CN106877945A - 提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法,其包括步骤:(a)对被测物进行定位并利用绝缘粘性材料例如优选为胶带及/或橡皮泥将所述被测物固定在测试台上;以及(b)将测试天线设置在所述被测物的测试面以耦合方式对所述被测物进行射频测试。因此,本发明可以使被测物定位准确、方便测试,进而改善测试结果精确性,提高测试通过率。
Description
技术领域
本发明是涉及基于NFC技术的短距离通信领域产品的测试,特别是关于一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法。
背景技术
NFC(Near Field Communication, 近场无线通信)技术最初是由飞利浦(Philips)与索尼(Sony)在2002年联合开发的无线连接技术,主要包含由飞利浦开发的Mifare接口与Sony的Felica免接触IC卡***,并于2004年正式宣布成立NFC Forum (NFC论坛),共同推广此一近场通讯技术。目标是将NFC配备到手机、PDA、数码相机、携带式游戏机、电脑以及各种数码消费性电子产品之上,并通过ID数据的认证,使产品彼此间能快速便利的进行数据和服务的交换。
随着NFC Forum在测试方面的不断完善,从开始的数字协议的强制认证,到射频、逻辑链路及简单编码协议方面的强制测试,测试要求不断完善。鉴于此技术工作频段仅为13.56MHz,在普通射频测试方面一般所采用的传导测试在此已经没什么意义。此频段多为采用耦合方式进行测试。但是耦合测试需考虑到周围环境及测试方法对测试结果的影响。因此,如何提高基于NFC Forum规范的模拟(analog)测试通过率,是目前亟待解决的问题之一。
发明内容
为克服现有技术存在的缺陷和不足,本发明实施例提供一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法。
具体地,本发明实施例提供的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法,其包括步骤:(a)对被测物进行定位并利用绝缘粘性材料将所述被测物固定在测试台上;以及(b)将测试天线设置在所述被测物的测试面以耦合方式对所述被测物进行射频测试。
在本发明的一个实施例中,上述步骤(a)依序包括:将所述绝缘粘性材料粘在所述被测物的背面;对所述被测物在所述测试台上进行激光定位;以及在激光定位后,粘在所述被测物的背面的所述绝缘粘性材料粘贴至所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。
在本发明的一个实施例中,上述步骤(a)包括:利用所述绝缘粘性材料将所述被测物的多个角固定在所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。
在本发明的一个实施例中,当所述测试天线因被测物表面不平整而不能与所述被测物完全贴紧时,在上述步骤(b)之前进一步包括步骤:利用绝缘材料将所述被测物低的一角垫高以使所述被测物的测试面与所述测试天线处于同一水平面。
在本发明的一个实施例中,当所述被测物的测试面有凸起时,在上述步骤(b)之前进一步包括步骤:将所述测试天线抬高以适应所述被测物的所述凸起。
在本发明的一个实施例中,上述绝缘粘性材料至少包括胶带和橡皮泥其中之一。
在本发明的一个实施例中,上述绝缘材料为泡沫材料。
在本发明的一个实施例中,上述绝缘材料为扣出SIM卡芯片的白卡材料。
在本发明的一个实施例中,上述测试天线的抬高幅度为1-3mm。
在本发明的一个实施例中,上述射频测试为0平面测试。
因此,本发明实施例能够使被测物定位准确、方便测试,从而改善测试结果准确性以及提高测试通过率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
图1A示出本发明实施例的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法中的一种被测物固定方式。
图1B示出本发明实施例的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法中的另一种被测物固定方式。
图2示出本发明实施例的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法中的被测物垫高方式。
图3示出本发明实施例的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法中的测试天线抬高方式。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出具体实施方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。
一般的NFC设备,多为手机,读写器等质量较轻的设备。在analog(模拟)测试例如射频测试时,测试天线的具***置及被测物的放置对测试结果影响很大。具体地,在基于NFC Forum规范的射频测试中,分为0平面测试和1平面测试;0平面测试是将测试天线紧贴被测物,1平面测试是测试天线和被测物距离约5毫米(mm)的距离。
对于质量较轻的设备,在0平面测试时,因为测试中使用的机械臂的移动会带动被测物移动,导致测试结果异常。为了测试定位更加精确,如图1A和图1B所示,可以利用绝缘粘性材料将被测物30固定在测试台10上,以避免被测物30移动。
具体地,在图1A中,利用胶带20a作为绝缘粘性材料将被测物30固定在测试台10上。在此,对于胶带固定方式,不建议使用胶带将整个被测物30捆绑于测试台10上,一方面不方便被测物30的正常移动,另一方面,胶带20a的材质可能会影响天线的性能,导致测试结果异常。所以,将胶带20a例如透明胶带的反面卷起来,将一部分胶面粘在被测物30底面(也即不涉及测试的一面),待激光定位时,将另一面粘贴在测试台10上。
在图1B中,利用橡皮泥20b作为绝缘粘性材料固定被测物30的四角,以将被测物30固定在测试台10上;可以理解的是,并不限于使用橡皮泥20b固定被测物30的全部四个角,也可以只固定部分角,例如固定对角,只要能实现将被测物30固定在测试台10上的目的即可。
上述利用胶带20a和橡皮泥20b的被测物固定方法均不会对被测物30或测试台10造成污染,且经本案发明人大量实验证明其对测试结果影响非常小甚至可以忽略不计,并且可以使被测物30定位准确、方便测试。另外,在其他实施例中,也可将上述利用胶带和利用橡皮泥固定的方案结合使用。当然,可以理解的是,在对测试结果影响的可接受范围内,也可以采用其他绝缘粘性材料。
承上述,在被测物30通过绝缘粘性材料固定在测试台10上后,则可以将测试天线设置在被测物30的测试面(例如顶面)以耦合方式对被测物 30进行基于NFC Forum规范的模拟测试例如射频测试。此外,如果存在被测物30的表面不平整或被测物30测试面有凸起的情形,则在进行模拟测试之前进一步进行以下处理:
(1)如图2所示,对于测试表面不平整的被测物30,可能会导致测试天线50与被测物30不能完全贴紧,测试天线50会翘起来,影响定位准确性及测试结果精确性。本实施例中以绝缘材料40采用铺垫的方式将被测物30低的一角垫高,以使被测物30测试面能够和测试天线50处于同一个水平面上。对于铺垫的材料选择需要谨慎考虑到材料对周围磁场的影响。故泡沫材料是相对最为理想的选择;当然,也可以使用其他绝缘材料例如普通的SIM卡材料,也即扣出SIM卡芯片后的白卡材料,其也不会对周围的磁场产生明显的影响。
(2)如图3所示,当被测物30测试面有凸起31,可能导致测试天线50翘起变形时,为了不使测试天线50因变形而导致测试结果异常,本实施例中利用绝缘材料60将测试天线50抬高,以用来适应被测物30的凸起31。优选地,测试天线50抬高的幅度为1~3mm。在此,绝缘材料60也可选用泡沫等绝缘材料。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法,其特征在于,包括:
步骤(a):对被测物进行定位并利用绝缘粘性材料将所述被测物固定在测试台上;
步骤(b):将测试天线设置在所述被测物的测试面以耦合方式对所述被测物进行射频测试。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(a)依序包括:
将所述绝缘粘性材料粘在所述被测物的背面;
对所述被测物在所述测试台上进行激光定位;以及
在激光定位后,粘在所述被测物的背面的所述绝缘粘性材料粘贴至所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(a)包括:
利用所述绝缘粘性材料将所述被测物的多个角固定在所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。
4.如权利要求1至3任意一项所述的方法,其特征在于,当所述测试天线因被测物表面不平整而不能与所述被测物完全贴紧时,在所述步骤(b)之前还包括步骤:
利用绝缘材料将所述被测物低的一角垫高以使所述被测物的测试面与所述测试天线处于同一水平面。
5.如权利要求1至3任意一项所述的方法,其特征在于,当所述被测物的测试面有凸起时,在所述步骤(b)之前还包括步骤:
将所述测试天线抬高以适应所述被测物的所述凸起。
6.如权利要求1至3任意一项所述的方法,其特征在于,所述绝缘粘性材料至少包括胶带和橡皮泥其中之一。
7.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述绝缘材料为泡沫材料。
8.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述绝缘材料为扣出SIM卡芯片的白卡材料。
9.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述测试天线的抬高幅度为1-3mm。
10.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述射频测试为0平面测试。
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