CN106918744A - 一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,属于绝缘子污秽检测技术领域。该测量方法包括:步骤1:将被测污秽绝缘子固定于样品架上,并采用多个相同大小的铝箔胶带对被测污秽绝缘子进行局部分割;步骤2:采用铜导线将所有的铝箔胶带分别与电阻测量仪进行连接,之后对被测污秽绝缘子整体施加电压,并采用所述电阻测量仪测量得到不同导线之间的电阻值;步骤3:采用区域电阻值叠加法计算得到被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻。本发明能够更可靠的反映绝缘子表面的真实污染状况,并且操作简单。
Description
技术领域
本发明涉及绝缘子污秽检测技术领域,特别是指一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法。
背景技术
输电线路和变电站的户外电气设备,尤其是架空线路中常用的绝缘子经常遭受到工业污秽或自然界盐碱,飞尘,鸟粪等污染。在相对湿度低时,污秽层电阻很大,绝缘性能不会降低,但在相对湿度高,如雾、露、小雨、雪等不利气象条件下,污秽层中的电解质受潮溶解后,使得绝缘子表面的电导率增大,绝缘性能下降,而污秽层中的非电解质等能够保持水分,促进污秽层进一步受潮,电解质进一步溶解。因此,在外加电压作用下,绝缘子表面泄漏的电流增大,从而导致沿绝缘表面的污闪事故。据统计,在20世纪80~90年代,污闪事故次数在电网事故总次数中居第2位,仅次于雷害事故,而污闪事故通常是跨区域大面积的事故,造成的损失是雷害事故的10倍,其危害远远大于其它种类电网故障。因此绝缘子表面污染状况的评价对保证其安全运行有着至关重要的作用。
目前关于污秽绝缘子的评价主要依靠绝缘子表面等值盐密度和灰密度的测量方法。如专利复合绝缘子伞裙表面等值盐密度和灰密度的测量方法(CN1033086356),通过测量复合绝缘子伞裙表面的等值盐密度和灰密度来判断电网外绝缘子的污秽等级。该方法测试简单,便于现场操作,因此应用较广。目前也已积累了较多数据,但等值盐密法难以直接反映污秽对绝缘子绝缘性的影响,而这对绝缘子等设备的运行又非常重要。
局部电导率法是另一种测量绝缘子污秽度的方法,由于理论上局部表面电导率与等值盐密度Sa之间存在着一定的关系,因此,通过测量污秽绝缘子的局部电导率可以更精确的反应绝缘子的污染状况,如期刊《高压电技术》于1990年01期公开的《局部表面电导率-表征绝缘子污秽程度的一种新方法》,但根据其测量方法,污秽绝缘子的表面电导率是采用测量探头进行测量获得的,而探头的引入不可避免的引入了相应的接触电阻,并且探头的区域较小,会因为潮湿介质本身的电导特性而影响测量精度。
因此,需研究一种新的测量污秽绝缘子表面电导率的方法以进一步增加此方法测量的稳定性。根据公式
其中,σ为污秽绝缘子表面电导率,k为污秽绝缘子的形状系数,Rx为污秽绝缘子的表面电阻。
由该公式可知,可通过精确测量污秽绝缘子的表面电阻而获得相应的电导率参数。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种能够更可靠的反映绝缘子表面的真实污染状况,并且操作简单的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法。
为解决上述技术问题,本发明提供技术方案如下:
一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,包括:
步骤1:将被测污秽绝缘子固定于样品架上,并采用多个相同大小的铝箔胶带对被测污秽绝缘子进行局部分割;
步骤2:采用铜导线将所有的铝箔胶带分别与电阻测量仪进行连接,之后对被测污秽绝缘子整体施加电压,并采用所述电阻测量仪测量得到不同导线之间的电阻值;
步骤3:采用区域电阻值叠加法计算得到被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻。
进一步的,所有铝箔胶带在被测污秽绝缘子上的粘贴区域为距被测污秽绝缘子中心的半径相同的弧边。
进一步的,所有铝箔胶带在被测污秽绝缘子上的粘贴区域为被测污秽绝缘子中心的一条直径上。
进一步的,所述步骤2中,对被测污秽绝缘子整体施加电压时,施加电压的两端应为被测绝缘子中心线的相同弧边或是同一条直径的两端。
进一步的,在被测污秽绝缘子的局部表面区域的电阻时,所述局部表面区域的两侧分别至少有两个所述铝箔胶带。
进一步的,所述步骤3中,采用区域电阻值叠加法计算被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻的公式为:
RX=(R13-R12)+(R24-R34)-R23
其中,每个铝箔胶带依次被标记为1,2,3,4,R12表示铝箔胶带1、2的接触电阻与铝箔胶带1、2之间区域的表面电阻之和,其余依次类推,RX表示相邻两个铝箔胶带之间被测污秽绝缘子局部区域的表面电阻。
进一步的,所述铝箔胶带的面积小于4cm2。
进一步的,所述绝缘架采用塑料或木质材料制成。
本发明具有以下有益效果:
与现有技术相比,本发明的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法通过使用多个铝箔胶带对污秽绝缘子进行局部分割,之后采用铜导线将所有的铝箔胶带连接到电阻测量仪上测量不同导线之间的电阻值,即不同铝箔胶带之间污秽绝缘子局部区域的表面电阻与相应铝箔胶带的接触电阻之和,最后经过区域电阻值叠加换算即可计算得到污秽绝缘子表面不同区域的表面电阻。本发明能够克服在对污秽绝缘子整体表面电阻测量中遇到的由于形状引起的测量结果分散型性大的缺点,能更可靠地反映绝缘子表面的真实污染情况;且测量过程中可以通过选取不同的区域进行测量,最大限度地消除了接触电阻,得到最真实的表面电阻状况。此外,本发明操作简单,通过连接不同区域的导线,可直接测量和计算出不同区域的表面电阻,通过表面电阻值的大小即可进行被测污秽绝缘子表面污染情况的评价。
附图说明
图1为本发明的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法的实施例1的结构示意图;
图2为本发明的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法的实施例2的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明提供一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,如图1和图2所示,包括:
步骤1:将被测污秽绝缘子5固定于样品架上,并采用多个相同大小的铝箔胶带1、2、3、4对被测污秽绝缘子5进行局部分割;
步骤2:采用铜导线6将所有的铝箔胶带1、2、3、4分别与电阻测量仪7进行连接,之后对被测污秽绝缘子5整体施加电压,并采用电阻测量仪测量得到不同导线之间的电阻值R12、R13、R24、R34、R23;
步骤3:采用区域电阻值叠加法计算得到被测污秽绝缘子5相应区域的表面电阻RX。
本发明的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法通过使用多个铝箔胶带对污秽绝缘子进行局部分割,之后采用铜导线将所有的铝箔胶带连接到电阻测量仪上测量不同导线之间的电阻值,即不同铝箔胶带之间污秽绝缘子局部区域的表面电阻与相应铝箔胶带的接触电阻之和,最后经过区域电阻值叠加换算即可计算得到污秽绝缘子表面不同区域的表面电阻。本发明能够克服在对污秽绝缘子整体表面电阻测量中遇到的由于形状引起的测量结果分散性大的缺点,能更可靠地反映绝缘子表面的真实污染情况;且测量过程中可以通过选取不同的区域进行测量,最大限度地消除了接触电阻,得到最真实的表面电阻状况。此外,本发明操作简单,通过连接不同区域的导线,可直接测量和计算出不同区域的表面电阻,通过表面电阻值的大小即可进行被测污秽绝缘子表面污染情况的评价。
由于被测污秽绝缘子5的局部表面电阻值较小,本发明中的电阻测量仪7优选采用超高阻、微电流测量仪,超高阻、微电流测量仪具有电阻测量范围宽、精度高、显示迅速、性能稳定、读数方便的优点。
本发明中,铜导线可以直接粘贴在两层铝箔胶带之间,并最终随铝箔胶带直接粘贴在被测污秽绝缘子上,此时铜导线的横截面积和粘接面积应小于铝箔胶带的粘贴面积,以方便铜导线6的固定。
此外,在对被测污秽绝缘子5整体加压时,也可以采用铝箔胶带9将铜导线8的一端粘贴在被测污秽绝缘子5上,铜导线8的另一端连接在电压测量仪上。
下面列出铝箔胶带对被测污秽绝缘子5的局部分割方式的几个实施例,其中铝箔胶带的数量为4个:
实施例1:
铝箔胶带1、2、3、4在被测污秽绝缘子5上的粘贴区域为距被测污秽绝缘子5中心的半径相同的弧边。
实施例2:
铝箔胶带1、2、3、4在被测污秽绝缘子5上的粘贴区域为被测污秽绝缘子5中心的一条直径上。
上述两个实施例中铝箔胶带1、2、3、4对被测污秽绝缘子的局部分割方式均能够保证在对被测污秽绝缘子整体加压时电流流向的稳定性。
上述实施例1中,对被测污秽绝缘子5整体施加电压时,施加电压的两端应优选为铝箔胶带1、2、3、4在被测绝缘子5上粘贴的相同弧边,以保证电流的最短通路。
上述实施例2中,对被测污秽绝缘子5整体施加电压时,施加电压的两端应优选为铝箔胶带1、2、3、4在被测绝缘子5上粘贴的同一条直径的两端,也是为了保证电流的最短通路。
进一步的,步骤3中,采用区域电阻值叠加法计算被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻的公式为:
R13-R12=RX+R3 (a)
R24-R34=RX+R2 (b)
R2+R3+RX=R23 (c)
由公式(a)、(b)、(c)可推导得出公式:
RX=(R13-R12)+(R24-R34)-R23 (d)
其中,R12表示铝箔胶带1、2的接触电阻与铝箔胶带1、2之间区域的表面电阻之和,R2表示铝箔胶带2的接触电阻,其余依次类推,RX表示相邻两个铝箔胶带之间区域的表面电阻,即相邻两个铝箔胶带2、3之间最短直线距离的电阻,如图1和图2所示。
公式(a)、(b)、(c)、(d)中的电阻R12、R13、R24、R34、R23可直接从电阻测量仪上直接读出。
由于被测污秽绝缘子5的局部表面电阻本身较小,而接触电阻(R2、R3等)造成的误差值的范围往往在与若干个数量级之上,因此从公式(d)中可以看出,采用分段叠加、差值计算的方式,能够消除接触电阻,得到单位距离中的纯电阻,其结果更接近于真实值。
由公式(d)可以看出,在被测污秽绝缘子5的局部表面区域的电阻RX时,局部表面区域的两侧即电阻RX的两侧应分别至少有两个铝箔胶带才可以计算出电阻RX的值。
本发明中,为了减小铝箔胶带1、2、3、4粘贴在被测污秽绝缘子5表面后占用的区域面积,铝箔胶带1、2、3、4的面积均优选小于4cm2。
此外,绝缘架可以采用绝缘性能较好的塑料或木质材料制成,并且在条件允许的情况下,绝缘架可置于封闭的屏蔽箱(如铁箱)中以避免在测量过程中收到外界因素的干扰。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,包括:
步骤1:将被测污秽绝缘子固定于样品架上,并采用多个相同大小的铝箔胶带对被测污秽绝缘子进行局部分割;
步骤2:采用铜导线将所有的铝箔胶带分别与电阻测量仪进行连接,之后对被测污秽绝缘子整体施加电压,并采用所述电阻测量仪测量得到不同导线之间的电阻值;
步骤3:采用区域电阻值叠加法计算得到被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻。
2.根据权利要求1所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所有铝箔胶带在被测污秽绝缘子上的粘贴区域为距被测污秽绝缘子中心的半径相同的弧边。
3.根据权利要求1所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所有铝箔胶带在被测污秽绝缘子上的粘贴区域为被测污秽绝缘子中心的一条直径上。
4.根据权利要求2或3所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所述步骤2中,对被测污秽绝缘子整体施加电压时,施加电压的两端应为被测绝缘子中心线的相同弧边或是同一条直径的两端。
5.根据权利要求2或3所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,在被测污秽绝缘子的局部表面区域的电阻时,所述局部表面区域的两侧分别至少有两个所述铝箔胶带。
6.根据权利要求5所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所述步骤3中,采用区域电阻值叠加法计算被测污秽绝缘子相应区域的表面电阻的公式为:
RX=(R13-R12)+(R24-R34)-R23
其中,每个铝箔胶带依次被标记为1,2,3,4,R12表示铝箔胶带1、2的接触电阻与铝箔胶带1、2之间区域的表面电阻之和,其余依次类推,RX表示相邻两个铝箔胶带之间被测污秽绝缘子局部区域的表面电阻。
7.根据权利要求6所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所述铝箔胶带的面积小于4cm2。
8.根据权利要求6所述的污秽绝缘子局部表面电阻的测量方法,其特征在于,所述绝缘架采用塑料或木质材料制成。
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