CN106771910A - 检测组合电器的缺陷的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测组合电器的缺陷的方法和装置。其中，该方法包括：获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；检测检测位置的局部放电，得到异常信号；根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置；根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位。本发明解决了现有的特高频局放检测方法无法有效的进行局放检测的技术问题。

Description

检测组合电器的缺陷的方法和装置

技术领域

本发明涉及局放检测领域，具体而言，涉及一种检测组合电器的缺陷的方法和装置。

背景技术

近年来，随着电力技术的快速发展，气体绝缘全封闭组合电器(GIS、HGIS)日益取代传统的变电设备，但组合电器的安全稳定运行受制于局部放电。然而，局放检测工作需要检修试验人员具有较高知识水平和精确分析能力，但一般水平的检修试验人员很难完成本项工作。因此，在专业检测人员较少且需要维护的组合电器设备较多的情况下，组合电器的局放检测工作量比较大。

特高频局放检测是组合电器局放检测的一种重要方法。目前，特高频局放检测没有统一的工序标准和明确的缺陷判断标准。在工作现场中，组合电器局放检测工作采用特高频局放检测仪进行检测。由于特高频局放检测位置无法固定，因此需要检测人员查找后才能确定，一般位于非金属全封闭绝缘盆子、电缆终端、接地刀闸绝缘件、观察窗等处。特高频局放检测的持续检测时间无固定标准，检测人员可自行掌握。在现场工作量巨大的情况下，检测人员可随意缩短工作时间，导致判断结果与实际情况出现偏差。因此，在现场进行工作时，各专业检测队伍需要制定独立的工作流程，人为因素对局放缺陷的确定产生了很大的影响。

针对上述现有的特高频局放检测方法无法有效地进行局放检测的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种检测组合电器的缺陷的方法和装置，以至少解决现有的特高频局放检测方法无法有效的进行局放检测的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种检测组合电器的缺陷的方法，包括：获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；检测检测位置的局部放电，得到异常信号；根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置；根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位。

进一步地，检测检测位置的局部放电，得到异常信号的方法包括：使用特高频局放检测仪检测检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到异常信号；或，在组合电器为三相分体式结构的情况下，通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号。

进一步地，在通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号之后还包括：通过比较多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，通过比较每个相别检测到异常信号的时差，确定存在缺陷的相位。

进一步地，在获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置之前还包括：获取待测组合电器的同步信号，其中，同步信号用于确保电源和组合电器的电压频率相同，该步骤包括：在运行电缆处获取同步信号，或，在励磁变低压侧获取同步信号。

进一步地，根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置的方法包括：采集环境信号；对比环境信号的参数与组合电器的内部信号的参数，其中，环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；如果环境信号的相位与组合电器的内部信号的相位相同，并且环境信号的幅值大于组合电器的内部信号的幅值，则确定异常位于待测的组合电器的外部，否则，异常位于待测的组合电器的内部。

进一步地，检测组合电器的缺陷的方法还包括：对比检测位置的特高频信号的幅值，确定两个特高频信号的位置；根据时差法以及两个特高频信号的位置确定缺陷的位置。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种检测组合电器的缺陷的装置，包括：获取模块，用于获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；检测模块，用于检测检测位置的局部放电，得到异常信号；第一执行模块，用于根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置；第二执行模块，用于根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位。

进一步地，检测模块包括：第一定位模块，用于使用特高频局放检测仪检测检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到异常信号；或，第二定位模块，用于在组合电器为三相分体式结构的情况下，通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号。

进一步地，检测模块还包括：第一对比模块，用于通过比较多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，第二对比模块，用于通过比较每个相别检测到异常信号的时差，确定存在缺陷的相位。

进一步地，检测组合电器的缺陷的装置还包括：信号获取模块，用于获取待测组合电器的同步信号，其中，同步信号用于确保电源和组合电器的电压频率相同，信号获取模块包括：同步信号获取模块，用于在运行电缆处获取同步信号，或，在励磁变低压侧获取同步信号。

进一步地，第一执行模块包括：采集模块，用于采集环境信号；参数对比模块，用于对比环境信号的参数与组合电器的内部信号的参数，其中，环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；第三定位模块，用于如果环境信号的相位与组合电器的内部信号的相位相同，并且环境信号的幅值大于组合电器的内部信号的幅值，则确定异常位于待测的组合电器的外部，否则，异常位于待测的组合电器的内部。

进一步地，检测组合电器的缺陷的装置还包括：幅值对比模块，用于对比检测位置的特高频信号的幅值，确定两个特高频信号的位置；第四定位模块，用于根据时差法以及两个特高频信号的位置确定缺陷的位置。

在本发明实施例中，采用制定检测标准的方式，通过获取待测的组合电器法发生局部放电的检测位置，并检测检测位置的局部放电，得到异常信号，然后根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置，最后根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位，达到了有线发现组合电器的局放缺陷的目的，从而实现了提高检测人员的工作效率的技术效果，进而解决了现有的特高频局放检测方法无法有效的进行局放检测的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种检测组合电器的缺陷的方法流程图；

图2是根据本发明实施例的一种可选的检测组合电器的缺陷的方法流程图；

图3是根据本发明实施例的一种可选的检测组合电器的缺陷的方法流程图；

图4是根据本发明实施例的一种可选的检测组合电器的缺陷的方法流程图；

图5是根据本发明实施例的一种可选的检测组合电器的缺陷的方法流程图；

图6是根据本发明实施例的一种可选的组合电器的特高频局放检测位置标注方式图；以及

图7是根据本发明实施例的一种检测组合电器的缺陷的装置结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种检测组合电器的缺陷的方法实施例。

图1是根据本发明实施例的检测组合电器的缺陷的方法流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；

步骤S104，检测检测位置的局部放电，得到异常信号；

步骤S106，根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置；

步骤S108，根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位。

在上述步骤S102至步骤S108所限定的方案中，上述对局部放电(即局放)的检测可以为对特高频局放的检测，上述待测的组合电器发生局部放电的检测位置即为特高频的检测位置。在一种可选的实施例中，在进行特高频局放检测之前，需要对组合电器各间隔运行情况进行影像留存。当对特高频局放进行检测时，特高频的检测位置可以为：盆式绝缘子的非金属封闭处和电缆终端处(若有电缆设备)。若盆式绝缘子为全金属封闭，则将传感器放置在接地刀闸绝缘件和观察窗处，并且特高频传感器避免与紧固螺栓接触。图6示出了一种可选的组合电器的特高频局放检测位置标注方式图，其中，图6中的601、603和605为上述组合电器发生局部放电的检测位置，分别表示1#盆子、2#盆子和3#盆子。

需要说明的是，特高频检测数据的存储命名规则为：变电站名+检测日期+各组合电器调度号+相别，其中，三相共仓设备可不记录检测相别。此外，特高频检测时间规定为：每个检测位置的有效检测时间不应小于30秒，保存图谱数量不应小于10张，并且用于保存图谱的时间不应小于20秒。

在另一种可选的实施例中，根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位，根据特高频信号的衰减特性可以确定组合电器的缺陷位置，在确定了缺陷相位及所在位置后，还可根据特高频信号的放电特征确定缺陷类型。根据缺陷类型与缺陷定位结果，结合组合电器的一次结构，可以验证检测结论的正确性。

需要说明的是，在得到组合电器的缺陷相位、缺陷位置以及确定缺陷类别之后，还需要对存在放电缺陷的组合电器设备进行影像留存，并明确各特高频检测点的位置。其中，影响留存要求PRPD、PHD图谱不少于3张，并且不存在已知干扰信号。在检测过程中，需要最大限度地保持周围信号的干净，尽可能减少人为信号的干扰，必要时可延长检测时间。在需要记录盆式绝缘子的情况下，遵循以下编号原则：组合电器的线路间隔按从线路到母线，并且母联(分段)间隔按从小号母线到大号母线进行排序，PT间隔按从PT到母线的顺序，定为1、2、3…N，其中，三相分仓设备的盆式绝缘子号应分相定序。

在另一种可选的实施例中，在组合电器的特高频局放检测结束后，可根据检测图谱进行现场数据分析。需要注意的是，此时应排除干扰信号，并对存在的局放缺陷进行定性、定量分析，进而确定放电的大小以及放电类型，并记录下现场基本情况。此外在特高频局放检测工作结束后，先关闭特高频局放检测仪的电源，再拆除试验电源、接地线，整理测试电缆，清理工作现场，再次检查被检测组合电器无异常。

基于上述实施例中步骤S102至步骤S106所限定的方案，可以获知通过获取待测的组合电器法发生局部放电的检测位置，并检测检测位置的局部放电，得到异常信号，然后根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置，最后根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位，容易注意到的是，上述检测组合电器的缺陷的方法规定了针对组合电器的特高频局放检测工序和局放缺陷判断标准，有效地提高了发现组合电器的局放缺陷的效率，从而实现了提高检测人员的工作效率的技术效果，进而解决了现有的特高频局放检测方法无法有效的进行局放检测的技术问题。

可选的，图2示出了检测检测位置的局部放电，得到异常信号的方法，如图2所示，该方法包括如下步骤：

步骤S202，使用特高频局放检测仪检测检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到异常信号；或，

步骤S204，在组合电器为三相分体式结构的情况下，通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号。

在一种可选的实施例中，当特高频检测到疑似局放的缺陷时，使用特高频局放检测仪对检测环境进行检测，通过对比特高频信号的幅值变化大小，定位异常信号，并排除环境干扰，例如雷达的干扰。对于三相分体式结构组合电器，一般只在存在缺陷的相别中才能检测到异常信号，当异常信号比较大时，除缺陷相以外的其他相也可能检测到异常信号，此时可以通过比较各相对应检测位置的异常信号的幅值即可确定缺陷相，进而可以确定缺陷相别。

可选的，图3示出了在通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号之后的方法，如图3所示，该方法包括如下步骤：

步骤S302，通过比较多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，

步骤S304，通过比较每个相别检测到异常信号的时差，确定存在缺陷的相位。

在一种可选的实施例中，在组合电器为三相分体式结构的情况下，一般只有存在缺陷的相别才能检测到异常信号。当异常信号较大时，除缺陷相以外的其他相也可能检测到异常信号，此时，通过比较各相对应检测位置的异常信号幅值，即可基本确定缺陷相，然后通过比较各相所检测到异常信号的时差，可以确定缺陷相别。对于三相共体式结构组合电器，可先确定同步相别，然后再通过改变特高频检测软件的相位设置，同时结合放电信号发生在一、三象限的特征来确定缺陷相。

可选的，在获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置之前的方法包括获取待测组合电器的同步信号，其中，同步信号用于确保电源和组合电器的电压频率相同，该步骤包括：在运行电缆处获取同步信号，或，在励磁变低压侧获取同步信号。

在一种可选的实施例中，使用站内电源或同步线圈从运行电缆B相(同步线圈箭头向下)获取同步信号，并进行影像留存。在非工频试验中，可从励磁变低压侧获取同步信号，可使用放大器对同步信号进行放大处理。在进行检测工作的过程中，若需更换同步电源，应进行影像留存。

需要说明的是，在运行电缆出获取同步信号时，应确保同步电源的频率与组合电器运行电压频率相同。

可选的，图4示出了根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置的方法，该方法包括如下步骤：

步骤S402，采集环境信号；

步骤S404，对比环境信号的参数与组合电器的内部信号的参数，其中，环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；

步骤S406，如果环境信号的相位与组合电器的内部信号的相位相同，并且环境信号的幅值大于组合电器的内部信号的幅值，则确定异常位于待测的组合电器的外部，否则，异常位于待测的组合电器的内部。

在一种可选的实施例中，当特高频检测到疑似局放缺陷时，首先，使用特高频局放检测仪对检测环境进行检测，通过对比特高频信号的幅值大小变化，定位异常信号，排除环境干扰，例如雷达干扰和外部放电。然后，通过对比环境信号与组合电器内部信号的相位、幅值。若两者相位相同，并且组合电器内部幅值小于环境信号的复制，可说明该异常位于组合电器外部，否则，该异常可能位于组合电器内部(或者与组合电器连接的电缆内部)。

可选的，图5示出了一种可选的检测组合电器的缺陷的方法的方法，如图5所示，该方法包括如下步骤：

步骤S502，对比检测位置的特高频信号的幅值，确定两个特高频信号的位置；

步骤S504，根据时差法以及两个特高频信号的位置确定缺陷的位置。

在一种可选的实施例中，由于特高频信号具有衰减特性，而特高频信号的缺陷一般位于信号幅值最大的两个特高频检测点之间，因此通过比较各检测位置的特高频信号幅值的大小，将缺陷所在的位置缩小到两个特高频检测点之间，即某一气室内。然后可通过特高频时差法对缺陷进行定位，在无法利用时差法进行定位的情况下，可通过改变该组合电器运行方式来判断缺陷的位置。

需要说明的是，在使用时差法对缺陷进行定位的过程中，可根据实际情况对特高频信号进行放大、滤波处理。

在另一种可选的实施例中，在获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置之前，需要组装并启动特高频局放检测仪，并将检测模式设定为“无角度补偿”，在对特高频局放检测仪进行校验后，完成连接。之后，特高频局放检测仪可正常通信，可人为的为特高频局放检测仪制造特高频信号，并经现场检测该信号。

实施例2

根据本发明实施例，提供了一种检测组合电器的缺陷的装置实施例。

图7是根据本发明实施例的检测组合电器的缺陷的装置结构示意图，如图7所示，该装置包括：获取模块701、检测模块703、第一执行模块705和第二执行模块707。其中，获取模块701，用于获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；检测模块703，用于检测检测位置的局部放电，得到异常信号；第一执行模块705，用于根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置；第二执行模块707，用于根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位。

具体的，上述对局部放电(即局放)的检测可以为对特高频局放的检测，上述待测的组合电器发生局部放电的检测位置即为特高频的检测位置。在一种可选的实施例中，在进行特高频局放检测之前，需要对组合电器各间隔运行情况进行影像留存。当对特高频局放进行检测时，特高频的检测位置可以为：盆式绝缘子的非金属封闭处和电缆终端处(若有电缆设备)。若盆式绝缘子为全金属封闭，则将传感器放置在接地刀闸绝缘件和观察窗处，并且特高频传感器避免与紧固螺栓接触。图6示出了一种可选的组合电器的特高频局放检测位置标注方式图，其中，图6中的1#盆子、2#盆子、3#盆子、4#盆子、5#盆子和6#盆子为上述组合电器发生局部放电的检测位置。

需要说明的是，特高频检测数据的存储命名规则为：变电站名+检测日期+各组合电器调度号+相别，其中，三相共仓设备可不记录检测相别。此外，特高频检测时间规定为：每个检测位置的有效检测时间不应小于30秒，保存图谱数量不应小于10张，并且用于保存图谱的时间不应小于20秒。

在另一种可选的实施例中，根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位，根据特高频信号的衰减特性可以确定组合电器的缺陷位置，在确定了缺陷相位及所在位置后，还可根据特高频信号的放电特征确定缺陷类型。根据缺陷类型与缺陷定位结果，结合组合电器的一次结构，可以验证检测结论的正确性。

需要说明的是，在得到组合电器的缺陷相位、缺陷位置以及确定缺陷类别之后，还需要对存在放电缺陷的组合电器设备进行影像留存，并明确各特高频检测点的位置。其中，影响留存要求PRPD、PHD图谱不少于3张，并且不存在已知干扰信号。在检测过程中，需要最大限度地保持周围信号的干净，尽可能减少人为信号的干扰，必要时可延长检测时间。在需要记录盆式绝缘子的情况下，遵循以下编号原则：组合电器的线路间隔按从线路到母线，并且母联(分段)间隔按从小号母线到大号母线进行排序，PT间隔按从PT到母线的顺序，定为1、2、3…N，其中，三相分仓设备的盆式绝缘子号应分相定序。

在另一种可选的实施例中，在组合电器的特高频局放检测结束后，可根据检测图谱进行现场数据分析。需要注意的是，此时应排除干扰信号，并对存在的局放缺陷进行定性、定量分析，进而确定放电的大小以及放电类型，并记录下现场基本情况。此外在特高频局放检测工作结束后，先关闭特高频局放检测仪的电源，再拆除试验电源、接地线，整理测试电缆，清理工作现场，再次检查被检测组合电器无异常。

由上可知，通过获取待测的组合电器法发生局部放电的检测位置，并检测检测位置的局部放电，得到异常信号，然后根据检测得到的异常信号确定异常位于组合电器中的位置，最后根据异常位于组合电器中的位置确定组合电器的缺陷相位，容易注意到的是，上述检测组合电器的缺陷的方法规定了针对组合电器的特高频局放检测工序和局放缺陷判断标准，有效地提高了发现组合电器的局放缺陷的效率，从而实现了提高检测人员的工作效率的技术效果，进而解决了现有的特高频局放检测方法无法有效的进行局放检测的技术问题。

可选的，检测模块包括：第一定位模块和第二定位模块。其中，第一定位模块，用于使用特高频局放检测仪检测检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到异常信号；或，第二定位模块，用于在组合电器为三相分体式结构的情况下，通过三相分体式结构中的多个相别来定位得到异常信号。

可选的，检测模块还包括：第一对比模块和第二对比模块。其中，第一对比模块，用于通过比较多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，第二对比模块，用于通过比较每个相别检测到异常信号的时差，确定存在缺陷的相位。

可选的，上述检测组合电器的缺陷的装置还包括：信号获取模块。其中，信号获取模块，用于获取待测组合电器的同步信号，其中，同步信号用于确保电源和组合电器的电压频率相同，信号获取模块包括：同步信号获取模块，用于在运行电缆处获取同步信号，或，在励磁变低压侧获取同步信号。

可选的，第一执行模块包括：采集模块、参数对比模块和第三定位模块。其中，采集模块用于采集环境信号；参数对比模块用于对比环境信号的参数与组合电器的内部信号的参数，其中，环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；第三定位模块用于如果环境信号的相位与组合电器的内部信号的相位相同，并且环境信号的幅值大于组合电器的内部信号的幅值，则确定异常位于待测的组合电器的外部，否则，异常位于待测的组合电器的内部。

可选的，上述检测组合电器的缺陷的装置还包括：幅值对比模块和第四定位模块。其中，幅值对比模块用于对比检测位置的特高频信号的幅值，确定两个特高频信号的位置；第四定位模块用于根据时差法以及两个特高频信号的位置确定缺陷的位置。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种检测组合电器的缺陷的方法，其特征在于，包括：

获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；

检测所述检测位置的局部放电，得到异常信号；

根据所述检测得到的异常信号确定异常位于所述组合电器中的位置；

根据所述异常位于所述组合电器中的位置确定所述组合电器的缺陷相位。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，检测所述检测位置的局部放电，得到异常信号，包括：

使用特高频局放检测仪检测所述检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到所述异常信号；或，

在所述组合电器为三相分体式结构的情况下，通过所述三相分体式结构中的多个相别来定位得到所述异常信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在通过所述三相分体式结构中的多个相别来定位得到所述异常信号之后，所述方法还包括：

通过比较所述多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，

通过比较每个相别检测到所述异常信号的时差，确定存在所述缺陷的相位。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置之前，所述方法还包括：

获取待测组合电器的同步信号，其中，所述同步信号用于确保电源和所述组合电器的电压频率相同，该步骤包括：

在运行电缆处获取所述同步信号，或，在励磁变低压侧获取所述同步信号。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述检测得到的异常信号确定异常位于所述组合电器中的位置，包括：

采集所述环境信号；

对比所述环境信号的参数与所述组合电器的内部信号的参数，其中，所述环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，所述组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；

如果所述环境信号的相位与所述组合电器的内部信号的相位相同，并且所述环境信号的幅值大于所述组合电器的内部信号的幅值，则确定所述异常位于所述待测的组合电器的外部，否则，所述异常位于所述待测的组合电器的内部。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对比所述检测位置的特高频信号的幅值，确定两个所述特高频信号的位置；

根据时差法以及两个所述特高频信号的位置确定所述缺陷的位置。

7.一种检测组合电器的缺陷的装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测的组合电器发生局部放电的检测位置；

检测模块，用于检测所述检测位置的局部放电，得到异常信号；

第一执行模块，用于根据所述检测得到的异常信号确定异常位于所述组合电器中的位置；

第二执行模块，用于根据所述异常位于所述组合电器中的位置确定所述组合电器的缺陷相位。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

第一定位模块，用于使用特高频局放检测仪检测所述检测位置的环境信号，并通过比对特高频信号的幅值大小的变化值，定位得到所述异常信号；或，

第二定位模块，用于在所述组合电器为三相分体式结构的情况下，通过所述三相分体式结构中的多个相别来定位得到所述异常信号。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检测模块还包括：

第一对比模块，用于通过比较所述多个相别对应的检测位置的异常信号幅值，确定存在缺陷的相位；或者，

第二对比模块，用于通过比较每个相别检测到所述异常信号的时差，确定存在所述缺陷的相位。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

信号获取模块，用于获取待测组合电器的同步信号，其中，所述同步信号用于确保电源和所述组合电器的电压频率相同，所述信号获取模块包括：

同步信号获取模块，用于在运行电缆处获取所述同步信号，或，在励磁变低压侧获取所述同步信号。

11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一执行模块包括：

采集模块，用于采集所述环境信号；

参数对比模块，用于对比所述环境信号的参数与所述组合电器的内部信号的参数，其中，所述环境信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值，所述组合电器的内部信号的参数至少包括如下之一：相位和幅值；

第三定位模块，用于如果所述环境信号的相位与所述组合电器的内部信号的相位相同，并且所述环境信号的幅值大于所述组合电器的内部信号的幅值，则确定所述异常位于所述待测的组合电器的外部，否则，所述异常位于所述待测的组合电器的内部。

12.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

幅值对比模块，用于对比所述检测位置的特高频信号的幅值，确定两个所述特高频信号的位置；

第四定位模块，用于根据时差法以及两个所述特高频信号的位置确定所述缺陷的位置。