CN106776183B - 一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 - Google Patents
一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106776183B CN106776183B CN201611199635.4A CN201611199635A CN106776183B CN 106776183 B CN106776183 B CN 106776183B CN 201611199635 A CN201611199635 A CN 201611199635A CN 106776183 B CN106776183 B CN 106776183B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pin
- card
- control chip
- card seat
- debugging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 14
- 244000107946 Spondias cytherea Species 0.000 claims description 4
- 235000005138 Spondias dulcis Nutrition 0.000 claims description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 14
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 6
- 238000011160 research Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100191136 Arabidopsis thaliana PCMP-A2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100048260 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) UBX2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2215—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test error correction or detection circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
本发明公开了一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备,调试电路包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座;当控制芯片检测到SD卡座中***了SD卡时,链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连通到SD卡座,此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作;当控制芯片检测到SD卡座中未***SD卡时,链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连通到SD卡座,此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试,在电子产品外部仅预留SD卡槽、电路板上预留的测试点被包裹在整机内时,便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。
Description
技术领域
本发明涉及电路设计技术领域,具体涉及一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备。
背景技术
目前,很多电子产品都趋向于小型化、防水等方向发展,会取消外露的USB接口、仅保留SD卡槽,虽然产品的电路板上会预留测试点,但是在产品组成整机后,这些测试点通常会包裹在整机内,不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。
发明内容
本发明提供了一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备,以解决在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下,由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内,不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。
根据本发明的一个方面,本发明提供了一种调试电路,包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座;
所述控制芯片,用于监测所述SD卡座中是否***SD卡;
所述链路切换单元,用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未***SD卡时,将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通,并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开;当所述控制芯片监测到所述SD卡座中***了SD卡时,将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开,并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。
根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种调试装置,包括用于***SD卡座的转接板,以及与所述转接板相连的USB连接器;
所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚,当所述转接板***SD卡座时,所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚;
所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理,使所述转接板***SD卡座后,SD卡座的CD引脚的信号为高电平;
所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚,所述USB连接器的D+引脚接所述转接板的DATA0_1引脚,所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。
根据本发明的又一个方面,本发明提供了一种电子设备,包括上述的调试电路。
根据本发明的再一个方面,本发明提供了一种调制***,包括上述调试电路,以及上述调试装置;
当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时,所述调制***进入功能调试模式/固件升级模式;
当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时,所述调制***进入固件升级模式/功能调试模式。
本发明的有益效果是:本发明实施例将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用,当控制芯片检测到SD卡座中***SD卡时,链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座,此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作;当控制芯片检测到SD卡座中未***SD卡时,链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座,此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试,解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下,由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内,因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。
附图说明
图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图;
图2是本发明一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图;
图3是本发明一个实施例提供的一种电子设备的功能框图;
图4是本发明一个实施例提供的一种调制***的功能框图。
具体实施方式
本发明的设计构思是:很多电子产品向于小型化、防水等方向发展,外部仅预留SD卡槽,电路板上预留的测试点都被包裹在整机内,不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。针对这种情况,本发明将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用,当SD卡座***SD卡时,将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座,控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作;当SD卡座未***SD卡时,将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座,此时将调试装置***SD卡座就可以对产品整机进行调试,并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式。
实施例一
图1是本发明一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图,如图1所示,本实施例提供的调试电路包括控制芯片U1、链路切换单元和SD卡座J2。
控制芯片U1监测SD卡座J2中是否***SD卡。当控制芯片U1监测到SD卡座J2中未***SD卡时,链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通,并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开,此时控制芯片U1上用于调试的引脚通过SD卡座J2引到产品外部,上位机可以通过SD卡座J2与控制芯片U1建立连接,进行产品整机的相关调试工作。
当控制芯片U1监测到SD卡座J2中***了SD卡时,链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开,并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通,此时控制芯片U1可以正常读写SD卡。
当SD卡***SD卡座中时,SD卡的一个角顶在CD引脚的位置,使SD卡座的CD引脚拉低为低电平,因此在优选实施例中,控制芯片U1通过检测SD卡座J2的CD引脚的信号判断SD卡座J2中是否***SD卡:当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时,控制芯片U1判断SD卡座J2中未***SD卡,并向链路切换单元发送高电平的控制信号;当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时,控制芯片U1判断SD卡座J2中***了SD卡,并通过SEL0脚向链路切换单元发送低电平的控制信号。
优选地,链路切换单元包括两个双通道单刀双掷开关:第一开关U2和第二开关U3。第一开关U2的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚,第一开关U2的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚,第一开关U2的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA0引脚和DATA1引脚。第二开关U3的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚,第二开关U3的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚,第二开关U3的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA2引脚和DATA3引脚。
当SD卡座J2未***SD卡时,第一开关U2和第二开关U3的SEL1脚接地,控制端SEL0通过电阻R3接VCC,被拉高,第一开关U2和第二开关U3的第一输入通道CH1关闭,第二输入通道CH2开启,控制芯片U1上用于进行调试工作的Update、USB_DP、USB_DM、DETECT_VBUS四个引脚被接通到SD卡座J2上。当SD卡座J2***SD卡时,控制芯片U1检测到SD卡座的CD引脚的电平被拉低后,将第一开关U2和第二开关U3的控制端SEL0拉低,控制芯片U1上用于与SD卡进行数据通信的D0、D1、D2、D3四个引脚被接通到SD卡座J2上。
优选地,本实施例提供的调试电路还包括一个预留USB连接器J1,USB连接器J1的VBUS引脚接控制芯片U1的DETECT_VBUS引脚,USB连接器的D+引脚和D-引脚分别接控制芯片U1的USB_DP引脚和USB_DM引脚,USB连接器J1的GND引脚接地。在链路切换单元出现故障等情况下,可以将产品整机拆开,通过USB连接器J1进行产品的调试。
本实施例中,控制芯片U1为Ambarella(安霸)DSP芯片,安霸是目前高端视频方案解决供应商,很多高端视频设备都是使用安霸解决方案,特别是现在市场前景比较好的运动相机、无人机等产品。这些产品大多数仅在设备外部保留唯一的输入输出接口,即SD卡座,将本实施例提供的调试电路应用到这类产品中,即可方便地通过SD卡座对产品整机进行调试工作。
实施例二
图2是本发明一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图,如图2所示,本实施例提供的调试装置包括用于***SD卡座的转接板,以及与转接板相连的USB连接器J3。
转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚,当转接板***SD卡座时,转接板的DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接SD卡座J2的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚。本实施例中,转接板与普通的SD卡外形相同,但是在与SD卡座J2接触的一端(左下角)经过切角处理。当普通的SD卡***SD卡座中时,SD卡的左下角顶在SD卡座CD引脚的位置,使SD卡座的CD引脚拉低为低电平。本实施的转接板左下角做了切角处理,使得转接板***SD卡座后,SD卡座的CD引脚的信号为高电平,***会判断SD卡座中未***SD卡。
USB连接器J3的VUBS引脚接转接板的DATA2_1引脚,USB连接器J3的D+引脚接转接板的DATA0_1引脚,USB连接器的D-引脚接转接板的DATA1_1引脚。通过USB连接器J3可以对产品整机进行调试工作。
优选地,本实施例提供的调试装置上还设置有一个单刀双掷开关SW1,转接板上还设置有DATA3_1引脚和VDD_1引脚,当转接板***SD卡座时,DATA3_1引脚和VDD_1引脚分别连接SD卡座的DATA3引脚和VDD引脚。单刀双掷开关SW1的可动端接转接板的DATA3_1引脚,第一不动端接转接板的VDD_1引脚,第二不动端接USB连接器J3的GND引脚。通过拨动单刀双掷开关SW1可以选择将控制芯片U1的Update引脚拉高或者拉低,以控制产品开机上电后***进入不同的模式,例如选择进入固件升级模式或选择进入功能调试模式。
实施例三
图3是本发明一个实施例提供的一种电子设备的功能框图,本实施例提供的电子设备300包括上述实施例一中的调试电路310。
实施例四
图4是本发明一个实施例提供的一种调制***的功能框图,如图4所示,本实施例提供的调制***400包括上述实施例1中的调试电路410以及上述实施例2中的调试装置420。单刀双掷开关SW1的可动端连接第一不动端或连接第二不动端时,会将控制芯片U1的Update引脚拉高或者拉低,使调制***400进入不同的工作模式,如进入固件升级模式或功能调试模式。但是对于不同型号的芯片,***进入固件升级模式或功能调试模式所需的电平是不一样的。
例如,对于安霸S2L33m-A1-RH芯片,当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端时,转接板的DATA3_1引脚直接连接到VDD_1引脚,由于当转接板***SD卡座J2时,转接板的DATA3_1引脚通过SD卡座J2和第二开关U3最终连接到控制芯片U1的Update引脚,因此Update引脚的电平被VDD拉高。控制芯片U1的Update引脚检测到高电平后,控制调制***400进入固件升级模式,此时可以对电子产品整机软体进行升级。
当单刀双掷开关SW1的可动端接第二不动端时,转接板的DATA3_1引脚直接连接到地,使控制芯片U1的Update引脚的电平被拉低。控制芯片U1的Update引脚检测到低电平后,控制调制***400进入功能调试模式,PC机等上位机可以通过USB连接器向电子产品整机内部的控制芯片U1发送指令,进行调试分析和测试。
但是对于安霸A9SE75芯片,当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端,使控制芯片U1的Update引脚被VDD拉高时,调制***400进入功能调试模式;当单刀双掷开关SW1的可动端接第二不动端,使控制芯片U1的Update引脚被GND拉低时,调制***400进入固件升级模式。因此在实际使用时,需要根据***要求选择单刀双掷开关的连接方向。
本发明将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用,当SD卡座***SD卡时,可以对SD卡进行正常的读写操作;当SD卡座***调制装置时,可以对产品整机进行调试,并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式,解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下,由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内,因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,在本发明的上述教导下,本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行其他的改进或变形。本领域技术人员应该明白,上述的具体描述只是更好的解释本发明的目的,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (9)
1.一种调试电路,其特征在于,所述调试电路包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座;
所述控制芯片,用于监测所述SD卡座中是否***SD卡;
所述链路切换单元,用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未***SD卡时,将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通,并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开;当所述控制芯片监测到所述SD卡座中***了SD卡时,将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开,并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。
2.如权利要求1所述的调试电路,其特征在于,所述控制芯片具体用于,通过检测所述SD卡座的CD引脚的信号判断所述SD卡座中是否***SD卡;
当检测到所述SD卡座的CD引脚的信号为高电平时,判断所述SD卡座中未***SD卡,并向所述链路切换单元发送高电平的控制信号;
当检测到所述SD卡座的CD引脚的信号为低电平时,判断所述SD卡座中***了SD卡,并向所述链路切换单元发送低电平的控制信号。
3.如权利要求2所述的调试电路,其特征在于,所述链路切换单元包括第一开关和第二开关;所述第一开关和所述第二开关均为双通道单刀双掷开关;
所述第一开关的第一输入通道接所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚,所述第一开关的第二输入通道接所述控制芯片上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚,所述第一开关的输出通道接所述SD卡座的DATA0引脚和DATA1引脚;
所述第二开关的第一输入通道接所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚,所述第二开关的第二输入通道接所述控制芯片上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚,所述第二开关的输出通道接所述SD卡座的DATA2引脚和DATA3引脚;
所述第一开关的控制端和所述第二开关的控制端接所述控制芯片发送的控制信号。
4.如权利要求3所述的调试电路,其特征在于,所述调试电路还包括一个预留USB连接器;
所述预留USB连接器的VBUS引脚接所述控制芯片的DETECT_VBUS引脚;
所述预留USB连接器的D+引脚和D-引脚分别接所述控制芯片的USB_DP引脚和USB_DM引脚;
所述预留USB连接器的GND引脚接地。
5.如权利要求4所述的调试电路,其特征在于,所述控制芯片为Ambarella DSP芯片。
6.一种调试装置,其特征在于,所述调试装置包括用于***SD卡座的转接板,以及与所述转接板相连的USB连接器;
所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚,当所述转接板***SD卡座时,所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚;
所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理,使所述转接板***SD卡座后,SD卡座的CD引脚的信号为高电平;
所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚,所述USB连接器的D+引脚接所述转接板的DATA0_1引脚,所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。
7.如权利要求6所述的调试装置,其特征在于,所述调试装置上还设置有一个单刀双掷开关;
所述转接板上还设置有DATA3_1引脚和VDD_1引脚,当所述转接板***SD卡座时,所述DATA3_1引脚和VDD_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA3引脚和VDD引脚;
所述单刀双掷开关的可动端接所述转接板的DATA3_1引脚,第一不动端接所述转接板的VDD_1引脚,第二不动端接所述USB连接器的GND引脚。
8.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括如权利要求1-5任一项所述的调试电路。
9.一种调制***,其特征在于,所述调制***包括如权利要求4或5所述的调试电路,以及如权利要求7所述的调试装置;
当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时,所述调制***进入功能调试模式/固件升级模式;
当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时,所述调制***进入固件升级模式/功能调试模式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611199635.4A CN106776183B (zh) | 2016-12-22 | 2016-12-22 | 一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201611199635.4A CN106776183B (zh) | 2016-12-22 | 2016-12-22 | 一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106776183A CN106776183A (zh) | 2017-05-31 |
CN106776183B true CN106776183B (zh) | 2024-01-30 |
Family
ID=58897231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201611199635.4A Active CN106776183B (zh) | 2016-12-22 | 2016-12-22 | 一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106776183B (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107256187A (zh) * | 2017-06-16 | 2017-10-17 | 郑州云海信息技术有限公司 | Sd卡物理开关检测电路、方法及sd卡开关检测装置 |
CN109212268A (zh) * | 2017-06-29 | 2019-01-15 | 北京小米移动软件有限公司 | 电子设备、线路转接装置及调试设备 |
CN109239575B (zh) * | 2018-08-01 | 2020-12-29 | 上海移远通信技术股份有限公司 | 一种检测装置、检测方法及自动化检测*** |
CN109388544B (zh) * | 2018-10-30 | 2022-03-04 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种故障监测方法、装置及电子设备 |
CN111650537B (zh) * | 2020-06-17 | 2022-04-15 | 东莞华贝电子科技有限公司 | 辅助检测电路、装置、主板和终端设备 |
CN112181753B (zh) * | 2020-09-25 | 2022-11-04 | 烽火通信科技股份有限公司 | 调试方法、***及可读存储介质 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102043933A (zh) * | 2009-10-21 | 2011-05-04 | 深圳Tcl新技术有限公司 | 一种工作状态可控的sd卡读卡器模块 |
CN203241987U (zh) * | 2013-05-27 | 2013-10-16 | 青岛海信电子设备有限公司 | 一种存储卡调试装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI222028B (en) * | 2002-06-07 | 2004-10-11 | Carry Computer Eng Co Ltd | Switching method and judgment method of common connector and terminals of memory card |
TW201627862A (zh) * | 2015-01-26 | 2016-08-01 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 除錯電路、除錯請求電路及除錯系統 |
-
2016
- 2016-12-22 CN CN201611199635.4A patent/CN106776183B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102043933A (zh) * | 2009-10-21 | 2011-05-04 | 深圳Tcl新技术有限公司 | 一种工作状态可控的sd卡读卡器模块 |
CN203241987U (zh) * | 2013-05-27 | 2013-10-16 | 青岛海信电子设备有限公司 | 一种存储卡调试装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106776183A (zh) | 2017-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106776183B (zh) | 一种调试电路、调试装置、调制***和一种电子设备 | |
CN108475227B (zh) | 测试功能组件及数据调试方法 | |
US8886513B2 (en) | Embedded bus emulation | |
US20120324131A1 (en) | Automatic detection device, system and method for inter-integrated circuit and serial general purpose input/output | |
CN108074624B (zh) | 存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质 | |
CN105701011A (zh) | 一种调试方法、应用该方法的电子产品及调试卡 | |
CN114090360B (zh) | 一种服务器调试装置、方法及其介质和服务器调试器 | |
CN115454903A (zh) | 一种接口拔插自动化操控装置及方法 | |
CN206532282U (zh) | 一种调试电路、调试装置、调试***和一种电子设备 | |
CN103795586A (zh) | 切换式通信接口检测方法及其装置 | |
CN101968762A (zh) | Nfc-sim卡芯片仿真器 | |
CN108205444B (zh) | 一种高效ctp程序烧录测试处理*** | |
CN112860606A (zh) | 一种接口转换装置及设备 | |
CN101105761A (zh) | 具有usb接口的接触式智能卡的仿真器 | |
CN115658398A (zh) | 硬盘接口通道测试装置及其测试方法 | |
CN100511172C (zh) | 一种板间透传总线的测试装置及方法 | |
CN213181887U (zh) | 电压检测电路以及交互智能平板 | |
CN213365381U (zh) | 主板 | |
CN211180806U (zh) | 基于hdmi接口的调试串口电路、hdmi接口模块及hdmi设备 | |
CN101118512A (zh) | 具多界面的快闪存储卡测试器具 | |
CN204069101U (zh) | 一种通讯接口切换装置 | |
CN100530129C (zh) | 主机板功能测试板 | |
CN114880265B (zh) | 一种usb接口传输串口数据的方法及传输电路 | |
CN111782247B (zh) | 烧录器供电的升级*** | |
CN219320768U (zh) | V2x设备的通信电路、v2x设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |