CN107465393A - 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法 - Google Patents

用于实时时钟***的频率补偿的***和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107465393A
CN107465393A CN201710542448.XA CN201710542448A CN107465393A CN 107465393 A CN107465393 A CN 107465393A CN 201710542448 A CN201710542448 A CN 201710542448A CN 107465393 A CN107465393 A CN 107465393A
Authority
CN
China
Prior art keywords
temperature
frequency
crystal oscillator
compensation
determined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710542448.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN107465393B (zh
Inventor
周如生
张嘉鹏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou On Bright Electronics Co Ltd
Original Assignee
Guangzhou On Bright Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou On Bright Electronics Co Ltd filed Critical Guangzhou On Bright Electronics Co Ltd
Priority to CN201710542448.XA priority Critical patent/CN107465393B/zh
Priority to US15/665,191 priority patent/US10734947B2/en
Priority to TW106136997A priority patent/TWI648606B/zh
Publication of CN107465393A publication Critical patent/CN107465393A/zh
Priority to US16/914,819 priority patent/US11012032B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN107465393B publication Critical patent/CN107465393B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/02—Details
    • H03B5/04—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. power supply, load, temperature
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
    • H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
    • H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
    • H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
    • H03L1/022—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only by indirect stabilisation, i.e. by generating an electrical correction signal which is a function of the temperature
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
    • H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
    • H03L1/022—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only by indirect stabilisation, i.e. by generating an electrical correction signal which is a function of the temperature
    • H03L1/026—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only by indirect stabilisation, i.e. by generating an electrical correction signal which is a function of the temperature by using a memory for digitally storing correction values
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
    • H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
    • H03L1/028—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only of generators comprising piezoelectric resonators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • G01R31/2824—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits testing of oscillators or resonators

Landscapes

  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

公开了用于实时时钟***的频率补偿的***和方法。例如，用于温度相关频率补偿的方法包括：使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；处理与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息；以及至少基于与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息来确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿。该一个或多个晶体振荡器不包括该晶体振荡器，并且作为第一温度函数的第一频率补偿与作为第二温度函数的第二频率补偿不同。

Description

用于实时时钟***的频率补偿的***和方法
技术领域
本发明的某些实施例涉及实时时钟。更具体地，本发明的一些实施例提供了用于实时时钟的频率补偿的***和方法。
背景技术
实时时钟(RTC)通常被用在电子产品中，以提供计时或时间设置。这些电子产品包括移动电话、数字相机、计算机、闹钟、电能表、时钟、和/或智能家用电器。晶体振荡器通常用作实时时钟的驱动源，并且晶体振荡器的频率精度一般决定了实时时钟的精度。传统的晶体振荡器通常在室温下具有±20ppm范围内的频率精度误差，并且在更高温度(例如，70℃)或者更低温度(例如，-30℃)下具有比±100ppm更大范围内的频率精度误差。具体地，±20ppm表示每天±2秒的误差范围，±100ppm表示每天±10秒的误差范围。这种精度的误差范围在某些情况下是不可接受的。
晶体振荡器随着温度的频率改变通常可以被曲线拟合，并且相应的拟合系数可以被获取(例如，通过多次迭代)。例如，期望频率减去实际频率被表示为频率补偿。在另一示例中，对于晶体振荡器，其作为温度函数的频率补偿如下：
Δf＝aT3+bT2+cT+d (等式1)
其中，Δf表示针对晶体振荡器的频率补偿，等于期望频率减去实际频率。另外，T表示晶体振荡器的温度，并且a、b、c、d表示系数。
通常，通过测量晶体振荡器在四个不同温度下的实际频率，并且计算在四个温度的相应频率补偿值来确定系数a、b、c、d。例如，在这四个温度中的每个温度下，包含晶体振荡器的实时时钟***被放置在该特定温度(例如，由温度传感器测量)下一段时间，以便实现该***的热平衡。每次测量所需要的时间段经常使得校准过程效率低下。需要在四个不同温度下对每个晶体振荡器进行测量，以确定其在等式1中所示的系数a、b、c、d，并且需要针对具有不同系数值的不同晶体振荡器重复这四次测量。
相反，经过温度补偿的晶体振荡器(TCXO)通常具有更小的频率精度误差，但是它们通常更贵。经过温度补偿的晶体振荡器通常不可用于低成本设计。
因此，非常期望改进针对实时时钟(RTC)***的温度补偿技术。
发明内容
本发明的某些实施例涉及实时时钟。更具体地，本发明的一些实施例提供了用于实时时钟的频率补偿的***和方法。仅通过示例，本发明的一些实施例已经被应用于温度相关频率补偿。但是应该认识到，本发明具有更广泛的应用范围。
根据一个实施例，用于温度相关频率补偿的方法包括：使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；处理与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息；以及至少基于与作为第一温度函数的第一温度补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿。该一个或多个晶体振荡器不包括该晶体振荡器，并且作为第一温度函数的第一频率补偿与作为第二温度函数的第二频率补偿不同。
根据另一实施例，用于温度相关频率补偿的方法包括：使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；处理与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息；以及至少基于与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿。第一温度函数被配置为分别响应于多个第一温度，向第一频率补偿提供多个第一补偿值，并且第二温度函数被配置为分别响应于多个第二温度，向第二频率补偿提供多个第二补偿值。
取决于实施例，可以实现一个或多个效果。参考下面的详细描述和附图，将完全理解本发明的这些效果、各种附加目标、特征、以及优点。
附图说明
图1是示出根据本发明实施例的针对一个或多个实时时钟***的用于温度相关频率补偿的方法的简化示意图。
图2(A)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法的一部分的、使用一个或多个样本晶体振荡器确定作为温度函数的一般频率补偿的处理的简化示意图。
图2(B)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法的一部分的、确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿的处理的简化示意图。
图2(C)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法100的一部分的、在特定温度下对包括晶体振荡器的实时时钟***执行频率校准的处理130的简化示意图。
图3是示出根据本发明实施例的用于一个或多个实时时钟的温度相关频率补偿***的简化示意图。
图4是示出根据一个实施例的在不对计数器阈值进行调整的情况下，作为温度函数的、包括晶体振荡器的实时时钟***的一秒信号的实际频率的简化示意图。
图5是示出使用根据本发明实施例的图1所示的用于温度相关频率补偿的方法的、对于作为温度函数的计数器阈值的调整值的简化示意图。
图6是示出使用根据本发明实施例的图1所示的用于温度相关频率补偿的方法的、在对分别包括晶体振荡器的六个实时时钟***中的每个实时时钟***的计数器阈值进行调整的情况下，作为温度函数的一秒信号的实际频率的简化示意图。
具体实施方式
本发明的某些实施例涉及实时时钟。更具体地，本发明的一些实施例提供了用于实时时钟的频率补偿的***和方法。仅通过示例，本发明的一些实施例已经被应用于温度相关频率补偿。但是应该认识到，本发明具有更广泛的应用范围。
图1是示出根据本发明实施例的针对一个或多个实时时钟***的用于温度相关频率补偿的方法的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。用于温度相关频率补偿的方法100包括使用一个或多个样本晶体振荡器确定作为温度函数的一般频率补偿的处理110、确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿的处理120、以及在特定温度下对包括晶体振荡器的实时时钟***执行频率校准的处理130。
在一个实施例中，针对一批晶体振荡器执行确定作为温度函数的一般频率补偿的处理110，其中一个或多个样本晶体振荡器是从该批晶体振荡器中选择的。在另一示例中，针对该批晶体振荡器中的不同晶体振荡器，重复确定作为温度函数的具体频率补偿的处理120。在又一实施例中，对于其作为温度函数的具体频率补偿已经被确定的晶体振荡器，在一个温度(例如，一个环境温度)下执行或者在多个温度(例如，多个环境温度)下重复对包括该晶体振荡器的实时时钟***执行频率校准的处理130。
图2(A)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法100的一部分的、使用一个或多个采样晶体振荡器确定作为温度函数的一般频率补偿的处理110的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。使用一个或多个样本晶体振荡器确定作为温度函数的一般频率补偿的处理110包括从一批晶体振荡器中选择一个或多个样本晶体振荡器的处理210、测量一个或多个样本晶体振荡器在某温度下的实际频率的处理212、确定针对作为温度函数的一般频率补偿的一般系数的处理214、以及存储针对作为温度函数的一般频率补偿的一般系数的处理216。
在处理210，根据一个实施例，从一批晶体振荡器中选择一个或多个样本晶体振荡器。在一个实施例中，从一批晶体振荡器(例如，同一生产批次的晶体振荡器)中选择多个样本晶体振荡器。例如，同一生产批次的晶体振荡器具有相似的频率补偿和温度之间的关系。
在另一实施例中，基于该批中的晶体振荡器的总数目来确定一个或多个样本晶体振荡器的数目。例如，一个或多个样本晶体振荡器可以包括多个样本晶体振荡器。在另一示例中，所选择的样本晶体振荡器越多，所确定的作为温度函数的一般频率补偿越精确。在另一示例中，从该批总共数百个晶体振荡器中选择数十个样本晶体振荡器。在又一示例中，从该批总共数千个晶体振荡器中选择数百个样本晶体振荡器。
在处理212，根据一个实施例，测量一个或多个样本晶体振荡器在某些温度下的实际频率。在一个实施例中，测量一个或多个样本晶体振荡器中的每个样本晶体振荡器在同一组温度下的实际频率。例如，测量一个样本晶体振荡器在多个温度下的实际频率，并且针对剩下的样本晶体振荡器在同一组多个温度下重复相同的测量处理。
在另一实施例中，至少部分地基于用来表示作为温度函数的一般频率补偿的拟合补偿曲线的阶来确定该组温度中的温度点的数目。例如，补偿曲线越高阶，可以确定的作为温度函数的一般频率补偿越精确。在另一示例中，如果拟合补偿曲线的阶为N，则该组温度中的温度点的数目为N+1，其中，N是大于1的整数。
在又一实施例中，在确定该组温度中的温度点的数目之后，也确定了这些温度点的值。例如，至少部分地基于晶体振荡器将被包括在其中的实时时钟***的工作温度范围，来确定温度点的值。在另一示例中，温度点的值基本平均地分布在该***的工作温度范围的高温区、中温区、以及低温区。在又一示例中，如果实时时钟***的工作温度范围是-30℃至+70℃，并且拟合补偿曲线的阶是3，则该组温度中的温度点的数目等于4，并且这些温度点的值等于例如，-25℃、5℃、35℃、以及65℃。
在又一实施例中，将实时时钟***中包括的样本晶体振荡器保持在每个温度点一段时间(例如，30分钟)，以确保达到热平衡。例如，然后，将实时时钟***设置为输出具有1Hz的期望频率的信号(例如，1秒信号)，并且在该组温度中的所有温度点测量实时时钟***的实际频率，从而确定样本晶体振荡器在这些温度点的实际频率。
在处理214，根据一个实施例，确定针对作为温度函数的一般频率补偿的一般系数。在一个实施例中，在每个温度点，对所有的一个或多个样本晶体振荡器的实际频率进行平均，从而确定在每个温度点的平均频率。例如，使用平均频率，通过从期望频率(例如，理想频率)减去平均频率来确定在相应温度点的频率补偿值。在另一示例中，晶体振荡器的期望频率是32.768KHz，但是在5℃，平均频率是32.766KHz，所以在温度5℃下的补偿值是0.002KHz。
在另一实施例中，在确定所有温度点的频率补偿值后，确定针对作为温度函数的一般频率补偿的一般系数。例如，针对晶体振荡器的一般频率补偿等于期望频率(例如，理想频率)减去实际频率。在另一示例中，使用N+1个温度点的N+1个频率补偿值，确定针对以下N阶拟合补偿曲线的一般系数。
Δfg＝aNTN+aN-1TN-1+...+anTn+...+a1T+a0 (等式2)
其中，Δfg表示针对晶体振荡器的作为温度函数的一般频率补偿，等于期望频率(例如，理想频率)减去实际频率。另外，T表示晶体振荡器的温度。而且，n小于或等于N且大于或等于0，N是大于1的整数。另外，an表示N+1个一般系数，n取从0到N的值。
在又一示例中，等式2中所示的拟合补偿曲线用于表示作为温度函数的一般频率补偿(例如，对于在处理210已经从其中选择一个或多个样本晶体振荡器的该批晶体振荡器)。在又一示例中，针对晶体振荡器的一般频率补偿的温度函数(例如，Δfg)被配置为分别响应于晶体振荡器的多个温度值(例如，T)，向针对晶体振荡器的一般频率补偿提供多个补偿值。
在处理216，根据一个实施例，存储针对作为温度函数的一般频率补偿的一般系数。例如，存储等式2中所示的一般系数aN、aN-1、…、an、…、a1、和a0。
图2(B)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法100的一部分的、确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿的处理120的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿的处理120包括测量晶体振荡器在峰值温度下的实际频率的处理220、确定在峰值温度下针对晶体振荡器的具体频率补偿的处理222、以及使用在峰值温度下针对晶体振荡器的具体温度补偿来确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿的处理224。
在处理220，根据一个实施例，测量晶体振荡器在峰值温度下的实际频率。例如，同一批晶体振荡器的峰值温度落在25℃±5℃的范围内。
在一个实施例中，峰值温度是晶体振荡器的期望频率(例如，理想频率)相比在其他温度下的期望频率(例如，理想频率)最高时的温度。例如，在峰值温度下，晶体振荡器的实际频率(例如，测量频率)相比在其他温度下的实际频率(例如，测量频率)也是最高的。在另一实施例中，峰值温度是在以下温度范围内选择的温度，其中，晶体振荡器在该温度范围内的期望频率(例如，理想频率)比在该温度范围外的温度的期望频率(例如，理想频率)更高。例如，在峰值温度下，晶体振荡器的期望频率(例如，理想频率)比在该温度范围外的温度的期望频率(例如，理想频率)更高。在另一示例中，在峰值温度下，晶体振荡器的实际频率(例如，测量频率)比在该温度范围外的温度的实际频率(例如，测量频率)更高。
在又一实施例中，晶体振荡器是在处理210已经从其选择了一个或多个样本晶体振荡器的批次的晶体振荡器中的晶体振荡器。例如，晶体振荡器不是一个或多个样本晶体振荡器中的一个振荡器。在又一示例中，将实时时钟***中包括的晶体振荡器保持在峰值温度达一段时间(例如，30分钟)，以确保达到热平衡。然后，例如，将实时时钟***设置为输出具有1Hz的期望频率的信号，然后测量实时时钟***在峰值温度下的实际频率，从而确定晶体振荡器在峰值温度下的实际频率。
在处理222，确定在峰值温度下针对晶体振荡器的具体频率补偿。例如，如下计算在峰值温度下的具体频率补偿：
Δfs_peak＝fd_peak-fa_peak (等式3)
其中，Δfs_peak表示在峰值温度下针对晶体振荡器的具体频率补偿。另外，fd_peak表示晶体振荡器在峰值温度下的期望频率(例如，理想频率)，fa_peak表示晶体振荡器在峰值温度下的实际频率。
在处理224，根据一个实施例，使用在峰值温度下针对晶体振荡器的具体频率补偿，确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿。在一个实施例中，基于等式2，如下计算在峰值温度下的一般频率补偿：
其中，Δfg_peak表示在峰值温度下的一般频率补偿。另外，Tpeak表示晶体振荡器的峰值温度。而且，n小于或等于N且大于或等于0，N是大于1的整数。另外，an表示N+1个一般系数，n取从0到N的值。
在另一实施例中，基于等式3和等式4，如下确定在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿与一般补偿之间的频率偏移：
Os_peak＝Δfg_peak-Δfs_peak (等式5)
其中，Os_peak表示在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿和一般补偿之间的频率偏移。另外，Δfg_peak表示根据等式4计算出的在峰值温度下的一般频率补偿，Δfs_peak表示根据等式3计算出的在峰值温度下针对晶体振荡器的具体频率补偿。
在又一实施例中，基于等式2和等式5，如下确定针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿：
Δfs＝Δfg-Os_peak (等式6)
其中，Δfs表示针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿。另外，Δfg表示根据等式2计算出的作为温度函数的一般频率补偿。而且，Os_peak表示根据等式5计算出的在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿和一般补偿之间的频率偏移。
在又一实施例中，针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿等于晶体振荡器的期望频率(例如，理想频率)减去晶体振荡器的实际频率。例如，使用等式2，等式5变为：
Δfs＝aNTN+aN-1TN-1+...+anTn+...+a1T+(a0-Os_peak) (等式7)
其中，Δfs表示针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿，其等于晶体振荡器的期望频率(例如，理想频率)减去晶体振荡器的实际频率。另外，T表示晶体振荡器的温度。另外，n小于或者等于N并且大于或者等于0，N是大于1的整数。此外，an表示N+1个一般系数，n取从0到N的值，如等式2所示。另外，Os_peak表示根据等式5计算出的在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿和一般补偿之间的频率偏移。
在另一示例中，在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿和一般补偿之间的频率偏移(例如，Os_peak)不等于0。在又一示例中，针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿(例如，Δfs)与针对晶体振荡器的作为温度函数的一般频率补偿(例如，Δfg)不同。在又一示例中，针对晶体振荡器的作为温度函数的具体频率补偿(例如，Δfs)被配置为分别响应于晶体振荡器的多个温度值(例如，T)，向晶体振荡器的具体频率补偿提供多个补偿值。
图2(C)是示出作为根据本发明实施例的用于温度相关频率补偿的方法100的一部分的、在特定温度下针对包括晶体振荡器的实时时钟***执行频率校准的处理130的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。在特定温度下针对包括晶体振荡器的实时时钟***执行频率校准的处理130包括测量实时时钟***中包括的晶体振荡器的环境温度的处理230、使用针对晶体振荡器的具体频率补偿确定在环境温度下的频率补偿值的处理232、以及确定在环境温度下针对包括晶体振荡器的实时时钟***的计数器阈值的调整值的处理234。
在处理230，根据一个实施例，测量实时时钟***中包括的晶体振荡器的环境温度。例如，测量由温度传感器执行。在另一示例中，包括晶体振荡器的实时时钟***被放置在环境温度下达足够长的一段时间，则环境温度与晶体振荡器的温度相同。在又一示例中，对于晶体振荡器，已经在处理224确定其作为温度函数的具体频率补偿。
在处理232，根据一个实施例，使用针对晶体振荡器的具体频率补偿确定在环境温度下的温度补偿值。例如，基于等式7，如下计算在环境温度下的频率补偿值：
其中，Δfs_ambient表示在环境温度下针对晶体振荡器的频率补偿值。另外，Tambient表示环境温度。此外，n小于或等于N并且大于或等于0，N是大于1的整数。而且，an表示N+1个一般系数，n取从0到N的值。Os_peak表示根据等式5计算出的在峰值温度下针对晶体振荡器的具体补偿和一般补偿之间的频率偏移。
在处理234，根据一个实施例，确定在环境温度下针对包括晶体振荡器的实时时钟***的计数器阈值的调整值。在一个实施例中，实时时钟***还包括时钟计数器调整电路。在又一实施例中，基于根据等式8计算出的在环境温度下针对晶体振荡器的频率补偿值，确定对于计数器阈值的调整值。例如，如果在环境温度下针对晶体振荡器的频率补偿值大于0，则对于计数器阈值的调整值也大于0。在另一示例中，如果在环境温度下针对晶体振荡器的频率补偿值小于0，则对于计数器阈值的调整值也小于0。
在又一实施例中，时钟计数器调整电路调整针对实时时钟***的计数器阈值。例如，时钟计数器调整电路通过实时时钟***改变用于生成具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)的内部信号生成器的计数器阈值。在另一示例中，如果调整值为正值，则时钟计数器调整电路增大计数器阈值；如果调整值为负值，则时钟计数器调整电路减小计数器阈值。
根据一些实施例，在环境温度下，如果将实时时钟***设置为输出具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)并且晶体振荡器具有等于32.768KHz的实际频率，则通过将计数器阈值设置为32768并且将信号周期设置为等于内部计数器以晶体振荡器频率从1计数到计数器阈值期间的持续时间，来生成实时时钟***的输出信号。根据某些实施例，如果将实时时钟***设置为输出具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)并且晶体振荡器具有不等于32.768KHz的期望频率的实际频率(例如，如等式8所示)，则通过利用调整值调整计数器阈值并且将信号周期设置为等于内部计数器以晶体振荡器频率从1计数到调整后的计数器阈值期间的持续时间，来生成实时时钟***的输出信号，其中，调整后的计数器阈值等于32768加调整值。例如，通过根据等式8计算出的在环境温度下针对晶体振荡器的频率补偿值确定调整值。
在一个实施例中，在环境温度下，选择数十秒或者数百秒作为补偿周期，以改善频率补偿的精度和精确度。例如，晶体振荡器具有32.768KHz的期望频率，但是在5℃的环境温度下，针对晶体振荡器的频率补偿值为+0.0025KHz。在另一示例中，在针对晶体振荡器的频率补偿值为+0.0025KHz的情况下，如果将补偿周期设置为60秒，则在整个补偿周期期间对于计数器阈值的调整值为150。
根据一些实施例，利用调整后的计数器阈值，由实时时钟***生成的具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)具有等于或者接近1Hz的实际频率。例如，校正实时时钟***360的频率误差(例如，在环境温度下进行补偿)。在另一示例中，频率误差的校正减小了频率误差的幅度。在又一示例中，频率误差的校正消除了频率误差，使得实际频率变得等于1Hz。
图3是示出根据本发明实施例的用于一个或多个实时时钟的温度相关频率补偿***的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。温度相关频率补偿***300包括数据库***310、存储***320、峰值温度频率补偿确定单元330、校准确定单元340、以及温度感测***350。
根据某些实施例，使用温度相关频率补偿***300来执行用于温度相关频率补偿的方法100。例如，使用温度相关频率补偿***300来对实时时钟***360执行温度相关频率补偿。在另一示例中，实时时钟(RTC)***360包括时钟计数器调整电路362和晶体振荡器。
在一个实施例中，使用数据库***310来至少执行处理214。例如，数据库***310被配置为针对一个或多个样本晶体振荡器选自其中的一个批次的晶体振荡器确定(例如，计算)作为温度函数的一般频率补偿的一般系数。在另一示例中，一个或多个样本晶体振荡器包括多个样本晶体振荡器。
在又一示例中，确定出的一般系数(例如，一般系数an，n取从0到N的值，如等式2所示)(例如，通过接口电路)被发送到存储***320并由存储***320存储，以供校准确定***340使用。在又一示例中，存储***320包括可擦除非易失性存储介质(例如，一个或多个闪存驱动器和/或电可擦除存储介质)。
在另一实施例中，使用峰值温度频率补偿确定***330来至少执行处理222。例如，峰值温度频率补偿确定***330被配置为确定在峰值温度下针对一个批次的晶体振荡器中的晶体振荡器的具体频率补偿。在另一示例中，使用峰值温度频率补偿确定***330来对该批次的晶体振荡器中的不同晶体振荡器重复处理222。在又一示例中，在一个或多个相应的峰值温下针对一个或多个相应的晶体振荡器确定的一个或多个具体频率补偿(例如，通过接口电路)被发送给存储***320，存储***320被配置为存储一个或多个具体频率补偿。
根据一个实施例，使用温度感测***350来至少执行处理230。例如，温度感测***350被配置为测量一个或多个晶体振荡器的一个或多个环境温度。在另一示例中，温度感测***350进一步被配置为向校准确定***340提供与一个或多个测量出的环境温度有关的一个或多个测量数据(例如，通过接口电路)。在一个实施例中，包括晶体振荡器的实时时钟***360被放置在环境温度下达足够长的一段时间，则环境温度与晶体振荡器的温度相同。在另一实施例中，如果检测到作为一个或多个模拟信号的环境温度，则温度感测***350将一个或多个模拟信号转换为一个或多个数字信号，并且将一个或多个数字信号发送给校准确定***340。
根据另一实施例，使用校准确定***340来执行至少处理224、232、以及234。在一个实施例中，校准确定***340被配置为确定针对一个或多个相应的晶体振荡器的作为一个或多个相应的温度函数的一个或多个具体频率补偿。例如，校准确定***340至少部分地基于由存储***320提供的在一个或多个相应的峰值温度下针对一个或多个相应的晶体振荡器的一个或多个具体频率补偿来执行处理224。在另一示例中，校准确定***340还至少部分地基于由存储***320提供的所确定的一般系数来执行处理224。
在另一实施例中，校准确定***340被配置为使用针对一个或多个相应的晶体振荡器的一个或多个相应的具体频率补偿，确定(例如，计算)在一个或多个相应的环境温度下的一个或多个频率补偿值。例如，校准确定***340至少部分地基于由温度感测***350提供的与一个或多个测量出的环境温度有关的一个或多个测量数据来执行处理232。
在又一实施例中，校准确定***340进一步被配置为在一个或多个相应的环境温度下、针对包括一个或多个相应的晶体振荡器的一个或多个相应的实时时钟***(例如，实时时钟***360)的一个或多个相应的计数器阈值的一个或多个调整值。例如，使用校准确定***340来至少部分地基于由存储***320提供的补偿周期(例如，1秒、数十秒、或者数百秒)来执行处理234。在另一示例中，针对一个或多个相应的实时时钟***的一个或多个相应的计数器阈值的一个或多个调整值由校准确定***340(例如，通过接口电路)提供给一个或多个相应的时钟计数器调整电路(例如，时钟计数器调整电路362)。在又一示例中，一个或多个时钟计数器调整电路(例如，时钟计数器调整电路362)调整针对包括一个或多个相应的时钟计数器调整电路(例如，时钟计数器调整电路362)的一个或多个相应的实时时钟***(例如，实时时钟***360)的一个或多个相应的计数器阈值。
在又一实施例中，校准确定***340进一步被配置为确定在环境温度下针对包括晶体振荡器的实时时钟***360的计数器阈值的调整值。例如，校准确定***340至少部分地基于由存储***320提供的补偿周期(例如，1秒、数十秒、或者数百秒)来执行处理234。在另一示例中，针对实时时钟***360的计数器阈值的调整值由校准确定***340(例如，通过接口电路)提供给时钟计数器调整电路362。
在另一实施例中，时钟计数器调整电路362调整实时时钟***360的计数器阈值。例如，时钟计数器调整电路362通过实时时钟***360改变用于生成具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)的内部信号生成器的计数器阈值。在另一示例中，如果调整值是正值，则时钟计数器调整电路362增大计数器阈值；如果调整值是负值，则时钟计数器调整电路360减小计数器阈值。
根据一些实施例，利用调整后的计数器阈值，由实时时钟***360生成的具有1Hz的期望频率的信号(例如，一秒信号)具有接近或者等于1Hz的实际频率。例如，实时时钟***360的频率误差被校正(例如，通过对于计数器阈值的调整值在环境温度下被补偿)。在另一示例中，频率误差的校正减小了频率误差的大小。在又一示例中，频率误差的校正消除了频率误差，使得实际频率变得等于1Hz。
图4是示出根据一个实施例的在没有对计数器阈值进行调整的情况下作为温度函数的包括晶体振荡器的实时时钟***的一秒信号的实际频率的简化示意图。例如，一秒信号的期望频率(例如，理想频率)为1Hz，并且一秒信号的期望周期(例如，理想周期)是1秒，但是一秒信号的实际频率不是等于1Hz的常数，并且一秒信号的实际周期不是等于1秒的常数。在另一示例中，一秒信号的实际频率随温度改变，并且一秒信号的实际周期随温度改变。
如图4所示，在温度T0(例如，大于-27℃)到温度T1(例如，大约25℃)之间的范围内，一秒信号的实际频率随着温度升高而增大(例如，从T0时的大约0.99994Hz到T1时的大约1.00003)。另外，如图4所示，在温度T1(例如，大约25℃)到温度T2(例如，大约73℃)之间的范围内，一秒信号的实际频率随着温度升高而减小(例如，从T1时的大约1.00003到T2时的大约0.999945Hz)。
图5是示出根据本发明实施例的使用图1所示的用于温度相关频率补偿的方法的对于作为温度函数的计数器阈值的调整值的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。例如，与调整值和温度之间的关系相关联的数据是通过在多个环境温度下执行至少处理130获取的。在另一示例中，调整值随温度改变。
如图5所示，根据一个实施例，在温度T0(例如，大约-27℃)到温度T1(例如，大约25℃)之间的范围内，对计数器阈值的调整值随温度升高而减小(例如，从T0时的大约39到T1时的大约-19)。另外，如图5所示，根据另一实施例，在温度T1(例如，大约25℃)到温度T2(例如，大约73℃)之间的范围内，对计数器阈值的调整值随温度升高而增大(例如，从T1时的大约-19到T2时的大约37)。
图6是示出根据本发明某些实施例的使用图1所示的用于温度相关频率补偿的方法的在对于分别包括晶体振荡器的六个实时时钟***中的每个实时时钟***的计数器阈值进行调整的情况下，作为温度函数的一秒信号的实际频率的简化示意图。该示意图仅是示例，其不应该不适当地限制权利要求的范围。本领域普通技术人员将认识到很多变形、替代、和修改。
例如，与六个实时时钟***中的每个实时时钟***的实际频率和温度之间的关系相关联的数据是使用从处理130获取的调整值通过这六个实时时钟***中的每个实时时钟***(例如，实时时钟***360)的时钟计数器调整电路(例如，时钟计数器调整电路362)对计数器阈值进行调整获取的。再如，如图6所示，通过对计数器阈值进行调整，实际频率和期望频率之间的差具有以下绝对值，该绝对值比在没有对计数器阈值进行如图4所示的调整的情况下实际频率与期望频率之间的差的绝对值小10倍。
根据另一实施例，用于温度相关频率补偿的方法包括：使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；处理与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息；以及至少基于与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿。该一个或多个晶体振荡器不包括该晶体振荡器，并且作为第一温度函数的第一频率补偿与作为第二温度函数的第二频率补偿不同。例如，该方法至少是根据图1和/或图3实现的。
根据另一实施例，用于温度相关频率补偿的方法包括：使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；处理与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息；以及至少基于与作为第一温度函数的第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿。第一温度函数被配置为分别响应于多个第一温度，向第一频率补偿提供多个第一补偿值，并且第二温度函数被配置为分别响应于多个第二温度，向第二频率补偿提供多个第二补偿值。例如，该方法至少是根据图1和/或图3实现的。
例如，本发明的各种实施例的一些或所有组件均是分别和/或与至少另一组件相结合，使用一个或多个软件组件、一个或多个硬件组件、和/或软件和硬件组件的一个或多个组合实现的。在另一示例中，本发明的各种实施例的一些或所有组件均是分别和/或与至少另一组件相结合，由诸如一个或多个模拟电路和/或一个或多个数字电路之类的一个或多个电路实现的。在又一示例中，本发明的各种实施例和/或示例可以被结合在一起。
另外，这里描述的方法和***可以在很多类型的处理设备上由包括可由设备处理子***执行的程序指令的程序代码实现。这些软件程序指令可以包括源代码、目标代码、机器代码、或者可操作使得处理***执行这里描述的方法和操作的任何其他存储数据。但是，也可以使用，例如，固件或者被配置为执行这里描述的方法和***的适当设计的硬件的其他实现方式。
可以在一种或多个不同类型的计算机实现的数据存储设备(例如，不同类型的存储设备和编程结构，例如，RAM、ROM、EEPROM、闪存、平面文件、数据库、编程数据结构、编程变量、IF-THEN(或类似类型)的语句构造、应用编程接口)上存储并实现该***和方法的数据(例如，关联关系、映射、数据输入、数据输出、中间数据结果、最终数据结果等)。应该注意的是，数据结构描述了用于组织和存储数据库、程序、存储器、或其他计算机可读介质中的数据，供计算机程序使用的格式。
可以在很多不同类型的计算机可读介质上提供这些***和方法，这些计算机可读介质包括包含有供处理器运行，以执行这里描述的方法的操作以及实现这里描述的***的计算机存储机构(例如，CD-ROM、磁盘、RAM、闪存、计算机的硬驱动、DVD等)。这里描述的计算机组件、软件模块、功能、数据存储、以及数据结构可以直接或间接彼此连接，一百年允许它们的运行所需要的数据的流动。还应该注意的是，模块或处理器包括执行软件操作的代码单元，并且可以被实现为例如，代码的子例程单元、代码的软件功能单元、对象(例如，在面向对象的范式中)、小程序、计算机脚本语言、或者其他类型的计算机代码。软件组件和/或功能可以位于单个计算机上，也可以横跨多个计算机分布(根据手边情况)。
计算***可以包括客户端设备和服务器。客户端设备和服务器一般彼此远离，并且通常通过通信网络交互。客户端设备和服务器之间的关系通过在各个计算机上运行、并且相互之间具有客户端设备-服务器关系的计算机程序产生。
本说明书包含特定实施例的很多细节。在本说明书中不同实施例的上下文中描述的某些特征也可以结合单个实施例实现。相反，在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以分别或者以任何适当的子组合的形式被实现。另外，尽管以上描述了以某种形式组合的特征，但是来自一种组合的一个或多个特征在一些情况下可以从该组合中被移除，并且某个组合可以例如，涉及子组合或子组合的变形。
类似地，尽管在附图中按照特定顺序描绘了操作，但是这应该被理解为要求这些操作被按照所示出的特定顺序或者顺序执行，或者所有示出的操作被执行，以实现期望的结果。在某些情况下，多任务和并行处理可能是有利的。另外，上述实施例中的各种***组件的分割应该被理解为在所有实施例中都需要这样的分割，并且应该理解的是，所描述的程序组件和***通常可以被集成在单个软件产品中或者被打包到多个软件产品中。
尽管已经描述了本发明的具体实施例，但是本领域技术人员将理解的是，存在很多与所描述的实施例等同的其他实施例。因此，应该理解的是，本发明不限于具体示出的实施例，而仅受所附权利要求的范围的限制。

Claims (20)

1.一种用于温度相关频率补偿的方法，包括：
使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；
处理与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息；以及
至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿；
其中：
所述一个或多个晶体振荡器不包括所述晶体振荡器；并且
作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿与作为所述第二温度函数的所述第二频率补偿不同。
2.如权利要求1所述的方法，其中，至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿的处理包括：
测量所述晶体振荡器在选定温度下的实际频率；
至少部分地基于测量出的实际频率，确定在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的第三频率补偿；
处理与在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿相关联的信息；以及
至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿和在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿相关联的信息，确定作为所述第二温度函数的、针对所述晶体振荡器的所述第二频率补偿。
3.如权利要求2所述的方法，其中，至少基于测量出的实际频率，确定在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的第三频率补偿的处理包括：确定所述第三频率补偿等于所述晶体振荡器在所述选定温度下的期望频率减去所述晶体振荡器在所述选定温度下的实际频率。
4.如权利要求3所述的方法，其中：
所述选定温度是所述晶体振荡器的峰值温度；并且
所述晶体振荡器在所述选定温度下的所述期望频率是所述晶体振荡器在所述峰值温度下的期望频率。
5.如权利要求2所述的方法，其中，至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿和在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿相关的信息，确定作为所述第二温度函数的、针对所述晶体振荡器的所述第二频率补偿的处理包括：
至少部分地基于作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿，确定在所述选定温度下的频率补偿值；
计算频率偏移，该频率偏移等于所述频率补偿值减去在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿；以及
确定作为所述第二温度函数的、针对所述晶体振荡器的所述第二频率补偿等于作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿减去所述频率偏移。
6.如权利要求1所述的方法，其中，使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿的处理包括：确定针对作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿的多个系数。
7.如权利要求6所述的方法，其中，所述多个系数与所述第一温度函数有关。
8.如权利要求6所述的方法，其中，使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿的处理包括：
从一批晶体振荡器中选择所述一个或多个晶体振荡器；以及
测量所述一个或多个晶体振荡器在多个温度下的多个实际频率；
其中，确定针对作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿的多个系数的处理包括：至少基于与测量出的所述一个或多个晶体振荡器在所述多个温度下的多个实际频率相关联的信息，确定所述多个系数。
9.如权利要求8所述的方法，其中，测量所述一个或多个晶体振荡器在多个温度下的多个实际频率的处理包括：对于所述一个或多个晶体振荡器中的每个晶体振荡器，在多个温度测量多个实际频率。
10.如权利要求6所述的方法，其中，使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿的处理包括：存储所述多个系数。
11.如权利要求1所述的方法，还包括：在特定温度下对实时时钟***执行频率校准，所述实时时钟***包括所述晶体振荡器。
12.如权利要求11所述的方法，其中，在特定温度下对实时时钟***执行频率校准的处理包括：
测量所述实时时钟***中包括的所述晶体振荡器的环境温度；
使用作为所述第二温度函数的、针对所述晶体振荡器的所述第二温度补偿，确定在所述环境温度下的频率补偿值；以及
确定在所述环境温度下针对所述实时时钟***的计数器阈值的调整值。
13.如权利要求1所述的方法，其中，所述一个或多个晶体振荡器包括多个晶体振荡器。
14.一种用于温度相关频率补偿的方法，包括：
使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿；
处理与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息；以及
至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿；
其中：
所述第一温度函数被配置为分别响应于多个第一温度，向所述第一频率补偿提供多个第一补偿值；以及
所述第二温度函数被配置为分别响应于多个第二温度，向所述第二频率补偿提供多个第二补偿值。
15.如权利要求14所述的方法，其中：
所述一个或多个晶体振荡器不包括所述晶体振荡器；并且
作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿与作为所述第二温度函数的所述第二频率补偿不同。
16.如权利要求14所述的方法，其中，至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿相关联的信息，确定作为第二温度函数的、针对晶体振荡器的第二频率补偿的处理包括：
测量所述晶体振荡器在选定温度下的实际频率；
至少部分地基于测量出的实际频率，确定在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的第三频率补偿；
处理与在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿相关联的信息；以及
至少基于与作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿和在所述选定温度下针对所述晶体振荡器的所述第三频率补偿相关联的信息，确定作为所述第二温度函数的、针对所述晶体振荡器的所述第二频率补偿。
17.如权利要求14所述的方法，其中，使用一个或多个晶体振荡器确定作为第一温度函数的第一频率补偿的处理包括：确定针对作为所述第一温度函数的所述第一频率补偿的多个系数。
18.如权利要求17所述的方法，其中，所述多个系数与所述第一温度函数有关。
19.如权利要求14所述的方法，还包括：在特定温度下对实时时钟***执行频率校准，所述实时时钟***包括所述晶体振荡器。
20.如权利要求14所述的方法，其中，所述一个或多个晶体振荡器包括多个晶体振荡器。
CN201710542448.XA 2017-07-05 2017-07-05 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法 Active CN107465393B (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710542448.XA CN107465393B (zh) 2017-07-05 2017-07-05 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法
US15/665,191 US10734947B2 (en) 2017-07-05 2017-07-31 Systems and methods for frequency compensation of real-time-clock systems
TW106136997A TWI648606B (zh) 2017-07-05 2017-10-27 System and method for frequency compensation of an instant clock system
US16/914,819 US11012032B2 (en) 2017-07-05 2020-06-29 Systems and methods for frequency compensation of real-time-clock systems

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710542448.XA CN107465393B (zh) 2017-07-05 2017-07-05 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107465393A true CN107465393A (zh) 2017-12-12
CN107465393B CN107465393B (zh) 2020-12-01

Family

ID=60546612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710542448.XA Active CN107465393B (zh) 2017-07-05 2017-07-05 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法

Country Status (3)

Country Link
US (2) US10734947B2 (zh)
CN (1) CN107465393B (zh)
TW (1) TWI648606B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110212863A (zh) * 2019-05-31 2019-09-06 Oppo广东移动通信有限公司 校准晶体振荡器的方法、装置、电子设备及存储介质
CN110212911A (zh) * 2019-06-24 2019-09-06 Oppo广东移动通信有限公司 一种频率校准方法及装置、存储介质
CN110412438A (zh) * 2018-04-26 2019-11-05 三星电子株式会社 生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法和***
CN111884589A (zh) * 2020-08-26 2020-11-03 硅谷数模(苏州)半导体有限公司 频率源的温度补偿参数确定方法和装置
CN111885438A (zh) * 2020-07-23 2020-11-03 杭州万高科技股份有限公司 Pon网络的时钟校准方法、onu终端的时钟校准方法
CN112083226A (zh) * 2019-06-13 2020-12-15 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备
CN108123716B (zh) * 2017-12-18 2021-04-27 飞天诚信科技股份有限公司 一种晶体频率的校准***

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107465393B (zh) 2017-07-05 2020-12-01 广州昂宝电子有限公司 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法
CN110336557B (zh) * 2019-06-24 2023-05-30 Oppo广东移动通信有限公司 一种频率补偿方法、终端及存储介质
CN112737507B (zh) * 2021-02-01 2022-07-08 山东新港电子科技有限公司 一种基于温度传感器实现rtc高精度的方法
CN116501131B (zh) * 2023-06-27 2023-12-05 北京智芯微电子科技有限公司 频率偏差的确定方法、实时时钟的补偿方法及其***

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1671047A (zh) * 2005-04-11 2005-09-21 西安电子科技大学 基于温度传感材料应力补偿晶体频率温度特性的方法
CN1705222A (zh) * 2004-06-03 2005-12-07 电子科技大学 一种石英晶体振荡器温度补偿方法
US7010307B2 (en) * 2002-02-22 2006-03-07 Global Locate, Inc. Method and apparatus for compensating an oscillator in a location-enabled wireless device
CN1968006A (zh) * 2005-11-17 2007-05-23 中国科学院半导体研究所 具有温度补偿效应的环路压控振荡器
US7449968B1 (en) * 2005-05-03 2008-11-11 Discera, Inc. Frequency and temperature compensation synthesis for a MEMS resonator
US20090002086A1 (en) * 2007-06-28 2009-01-01 Hasnain Lakdawala Film bulk acoustic resonator calibration
US7791418B2 (en) * 2007-12-20 2010-09-07 Pentad Design, Llc Systems and methods for compensating for variations of the output of a real-time clock
CN101965568A (zh) * 2008-01-31 2011-02-02 高通股份有限公司 晶体振荡器频率校准
CN202059371U (zh) * 2011-05-13 2011-11-30 苏州银河龙芯科技有限公司 一种实现时钟晶体振荡器闭环温度补偿的装置
CN102868363A (zh) * 2011-07-05 2013-01-09 富士通半导体股份有限公司 降低晶振电路的温度和工艺相关频率变化的***和方法
CN104052403A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 日本电波工业株式会社 负性电容电路、谐振电路及振荡电路
TW201448473A (zh) * 2013-06-06 2014-12-16 Ind Tech Res Inst 非石英時脈產生器及其運作方法
CN105850035A (zh) * 2014-03-07 2016-08-10 日本电波工业株式会社 晶体振荡器及晶体振荡器的制造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2205460B (en) 1987-06-02 1991-09-04 Multitone Electronics Plc Local oscillators for radio receivers
US5740525A (en) 1996-05-10 1998-04-14 Motorola, Inc. Method and apparatus for temperature compensation of a reference oscillator in a communication device
US5781073A (en) 1996-07-24 1998-07-14 Mii; Adam Temperature compensation method for an output frequency drift of an oscillator
IL120119A0 (en) 1997-01-31 1997-04-15 Binder Yehuda Method and system for calibrating a crystal oscillator
CN1266828C (zh) 1997-06-02 2006-07-26 旭化成微***株式会社 近似3次函数发生装置以及使用了该装置的温度补偿晶体振荡电路及其温度补偿方法
US6041222A (en) 1997-09-08 2000-03-21 Ericsson Inc. Systems and methods for sharing reference frequency signals within a wireless mobile terminal between a wireless transceiver and a global positioning system receiver
US6661302B1 (en) 2001-04-30 2003-12-09 Cts Corporation Compensation algorithm for crystal curve fitting
DE10125164C1 (de) 2001-05-23 2003-01-16 Infineon Technologies Ag Halbleiter-Chip mit trimmbarem Oszillator
US6636121B2 (en) 2001-05-31 2003-10-21 Intel Corporation Method for estimating crystal coefficient values for a signal generator
AU2003261760A1 (en) 2002-08-28 2004-04-30 Asahi Kasei Microsystems Co., Ltd. DEVICE FOR GENERATING FUNCTION OF APPROXIMATE n-TH DEGREE AND TEMPERATURE COMPENSATION QUARTZ OSCILLATION CIRCUIT
GB2409787B (en) * 2003-12-29 2007-10-03 Nokia Corp A communications system
US7371005B1 (en) 2006-11-16 2008-05-13 Intersil Americas Inc. Automatic circuit and method for temperature compensation of oscillator frequency variation over temperature for a real time clock chip
CN102981551B (zh) 2012-11-22 2015-07-29 百利通科技（扬州）有限公司 一种实时时钟温度补偿***及方法
CN104716904B (zh) 2014-12-30 2018-06-19 广东大普通信技术有限公司 一种晶体振荡器频率补偿的方法
CN107465393B (zh) 2017-07-05 2020-12-01 广州昂宝电子有限公司 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7010307B2 (en) * 2002-02-22 2006-03-07 Global Locate, Inc. Method and apparatus for compensating an oscillator in a location-enabled wireless device
CN1705222A (zh) * 2004-06-03 2005-12-07 电子科技大学 一种石英晶体振荡器温度补偿方法
CN1671047A (zh) * 2005-04-11 2005-09-21 西安电子科技大学 基于温度传感材料应力补偿晶体频率温度特性的方法
US7449968B1 (en) * 2005-05-03 2008-11-11 Discera, Inc. Frequency and temperature compensation synthesis for a MEMS resonator
CN1968006A (zh) * 2005-11-17 2007-05-23 中国科学院半导体研究所 具有温度补偿效应的环路压控振荡器
US20090002086A1 (en) * 2007-06-28 2009-01-01 Hasnain Lakdawala Film bulk acoustic resonator calibration
US7791418B2 (en) * 2007-12-20 2010-09-07 Pentad Design, Llc Systems and methods for compensating for variations of the output of a real-time clock
CN101965568A (zh) * 2008-01-31 2011-02-02 高通股份有限公司 晶体振荡器频率校准
CN202059371U (zh) * 2011-05-13 2011-11-30 苏州银河龙芯科技有限公司 一种实现时钟晶体振荡器闭环温度补偿的装置
CN102868363A (zh) * 2011-07-05 2013-01-09 富士通半导体股份有限公司 降低晶振电路的温度和工艺相关频率变化的***和方法
CN104052403A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 日本电波工业株式会社 负性电容电路、谐振电路及振荡电路
TW201448473A (zh) * 2013-06-06 2014-12-16 Ind Tech Res Inst 非石英時脈產生器及其運作方法
CN105850035A (zh) * 2014-03-07 2016-08-10 日本电波工业株式会社 晶体振荡器及晶体振荡器的制造方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108123716B (zh) * 2017-12-18 2021-04-27 飞天诚信科技股份有限公司 一种晶体频率的校准***
CN110412438A (zh) * 2018-04-26 2019-11-05 三星电子株式会社 生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法和***
CN110212863A (zh) * 2019-05-31 2019-09-06 Oppo广东移动通信有限公司 校准晶体振荡器的方法、装置、电子设备及存储介质
CN110212863B (zh) * 2019-05-31 2024-02-13 Oppo广东移动通信有限公司 校准晶体振荡器的方法、装置、电子设备及存储介质
CN112083226A (zh) * 2019-06-13 2020-12-15 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备
CN110212911A (zh) * 2019-06-24 2019-09-06 Oppo广东移动通信有限公司 一种频率校准方法及装置、存储介质
CN110212911B (zh) * 2019-06-24 2023-04-07 Oppo广东移动通信有限公司 一种频率校准方法及装置、存储介质
CN111885438A (zh) * 2020-07-23 2020-11-03 杭州万高科技股份有限公司 Pon网络的时钟校准方法、onu终端的时钟校准方法
CN111884589A (zh) * 2020-08-26 2020-11-03 硅谷数模(苏州)半导体有限公司 频率源的温度补偿参数确定方法和装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10734947B2 (en) 2020-08-04
TW201907251A (zh) 2019-02-16
US20190013778A1 (en) 2019-01-10
CN107465393B (zh) 2020-12-01
TWI648606B (zh) 2019-01-21
US20200328718A1 (en) 2020-10-15
US11012032B2 (en) 2021-05-18
US20200204113A9 (en) 2020-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107465393A (zh) 用于实时时钟***的频率补偿的***和方法
US7466209B2 (en) System and method for providing temperature correction in a crystal oscillator
TW525349B (en) System and method for programming oscillators
US8072230B1 (en) Method for compensating for differences in capacitance between multiple capacitive sensors
CN109196375A (zh) Fm-cw雷达以及fm-cw信号的生成方法
CN107272821A (zh) 实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备
EP3158644B1 (en) Method and integrated circuit for temperature compensation of oscillator, and temperature-compensated oscillator unit
CN106292839A (zh) 实时时钟补偿电路及校准方法、装置
CN104297716A (zh) 一种智能电表rtc校准方法
CN114928355B (zh) 基于晶体振荡器的电压补偿方法、装置、设备及存储介质
CN116106605A (zh) 一种考虑温度变化的电能表参数补偿方法、介质及***
CN109212560B (zh) 用于补偿诸如振荡器的频率发生器的频率不精确度的方法和装置
Cristiano et al. A 8.7 ppm/° C, 694nW, one-point calibrated RC oscillator using a nonlinearity-aware dual phase-locked loop and DSM-controlled frequency-locked loops
US9240793B2 (en) Method for providing a stabilized oscillator signal
CN103457608B (zh) 用于操作模数转换器的***和方法
JP6651697B2 (ja) 電子回路、電源回路、回路の特性測定方法、及び振幅及び位相特性の演算プログラム
CN108270441A (zh) 频率可调的频率源和相关的***、方法和电子设备
CN111934683B (zh) 一种温控rtc的数字频率校正方法和***
JP2020047846A (ja) データ処理方法、データ処理装置、データ処理システム、およびデータ処理プログラム
US8575994B2 (en) Circuit and method for generating a clock signal
CN105102935B (zh) 稳定微控制器的时钟频率的方法
US11035902B2 (en) Advanced fuel gauge
CN106603068A (zh) 一种晶体振荡器的温度补偿***
CN104635193B (zh) 一种电表用的soc芯片实时时钟高精度补偿方法
JP2020046428A (ja) 電子ウオッチに組み込まれた時間基準の平均周波数を調節するための方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant