CN106771974B - 显示模组点灯测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示模组点灯测试装置及方法，该装置用于对待测显示模组进行点灯测试，包括：存储器、***电路及现场可编程门阵列芯片，其中，现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示界面控制器，现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组，以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。通过上述方式，本发明能够简化点灯测试装置的硬件部分，减少***电路设计，降低电子元器件的使用数量，提升点灯装置的稳定性，方便研发人员维护。

Description

显示模组点灯测试装置及方法
技术领域
本发明涉及显示领域，特别是涉及一种显示模组点灯测试装置及方法。
背景技术
目前小尺寸面板厂商在手机面板组成模组后，会对手机模组进行相应的功能测试，例如模组光学的品味，模组整体的功耗，伽马调试等测试。这些相关测试都需要模组点灯测试平台来实现，大多数小尺寸面板厂商所采用的点灯测试装置的中的元器件数量较多，成本比较高，且容易影响模组测试的进度。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种显示模组点灯测试装置及方法，能够简化点灯测试装置的硬件部分，减少***电路设计，降低电子元器件的使用数量，提升点灯装置的稳定性，方便研发人员对点灯测试装置的维护。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，包括：存储器，用于存储进行点灯测试所需的图片数据；***电路，接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令；现场可编程门阵列芯片(Field-Programmable Gate Array，FPGA)，与存储器与***电路连接以接收图片数据和控制指令，根据控制指令而产生对应的控制参数，并根据控制参数对图片数据进行处理以输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试；其中，现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示界面控制器，现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组，以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。
其中，现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器中配置有用户指令，且微处理器通过总线接口而连接***电路，以将用户指令输出至***电路。
其中，***电路进一步连接至一个用于供用户输入用户指令的控制装置，以通过***装置而接收用户指令。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：存储控制器，与存储器连接以读取存储器内存储的图片数据；I2C(Inter Integrated Circuit)从控制器，与***电路连接以接收***电路所输出的控制指令；参数配置控制器，与I2C从控制器连接以根据控制指令而产生对应的控制参数；图片产生器；PG产生器，其中，图片产生器和PG产生器分别与存储控制器连接以分别接收存储器所输出的图片数据，且图片产生器和PG产生器进一步分别与参数配置控制器，以分别根据控制参数而对图片数据进行处理；模式选择控制器，分别连接图片产生器和PG产生器，以根据其选择的工作模式而选择图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且模式选择控制器进一步连接显示界面控制器，以通过显示界面控制器而输出选择的图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据至待测显示模组。
其中，模式选择控制器进一步连接微处理器以接收微处理器所输出的模式选择指令并根据模式选择指令而工作在对应的工作模式下。
其中，进一步包括：功率控制模块，其连接在现场可编程门阵列芯片与待测显示模组之间，以接收现场可编程门阵列芯片所输出的功率控制参数，并根据功率控制参数而输出对应的电源电压至待测显示模组，以控制待测显示模组在不同功率下进行点灯测试。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：功率控制器，其与参数配置控制器和功率控制模块连接，其中，参数配置控制器所产生的控制参数包括功率控制参数，功率控制器接收功率控制参数，并根据功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至功率控制模块以控制功率控制模块输出对应的电源电压。
其中，存储器包括SD卡(Secure Digital Memory Card，安全数码卡)和至少一个DDR存储器(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：SD卡控制器，与SD卡连接以读取SD卡内存储的图片数据；DDR控制器，与DDR存储器连接以读取DDR存储器内存储的图片数据；其中，SD卡控制器进一步连接DDR控制器并通过DDR控制器而连接至图片产生器及PG产生器。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示模组点灯测试方法，该方法可应用于以上任一项点灯测试装置，该方法包括：通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而将初始化信息输出至待测显示模组以对待测显示模组进行初始化操作；通过现场可编程门阵列芯片读取存储在存储器内的进行点灯测试所需的图片数据；通过***电路而接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令；通过现场可编程门阵列芯片接收控制指令，根据控制指令而产生对应的控制参数，并根据控制参数对图片数据进行处理，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。
以上方案，把微处理器和显示界面控制器整合到现场可编程门阵列芯片中，简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了***电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。
附图说明
图1是本发明显示模组点灯测试装置一实施方式的结构示意图；
图2是本发明显示模组点灯测试装置另一实施方式的结构示意图；
图3是本发明显示模组点灯测试装置再一实施方式的结构示意图；
图4是本发明显示模组点灯测试装置又一实施方式的结构示意图；
图5是本发明显示模组点灯测试方法一实施方式的流程示意图。
具体实施方式
下面结构附图和实施方式对本发明进行详细说明。
请参阅图1，图1是本发明显示模组点灯测试装置一实施方式的结构示意图。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明，并不用于限定于本发明。
本实施方式中，该显示模组点灯测试装置用于对待测显示模组进行点灯测试，该显示模组点灯测试装置10包括：存储器11、***电路12、现场可编程门阵列芯片13。其中，现场可编程门阵列芯片13包括：微处理器131和显示界面控制器132。
其中，现场可编程门阵列芯片13分别与存储器11与***电路12连接。具体地，现场可编程门阵列芯片13内集成有微处理器131，且微处理器131还与显示界面控制器132连接，显示界面控制器132与待测显示模组14连接。
具体地，存储器11用于存储进行点灯测试所需的图片数据。***电路12用于接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令。现场可编程门阵列芯片13用于接收存储器11与***电路12发送的图片数据和控制指令，并根据控制指令而产生对应的控制参数，进而根据控制参数对图片数据进行处理以输出处理后的待测显示模组14进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组14，从而对待测显示模组14进行点灯测试。
具体地，微处理器131用于输出初始化信息，显示界面控制器132用于输出该初始化信息至待测显示模组14，从而对待测显示模组14进行初始化操作。此外，现场可编程门阵列芯片13进一步通过显示界面控制器132而输出其处理后的待测显示模组14进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组14，从而对待测显示模组14进行点灯测试。
其中，待测显示模组14可以是终端的屏幕，例如智能移动终端的屏幕、平板电脑的屏幕、笔记本电脑的屏幕、可穿戴设备的屏幕等。
其中，对待测显示模组14进行点灯测试，测试的结果可以包括屏幕的伽马曲线、黑白对比度、亮度、色度等。
本实施方式中，由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器和显示界面控制器，因此其简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了***电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。
请参阅图2，图2是本发明显示模组点灯测试装置另一实施方式的结构示意图。显示模组点灯测试装置20包括存储器21、***电路22、现场可编辑门阵列芯片23、功率控制模块25、用户指令输入模块26。其中，现场可编辑门阵列芯片23包括微处理器231、显示界面控制器232、模式选择控制器233、PG产生器224、图片产生器235、存储控制器236、I2C从控制器237、参数配置控制器238及功率控制器239。
其中，微处理器231与显示界面控制器232连接，显示界面控制器232与待测显示模组24连接；微处理器231还与模式选择控制器233连接。
其中，存储控制器236与存储器21连接；存储控制器236还分别连接图片产生器235和PG产生器234；图片产生器235和PG产生器234还进一步分别与模式选择控制器233连接，模式选择控制器233进一步连接显示界面控制器232。
其中，I2C从控制器237与用户指令输入装置26连接；I2C从控制器237还与参数配置控制器238连接；参数配置控制器238分别与图片产生器235和PG产生器234连接；参数配置控制器238还与功率控制器239连接；功率控制器239与功率控制模块25连接。
具体地，存储控制器236用于读取存储器21内存储的图片数据；图片产生器235和PG产生器234用于分别接收存储器21所输出的图片数据，且图片产生器235和PG产生器234进一步根据参数配置控制器238输出的控制参数而对图片数据进行处理；模式选择控制器233根据其选择的工作模式而选择图片产生器235和PG产生器234之一所输出的处理后图片数据作为处理后的待测显示模组24进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且通过显示界面控制器232而输出选择的图片产生器235和PG产生器234之一所输出的处理后图片数据至待测显示模组24。
具体地，I2C从控制器237用于接收用户指令输入装置26中的用于输入的控制指令，且解析该控制指令；模式选择控制器233根据I2C从控制器237解析得到的控制指令而产出对应的控制参数。其中，图片信息控制参数输出至图片产生器235和PG产生器234，功率控制参数输出至功率控制器239。功率控制器239接收模式选择控制器233输出的功率控制参数，并根据该功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至功率控制模块25以控制功率控制模块25输出对应的电源电压。
具体地，功率控制模块25用于接收现场可编程门阵列芯片23所输出的功率控制参数，并根据功率控制参数而输出对应的电源电压至待测显示模组24，以控制待测显示模组24在不同功率下进行点灯测试。用户指令输入装置26用于输入用于的控制指令。
可选地，功率控制器239输出至功率控制模块25的功率控制指令是不同的功率值、功率的延时输出、功率值的顺序输出及功率相位的顺序输出等。
可选地，模式选择控制器233进一步接收微处理器231所输出的模式选择指令，并根据模式选择指令而工作在对应的工作模式下。
可选地，存储控制器236包括SD卡控制器和至少一个DDR控制器。
可选地，存储器21包括SD卡和至少一个DDR存储器。
其中，SD卡是一种基于半导体快闪记忆器的存储卡，它被广泛地于便携式装置上使用，例如数码相机、个人数码助理(Personal Digital Assistant，PDA)和多媒体播放器等。
其中，DDR存储器是CPU能直接寻址的存储空间，由半导体器件制成。
在本实施方式中，该点灯测试装置20可以通过专门的用户输入装置26，例如，一个计算机***，以输入用户指令，从而对待测显示模组进行点灯测试，。
本实施方式中，由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器和显示界面控制器，因此其简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了***电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。
请参阅图3，图3是本发明显示模组点灯测试装置再一实施方式的结构示意图。区别于上一实施方式，本实施方式中的显示模组点灯测试装置30包括：存储器21、***电路22、现场可编辑门阵列芯片33、功率控制模块25。其中，现场可编辑门阵列芯片33包括微处理器331、显示界面控制器332、模式选择控制器333、PG产生器324、图片产生器335、存储控制器336、I2C从控制器337、参数配置控制器338、功率控制器339及总线接口340。
其中，在本实施方式中，现场可编程门阵列芯片33内集成的微处理器331中配置有用户指令。微处理器331通过总线接口340而连接***电路22，以将用户指令输出至***电路22，***电路22通过***的线路与I2C从控制器337连接，以输出用于的指令至I2C从控制器337，继而将控制指令传输至待测显示模组24。
其他模块的连接关系及作用如上一实施方式所述，在此不作赘述。
本实施方式中，由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器和显示界面控制器，简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了***电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。
请参阅图4，图4是本发明显示模组点灯测试装置又一实施方式的结构示意图。区别于上一实施方式，本实施方式的显示模组点灯测试装置40还可以进一步包括：时间显示屏41、报警器42及时钟芯片43。
其中，时间芯片43连接现场可编程门阵列芯片23，现场可编程门阵列芯片23分别连接报警器42、时间显示屏41。
其中，时间显示屏41用于记录和显示测试时间和测试状况，以便测试人员悉知测试时间。
其中，报警器42用于在测试异常时提醒测试人员，或提醒测试人员测试结束。报警器42可以是蜂鸣器、扬声器或LED灯。
时钟芯片43用于配置时间信息，包括定时完成点灯测试等。
本实施方式中，显示模组点灯测试装置的时间显示屏、报警器及时钟芯片方便了测试人员及时掌握测试情况。
请参阅图5，图5是本发明显示模组点灯测试方法一实施方式的流程示意图。其中，本发明的显示模组点灯测试方法是应用在上述的点灯测试装置中，且如图5所示，所述方法包括如下步骤：
S501：通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而将初始化信息输出至待测显示模组以对待测显示模组进行初始化操作。
S502：通过现场可编程门阵列芯片读取存储在存储器内的进行点灯测试所需的图片数据。
S503：通过***电路而接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令。
S504：通过现场可编程门阵列芯片接收控制指令，根据控制指令而产生对应的控制参数，并根据控制参数对图片数据进行处理，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组，从而对待测显示模组进行点灯测试。
详细的测试过程如上面的实施方式所述，在此不再赘述。
本实施方式中，由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器和显示界面控制器，简化了点灯测试装置的硬件部分，减少了***电路设计，降低了电子元器件的使用数量，提升了点灯装置的稳定性，方便了研发人员对点灯测试装置的维护。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种显示模组点灯测试装置，用于对待测显示模组进行点灯测试，其特征在于，包括：
存储器，用于存储进行所述点灯测试所需的图片数据；
***电路，接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令；
现场可编程门阵列芯片，与所述存储器与所述***电路连接以接收所述图片数据和所述控制指令，根据所述控制指令而产生对应的控制参数，并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理以输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；
其中，所述现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器，所述微处理器用于输出初始化信息，且所述微处理器连接所述显示界面控制器，所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示界面控制器而连接所述待测显示模组，以输出所述初始化信息至所述待测显示模组从而对所述待测显示模组进行初始化操作，并输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试；
所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：
存储控制器，与所述存储器连接以读取所述存储器内存储的所述图片数据；
I2C从控制器，与所述***电路连接以接收所述***电路所输出的所述控制指令；
参数配置控制器，与所述I2C从控制器连接以根据所述控制指令而产生对应的控制参数；
图片产生器；
PG产生器，其中，所述图片产生器和所述PG产生器分别与所述存储控制器连接以分别接收所述存储器所输出的所述图片数据，且所述图片产生器和所述PG产生器进一步分别与所述参数配置控制器，以分别根据控制参数而对所述图片数据进行处理；
模式选择控制器，分别连接所述图片产生器和所述PG产生器，以根据其选择的工作模式而选择所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出，且所述模式选择控制器进一步连接所述显示界面控制器，以通过所述显示界面控制器而输出选择的所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据至所述待测显示模组。
2.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，
所述现场可编程门阵列芯片内集成的所述微处理器中配置有所述用户指令，且所述微处理器通过总线接口而连接所述***电路，以将所述用户指令输出至所述***电路。
3.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，
所述***电路进一步连接至一个用于供用户输入所述用户指令的控制装置，以通过所述***装置而接收所述用户指令。
4.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，
所述模式选择控制器进一步连接所述微处理器以接收所述微处理器所输出的模式选择指令并根据所述模式选择指令而工作在对应的工作模式下。
5.根据权利要求4所述的点灯测试装置，其特征在于，进一步包括：
功率控制模块，其连接在所述现场可编程门阵列芯片与所述待测显示模组之间，以接收所述现场可编程门阵列芯片所输出的功率控制参数，并根据所述功率控制参数而输出对应的电源电压至所述待测显示模组，以控制所述待测显示模组在不同功率下进行点灯测试。
6.根据权利要求5所述的点灯测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：
功率控制器，其与所述参数配置控制器和所述功率控制模块连接，其中，所述参数配置控制器所产生的所述控制参数包括所述功率控制参数，所述功率控制器接收所述功率控制参数，并根据所述功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至所述功率控制模块以控制所述功率控制模块输出对应的电源电压。
7.根据权利要求1所述的点灯测试装置，其特征在于，
所述存储器包括SD卡和至少一个DDR存储器。
8.根据权利要求7所述的点灯测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：
SD卡控制器，与所述SD卡连接以读取所述SD卡内存储的图片数据；
DDR控制器，与所述DDR存储器连接以读取所述DDR存储器内存储的图片数据；
其中，所述SD卡控制器进一步连接所述DDR控制器并通过所述DDR控制器而连接至所述图片产生器及所述PG产生器。
9.一种显示模组点灯测试方法，其应用于如权利要求1-8任意一项所述的点灯测试装置，所述测试方法包括：
通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的显示界面控制器而将所述初始化信息输出至待测显示模组以对所述待测显示模组进行初始化操作；
通过所述现场可编程门阵列芯片读取存储在存储器内的进行所述点灯测试所需的图片数据；
通过***电路而接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令；
通过所述现场可编程门阵列芯片接收所述控制指令，根据所述控制指令而产生对应的控制参数，并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理，并通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的所述显示界面控制器而输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组，从而对所述待测显示模组进行点灯测试。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107390394B (zh) * 2017-08-07 2020-04-28 武汉精测电子集团股份有限公司 一种基于sopc的液晶模组测试***
CN107941465A (zh) * 2017-11-13 2018-04-20 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示模组测试方法及装置
CN108806565B (zh) 2018-06-01 2020-08-04 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示屏点灯测试装置及方法
US10783815B2 (en) 2018-07-24 2020-09-22 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Testing apparatus and testing method for display panel
CN108877613A (zh) * 2018-07-24 2018-11-23 武汉华星光电技术有限公司 显示面板的测试装置及测试方法
CN109872666B (zh) * 2019-02-28 2022-05-17 昆山龙腾光电股份有限公司 显示装置的点灯测试装置、点灯测试***及点灯测试方法
CN111579903A (zh) * 2020-05-18 2020-08-25 格力电器（合肥）有限公司 一种显示模块测试工装及测试方法
CN116773903B (zh) * 2023-06-14 2024-04-09 合芯科技有限公司 芯片功耗检测方法、装置、芯片功耗调节方法及服务器

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101566736A (zh) * 2008-04-25 2009-10-28 深超光电（深圳）有限公司 液晶显示模组测试方法
CN101604075A (zh) * 2008-06-13 2009-12-16 统宝光电股份有限公司 液晶显示面板的点灯测试静电防护装置与方法
JP2011043354A (ja) * 2009-08-19 2011-03-03 Seiko Epson Corp 集積回路装置、表示コントローラー及び電子機器
CN102446477A (zh) * 2011-12-30 2012-05-09 武汉精测电子技术有限公司 一种带有dp接口的液晶模组测试装置及测试方法
CN103941436A (zh) * 2014-03-31 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组测试与展示***及其使用方法
CN104318882A (zh) * 2014-11-10 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组检测设备
CN205229603U (zh) * 2015-12-10 2016-05-11 昆山龙腾光电有限公司 液晶显示装置的点灯测试***

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101566736A (zh) * 2008-04-25 2009-10-28 深超光电（深圳）有限公司 液晶显示模组测试方法
CN101604075A (zh) * 2008-06-13 2009-12-16 统宝光电股份有限公司 液晶显示面板的点灯测试静电防护装置与方法
JP2011043354A (ja) * 2009-08-19 2011-03-03 Seiko Epson Corp 集積回路装置、表示コントローラー及び電子機器
CN102446477A (zh) * 2011-12-30 2012-05-09 武汉精测电子技术有限公司 一种带有dp接口的液晶模组测试装置及测试方法
CN103941436A (zh) * 2014-03-31 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组测试与展示***及其使用方法
CN104318882A (zh) * 2014-11-10 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组检测设备
CN205229603U (zh) * 2015-12-10 2016-05-11 昆山龙腾光电有限公司 液晶显示装置的点灯测试***

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