CN106932661B - 一种具有am调制功能的测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种具有AM调制功能的测量装置，包括：校准模块的输入端为数字芯片的输入端；当进行外调制时，通过调制切换开关将校准模块的输出端与调制系数模块的输入端连接；当进行内调制时，通过调制切换开关将频率合成器的输出端与调制系数模块的输入端连接；基带偏置模块的输入端与调制系数模块的输出端连接，基带偏置模块的第一输出端与合路模块的输入端连接，基带偏置模块的第二输出端与非线性补偿模块的输入端连接；非线性补偿模块的输出端与外部AM衰减器连接。本发明在数字AM方案基础上，分析了AM需求(内调制、外调制和调制深度等)，结合衰减器实际性能和校准需求，提出了AM在数字芯片内的实现参考方案。

Description

一种具有AM调制功能的测量装置

技术领域

本发明涉及信号测试、测量技术领域，特别涉及一种具有AM调制功能的测量装置。

背景技术

AM(Aplitude Modulation，调幅)是无线通讯的一种重要手段，任意波形发生器和射频信号源等设备都能产生AM信号，用于通讯***研究或测试。部分使用模拟合成方式的任意波形发生器和大多数射频信号源均会采用控制模拟衰减器的方式实现 AM。相对于射频信号源而言，任意波形发生器产生的信号频率一般较低，大多用于通讯方案、技术的预研或设计。射频信号源产生的调制信号频率与实际使用范围相当，可用于实用性通讯设备和器件的研究或测试。射频信号源主要作用为产生一定频率范围和幅度范围的射频信号，作为待测器件的激励或参考，协助电子器件的测试测量。幅度准确度和稳定度是射频信号源的重要技术指标之一，其主要依靠ALC(Automatic Level Control，自动电平控制电路)保证。AM打开时，也需要信号源的载波信号(基础射频信号)幅度基本不变和保持原有的稳定度。

专利CN201310721663.8介绍了一种射频信号源，其原理框图如图1所示，射频信号源主要包含频率合成器101、自动电平控制电路102及步进衰减器103。频率合成器101主要作用为产生用户设定频率的射频信号，自动电平控制电路102对射频信号的幅度准确度和稳定度进行控制，步进衰减器103使用比较大的衰减量步进对输出信号的幅度进行进一步调节，扩展射频信号源能够输出的幅度范围。

射频信号源中，AM在自动电平控制电路102部分实现，作为其扩展功能。专利CN201310721663.8介绍了一种常见的模拟ALC方案及其AM实现，如图2所示。

ALC部分由可调射频衰减器201、匹配电阻202、射频放大器203、定向耦合器 204、指数放大器205、加法器206、比较积分器(由电容207和放大器208组成)、加法器209、对数放大器210、对数放大器211及检波器212组成。2A为输入射频信号，2F为输出射频信号，2G为设定的参考信号。如果输出射频信号2F的幅度与设定的参考信号2G代表的幅度不相等，比较积分器(由电容207和放大器208组成) 的输出会发生变化，经过指数放大器205放大后作为可调射频衰减器201的衰减量，直至输出信号幅度达到设定的值。AM调制信号(基带信号，2H)经过对数放大器 211后分别进入比较积分器前后的加法器209和加法器206中，控制ALC实现AM。

在模拟ALC方案中，AM依附于ALC，对可调射频衰减器要求较高。

针对模拟ALC方案存在的问题，专利CN201310721663.8提出了一种数字ALC 结构和对应的AM实现方案，如图3所示。

数字芯片806中的功率分配器802、检波器803、数字处理模块804、可调射频衰减器801构成相对独立的数字ALC环路，数字芯片806输出数据经过数据处理单元807后直接驱动分离的可调射频衰减器805实现AM。

在数字ALC方案中，AM不依附于ALC，对可调射频衰减器要求不高。但是仅在硬件上描述了AM的组成和连接，AM在数字芯片内的实现尚无明确的方案可供参考。

发明内容

本发明实施例提供了一种具有AM调制功能的测量装置，提供了AM在数字芯片内的实现参考方案。测量装置包括用于实现AM调制功能的数字芯片；

所述数字芯片中包括校准模块、频率合成器、调制切换开关、调制系数模块、基带偏置模块、合路模块和非线性补偿模块；

所述校准模块的输入端为数字芯片的输入端；

当进行外调制时，通过调制切换开关将所述校准模块的输出端与所述调制系数模块的输入端连接；当进行内调制时，通过调制切换开关将所述频率合成器的输出端与所述调制系数模块的输入端连接；

所述基带偏置模块的输入端与所述调制系数模块的输出端连接，所述基带偏置模块的第一输出端与所述合路模块的输入端连接，所述基带偏置模块的第二输出端与所述非线性补偿模块的输入端连接；

所述非线性补偿模块的输出端与外部AM衰减器连接；

所述校准模块用于对用户输入的信号进行校准，获得外调制信号；

所述频率合成器用于产生内调制信号；

所述调制系数模块用于改变外调制信号或内调制信号的调制深度；

所述基带偏置模块用于改变外调制信号或内调制信号的偏移；

所述合路模块用于将外调制信号或内调制信号与ALC参考电压进行合路；

所述非线性补偿模块用于对外调制信号或内调制信号进行非线性补偿。

在一个实施例中，所述校准模块包括采样系数单元和采样偏置单元；

所述采样系数单元的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样系数单元的输出端与所述采样偏置单元的输入端连接，所述采样偏置单元的输出端与所述调制切换开关连接；

或，所述采样偏置单元的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样偏置单元的输出端与所述采样系数单元的输入端连接，所述采样系数单元的输出端与所述调制切换开关连接。

在一个实施例中，所述数字芯片中还包括第一加法器；

通过调制切换开关同时将所述校准模块的输出端和所述频率合成器的输出端与第一加法器连接；

通过所述第一加法器将内调制信号乘以内调制系数的结果和外调制信号乘以外调制系数的结果进行相加，获得混合调制信号。

在一个实施例中，所述数字芯片中还包括延迟模块；

所述延迟模块的输入端与基带偏置模块的输出端连接，所述延迟模块的第一输出端与所述合路模块的输入端连接，所述延迟模块的第二输出端与所述非线性补偿模块的输入端连接；

所述延迟模块用于调节内调制信号或外调制信号或混合调制信号的相位。

在一个实施例中，所述数字芯片中包括归一化模块；

所述归一化模块的输入端与所述延迟模块的第一输出端连接，所述归一化模块的输出端与所述合路模块的输入端连接；

所述归一化模块用于将内调制信号或外调制信号或混合调制信号与ALC参考电压进行归一化。

在一个实施例中，所述归一化模块为对数放大器，所述合路模块为加法器。

在一个实施例中，所述归一化模块为除法器，所述合路模块为乘法器。

在一个实施例中，所述非线性补偿模块包括主波表单元、频率补偿表单元、第一乘法器、第二加法器、温度补偿单元和第三加法器；

所述主波表单元的输入端与所述延迟模块的输出端连接，所述频率补偿表单元的输入端与所述延迟模块的输出端连接；

所述主波表模块用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在主波表中进行查找，得到第一查表结果；

所述频率补偿表单元用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在频率补偿表中查找，得到第二查表结果；

所述第一乘法器用于将第二查表结果与频率系数相乘，得到相乘结果；

所述第二加法器用于将相乘结果与第一查表 结果相加，得到控制电压；

所述温度补偿单元用于对控制电压进行温度补偿，得到温度补偿电压；

所述第三加法器用于将温度补偿电压与控制电压相加，得到最终控制电压。

在一个实施例中，所述温度补偿单元包括第二级放大器、温度补偿表单元和第二乘法器；

所述第二级放大器用于将控制电压进行线性放大；

所述温度补偿表单元用于根据线性放大后的控制电压在温度补偿表中查找，得到温度补偿结果；

所述第二乘法器用于将温度补偿结果与补偿系数相乘，得到温度补偿电压。

在一个实施例中，所述非线性补偿模块还包括第一级放大器；

所述第一级放大器的输入端为所述非线性补偿模块的输入端，所述一级放大器的输出端与所述主波表单元的输入端连接，用于将内调制信号或外调制信号或混合调制信号进行线性放大。

在本发明实施例中，在数字AM方案基础上，分析了AM需求(内调制、外调制和调制深度等)，结合衰减器实际性能和校准需求，提出了AM在数字芯片内的实现参考方案。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1是本发明实施例提供的一种射频信号源基本结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种模拟ALC电路框图；

图3是本发明实施例提供的一种数字AM电路框图；

图4是本发明实施例提供的一种具有AM调制功能的测量装置结构图；

图5是本发明实施例提供的一种非线性补偿模块结构框图；

图6是本发明实施例提供的另一种具有AM调制功能的测量装置结构图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本发明做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施方式及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。

在现有的数字ALC方案中，仅在硬件上描述了AM的组成和连接，AM在数字芯片内的实现尚无明确的方案可供参考。本发明在专利CN201310721663.8提出的数字AM方案基础上，结合AM的实际需求和校准，对数字芯片内的结构进行了详细设计，形成了一种可用于实际的数字AM方案。

图4是本发明实施例提供的一种具有AM调制功能的测量装置结构图，如图4 所示，测量装置包括用于实现AM调制功能的数字芯片；

所述数字芯片中包括校准模块、频率合成器403、调制切换开关、调制系数模块406、基带偏置模块407、合路模块和非线性补偿模块411；

所述校准模块的输入端为数字芯片的输入端；

当进行外调制时，通过调制切换开关将所述校准模块的输出端与所述调制系数模块406的输入端连接；当进行内调制时，通过调制切换开关将所述频率合成器403 的输出端与所述调制系数模块406的输入端连接；

所述基带偏置模块407的输入端与所述调制系数模块406的输出端连接，所述基带偏置模块407的第一输出端与所述合路模块的输入端连接，所述基带偏置模块407 的第二输出端与所述非线性补偿模块411的输入端连接；

所述非线性补偿模块411的输出端与外部AM衰减器连接；

所述校准模块用于对用户输入的信号进行校准，获得外调制信号；

所述频率合成器403用于产生内调制信号；

所述调制系数模块406用于改变外调制信号或内调制信号的调制深度；

所述基带偏置模块407用于改变外调制信号或内调制信号的偏移；

所述合路模块用于将外调制信号或内调制信号与ALC参考电压进行合路；

所述非线性补偿模块411用于对外调制信号或内调制信号进行非线性补偿。

具体实施时，所述校准模块的作用是对采样电路的非理想特性校准，即用户输入设备手册指定的信号(如1Vpp正弦信号)时，校准后的信号与内部产生的调制信号相同。具体的，校准模块可以包括采样偏置单元401(减法器)和采样系数单元402 (乘法器)；

所述采样系数单元402的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样系数单元402的输出端与所述采样偏置单元401 的输入端连接，所述采样偏置单元的输出端与所述调制切换开关连接；

或，所述采样偏置单元401的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样偏置单元401的输出端与所述采样系数单元402的输入端连接，所述采样系数单元402的输出端与所述调制切换开关连接；

所述采样偏置单元401和所述采样系数单元402的作用为对从用户输入开始至数字化采样完毕之间的链路误差(主要包含***设计误差和器件批量一致性误差)进行校准，使得校准后的信号幅度与用户输入的标准信号幅度一致。校准在设备出厂前完成，一般仅执行一次。用户使用时，此模块的系数固定。

采样偏置单元401和所述采样系数单元402的具体结构可根据具体电路调整，还可以取消采样偏置单元401等。

具体实施时，AM需要实现调制频率和调制深度可调功能，需要实现内调制和外调制，部分设备可能还会有“内+外”的调制模式。此时，可将调制切换开关换成权重计算切换模块和第一加法器。

在进行内调制时，内调制使用数字芯片内部产生的信号作为调制信号(基带信号)，此调制信号可以由DDS(Direct Digital Synthesizer，直接数字式频率合成器) 403直接产生，权重计算切换模块同时设置权重-内(内调制系数)405为“1”，权重 -外(外调制系数)406为“0”。

当进行外调制时，使用用户提供的调制信号4A，那么计算切换模块设置权重- 内(内调制系数)405为“0”，权重-外(外调制系数)406为“1”。

当进行混合调制(“内+外”模式)时，权重计算切换模块同时设置权重-内(内调制系数)405和权重-外(外调制系数)406均为“0.5”。“内+外”模式将设备内部产生的调制信号和用户提供的调制信号各自乘以0.5以后再通过第一加法器相加，作为最终的调制信号(混合调制信号或者说是最终的基带信号)。

上述所说的内调制信号和外调制信号的形式均为y＝sin(w0*t)，其中w0为调制频率。在进行混合调制时，内部源和外部均需产生y＝sin(w0*t)的调制系数，同时设置权重-内和权重-外均为“0.5”。

具体实施时，内调制时，让内部产生的基带信号进行后续运算；外调制时，让外部输入并校准后的调制信号进入后续运算；混合调制时，让内调制信号乘以0.5加上外调制信号乘以0.5后进入后续运算。

后续运算包括对调制信号的深度和偏移进行调节。其中，调制系数模块406用于改变外调制信号、内调制信号和混合调制信号的调制深度，调制深度0～100％可调节。基带偏置模块407用于改变外调制信号、内调制信号和混合调制信号的偏移，便于后续逻辑设计。在基带偏置后的信号可以使用y＝1+ma*sin(w0*t)表示，其中w0为调制频率，ma为调制深度。

具体实施时，所述数字芯片还可以包括延迟模块(408、410)用于调节AM与 ALC配合时的相位误差，即内调制信号或外调制信号或混合调制信号的相位。根据实际情况可能有1个或者2个，或者没有。

当有一个时，延迟模块的输入端与基带偏置模块407的输出端连接，延迟模块的第一输出端与合路模块的输入端连接，延迟模块的第二输出端与非线性补偿模块411 的输入端连接。

当有两个时，延迟模块408的输入端与基带偏置模块407的第一输出端连接，延迟模块408的输出端与合路模块的输入端连接；延迟模块410的输入端与基带偏置模块407的第二输出端连接，延迟模块410的输出端与非线性补偿模块411的输入端连接。

具体实施时，对AM在ALC环内的调制，基带信号(内调制信号或外调制信号或混合调制信号)进入ALC之前需要根据ALC的模式进行转换。因此，所述数字芯片中还包括归一化模块，归一化模块的输入端与所述延迟模块的第一输出端连接，所述归一化模块的输出端与所述合路模块的输入端连接。

如果ALC参考为对数模式(参考电压以dB形式的单位表示)，归一化模块为对数放大器，将内调制信号或外调制信号或混合调制信号进行对数放大后，再与ALC 参考电压4C进行相加，即合路模块为加法器，相加的结果作为ALC环路的最终参考电压。如果ALC参考为线性模式(参考电压以伏特——V形式的单位表示)，归一化模块需要除以基带偏置模块的数值，再与ALC参考相乘，即合路模块为乘法器，相乘的结果作为ALC环路的最终参考电压。线性ALC中，如果调制信号已经是以“1”为中心，归一化模块可以取消。

由于一般的数字芯片对整数的设计和处理比小数略简单，可考虑将调制信号乘以一个较大的倍率，再在最后归一化或直接转换为最终输出。

具体实施时，在模拟方案中，衰减器的非线性补偿根据dB形式的输出信号进行。而AM失真的度量是以伏特(V)为基础进行的。当调制深度接近100％时，调制深度1％的改变在AM正峰值会对应dB形式很小的变化，而在负峰值处则会对应很大的变化。dB形式的非线性补偿对AM而言实用性不高，AM在正峰值处容易失真。在数字AM方案中，可针对AM特性设计针对AM应用的补偿方案，即非线性补偿模块411。

图5是本发明实施例提供的一种非线性补偿模块结构框图，如图5所示，非线性补偿模块411包括主波表单元502、频率补偿表单元503、第一乘法器、第二加法器、温度补偿单元和第三加法器；

所述主波表单元502的输入端与所述延迟模块的输出端连接，所述频率补偿表单元503的输入端与所述延迟模块的输出端连接；

所述主波表单元502用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在主波表中进行查找，得到第一查表结果；

所述频率补偿表单元503用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在频率补偿表中查找，得到第二查表结果；

所述第一乘法器用于将第二查表结果与频率系数相乘，得到相乘结果；

所述第二加法器用于将相乘结果与第一查表 结果相加，得到控制电压；

所述温度补偿单元用于对控制电压进行温度补偿，得到温度补偿电压；

所述第三加法器用于将温度补偿电压与控制电压相加，得到最终控制电压。

具体实施时，非线性补偿模块411还可以包括第一级放大器501，第一级放大器的输入端为所述非线性补偿模块的输入端，所述一级放大器的输出端与所述主波表单元的输入端连接，其作用为将输入的幅度信号5A转换为波表输入(查表地址)，为线性放大器。如果输入的幅度信号已经能够直接查表，那么第一级放大器501也可以没有。

非线性补偿模块的工作原理为：

输入电压5A经过第一级线性放大器501后分别进入主波表和频率补偿表，查表得到对应的输出。频率补偿表查表结果与频率系数相乘，再与主波表查表结果相加，得到未经过温度补偿的衰减器控制电压5C。未经补偿的控制电压5C会进入温度补偿模块得到相应的温度补偿值，在与未经补偿的电压5C相加得到最终的控制电压5B。

具体实施时，温度补偿单元由第二级放大器505、温度补偿波表单元506和第二乘法器组成。第二级放大器505作用为将待补偿的控制电压5C转换为温度补偿波表的输入(查表地址)，查表后将得到一个初始的补偿电压，此电压会通过乘法器与温度系数507相乘，才会得到最终的温度补偿电压。

具体实施时，AM衰减器非线性补偿模块用于将以伏特(V)形式单位表示输入信号转换为衰减器的实际控制电压，需要对衰减器的频率误差和温度误差进行补偿。其输入5A可以使用y＝A*(1+sinw0t)表示，输出5B的是衰减器在相应的频率和温度下的控制电压。衰减器误差按照伏特(V)的形式衡量，以一个固定电压值为基准，当需求的电压值与基准值差异较大时误差较大。此非线性补偿模块依靠主波表对一个频率下的非线性进行良好的补偿，再用频率补偿模块对特定温度下不同频率的控制电压进行补偿，频率补偿完毕后的结果才进入温度补偿模块，进行温度补偿。没有将温度补偿模块与频率补偿模块并行设置，原因是频率补偿时增加的那一部分电压也有温度误差，也需要进行温度补偿。

频率补偿的基本设定为不同频率下衰减量-控制电压曲线均匀发生变化。即，如果衰减器在频率freq1下衰减量-控制电压曲线可以使用函数y＝f1(x)表示，(y为衰减量，x为控制电压)在频率freq2下的曲线可以使用y＝f2(x)表示，那么函数在其它频率下的曲线可以使用函数y＝*f1(x)+kf*(f2(x)-f1(x))表示，kf为待定的频率补偿系数，随频率发生变化。在进行频率补偿时，需要首先对衰减器在两个频率(freq1、freq2) 下扫描衰减量-控制电压关系，以一个频率(基准频率，freq1)下的曲线为主波表(502) 内容，另一个频率(参考频率，freq2)下的曲线与前一个频率下的曲线误差(相同衰减量下的控制电压差)为频率补偿波表(503)内容。不同频率下的频率系数(504) 通过校准得到。

温度补偿的基本设定与频率补偿相似，即设定相同衰减量下控制电压随温度均匀发生变化，但控制电压随温度变化的速度与衰减量和频率相关。使用函数y＝y0 +m(freq)*(T-T0)*g(y0)对衰减器的温度特性进行补偿，温度系数(507)包含m(freq) 与(T-T0)的乘积。其中，输入为未经补偿(基准温度，T0)的控制电压(y0)，输出是当前温度(T)和频率(freq)下的控制电压；m(freq)为频率因子，随频率发生变化；g(y0)为衰减量补偿因子，与控制电压(衰减量)相关。温度补偿时，需要首先测量不同温度下衰减器的衰减量-控制电压曲线。然后计算主波表频率(基准频率， freq1)下衰减量-控制电压曲线温度误差，并归一化到1摄氏度，得到基础温度误差。接着，将基础温度误差的横坐标(衰减量)变换为基准温度(T0)下的控制电压。最后，将控制电压-基础温度误差曲线对横坐标(控制电压)线性化，得到温度误差波表。频率因子的计算可以对不同频率相同衰减量(或控制电压)对应的基础温度误差比例系数计算得到，也可以使用温度试验的方式测量得到。

本发明还提出一种数字AM方案实施例，如图6所示，在非线性补偿模块610 后增加了测试寄存器611。

工作原理为：

用户输入信号6A经过采样偏置单元601和采样系数单元602校准后，作为调制切换开关604的一路输入，内部源603产生的调制信号作为另一路输入。调制切换开关604实现内/外调制的切换，调制系数模块605实现调制深度变化，基带偏置模块 606实现调制信号的偏移。线性模式的ALC需要对延迟模块607后的基带信号除以基带偏置608后与ALC参考DAC相乘。对数模式的ALC需要对延迟模块607后的基带信号进行对数放大，再经过适当的线性倍率放大后与ALC参考DAC相加。基带偏置模块606调节后的基带信号(内调制信号或外调制信号或混合调制信号)，需要经过延迟模块609和非线性补偿模块610后输出信号6B用于控制外部AM衰减器。

测试寄存器611的作用是：当启用测试模式时，直接使用测试寄存器611的值控制衰减器，帮助测试衰减器性能。

本发明得到的效果是：

未对衰减器进行频率温度补偿时，如果AM载波频率发生变化，解调后的AM 正负峰值偏差可达10％以上。使用对数模式的频率、温度补偿方案后，对AM失真进行校准，不同载波频率下正负峰值误差可在3％以内。但峰值误差随温度变化剧烈，调制深度设定为90％，温度变化约5摄氏度，正峰值发生约7％左右的变化。使用本发明补偿方案，-5～55摄氏度，100％调试深度，正负峰值误差变化量小于约5％。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明实施例的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明实施例不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明实施例可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，测量装置包括用于实现AM调制功能的数字芯片；

所述数字芯片中包括校准模块、频率合成器、调制切换开关、调制系数模块、基带偏置模块、合路模块和非线性补偿模块；

所述校准模块的输入端为数字芯片的输入端；

当进行外调制时，通过调制切换开关将所述校准模块的输出端与所述调制系数模块的输入端连接；当进行内调制时，通过调制切换开关将所述频率合成器的输出端与所述调制系数模块的输入端连接；

所述基带偏置模块的输入端与所述调制系数模块的输出端连接，所述基带偏置模块的第一输出端与所述合路模块的输入端连接，所述基带偏置模块的第二输出端与所述非线性补偿模块的输入端连接；

所述非线性补偿模块的输出端与外部AM衰减器连接；

所述校准模块用于对用户输入的信号进行校准，获得外调制信号；

所述频率合成器用于产生内调制信号；

所述调制系数模块用于改变外调制信号或内调制信号的调制深度；

所述基带偏置模块用于改变外调制信号或内调制信号的偏移；

所述合路模块用于将外调制信号或内调制信号与ALC参考电压进行合路；

所述非线性补偿模块用于对外调制信号或内调制信号进行非线性补偿。

2.如权利要求1所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述校准模块包括采样系数单元和采样偏置单元；

所述采样系数单元的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样系数单元的输出端与所述采样偏置单元的输入端连接，所述采样偏置单元的输出端与所述调制切换开关连接；

或，所述采样偏置单元的输入端为所述校准模块的输入端，所述采样偏置单元的输出端与所述采样系数单元的输入端连接，所述采样系数单元的输出端与所述调制切换开关连接。

3.如权利要求1所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述数字芯片中还包括第一加法器；

通过调制切换开关同时将所述校准模块的输出端和所述频率合成器的输出端与第一加法器连接；

通过所述第一加法器将内调制信号乘以内调制系数的结果和外调制信号乘以外调制系数的结果进行相加，获得混合调制信号。

4.如权利要求3所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述数字芯片中还包括延迟模块；

所述延迟模块的输入端与基带偏置模块的输出端连接，所述延迟模块的第一输出端与所述合路模块的输入端连接，所述延迟模块的第二输出端与所述非线性补偿模块的输入端连接；

所述延迟模块用于调节内调制信号或外调制信号或混合调制信号的相位。

5.如权利要求4所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述数字芯片中包括归一化模块；

所述归一化模块的输入端与所述延迟模块的第一输出端连接，所述归一化模块的输出端与所述合路模块的输入端连接；

所述归一化模块用于将内调制信号或外调制信号或混合调制信号与ALC参考电压进行归一化。

6.如权利要求5所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述归一化模块为对数放大器，所述合路模块为加法器。

7.如权利要求5所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述归一化模块为除法器，所述合路模块为乘法器。

8.如权利要求4所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述非线性补偿模块包括主波表单元、频率补偿表单元、第一乘法器、第二加法器、温度补偿单元和第三加法器；

所述主波表单元的输入端与所述延迟模块的输出端连接，所述频率补偿表单元的输入端与所述延迟模块的输出端连接；

所述主波表单元用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在主波表中进行查找，得到第一查表结果；

所述频率补偿表单元用于根据内调制信号或外调制信号或混合调制信号在频率补偿表中查找，得到第二查表结果；

所述第一乘法器用于将第二查表结果与频率系数相乘，得到相乘结果；

所述第二加法器用于将相乘结果与第一查表 结果相加，得到控制电压；

所述温度补偿单元用于对控制电压进行温度补偿，得到温度补偿电压；

所述第三加法器用于将温度补偿电压与控制电压相加，得到最终控制电压。

9.如权利要求8所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述温度补偿单元包括第二级放大器、温度补偿表单元和第二乘法器；

所述第二级放大器用于将控制电压进行线性放大；

所述温度补偿表单元用于根据线性放大后的控制电压在温度补偿表中查找，得到温度补偿结果；

所述第二乘法器用于将温度补偿结果与补偿系数相乘，得到温度补偿电压。

10.如权利要求8所述的具有AM调制功能的测量装置，其特征在于，所述非线性补偿模块还包括第一级放大器；

所述第一级放大器的输入端为所述非线性补偿模块的输入端，所述一级放大器的输出端与所述主波表单元的输入端连接，用于将内调制信号或外调制信号或混合调制信号进行线性放大。

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