CN107462177B - 一种液晶盒厚度测量装置及测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种液晶盒厚度测量装置及测量方法，液晶盒厚度测量装置包括第一移动台、与第一移动台相对设置的第二移动台、光发射器以及接收光发射器的光信号的光电检测器；第一移动台的侧面与第二移动台的侧面之间形成间隔区域，所述侧面均设有滑槽；滑槽内装有多个滑块，滑块位于间隔区域内，滑块包括凸出第一移动台与第二移动台的侧面的承载体，承载***于间隔区域内承载液晶盒；光发射器和光电检测器在垂直于水平面的方向上上下相对设置并且光信号路径位于间隔区域内。液晶盒厚度测量装置用以解决在测量过程中能够根据液晶盒的尺寸及测量位置来灵活调节滑块承载与抵持液晶盒的位置，从而精确地测量液晶盒的各个位置的厚度。

Description

一种液晶盒厚度测量装置及测量方法

技术领域

本发明涉及液晶显示设备制造技术领域，特别涉及一种液晶盒厚度测量装置及测量方法。

背景技术

随着液晶显示技术的快速发展以及液晶显示装置具有体积小、可视面积大及功耗低等优点，用户对液晶显示器的需求日益增加。液晶显示装置由阵列基板和彩膜基板相互对盒，并在阵列基板和彩膜基板之间填充液晶材料所组成。其中，阵列基板和彩膜基板之间的距离为液晶盒厚。液晶盒厚对液晶显示效果具有重要影响，因此需要准确的测量液晶盒厚的大小。

目前，测量液晶盒厚的设备为液晶盒厚测量机。液晶盒厚测量机是根据穿过承载于承载台的液晶盒的折射光来进行液晶盒厚测量。然而，在测量位于承载台的液晶盒处的液晶盒厚时，液晶盒受到承载台的遮挡，无法测量出液晶盒厚。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶盒厚测量装置及测量方法，用于解决在液晶盒厚测量过程中能够根据液晶盒的尺寸及测量位置来灵活调节滑块承载与抵持液晶盒的位置，从而精确地测量液晶盒的各个位置的液晶盒厚。

本发明的液晶盒厚度测量装置，用于测量液晶盒的厚度尺寸，包括第一移动台、与所述第一移动台相对设置的第二移动台、光发射器以及用于接收所述光发射器发射光信号的光电检测器；所述第一移动台的侧面与所述第二移动台的侧面之间形成间隔区域，并且所述第一移动台的侧面与所述第二移动台的侧面均设有滑槽；所述第一移动台的所述滑槽内装有多个第一滑块，所述第二移动台的所述滑槽内装有多个第二滑块，所述第一滑块和第二滑块位于所述间隔区域内；所述第一滑块和第二滑块均包括凸出所述第一移动台与所述第二移动台的侧面的承载体，所述承载***于所述间隔区域内承载所述液晶盒，所述光发射器和光电检测器在垂直于水平面的方向上上下相对设置并且光信号路径位于所述间隔区域内。

其中，所述第一滑块和第二滑块均包括滑动装于滑槽内的滑动体、连接所述滑动体与承载体的抵持体；所述抵持体凸设于滑动体的一表面、承载体凸设于抵持体表面。

其中，每个所述承载体包括第一面,所述第一滑块的承载体的第一面形成第一承载面，所述第二滑块的承载体的第一面形成第二承载面，所述第一承载面与第二承载面构成承载面，所述第一承载面与第二承载面处于同一水平面并位于所述间隔区域内。

其中，每个所述抵持体包括第二面,所述第一滑块的抵持体的第二面形成第一抵持面，所述第二滑块的抵持体的第二面形成第二抵持面，所述第一抵持面与第二抵持面相对设置并朝向所述间隔区域内。

其中，所述滑槽的两侧设有贯穿移动台的开口，所述滑块可滑出所述开口。

其中，所述第一移动台和第二移动台的滑槽均包括第一侧面和与所述第一侧面平行相对的第二侧面；所述第一侧面抵接所述抵持体的端面；所述第二侧面抵接所述抵持体的底面。

其中，所述光发射器为波长450-650nm的激光发射器。

其中，所述光电检测器包括接收单元与处理单元；所述接收单元用于接收所述光发射器发射的光信号，所述处理单元用于将光信号转化为电信号。

其中，所述液晶盒厚度测量装置还包括处理所述电信号的示波器。

本发明还提供一种液晶盒厚度测量方法，其包括：

取液晶盒置于多个滑块的承载面，通过调整所述滑块的位置以调整所述液晶盒所要测量位置；

调整所述移动台的相对位置，使第一抵持面和第二抵持面夹持所述液晶盒；

启动光发射器和光电检测器，所述光发射器发射光信号，所述光电检测器接收所述光信号及转化为电信号，并处理所述电信号，计算所述液晶盒的厚度。

本发明的有益效果如下：通过在第一移动台的侧面与第二移动台的侧面设置滑槽，并且在所述滑槽内装有多个用于承载及抵持液晶盒的第一滑块和第二滑块，第一滑块和第二滑块均可在滑槽内相对移动台滑动，从而解决在液晶盒厚度测量过程中能够根据液晶盒的尺寸灵活调节滑块承载与抵持液晶盒的位置，进而准确地测量液晶盒的各个位置的液晶盒的厚度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例的液晶盒厚度测量装置结构示意图。

图2是图1的第一移动台和第二移动台的结构示意图

图3是图1的第一滑块的结构示意图。

图4是图1的多个第一滑块的结构示意图

图5是图1的液晶盒厚度测量方法流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施方式提供一种液晶盒厚度测量装置，用于测量液晶盒的厚度尺寸，其包括：第一移动台30、与所述第一移动台30相对设置的第二移动台40、光发射器50以及用于接收所述光发射器50发射光信号的光电检测器60。所述第一移动台30相对第二移动台40在三维方向移动。所述第二移动台40也可相对第一移动台30在三维方向移动。所述第一移动台30的侧面32与第二移动台40的侧面42之间形成间隔区域70，并且第一移动台30的侧面32与第二移动台40的侧面42均设有滑槽；所述第一移动台30的第一滑槽31内装有多个第一滑块10，所述第二移动台40的第二滑槽42内装有多个第二滑块20，所述第一滑块10和第二滑块20位于所述间隔区域70内。第一滑块10和第二滑块20均包括凸出第一移动台30与所述第二移动台40的侧面的承载体11，所述承载体11位于所述间隔区域70内承载所述液晶盒。所述光发射器50和光电检测器60在垂直于水平面的方向上上下相对设置并且光信号路径位于所述间隔区域70内。通过滑动所述第一滑块10与第二滑块20来调节第一滑块10上的承载体11与第二滑块20上的承载体11承载液晶盒的位置，使得所述承载体11承载所述液晶盒的位置避开需要测量液晶盒厚度的位置。再利用上下相对设置的光发射器50与光电检测器60测量液晶盒的厚度。显然，在液晶盒厚度测量过程中所述测量装置能够通过灵活调节第一滑块10与第二滑块20承载与抵持液晶盒的位置，来准确地测量液晶盒的各个位置的液晶盒厚度。

具体的，如图2所示，本实施例中第一移动台30为不锈钢材料，第一移动台30为长方体结构。第一移动台30在三维方向的移动精度为100微米，使其能够精确地调控第一移动台30的平移。移动速度在0～500μm/s。在其他实施例中，第一移动台30也可以为铝合金材料等，且形状、精度和移动速度可以在其他范围。在第一移动台30的一个侧面32设有一个第一滑槽31，第一移动台30的第一滑槽31沿着侧面32的延伸方向设置并且第一滑槽31的两端设有贯穿第一移动台30的开口，所述第一滑槽31的截面为凸字形，包括槽底面313和连接槽底面313的两个相对设置的第一侧面311和第二侧面312。第一滑块10可相对第一移动台30滑出所述开口。因此，当第一滑块10出现破损或者出现松弛时可通过第一滑槽31将第一滑块10滑出开口，替换新的第一滑块10。

所述第二移动台40也为不锈钢材料，第二移动台40为长方体结构。第二移动台40在三维方向的移动精度为100微米，使其能够精确地调控第二移动台40的平移。移动速度在0～500μm/s。在其他实施例中，第二移动台40也可以为铝合金等，且形状、精度和移动速度可以在其他范围。第二移动台40与第一移动台30相对的一个侧面42也设有一个第二滑槽41，第二移动台40的第二滑槽41沿着侧面42的延伸方向设置并且第二滑槽41的两端设有贯穿第二移动台40的开口，所述第二滑槽41的截面为凸字形，包括槽底面413和连接槽底面413的两个相对设置的第一侧面411和第二侧面412。第二滑块20可相对第二移动台40滑出所述开口。因此，当第二滑块20出现破损或者出现松弛时可通过第二滑槽41将第二滑块20滑出开口，替换新的第二滑块20。

如图3及图4所示，所述第一滑块10包括滑动装于第一滑槽31内的滑动体13、连接所述滑动体13与承载体11的抵持体12。所述抵持体12凸设于滑动体13的一表面、承载体11凸设于抵持体12表面。本实施例的滑动体13为块体，第一滑槽31的槽底面313***述滑动体13。滑动体13沿着第一滑槽31相对滑动。在其他实施例中，滑动体13也可以为圆柱体、球体等，圆柱体或者球体有助于减小第一滑块10与第一滑槽31之间的摩擦，具体可以根据实际情况而定。每个抵持体12包括第二面121、端面122及底面123。所述第一滑块10的抵持体12的第二面121形成第一抵持面124，所述第一抵持面124朝向所述间隔区域70内。抵持体12的端面122抵接第一滑槽31的第一侧面311；所述抵持体12的底面123抵接第一滑槽31的第二侧面312。这样，通过滑槽的第一侧面311与第二侧面312固定住所述抵持体12的端面122和底面123，进一步防止第一滑块10在测量过程中出现晃动。

如图3及图4所示，所述第二滑块20与第一滑块10的结构一样。所述第二滑块20包括滑动装于第二滑槽内的滑动体13、连接所述滑动体13与承载体11的抵持体12。所述抵持体12凸设于滑动体13的一表面、承载体11凸设于抵持体12表面。本实施例的滑动体13为块体，第二滑槽41的槽底面413***述滑动体13。滑动体13沿着第二滑槽41相对滑动。在其他实施例中，滑动体13也可以为圆柱体、球体等，圆柱体或者球体有助于减小第二滑块20与第二滑槽41之间的摩擦，具体可以根据实际情况而定。每个抵持体12包括第二面121、端面122及底面123。所述第二滑块10的抵持体12的第二面形成第二抵持面(图未示)，所述第一抵持面124朝向所述间隔区域内。抵持体12的端面122抵接第二滑槽41的第一侧面411；所述抵持体12的底面123抵接第二滑槽41的第二侧面412。这样，通过第二滑槽41的第一侧面411与第二侧面412固定住所述抵持体12的端面122和底面123，进一步防止第一滑块10在测量过程中出现晃动。

所述液晶盒的侧面与第一抵持面124和第二抵持面相互抵持，使得所述第一滑块10和第二滑块20的抵持体12紧密地固定住所述液晶盒，避免液晶盒在测量过程中发生滑动，从而影响测量的准确性。所述每个承载体11包括第一面111,所述第一滑块10的承载体11的第一面111形成第一承载面112，所述第二滑块20的承载体11的第一面111形成第二承载面(图未示)，所述第一承载面112与第二承载面构成承载面，所述第一承载面112与第二承载面处于同一水平面并位于所述间隔区域70内。所述承载面用于承载液晶盒，防止在测量过程中液晶盒脱落，发生破碎。

本实施例中，所述光发射器50为波长范围为450-650nm的激光发射器。在其他实施例中，也可以采用其他波长范围的光发射器50，例如波长在400nm～800nm的氙灯。所述光电检测器60包括接收单元与处理单元。接收单元用于接收所述光发射器50发射的光信号，处理单元用于将所述光信号转化为电信号。所述液晶盒厚度测量装置还包括示波器。示波器用于显示电信号，并对所述电信号进行处理。在其他实施例中，可以采用其他电信号处理装置，可以根据实际情况而定。具体的，测量液晶盒的过程中，将液晶盒置于多个第一滑块10与第二滑块20的承载面，调节移动台，固定住液晶盒。启动激光发射器，激光发射器发出激光信号。激光信号入射到液晶盒后，经过多次反射和折射形成多束平行反射光和平行投射光，根据干涉原理，测量光束的光程差。光电检测器60的接收单元接收所述激光信号，并通过处理单元将激光信号转化为电信号。利用所述示波器显示电信号的信息，进而计算出液晶盒的液晶盒厚度。

请参阅图5，本发明还提供一种液晶盒厚度的测量方法，其包括：

步骤S10，取液晶盒置于多个滑块的承载面，通过调整所述滑块的位置以调整所述液晶盒所要测量位置；根据液晶盒的尺寸大小，确定所述第一滑块10和第二滑块20的数量，液晶盒的尺寸越大，使用第一滑块10和第二滑块20的数量越多。本实施例中，第一滑块10和第二滑块20的数量分别为两个。将液晶盒置于第一滑块10和第二滑块20的承载面，确定测量液晶盒厚度的位置。滑动第一滑块10和第二滑块20，调节承载液晶盒的位置，避开液晶盒所要测量的位置。

步骤S20，调整所述移动台的相对位置，使第一抵持面和第二抵持面夹持所述液晶盒；启动移动台，第一移动台20相对第二移动台30运动，使得所述第一移动台30的第一抵持面124及第二移动台40的第二抵持面与液晶盒的侧面相互抵持，从而实现固定住液晶盒，防止液晶盒发生晃动。

步骤S30，启动光发射器50和光电检测器60，所述光发射器50发射光信号，所述光电检测器60接收所述光信号及转化为电信号，并处理所述电信号信息及计算所述液晶盒的厚度。本实施例中，光发射器50采用的是波长范围为450-650nm的激光发射器。在其他实施例中，也可以采用其他波长范围的光发射器50，例如波长在400nm～800nm的氙灯。启动激光发射器，激光发射器发出激光信号。激光信号入射到液晶盒后，经过多次反射和折射形成多束平行反射光和平行投射光，根据干涉原理，测量光束的光程差。光电检测器60的接收单元接收所述激光信号，并通过处理单元将激光信号转化为电信号。利用所述示波器显示电信号的信息，从而计算出液晶盒的液晶盒的厚度。

本发明的有益效果如下：通过在第一移动台10的侧面与第二移动台20的侧面设置滑槽，并且在所述滑槽内装有多个用于承载及抵持液晶盒的第一滑块10和第二滑块20，第一滑块10和第二滑块20均可分别在第一滑槽31和第二滑槽41内相对移动台滑动，从而解决在液晶盒厚测量过程中能够根据液晶盒的尺寸灵活调节滑块承载与抵持液晶盒的位置，进而准确地测量液晶盒的各个位置的液晶盒厚。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种液晶盒厚度测量装置，用于测量液晶盒的厚度尺寸，其特征在于，包括第一移动台、与所述第一移动台相对设置的第二移动台、光发射器以及用于接收所述光发射器发射光信号的光电检测器；所述第一移动台的侧面与所述第二移动台的侧面之间形成间隔区域，并且所述第一移动台的侧面与所述第二移动台的侧面均设有滑槽；所述第一移动台的所述滑槽内装有多个第一滑块，所述第二移动台的所述滑槽内装有多个第二滑块，所述第一滑块和所述第二滑块位于所述间隔区域内，所述第一滑块和所述第二滑块均包括凸出所述第一移动台与所述第二移动台的侧面的承载体，所述承载***于所述间隔区域内承载所述液晶盒；所述光发射器和所述光电检测器在垂直于水平面的方向上上下相对设置并且光信号路径位于所述间隔区域内。

2.如权利要求1所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述第一滑块和所述第二滑块均包括滑动装于所述滑槽内的滑动体、连接所述滑动体与所述承载体的抵持体；所述抵持体凸设于所述滑动体的一表面，所述承载体凸设于所述抵持体表面。

3.如权利要求2所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，每个所述承载体包括第一面,所述第一滑块的承载体的第一面形成第一承载面，所述第二滑块的承载体的第一面形成第二承载面，所述第一承载面与所述第二承载面处于同一水平面并位于所述间隔区域内。

4.如权利要求2所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，每个所述抵持体包括第二面,所述第一滑块的抵持体的第二面形成第一抵持面，所述第二滑块的抵持体的第二面形成第二抵持面，所述第一抵持面与所述第二抵持面相对设置并朝向所述间隔区域内。

5.如权利要求1所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述滑槽的两侧设有贯穿移动台的开口，所述滑块可滑出所述开口。

6.如权利要求2所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述第一移动台和第二移动台的滑槽均包括第一侧面和与所述第一侧面平行相对的第二侧面；所述第一侧面抵接所述抵持体的端面；所述第二侧面抵接所述抵持体的底面。

7.如权利要求1所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述光发射器为波长450-650nm的激光发射器。

8.如权利要求7所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述光电检测器包括接收单元与处理单元；所述接收单元用于接收所述光发射器发射的光信号，所述处理单元用于将光信号转化为电信号。

9.如权利要求8所述的液晶盒厚度测量装置，其特征在于，所述液晶盒厚度测量装置还包括处理所述电信号的示波器。

10.一种液晶盒厚度测量方法，所述方法为权利要求4所述的液晶盒厚度测量装置的测量方法，其特征在于，包括：

取液晶盒置于多个滑块的承载面，并根据所述液晶盒的尺寸大小，确定所述滑块的数量，通过调整所述滑块的位置以调整所述液晶盒所要测量位置；

调整移动台的相对位置，使第一抵持面和第二抵持面夹持所述液晶盒；

启动光发射器和光电检测器，所述光发射器发射光信号，所述光电检测器接收所述光信号及转化为电信号，并处理所述电信号及计算所述液晶盒的厚度。