和晶体管D1，晶体管D1正极经由电阻R2与N2的引脚六相连，晶体管D1阴极连接比较器N2的引脚三；
运放N2的引脚三和晶体管D1阴极之间设有电阻R3，运放N2的引脚六连接运放N2的引脚二；
晶体管D1阴极依次连接电阻R4和电阻R5，电阻R5接三极管D4的集电极，三极管D4的发射极接地，三极管D4的基极分别接电阻R6和电阻R7，电阻R7接地，电阻R6接触发器N11A的引脚六，电阻R4和电阻R5之间连接电容C1，电容C1接地，这是峰值保持电路V1P的复位电路；
运放N2的引脚六接运放N3的引脚三，也就是峰值保持电路V1P的输出接峰值保持电路V2P的输入。运放N3的引脚二和运放N3的引脚六连接，运放N3的引脚二和运放N3的引脚六之间设有二级管D6，运放N3的引脚二和运放N4的引脚二之间设有电阻R8，运放N3的引脚六连接二级管D7和二极管D6，二极管D7的阳极和电阻R8之间设电阻R9；
运放N4的引脚三连接电阻R10，电阻R10与二极管D5的阴极相连，并通过电阻R11与电容C2组成峰值保持电路。电阻R12连接三极管D6的集电极，三级管D6的发射极接地，三极管D6的基极分别连接电阻R13和电阻R14，电阻R14接地，电阻R13连接触发器N10B的引脚十，电阻R11和电阻R12之间连接电容C2，电容C2接地，这部分就是峰值保持电路的复位电路；
运放N4的引脚二经由电阻R16连接运放N5A的引脚二，运放N2的引脚二经由电阻R15连接运放N5A的引脚三，构成减法器。运放N4的引脚六接电压表。
所述数码管数字显示器包括BCD码计数器N13B、非门N12A、非门N12F和七段码译码器N15，BCD码计数器N13B的引脚十一~引脚十四一一对应连接七段码译码器N15的引脚七、引脚一、引脚二和引脚六，N13B的引脚十分别连接非门N12A的引脚一、双D触发器N9B的引脚十三和比较器N6B的引脚七，触发器N13B的引脚十五连接非门N12F的引脚十二；
非门N12F的引脚十三分别连接电阻R40和电容C7，电阻R40接正电源，电容C7接非门N12A的引脚二，这个部分作为BCD码计数器N13B的复位电路；
七段码译码器N15的引脚三与引脚四相连并接正电源，N15的引脚五接单稳态触发器N11B的引脚九，作为译码器的锁存信号，N15的引脚九~引脚十五为数字输出显示。
所述数码管数字显示器上设有振荡电路，所述振荡电路连接BCD码计数器N13B的引脚九，作为BCD码计数器N13B的计数输入，所述振荡电路包括非门N12E和非门N12D，非门N12E的引脚十连接非门N12D的引脚九，BCD码计数器N13B的引脚九依次连接电阻R41和电位器RS3，所述电位器RS3的一端连接非门N12E的引脚十一，所述电位器的另一端连接电阻R41，非门N12E的引脚十一和电位器之间设有电阻R42，电阻R42分别连接电位器RS3接非门N12D的引脚八，电阻R42和非门N12D的引脚八之间设有电容C10。
图中V1P（T1点）为信号VIN（T3点）的峰值保持电路输出，V2P（T2点）为V1P的峰值保持电路输出，V2P送仪器前面板峰值显示。
N5A运放的输出为4*V1P-3*V2P，N5B为过零比较器。当V1P大于3/4V2P时，N5B运放产生正脉冲信号，该脉冲信号送N10B单稳触发器。N10B单稳触发器10脚（T7）产生的正脉冲信号给V2P复位电路，从而新的峰值数据进入V2P峰值电路并显示。这样既保证小波信号不能进入峰值电路，又能保证接近峰值的信号能够被采集到（因为碰撞台、冲击台的信号有波动）。
N6B运放（T5）的输出（过零比较器）为VIN-V2P/10，这个信号即为主波脉冲的脉宽，当VIN大于V2P/10时，T5点产生正脉冲信号。T5信号送N11A单稳触发器，N11A单稳触发器6脚输出送V1P复位电路。T5信号一方面送N13B计数器进行脉宽测量，同时送N12A、N12F非门，产生微分信号送计数器复位端。T12为100KHz振荡信号，用来测量脉宽。
VIN送N7A、N7B运放，T6点的信号为VIN-0.82*V2P。当VIN大于0.82V2P时，N8过零比较器产生正脉冲信号。N9B为74HC74双D触发器，T5（脉宽）信号接N9B的复位端。当VIN大于0.82V2P时（主波有效、次波去除），N9B的9脚输出端产生一与脉宽相同的波形。
T9信号送N11B单稳触发器，该触发器为负沿触发。当T9处于下降沿时，N11B 9脚输出产生一个负脉冲输出T10。T10送N15 CD4511
（BCD码七段译码器）的锁存端，使得计数器的数字（脉宽值）被采集并锁存，并送前面板脉冲显示。采用双峰值电路，对次波进行去除，并自动显示碰撞台、冲击台产生的信号主波峰值、脉宽，并且峰值、脉宽值不受次波影响。

Claims (8)

1.一种冲击测试仪，包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，其特征在于，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；
所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。
2.根据权利要求1所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述次脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B；
所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7A的引脚三接地；
所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30，所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连，所述反向放大器N7B的引脚五接地，所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31；
所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七，所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b，所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33，所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34，所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二，所述电阻R35的另一端接地，所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二，所述比较器R34的另一端接正电源；
所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一，所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36，所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二级管D10，所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一，所述二极管D10的阳极接地；
所述双D触发器N9B的引脚十二连接双D触发器N9B的引脚十，所述双D触发器的引脚九连接单稳态触发器N11B的引脚十一；
所述单稳态触发器N11B的引脚十五和引脚十二分别接地，所述触发器的引脚十五和引脚十四之间设有电容C6，所述触发器N11B的引脚十四连接电阻R39后连接正电源，所述触发器N11B的引脚十三连接正电源，所述触发器N11B的引脚九接数码管数字显示器。
3.根据权利要求2所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述脉宽定义电路包括反向放大器N6A和比较器N6B，反向放大器N6A的引脚二上设有电阻R23，反向放大器N6A的引脚二连接反向放大器N6A的引脚一，反向放大器N6A的引脚三接地，反向放大器N6A的引脚二和反向放大器N6A的引脚一之间设有电阻R24，反向放大器N6A的引脚一连接反向放大器N6B的引脚六，反向放大器N6A的引脚一和比较器N6B的引脚六之间设有电阻R25；
比较器N6B的引脚六分别连接电阻R27和电阻R26，所述比较器N6B的引脚五接地，电阻R27连接电位器RS2，所述电位器RS2的一端接正电源，所述电位器RS2的另一端接负电源，所述电阻R26接峰值保持电路V2P；
输入信号VIN经由电阻R23与所述反向放大器N6A的引脚二相连，峰值保持电路V2P经过电阻R26所述比较器N6B的引脚六相连，这部分电路的输出为VIN-V2P/10；
所述比较器N6B的引脚七分别连接双D触发器N9B的引脚十三和单稳态触发器N11A的引脚四。
4.根据权利要求3所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述阈值比较电路包括加法器N5A和比较器N5B，加法器N5A的引脚一连接加法器N5A的引脚二，加法器N5A的引脚一和加法器N5A的引脚二之间设有电阻R17，加法器N5A的引脚一连接比较器N5B的引脚五，加法器N5A的引脚一和比较器N5B的引脚五之间设有电阻R18，加法器N5A的引脚二经由电阻R16与峰值保持器电路的V2P相连，加法器N5A的引脚三经由电阻R15与峰值保持电路的V1P相连；
比较器N5B的引脚五连接比较器N5B的引脚七，比较器N5B的引脚五和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R19，比较器N5B的引脚六分别接电阻R20和电阻R21，所述电阻R21接地，所述电阻R20连接电位器RS1，电位器RS1的一端接正电源，电位器RS1的另一端接负电源；
比较器N5B的引脚七接次波抑制电路，比较器N5B的引脚七和次波抑制电路之间设有电阻R22。
5.根据权利要求4所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述次波抑制电路包括单稳态触发器N11A和单稳态触发器N10B，触发器N11A的引脚一接地，触发器N11A的引脚二接正电源，触发器N 11A的引脚一和触发器N 11A的引脚二之间设有电容C5，触发器N11A的引脚二和正电源之间设有电阻R38，触发器N11 A的引脚四连接比较器N6B的引脚七，触发器N11A的引脚三接正电源，触发器N11A的引脚五与引脚三连接，触发器N11A的引脚六连接峰值保持电路；
单稳态触发器N10B的引脚十四接正电源，触发器N10B的引脚十四和正电源之间设有电阻R37，触发器N10B的引脚十五接地，触发器N10B的引脚十四和触发器N10B的引脚十五之间设电容C3，触发器N10B的引脚十二连接比较器N5B的引脚七，触发器N10B的引脚十二和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R22，电阻R22和比较器N5B的引脚七之间设有二级管D9，二极管D 9的阳极接地，触发器N10B的引脚十一和触发器N10B的引脚十三连接，触发器N10B的引脚十三接正电源，触发器N10B的引脚十接峰值保持电路。
6.根据权利要求5所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述峰值保持电路包括运放N1~N4，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六连接，运放N1的引脚二和运放N1的引脚六之间设有二级管D2，运放N1的引脚二和运放N2的引脚二之间设有电阻R1，运放N1的引脚六连接二级管D3和晶体管D1，晶体管D1正极经由电阻R2与N2的引脚六相连，晶体管D1阴极连接比较器N2的引脚三；
运放N2的引脚三和晶体管D1阴极之间设有电阻R3，运放N2的引脚六连接运放N2的引脚二；
晶体管D1阴极依次连接电阻R4和电阻R5，电阻R5接三极管D4的集电极，三极管D4的发射极接地，三极管D4的基极分别接电阻R6和电阻R7，电阻R7接地，电阻R6接触发器N11A的引脚六，电阻R4和电阻R5之间连接电容C1，电容C1接地；
运放N2的引脚六接运放N3的引脚三，运放N3的引脚二和运放N3的引脚六连接，运放N3的引脚二和运放N3的引脚六之间设有二级管D6，运放N3的引脚二和运放N4的引脚二之间设有电阻R8，运放N3的引脚六连接二级管D7和二极管D6，二极管D7的阳极和电阻R8之间设电阻R9；
运放N4的引脚三连接电阻R10，电阻R10与二极管D5的阴极相连，并通过电阻R11与电容C2组成峰值保持电路；
电阻R12连接三极管D6的集电极，三级管D6的发射极接地，三极管D6的基极分别连接电阻R13和电阻R14，电阻R14接地，电阻R13连接触发器N10B的引脚十，电阻R11和电阻R12之间连接电容C2，电容C2接地；
运放N4的引脚二经由电阻R16连接运放N5A的引脚二，运放N2的引脚二经由电阻R15连接运放N5A的引脚三，运放N4的引脚六接电压表。
7.根据权利要求6所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述数码管数字显示器包括BCD码计数器N13B、非门N12A、非门N12F和七段码译码器N15，BCD码计数器N13B的引脚十一~引脚十四一一对应连接七段码译码器N15的引脚七、引脚一、引脚二和引脚六，N13B的引脚十分别连接非门N12A的引脚一、双D触发器N9B的引脚十三和比较器N6B的引脚七，触发器N13B的引脚十五连接非门N12F的引脚十二；
非门N12F的引脚十三分别连接电阻R40和电容C7，电阻R40接正电源，电容C7接非门N12A的引脚二；
七段码译码器N15的引脚三与引脚四相连并接正电源，七段码译码器N15的引脚五接单稳态触发器N11B的引脚九， N15的引脚九~引脚十五为数字输出显示。
8.根据权利要求7所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述数码管数字显示器上设有振荡电路，所述振荡电路连接BCD码计数器N13B的引脚九，所述振荡电路包括非门N12E和非门N12D，非门N12E的引脚十连接非门N12D的引脚九，BCD码计数器N13B的引脚九依次连接电阻R41和电位器RS3，所述电位器RS3的一端连接非门N12E的引脚十一，所述电位器的另一端连接电阻R41，非门N12E的引脚十一和电位器之间设有电阻R42，电阻R42分别连接电位器RS3接非门N12D的引脚八，电阻R42和非门N12D的引脚八之间设有电容C10。
CN201710761889.9A 2017-08-30 2017-08-30 一种冲击测试仪 Active CN107505113B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710761889.9A CN107505113B (zh) 2017-08-30 2017-08-30 一种冲击测试仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710761889.9A CN107505113B (zh) 2017-08-30 2017-08-30 一种冲击测试仪

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107505113A true CN107505113A (zh) 2017-12-22
CN107505113B CN107505113B (zh) 2020-03-20

Family

ID=60693259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710761889.9A Active CN107505113B (zh) 2017-08-30 2017-08-30 一种冲击测试仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107505113B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS573421A (en) * 1980-06-09 1982-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Pulse width control circuit
JPS6027840A (ja) * 1983-07-26 1985-02-12 Nippon Denso Co Ltd 落錘式衝撃試験機
CN2271711Y (zh) * 1996-11-29 1997-12-31 中国航天工业总公司第一计量测试研究所 简便落锤式弯沉仪
CN1621796A (zh) * 2004-12-09 2005-06-01 南京航空航天大学 气压式多波形主动冲击波形发生器
CN101660925A (zh) * 2009-09-23 2010-03-03 宁波大学 数字编码器解码过程中干扰信号的处理方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS573421A (en) * 1980-06-09 1982-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Pulse width control circuit
JPS6027840A (ja) * 1983-07-26 1985-02-12 Nippon Denso Co Ltd 落錘式衝撃試験機
CN2271711Y (zh) * 1996-11-29 1997-12-31 中国航天工业总公司第一计量测试研究所 简便落锤式弯沉仪
CN1621796A (zh) * 2004-12-09 2005-06-01 南京航空航天大学 气压式多波形主动冲击波形发生器
CN101660925A (zh) * 2009-09-23 2010-03-03 宁波大学 数字编码器解码过程中干扰信号的处理方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN107505113B (zh) 2020-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101344475B (zh) 信号基线处理装置及处理方法
CN106249186A (zh) 一种电池管理***分流器电流采集数据的校正方法和装置
CN103675728B (zh) 封闭磁路磁芯剩磁的测量方法
CN103809198A (zh) 一种测量粒子加速器束流位置的方法
CN108548997B (zh) 一种变电站空间局部放电定位方法及***
CN201637774U (zh) 雷电记录仪
CN107505113A (zh) 一种冲击测试仪
CN106526409A (zh) 一种变压器绕组变形带电测试***及其测试方法
Schonland et al. On a penetrating radiation from thunderclouds
CN110989398B (zh) 一种电气控制电路仿真***
CN210294540U (zh) 一种反符合流气式多丝正比计数器
CN107704702B (zh) 一种获取egla间隙放电电压承担率的方法
CN113030651B (zh) 一种冲击浪涌电流的定位方法
CN111398707B (zh) 三角塔通信基站***的雷电流分流特性计算方法
CN111400910A (zh) 四角塔通信基站***的雷电流分流特性计算方法
CN207557314U (zh) 一种直流供电设备巡线仪测试电路
CN106486990B (zh) 精密测量仪器端口过流过压保护电路
CN105548365A (zh) 一种基于音频振荡电路的新型声音检测***
CN205158760U (zh) 一种训练用阻容耦合放大电路
CN110598348A (zh) 一种基于Matlab的核信号产生及处理的仿真方法
Rozsa et al. A verified simulation method for image charge detection with non-cylindrical electrodes
CN102760181A (zh) 电磁暂态仿真结果的准确度计算方法及装置
CN102944250A (zh) 一种用于高阻抗弱信号测量的前置调理电路
Hart et al. Involution products in Coxeter groups
CN106841747A (zh) 冲击电流实验残压测压装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant