CN107045412A - 电容式触控结构、触控显示面板、显示装置及扫描方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电容式触控结构及扫描方法，该电容式触控结构可以通过控制开关单元的开通与关断来达到相邻两列触控检测电极同时侦测触控位置、和/或者相邻两行触控检测电极同时侦测触控位置的目的，即实现捆绑交叠式列扫描或实现捆绑交叠式行扫描，通过开关单元将行方向或者列方向上的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极单元，减少相邻触控检测电极间的行间隙与列间隙对触控精度的影响，提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

Description

电容式触控结构、触控显示面板、显示装置及扫描方法

技术领域

本发明涉及触控技术领域，且特别涉及一种电容式触控结构、触控显示面板、显示装置及扫描方法

背景技术

随着显示技术的飞速发展，触控显示装置已经逐渐遍及人们的生活中。在触控显示的发展初始阶段，触控显示面板是将触控面板与显示面板贴合而成，以实现触控显示，需要单独制备触控面板与显示面板，成本高，厚度较人，且生产效率低。随着触控显示技术的发展，出现了内嵌式触控显示面板，内嵌式触控显示面板将触控检测电极内嵌在显示面板内部，可以减薄模组整体的厚度，又可以大大降低触控显示装置的制作成本，使其受到各大面板厂家青睐。

以自容式触控显示面板为例，自容式触控显示面板中设置多个同层设置且相互绝缘的自电容电极，当人体未触碰屏幕时，各自电容电极所承受的电容为一固定值；当人体触碰屏幕时，对应的自电容电极所承受的电容为固定值叠加人体电容，驱动单元中的触控用集成电路在触控时间段通过检测各自电容电极的电容值变化可以判断出触控位置。

图1为现有技术的一种自容式触控面板的示意图，如图1所示，例如可以将显示面板中阵列基板的公共电极兼做自容式触控检测的触控检测电极10'，通过分时驱动，分时序的进行触控控制与显示控制，从而同时实现触控与显示功能。而作为与电容式触控屏配套使用的触控笔20'，相比手指书写更加符合人们使用笔这种输入工具的使用习惯。但在上述自容式结构中，一般触控笔20'的笔尖的半径较小，与触控显示面板的接触面积较小，当触控笔20'的笔尖处于两相邻触控检测电极10'的间隙时，此时的感应量比处于触控检测电极10'中心位置的较小，难以侦测到触控点，导致处于该位置的触控容易出现漏报点，因此使用触控笔进行划线时容易出现断线、线性度差等不良。

发明内容

本发明的目的在于提供一种一种电容式触控结构、触控显示面板、显示装置及扫描方法，以解决现有触控显示面板及显示装置存在的因触控笔的笔尖与触控显示面板的接触面积较小而导致的触控精度不良、线性度差等问题。

本发明提供一种电容式触控结构，包括：多个触控检测电极；多条触控信号线，与触控检测电极一一对应连接；触控侦测芯片，与触控信号线连接，用于在触控扫描时问内通过检测各所述触控检测电极的电容值变化判断触控位置；其中，电容式触控结构还包括第一开关单元，第一开关单元包括第一端、第二端与控制端；与在行方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与第一开关单元的第一端、第二端连接。

在本发明的一个实施例中，上述电容式触控结构还包括第二开关单元，第二开关单元包括第一端、第二端与控制端；与在列方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与所述第二开关单元的第一端、第二端连接。

在本发明的一个实施例中，上述第一开关单元和所述第二开关单元的控制端连接至所述触控侦测芯片上的控制信号输出端。

进一步的，本发明还提供一种电容式触控结构的扫描方法，该电容式触控结构包括M行N列触控检测电极，具体的：

在触控检测阶段内，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线分时的向各触控检测电极施加驱动信号；以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

上述“分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置”包括：

在t1时间段内，同时向第n列与第n+1列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n列与第n+1列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；接着，在与t1相邻的t2时间段内，同时向第n+1列与第n+2列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n+1列与第n+2列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；以此类推，直至扫描完所有触控检测电极；其中，M为不小于3的正整数；N不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

在本发明的一个实施例中，上述“分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置”还包括：

在与t1'时间段内，同时向第m行与第m+1行触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第m行与第m+1行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；接着，在与t1'相邻的t2'时间段内，同时向第m+1行与第m+2行触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第m+1行与第m+2行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置，以此类推，直至将所有触控检测电极再扫描一遍；其中，m为不大于M-2的正整数。

进一步的，本发明还提供一种触控显示面板，该触控显示面板包括一阵列基板，该阵列基板包括上述电容式触控结构。

进一步的，本发明还提供一种显示装置，包括上述的触控显示面板。

与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点：本发明提供的电容式触控结构，包括第一开关单元、第二开关单元，第一开关单元与第二开关单元分别包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与第一开关单元的第一端、第二端连接；与在列方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与第二开关单元的第一端、第二端连接；可以通过控制第一开关单元与第二开关单元的开通与关断来达到相邻两行触控检测电极同时侦测触控位置、和/或相邻两列触控检测电极同时侦测触控位置的目的，即实现捆绑交叠式列扫描或实现捆绑交叠式行扫描，通过开关单元将行方向或者列方向上的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极单元，减少相邻触控检测电极间的行间隙与列间隙对触控精度的影响，提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是现有技术中的一种触控显示面板的示意图；

图2是本发明提供的一种电容式触控结构的示意图；

图3是图2所示电容式触控结构中第一开关单元的连接方式示意图；

图4是图2所示电容式触控结构中第一开关单元的另一种连接方式示意图；

图5是图2所示电容式触控结构中第二开关单元的连接方式示意图；

图6是图2所示电容式触控结构中第二开关单元的另一种连接方式示意图；

图7是本发明提供的捆绑交叠式列扫描方式示意图；

图8是本发明提供的捆绑交叠式行扫描方式示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

首先，本发明实施方式提供一种电容式触控结构，图2是本发明提供的一种电容式触控结构的示意图，如图2所示，该电容式触控结构，包括多个触控检测电极10，在本实施例中，该多个触控检测电极10呈矩阵排列，且该多个触控检测电极10同层设置且相互绝缘；多条互不交叉的触控信号线20，以及触控侦测芯片IC，每条触控信号线20的一端通过连接孔连接至一个与其对应的触控检测电极10，每条触控信号线20的另一端连接至触控侦测芯片IC，在触控检测阶段内，触控侦测芯片IC通过触控信号线20向各触控检测电极10施加驱动信号，以及，检测各触控检测电极10的电容值变化，并根据接收到的反馈信号判断触控位置。

进一步的，该电容式触控结构还包括开关模块30，开关模块30包括多个开关单元(图中未示出)。具体的，每个开关单元包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至一个开关单元的第一端、第二端；和/或，与在列方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至另一个开关单元的第一端、第二端，并通过开关单元的控制端控制该开关单元处于开通状态或关断状态，当某一开关单元处于开通状态时，与该开关单元连接的行方向和/或列放上的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极单元。

图3是图2所示电容式触控结构中第一开关单元的连接方式示意图，如图2-3所示，开关单元包括第一开关单元31，第一开关单元31包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至一个第一开关单元31的第一端、第二端，第一开关单元31的控制端连接至控制信号输出端SW。

具体的，该电容式触控结构中的多个触控检测电极20呈矩阵排列，例如该电容式触控结构包括N列触控检测电极20。以位于同一行的第一触控检测电极11与第二触控检测电极12为例，第一触控检测电极11与第二触控检测电极12分别位于第n列和第n+1列上，也就是说第一触控检测电极11与第二触控检测电极12为两个在行方向上相邻的触控检测电极；第一触控信号线21的一端连接至第一触控检测电极11，另一端连接至触控侦测芯片IC，第二触控信号线22的一端连接至第二触控检测电极12，另一端连接至触控侦测芯片IC。则第一触控信号线21与第二触控信号线22分别连接至同一个第一开关单元31的第一端与第二端，在控制信号输出端提供的控制信号的控制下，该第一开关单元31具有开通和关断两个状态，当该第一开关单元31处于开通状态时，第一触控检测电极11与第二触控检测电极12连接在一起形成一个触控检测电极单元；当第一开关单元31处于关断状态时，第一触控检测电极11与第二触控检测电极12绝缘。

进一步的，该电容式触控结构还包括与第二触控检测电极12位于同一行的第三触控检测电极13，第二触控检测电极12与第三触控检测电极13分别位于第n+1列和第n+2列上，也就是说第二触控检测电极12与三触控检测电极13为两个在行方向上相邻的触控检测电极；第二触控信号线22的一端连接至第二触控检测电极12，另一端连接至触控侦测芯片IC；第三触控信号线23的一端连接至第三触控检测电极13，另一端连接至触控侦测芯片IC。则第二触控信号线22与第三触控信号线23分别连接至另一个第一开关单元31的第一端与第二端，当该第一开关单元31处于开通状态时，第二触控检测电极12与第三触控检测电极13连接在一起形成一个触控检测电极单元；当该第一开关单元31处于关断状态时，第二触控检测电极12与第三触控检测电极13绝缘。

也即，可以通过开关单元将行方向上相邻的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极单元，减少相邻触控检测电极间的列间隙对触控精度的影响，提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

进一步的，在本实施例中，可以设置为：

与第n列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n组触控信号线，与第n+1列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n+1组触控信号线，同时与第n组和第n+1组触控信号线中对应触控信号线20连接的所有第一开关单元31的控制端连接至同一控制信号输出端SW1；与第n+1列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n+1组触控信号线，与第n+2列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n+2组触控信号线，同时与第n+1组和第n+2组触控信号线中对应触控信号线20连接的所有第一开关单元31的控制端连接至同一控制信号输出端SW2；与第n+2列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n+2组触控信号线，与第n+3列上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第n+3组触控信号线，同时与第n+2组和第n+3组触控信号线中对应触控信号线20连接的所有第一开关单元31的控制端连接至同一控制信号输出端SW3；以此类推。

其中，N为不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

当然，也可以设置为：每个第一开关单元31的控制端独自连接至控制信号输出端，对此，本发明并不做特别限定。

进一步的，如图4所示，图4是图2所示电容式触控结构中第一开关单元的另一种连接方式示意图，图4所示电容式触控结构与图3所示电容式触控结构类似，电容式触控结包括多个第一开关单元31，每个第一开关单元31包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至每个第一开关单元31的第一端、第二端。其中，第一开关单元31的控制端直接连接至触控侦测芯片IC内的触控信号输出端，由触控侦测芯片IC为其提供控制信号，使得各个第一开关单元31根据需要处于开通或关断状态。

在本发明的另一实施例中，如图2和图5所示，图5是图2所示电容式触控结构中第二开关单元的连接方式示意图，该开关单元包括第二开关单元32，第二开关单元32包括第一端、第二端与控制端，与在列方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至第二开关单元32的第一端、第二端，第二开关单元32的控制端连接至控制信号SW'。

具体的，该电容式触控结构中的多个触控检测电极20呈矩阵排列，例如该电容式触控结构包括M行触控检测电极20。以位于同一列的第四触控检测电极14与第五触控检测电极15为例，第四触控检测电极14与第五触控检测电极15分别位于第m行和第m+1行上，也就是说第四触控检测电极14与第五触控检测电极15为两个在列方向上相邻的触控检测电极；第四触控信号线24的一端连接至第四触控检测电极14，另一端连接至触控侦测芯片IC，第五触控信号线25的一端连接至第五触控检测电极15，另一端连接至触控侦测芯片IC。则第四触控信号线24与第五触控信号线25分别连接至同一个第二开关单元32的第一端与第二端，在控制信号的控制下，该第二开关单元32具有开通和关断两个状态，当第二开关单元32处于开通状态时，第四触控检测电极14与第五触控检测电极15连接在一起形成一个触控检测电极单元；当第二开关单元32处于关断状态时，第四触控检测电极14与第五触控检测电极15绝缘。

进一步的，该电容式触控结构还包括与第五触控检测电极15位于同一列的第六触控检测电极16，第五触控检测电极15与第六触控检测电极16分别位于第m+1行和第m+2行上，也就是说第五触控检测电极15与第六触控检测电极16为两个在列方向上相邻的触控检测电极；第五触控信号线25的一端连接至第五触控检测电极15，另一端连接至触控侦测芯片IC；第六触控信号线23的一端连接至第六触控检测电极16，另一端连接至触控侦测芯片IC。则第五触控信号线25与第六触控信号线26分别连接至另一个第二开关单元32的第一端与第二端，当该第二开关单元32处于开通状态时，第五触控检测电极15与第六触控检测电极16连接在一起形成一个触控检测电极单元；当该第二开关单元32处于关断状态时，第五触控检测电极15与第六触控检测电极16绝缘。

也即，可以通过开关单元将列方向上相邻的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极单元，减少相邻触控检测电极间的行间隙对触控精度的影响，提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

进一步的，在本实施例中，可以设置为：

与第m行上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第m组触控信号线，与第m+1行上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第m+1组触控信号线，同时与第m组和第m+1组触控信号线中对应触控信号线20连接的所有第二开关单元32的控制端连接至同一控制信号输出端SW1'；与第m+1行上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第m+1组触控信号线，与第m+2行上所有的触控检测电极10一一对应连接的多条触控信号线20组成第m+2组触控信号线，同时与第m+1组和第m+2组触控信号线中对应触控信号线20连接的所有第二开关单元32的控制端连接至同一控制信号输出端SW2'，以此类推。

其中，M为不小于3的正整数，m为不大于M-2的正整数。

当然，也可以设置为：每个第二开关单元32的控制端独自连接至控制信号输出端，对此，本发明并不做特别限定。

进一步的，如图6所示，图6是图2所示电容式触控结构中第二开关单元的另一种连接方式示意图，图6所示电容式触控结构与图5所示电容式触控结构类似，电容式触控结包括多个第二开关单元32，每个第二开关单元32包括第一端、第二端与控制端，与在列方向上相邻的两个触控检测电极10连接的两条触控信号线20分别连接至第二开关单元32的第一端、第二端。其中，第二开关单元32的控制端直接连接至触控侦测芯片IC内的控制信号输出端，由触控侦测芯片IC为其提供控制信号，使得各个第二开关单元32根据需要处于开通或关断状态。

进一步的，在本发明的另一个实施方式中，本发明提供的电容式触控结构也可以同时包括上述的第一开关单元与第二开关单元。其中，第一开关单元与第二开关单元分别包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与第一开关单元的第一端、第二端连接，与在列方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与第二开关单元的第一端、第二端连接，可以通过开关单元分时的将列方向与行方向上相邻的两个触控检测电极连接在一起，形成一个触控检测电极整体，减少相邻触控检测电极间的行间隙与列间隙对触控精度的影响，进一步提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

进一步的，本发明还提供一种电容式触控结构的扫描方法，具体的，该电容式触控结构，包括多个触控检测电极，该多个触控检测电极呈矩阵排列；多条触控信号线，以及触控侦测芯片，每条触控信号线的一端通过连接孔连接至一个与其对应的触控检测电极，每条触控信号线的另一端连接至触控侦测芯片；进一步的，该电容式触控结构还包括多个开关单元，具体的，该开关单元包括第一端、第二端与控制端，与在行方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线分别连接至开关单元的第一端、第二端；和/或，与在列方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线分别连接至另一开关单元的第一端、第二端。

例如可以设置为，该电容式触控结构包括M行N列触控检测电极，与第n列上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第n组触控信号线，与第n+1列上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第n+1组触控信号线，与第n+2列上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第n+2组触控信号线；与第m行上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第m组触控信号线，与第m+1行上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第m+1组触控信号线，与第m+2行上所有的触控检测电极一一对应连接的多条触控信号线组成第m+2组触控信号线。

在触控检测阶段内，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线分时的向各触控检测电极施加驱动信号；以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置。

具体的，图7是本发明提供的捆绑交叠式列扫描方式示意图，如图7所示，在触控检测阶段内，该捆绑交叠式列扫描方式包括：

在t1时间段内，通过控制信号使得同时与第n组和第n+1组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第一开关单元处于开通状态，其它开关单元处于关断状态。触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线同时向第n列与第n+1列触控检测电极施加驱动信号，以及，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线接收第n列与第n+1列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

接着，在与t1相邻的t2时间段内，通过控制信号使得同时与第n+1组和第n+2组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第一开关单元处于开通状态，其它开关单元处于关断状态。触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线同时向第n+1列与第n+2列触控检测电极施加驱动信号，以及，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线接收所述第n+1列与第n+2列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

以此类推，直至采用该捆绑交叠式列扫描方式扫描完所有触控检测电极，在采用该捆绑交叠式列扫描方式的扫描过程中，在同一行上相邻两个触控检测电极会分时的被连接成一个触控检测电极单元，同时扫描，且除第一列与最后一列触控检测电极之外，所有列触控检测电极分别被先后扫描两遍，减少相邻触控检测电极间的列间隙对触控精度的影响，进一步提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

其中，M为不小于3的正整数，m为不大于M-2的正整数；N不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

进一步的，本发明还提供一种电容式触控结构的扫描方法还包括：

在按照上述的捆绑交叠式列扫描方式将所有触控检测电极扫描完第一遍之后，再采用下述捆绑交叠式行扫描方式将所有触控检测电极扫描第二遍，具体的，图8是本发明提供的捆绑交叠式行扫描方式示意图，如图8所示，在触控检测阶段内，该捆绑交叠式行扫描方式包括：

在与t1'时间段内，通过控制信号使得同时与第m组和第m+1组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第二开关单元处于开通状态，其它开关单元处于关断状态。触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线同时向第m行与第m+1行触控检测电极施加驱动信号，以及，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线接收所述第m行与第m+1行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置，

接着，在与t1'相邻的t2'时间段内，通过控制信号使得同时与第m+1组和第m+2组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第二开关单元处于开通状态，其它开关单元处于关断状态。触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线同时向第m+1行与第m+2行触控检测电极施加驱动信号，以及，触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线接收所述第m+1行与第m+2行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置。其中，m为不大于M-2的正整数。

以此类推，直至采用上述捆绑交叠式行扫描方式将所有触控检测电极再扫描一遍,在采用该捆绑交叠式行扫描方式的扫描过程中，在同一列上相邻两个触控检测电极会分时的被连接成一个触控检测电极单元，同时扫描，且除第一行与最后一行触控检测电极之外，所有行触控检测电极分别被先后扫描两遍，减少相邻触控检测电极间的行间隙对触控精度的影响，提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

如上述所示，本发明实施方式提供的电容式触控结构的扫描方法可以同时采用捆绑交叠式列扫描方式和捆绑交叠式行扫描方式。具体的，在触控检测阶段，该捆绑交叠式列扫描方式和捆绑交叠式行扫描方式交替进行，例如可以先采用捆绑交叠式列扫描方式将所有触控检测电极扫描一遍，接着采用捆绑交叠式行扫描方式将所有触控检测电极再扫描一遍，然后，重复上述扫描过程。采用捆绑交叠式列扫描方式和捆绑交叠式行扫描方式交替扫描的扫描方法，可以同时减少相邻触控检测电极间的行间隙和列间隙对触控精度的影响，进一步提高触控笔的触控精度，改善触控笔的线性度等问题。

在其它实施方式中，上述捆绑交叠式列扫描方式和捆绑交叠式行扫描方式交替扫描的扫描方法也可以先进行捆绑交叠式行扫描方式再进行捆绑交叠式列扫描方式，本发明对此并不做特别限定。

在其它实施方式中，本发明提供的电容式触控结构的扫描方法也可以只包括捆绑交叠式行扫描方式或者只包括捆绑交叠式列扫描方式，本发明对此并不做特别限定。

进一步的，本发明实施方式还提供一种触控显示面板，该触控显示面板包括阵列基板，该阵列基板包括本发明实施例提供的电容式触控结构。该触控显示面板例如为液晶显示面板，该液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及位于上述阵列基板、彩膜基板之间的液晶层，上述电容式触控结构中的触控检测电极组成该阵列基板的公共电极层。在显示阶段，触控检测电极可以复用为公共电极，公共电极与像素电极之间的电场驱动液晶层内的液晶分子旋转，实现液晶显示面板的图像显示。

进一步的，本发明实施方式还提供一种显示装置，包括上述触控显示面板。其中，该显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显小器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (11)

1.一种电容式触控结构，包括：

多个触控检测电极；

多条触控信号线，所述触控信号线与触控检测电极一一对应连接；

触控侦测芯片，与所述触控信号线连接，用于在触控检测阶段内通过检测各所述触控检测电极的电容值变化判断触控位置；

其特征在于，

所述电容式触控结构还包括第一开关单元，所述第一开关单元包括第一端、第二端与控制端；

与在行方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与所述第一开关单元的第一端、第二端连接。

2.根据权利要求1所述的电容式触控结构，其特征在于，所述电容式触控结构包括N列触控检测电极；

与第n列上触控检测电极一一对应连接的触控信号线组成第n组触控信号线，与第n+1列上触控检测电极一一对应连接的触控信号线组成第n+1组触控信号线，

同时与所述第n组和第n+1组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第一开关单元的控制端连接至同一控制信号输出端；

其中，N为不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

3.根据权利要求1所述的电容式触控结构，其特征在于，所述电容式触控结构还包括第二开关单元，所述第二开关单元包括第一端、第二端与控制端；

与在列方向上相邻的两个触控检测电极连接的两条触控信号线，分别与所述第二开关单元的第一端、第二端连接。

4.根据权利要求3所述的电容式触控结构，其特征在于，所述电容式触控结构包括M行触控检测电极；

与第m行上触控检测电极一一对应连接的触控信号线组成第m组触控信号线，与第m+1行上触控检测电极一一对应连接的触控信号线组成第m+1组触控信号线，

同时与所述第m组和第m+1组触控信号线中对应触控信号线连接的所有第二开关单元的控制端连接至同一控制信号输出端；

其中，M为不小于3的正整数，m为不大于M-2的正整数。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的电容式触控结构，其特征在于，所述第一开关单元和所述第二开关单元的控制端连接至所述触控侦测芯片上的控制信号输出端。

6.一种对权利要求1或2所述的电容式触控结构的扫描方法，所述电容式触控结构包括M行N列触控检测电极；

在触控检测阶段内，所述触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

所述“分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置”包括：

在t1时间段内，同时向第n列与第n+1列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n列与第n+1列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置，

接着，在与t1相邻的t2时间段内，同时向第n+1列与第n+2列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n+1列与第n+2列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

以此类推，直至扫描完所有触控检测电极；

其中，M为不小于3的正整数；N不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

7.一种对权利要求3或4所述的电容式触控结构的扫描方法，所述电容式触控结构包括M行N列触控检测电极；

所述扫描方法包括：

在触控检测阶段内，所述触控侦测芯片通过与各触控检测电极连接的触控信号线分时的向各触控检测电极施加驱动信号；接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

所述“分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置”包括：

在t1时间段内，同时向第n列与第n+1列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n列与第n+1列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置，

接着，在与t1相邻的t2时间段内，同时向第n+1列与第n+2列触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第n+1列与第n+2列触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

以此类推，直至将所有触控检测电极扫描一遍；

其中，M为不小于3的正整数，N不小于3的正整数，n为不大于N-2的正整数。

8.根据权利要求7所述的扫描方法，所述“分时的向各触控检测电极施加驱动信号，以及，接收各触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置”还包括：

在t1'时间段内，同时向第m行与第m+1行触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第m行与第m+1行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置，

接着，在与t1'相邻的t2'时间段内，同时向第m+1行与第m+2行触控检测电极施加驱动信号，以及，接收所述第m+1行与第m+2行触控检测电极的反馈信号，并根据反馈信号判断触控位置；

以此类推，直至将所有触控检测电极再扫描一遍；

其中，m为不大于M-2的正整数。

9.一种触控显示面板，包括阵列基板，所述阵列基板包括如权利要求1-5任一项所述的电容式触控结构。

10.根据权利要求9所述的触控显示面板，所有所述触控检测电极组成公共电极层。

11.一种显示装置，包括权利要求9或10所述的触控显示面板。