CN106707062A - 用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路 - Google Patents

用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路 Download PDF

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Abstract

本发明属于微波产品测试技术领域，公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本发明提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，且用于生成测试信号，其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元，以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号；频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元，测试信号输出单元根据电压信号与频率信号输出测试信号，降低了实现对微波产品进行特性测试的成本，且使得测试信号的生成过程变得更简单。

Description

用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路
技术领域
本发明属于微波产品测试技术领域，尤其涉及一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。
背景技术
微波类通信装置指的是用于接收卫星信号的装置，例如，高频头(Low NoiseBlock，LNB)即低噪声下变频器，其用于接收馈源传送的卫星信号，并对卫星信号进行放大和下变频，以及波段信号转换，再经同轴电缆传送给卫星接收机。
目前在对微波类通信装置进行特性测试时，通常是采用卫星接收机变换供电电压和高低频率信号进行检测。虽然能够得到相对准确的测试结果，但是需要采购卫星接收机等设备，使得成本过高，且测试过程过于繁琐。
因此，现有技术中在实现对微波类通信装置进行特性测试时，存在测试成本高的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路，旨在解决现有技术中在实现对微波通信装置进行特性测试时，存在测试成本高的问题。
本发明是这样实现的，一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，所述测试设备用于对微波通信装置进行特性测试；所述测试信号生成电路与直流电源相连，且用于生成测试信号；所述测试信号用于对所述微波通信装置进行测试，所述测试信号生成电路包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；
所述稳压单元的电压输入端与所述直流电源相连，所述稳压单元的电压输出端与所述电压信号切换单元的输入端相连，所述稳压单元的控制端与所述电压信号切换单元的电压受控端相连；所述频率信号生成单元的输入端与所述直流电源相连，且用于接收所述直流电源提供的工作电压；所述电压信号切换单元的输出端与所述测试信号输出单元的电压信号输入端相连，所述频率信号生成单元的输出端与所述测试信号输出单元的频率信号输入端相连，所述测试信号输出单元的信号输出端用于输出所述测试信号；
所述稳压单元对所述直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至所述电压信号切换单元，以使得所述电压信号切换单元向所述测试信号输出单元输出电压信号，所述电压信号的电压值跟随所述电压信号切换单元的电压切换状态而确定；
所述频率信号生成单元根据所述工作电压生成频率信号，并将所述频率信号输出至所述测试信号输出单元，所述测试信号输出单元根据所述电压信号与所述频率信号输出所述测试信号。
进一步的，所述稳压单元包括：第一芯片、第一电容以及第一电阻；
所述第一芯片的输入端为所述稳压单元的电压输入端，所述第一芯片的输出端为所述稳压单元的电压输出端，所述第一芯片的控制端为所述稳压单元的控制端，所述第一电容的第一端与所述第一芯片的输入端相连，所述第一电容的第二端接地，所述第一电阻的第一端与所述第一芯片的输出端相连，所述第一电阻的第二端接地。
进一步的，所述电压信号切换单元包括：第一开关、第二电阻以及第三电阻；
所述第一开关的固定端为所述电压信号切换单元的输入端，所述第一开关的第一活动端与所述第二电阻的第一端相连，所述第一开关的第二活动端与所述第三电阻的第一端相连，所述第二电阻的第二端与所述第三电阻的第二端相连，所述第二电阻的第二端为所述电压信号切换单元的电压受控端，所述第三电阻的第二端为所述电压信号切换单元的输出端。
进一步的，所述频率信号生成单元包括：第二芯片、第二开关、第二电容、第一开关管、第一二极管、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻以及第八电阻；
所述第四电阻的第一端为所述频率信号生成单元的输出端，所述第四电阻的第二端与所述第一开关管的高电位端相连，所述第一开关管的低电位端接地，所述第一开关管的受控端与所述第五电阻的第一端相连，所述第五电阻的第二端与所述第二芯片的输出控制端相连，所述第二开关的第一端为所述频率信号生成单元的输入端，所述第二开关的第二端与所述第六电阻的第一端相连，所述第六电阻的第二端与所述第二电容的第一端相连，所述第一二极管的第一端与所述第二电容的第一端相连，所述第二电容的第二端与所述第一二极管的第二端共接地，所述第七电阻的第一端与所述第一二极管的第一端共接所述第二芯片的电源输入端，所述第七电阻的第二端与所述第八电阻的第一端共接所述第二芯片的放电端，所述第八电阻的第二端与所述第二芯片的门限端相连，所述第二芯片的触发端与所述第八电阻的第二端相连，所述第二芯片的地线端接地。
进一步的，所述测试信号输出单元包括：第二二极管、第三二极管、第二开关管、第三电容、第一电感、第九电阻以及第十电阻；
所述第二二极管的第一端为所述测试信号输出单元的电压信号输入端，所述第二二极管的第二端与所述第九电阻的第一端共接所述第二开关管的低电位端，所述第九电阻的第二端接地，所述第二开关管的受控段为所述测试信号输出单元的频率信号输入端，所述第二开关管的低电位端与所述第三二极管的第一端相连，所述第三二极管的第二端与所述第二开关管的高电位端共接所述第十电阻的第一端，所述第十电阻的第二端接地，所述第三电容的第一端与所述第十电阻的第一端共接所述第一电感的第一端，所述第一电感的第二端为所述测试信号输出单元的信号输出端。
进一步的，所述第一开关管为三极管、IGBT管或自带体二极管的IGBT管。
进一步的，所述第一开关管为NPN型三极管，所述NPN型三极管的发射极为所述第一开关管的低电位端，所述NPN型三极管的集电极为所述第一开关管的高电位端，所述NPN型三极管的基极为所述第一开关管的受控端。
进一步的，所述第二开关管为三极管、IGBT管或自带体二极管的IGBT管。
进一步的，所述第二开关管为PNP型三极管，所述PNP型三极管的发射极为所述第二开关管的低电位端，所述PNP型三极管的集电极为所述第二开关管的高电位端，所述PNP型三极管的基极为所述第二开关管的受控端。
本发明的另一目的在于提供一种用于微波通信装置的测试设备，其包括直流电源，且用于对所述微波通信装置进行特性测试，所述测试设备还包括如上所述的测试信号生成电路。
本发明提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，测试设备用于对微波通信装置进行特性测试；测试信号生成电路与直流电源相连，且用于生成测试信号；测试信号用于对微波通信装置进行测试，测试信号生成电路包括：其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元，以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号，电压信号的电压值跟随电压信号切换单元的电压切换状态而确定；频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元，测试信号输出单元根据电压信号与频率信号输出测试信号，降低了实现对微波通信装置进行特性测试的成本，且使得测试信号的生成过程变得更简单。
附图说明
图1是本发明实施例所提供的一种测试信号生成电路的结构示意图；
图2是本发明实施例所提供的一种测试信号生成电路的具体电路图；
图3是本发明实施例所提供的一种用于微波通信装置的测试设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明的目的在于提供一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路，旨在解决现有技术中在实现对微波通信装置进行特性测试时，存在测试成本高的问题。
需要说明的是，在本发明的所有实施例中，微波通信装置可以是高频头(LowNoise Block，LNB)，即低噪声下变频器，用于接收馈源传送的卫星信号，并对卫星信号进行放大和下变频，以及波段信号转换，再经同轴电缆传送给卫星接收机。
以下结合具体附图对本发明的实现进行详细的描述：
图1示出了本发明实施例所提供的一种测试信号生成电路的结构示意图，为了便于说明，仅示出与实施例相关的部分，详述如下：
如图1所示，一种测试信号生成电路100，内置于一测试设备中，测试设备用于对微波通信装置进行特性测试；该测试信号生成电路100与直流电源110相连，且用于生成测试信号；测试信号用于对微波通信装置进行测试，其包括：稳压单元10、电压信号切换单元20、频率信号生成单元30以及测试信号输出单元40。
稳压单元10的电压输入端与直流电源110相连，稳压单元10的电压输出端与电压信号切换单元20的输入端相连，稳压单元10的控制端与电压信号切换单元20的电压受控端相连；频率信号30生成单元的输入端与直流电源110相连，且用于接收直流电源110提供的工作电压；电压信号切换单元20的输出端与测试信号输出单元40的电压信号输入端相连，频率信号生成单元30的输出端与测试信号输出单元40的频率信号输入端相连，测试信号输出单元40的信号输出端用于输出测试信号。
稳压单元10对直流电源110的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元20，以使得电压信号切换单元20向测试信号输出单元40输出电压信号，电压信号的电压值跟随电压信号切换单元20的电压切换状态而确定。
频率信号生成单元30根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元40，测试信号输出单元40根据电压信号与频率信号输出测试信号。
需要说明的是，稳压单元10对直流电源110输出的电压进行稳压后，由电压信号切换单元20对稳压后的电压进行分压，进而得到电压信号，该电压信号可以包括第一电压信号或第二电压信号。频率信号生成单元30根据直流电源110输出的电压生成频率信号，该频率信号可以包括：第一频率信号或者第二频率信号，测试信号输出单元40将电压信号切换单元20输出电压信号与频率信号生成单元30输出的频率信号进行整合，并输出相应的测试信号。
可以理解的是，稳压单元10对直流电源110的输出电压进行稳压，并将稳压后的电压输出给电压信号切换单元20，以使得电压信号切换单元20向测试信号输出单元40输出第一电压信号或第二电压信号。
当频率信号生成单元30接收到工作电压时，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第一频率信号，测试信号输出单元40根据第一电压信号与第一频率信号输出第一测试信号，或者测试信号输出单元40根据第二电压信号与第一频率信号输出第二测试信号。
当频率信号生成单元30未接收到工作电压时，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第二频率信号，测试信号输出单元40根据第一电压信号与第二频率信号输出第三测试信号，或者测试信号输出单元40根据第二电压信号与第二频率信号输出第四测试信号。
图2示出了本发明实施例所提供的一种测试信号生成电路的具体电路图。
如图2所示，稳压单元10包括：第一芯片U1、第一电容C1以及第一电阻R1。
第一芯片U1的输入端IN为稳压单元10的电压输入端，第一芯片U1的输出端OUT为稳压单元10的电压输出端，第一芯片U1的控制端ADJ为稳压单元10的控制端，第一电容C1的第一端与第一芯片U1的输入端ON相连，第一电容C1的第二端接地，第一电阻R1的第一端与第一芯片U1的输出端OUT相连，第一电阻R1的第二端接地。
如图2所示，电压信号切换单元20包括：第一开关SW1、第二电阻R2以及第三电阻R3。
第一开关SW1的固定端为电压信号切换单元20的输入端，第一开关SW1的第一活动端与第二电阻R2的第一端相连，第一开关SW1的第二活动端与第三电阻R3的第一端相连，第二电阻R2的第二端与第三电阻R3的第二端相连，第二电阻R2的第二端为电压信号切换单元20的电压受控端，第三电阻R3的第二端为电压信号切换单元20的输出端。
需要说明的是，在本实施例中，第二电阻R2的阻值与第三电阻R3的阻值不相等。在实际应用中，根据不同的测试信号所需的电压信号，可对第二电阻R2或第三电阻R3的规格进行调整。
可以理解的是，当第一开关SW1的第一活动端导通时，由第二电阻R2对稳压后的电压进行分压，进而向测试信号输出单元输出第一电压信号。当第一开关SW1的第二活动端导通时，由第三电阻R3对稳压后的电压进行分压，进而向测试信号输出单元输出第二电压信号。
如图2所示，频率信号生成单元30包括：第二芯片U2、第二开关SW2、第二电容C2、第一开关管Q1、第一二极管D1、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7以及第八电阻R8。
第四电阻R4的第一端为频率信号生成单元30的输出端，第四电阻R4的第二端与第一开关管Q1的高电位端相连，第一开关管Q1的低电位端接地，第一开关管Q1的受控端与第五电阻R5的第一端相连，第五电阻R5的第二端与第二芯片U2的输出控制端Q相连，第二开关SW2的第一端为频率信号生成单元30的输入端，第二开关SW2的第二端与第六电阻R6的第一端相连，第六电阻R6的第二端与第二电容C2的第一端相连，第一二极管D1的第一端与第二电容C2的第一端相连，第二电容C2的第二端与第一二极管D1的第二端共接地，第七电阻R7的第一端与第一二极管D1的第一端共接第二芯片U2的电源输入端VCC，第七电阻R7的第二端与第八电阻R8的第一端共接第二芯片U1的放电端DIS，第八电阻R8的第二端与第二芯片U2的门限端THR相连，第二芯片U2的触发端TRIG与第八电阻R8的第二端相连，第二芯片U2的地线端GND接地。
需要说明的是，当第二开关SW2导通时，频率信号生成单元30接收到工作电压，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第一频率信号，测试信号输出单元40根据第一电压信号与第一频率信号输出第一测试信号，或者测试信号输出单元40根据第二电压信号与第一频率信号输出第二测试信号。当第二开关SW2断开时，频率信号生成单元30未接收到工作电压，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第二频率信号，测试信号输出单元40根据第一电压信号与第二频率信号输出第三测试信号，或者测试信号输出单元40根据第二电压信号与第二频率信号输出第四测试信号。
如图2所示，测试信号输出单元40包括：第二二极管D2、第三二极管D3、第二开关管Q2、第三电容C3、第一电感L1、第九电阻R9以及第十电阻R10。
第二二极管D2的第一端为测试信号输出单元40的电压信号输入端，第二二极管D2的第二端与第九电阻R9的第一端共接第二开关管D2的低电位端，第九电阻R9的第二端接地，第二开关管Q2的受控段为测试信号输出单元40的频率信号输入端，第二开关管Q2的低电位端与第三二极管D3的第一端相连，第三二极管D3的第二端与第二开关管Q2的高电位端共接第十电阻R10的第一端，第十电阻R10的第二端接地，第三电容C3的第一端与第十电阻R10的第一端共接第一电感L1的第一端，第一电感L1的第二端为测试信号输出单元40的信号输出端。
在本发明的所有实施例中，第一开关管和第二开关管都可以为三极管、IGBT管或自带体二极管的IGBT管。
作为一优选的实施例，第一开关管Q1为NPN型三极管Q1，NPN型三极管Q1的发射极为第一开关管Q1的低电位端，NPN型三极管Q1的集电极为第一开关管Q1的高电位端，NPN型三极管Q1的基极为第一开关管Q1的受控端。
作为一优选的实施例，第二开关管Q2为PNP型三极管Q2，PNP型三极管Q2的发射极为第二开关管Q2的低电位端，PNP型三极管Q2的集电极为第二开关管Q2的高电位端，PNP型三极管Q2的基极为第二开关管Q2的受控端。
以下结合图2对本发明提供的测试信号生成电路的工作原理进行详细说明。
如图2所示，直流电源110还向频率信号生成单元30中的第二开关SW1的第一端输入工作电压。稳压单元10中的第一芯片U1接收直流电源110输出的直流电，并对其进行稳压处理。电压信号切换单元20中的第一开关SW1通过切换不同的导通端实现对稳压后的直流电进行不同程度的分压。其中，当第一开关SW1的第一活动端导通时，由第二电阻R2对稳压后的电压进行分压，并生成第一电压信号输出给测试信号输出单元40；或者当第一开关SW1的第二活动端导通时，由第三电阻R3对稳压后的电压进行分压，并生成第二电压信号输出给测试信号输出单元40。
当第二开关SW2导通时，频率信号生成单元30中的第二芯片U2的电源输入端VCC通过第六电阻R6接收到工作电压，第二芯片U2通过输出控制端Q、第五电阻R5、第一开关管Q1以及第四电阻R4向测试信号输出单元40输出第一频率信号；当第二开关SW2断开时，中的第二芯片U2的电源输入端VCC无法接收到工作电压，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第二频率信号。
需要说明的是，电压信号切换单元20根据第一开关SW1的导通的活动端不同，生成的电压信号也不同，具体体现在电压信号切换单元20向测试信号输出单元40输出的第一电压信号和第二电压信号分别稳定在不同的电压值上，例如，第一电压信号的电压值为13V，第一电压信号的电压值为18V。频率信号生成单元30根据第二开关SW1的导通或断开状态，向测试信号输出单元40输出第一频率信号或第二频率信号，其中，当第二开关SW1导通时，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第一频率信号，该第一频率信号的频率可以为22KHz，当第二开关SW1断开时，频率信号生成单元30向测试信号输出单元40输出第二频率信号，该第二频率信号的频率可以为0KHz。
例如，测试信号输出单元40根据第一电压信号(13V)与第一频率信号(22KHz)输出第一测试信号(13V，22KHz)，通过第一电感L1的第二端输出。或者测试信号输出单元40根据第二电压信号(18V)与第一频率信号(22KHz)输出第二测试信号(18V，22KHz)，通过第一电感L1的第二端输出。
再例如，测试信号输出单元40根据第一电压信号(13V)与第二频率信号(0KHz)输出第三测试信号(13V，0KHz)，通过第一电感L1的第二端输出。或者测试信号输出单元40根据第二电压信号(18V)与第二频率信号(0KHz)输出第四测试信号(18V，0KHz),通过第一电感L1的第二端输出。
图3示出了本发明实施例提供的一种用于微波通信装置的测试设备的结构示意图，如图3所示，本实施例提供的一种用于微波通信装置的测试设备200，其包括直流电源110，且用于对微波通信装置进行特性测试，微波产品的测试装置200包括如上所述的试信号生成电路100。
需要说明的是，对微波产品进行特性测试具体可以为对微波产品进行模拟测试，或者测试微波产品接收或发送信息的能力。
由于本实施例中所提供的微波产品的测试装置与本发明有关的具体实施方式和工作原理在上述实施例中以及详细阐述，因此，此处不再赘述。
本发明实施例提供了一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，测试设备用于对微波通信装置进行特性测试；测试信号生成电路与直流电源相连，且用于生成测试信号；测试信号用于对微波通信装置进行测试，测试信号生成电路包括：其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元，以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号，电压信号的电压值跟随电压信号切换单元的电压切换状态而确定；频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元，测试信号输出单元根据电压信号与频率信号输出测试信号，降低了实现对微波通信装置进行特性测试的成本，且使得测试信号的生成过程变得更简单。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，所述测试设备用于对微波通信装置进行特性测试；所述测试信号生成电路与直流电源相连，且用于生成测试信号；所述测试信号用于对所述微波通信装置进行测试，其特征在于，所述测试信号生成电路包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；
所述稳压单元的电压输入端与所述直流电源相连，所述稳压单元的电压输出端与所述电压信号切换单元的输入端相连，所述稳压单元的控制端与所述电压信号切换单元的电压受控端相连；所述频率信号生成单元的输入端与所述直流电源相连，且用于接收所述直流电源提供的工作电压；所述电压信号切换单元的输出端与所述测试信号输出单元的电压信号输入端相连，所述频率信号生成单元的输出端与所述测试信号输出单元的频率信号输入端相连，所述测试信号输出单元的信号输出端用于输出所述测试信号；
所述稳压单元对所述直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至所述电压信号切换单元，以使得所述电压信号切换单元向所述测试信号输出单元输出电压信号，所述电压信号的电压值跟随所述电压信号切换单元的电压切换状态而确定；
所述频率信号生成单元根据所述工作电压生成频率信号，并将所述频率信号输出至所述测试信号输出单元，所述测试信号输出单元根据所述电压信号与所述频率信号输出所述测试信号。
2.如权利要求1所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述稳压单元包括：第一芯片、第一电容以及第一电阻；
所述第一芯片的输入端为所述稳压单元的电压输入端，所述第一芯片的输出端为所述稳压单元的电压输出端，所述第一芯片的控制端为所述稳压单元的控制端，所述第一电容的第一端与所述第一芯片的输入端相连，所述第一电容的第二端接地，所述第一电阻的第一端与所述第一芯片的输出端相连，所述第一电阻的第二端接地。
3.如权利要求1所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述电压信号切换单元包括：第一开关、第二电阻以及第三电阻；
所述第一开关的固定端为所述电压信号切换单元的输入端，所述第一开关的第一活动端与所述第二电阻的第一端相连，所述第一开关的第二活动端与所述第三电阻的第一端相连，所述第二电阻的第二端与所述第三电阻的第二端相连，所述第二电阻的第二端为所述电压信号切换单元的电压受控端，所述第三电阻的第二端为所述电压信号切换单元的输出端。
4.如权利要求1所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述频率信号生成单元包括：第二芯片、第二开关、第二电容、第一开关管、第一二极管、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻以及第八电阻；
所述第四电阻的第一端为所述频率信号生成单元的输出端，所述第四电阻的第二端与所述第一开关管的高电位端相连，所述第一开关管的低电位端接地，所述第一开关管的受控端与所述第五电阻的第一端相连，所述第五电阻的第二端与所述第二芯片的输出控制端相连，所述第二开关的第一端为所述频率信号生成单元的输入端，所述第二开关的第二端与所述第六电阻的第一端相连，所述第六电阻的第二端与所述第二电容的第一端相连，所述第一二极管的第一端与所述第二电容的第一端相连，所述第二电容的第二端与所述第一二极管的第二端共接地，所述第七电阻的第一端与所述第一二极管的第一端共接所述第二芯片的电源输入端，所述第七电阻的第二端与所述第八电阻的第一端共接所述第二芯片的放电端，所述第八电阻的第二端与所述第二芯片的门限端相连，所述第二芯片的触发端与所述第八电阻的第二端相连，所述第二芯片的地线端接地。
5.如权利要求1所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述测试信号输出单元包括：第二二极管、第三二极管、第二开关管、第三电容、第一电感、第九电阻以及第十电阻；
所述第二二极管的第一端为所述测试信号输出单元的电压信号输入端，所述第二二极管的第二端与所述第九电阻的第一端共接所述第二开关管的低电位端，所述第九电阻的第二端接地，所述第二开关管的受控段为所述测试信号输出单元的频率信号输入端，所述第二开关管的低电位端与所述第三二极管的第一端相连，所述第三二极管的第二端与所述第二开关管的高电位端共接所述第十电阻的第一端，所述第十电阻的第二端接地，所述第三电容的第一端与所述第十电阻的第一端共接所述第一电感的第一端，所述第一电感的第二端为所述测试信号输出单元的信号输出端。
6.如权利要求4所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述第一开关管为三极管、IGBT管或自带体二极管的IGBT管。
7.如权利要求6所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述第一开关管为NPN型三极管，所述NPN型三极管的发射极为所述第一开关管的低电位端，所述NPN型三极管的集电极为所述第一开关管的高电位端，所述NPN型三极管的基极为所述第一开关管的受控端。
8.如权利要求5所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述第二开关管为三极管、IGBT管或自带体二极管的IGBT管。
9.如权利要求8所述的测试信号生成电路，其特征在于，所述第二开关管为PNP型三极管，所述PNP型三极管的发射极为所述第二开关管的低电位端，所述PNP型三极管的集电极为所述第二开关管的高电位端，所述PNP型三极管的基极为所述第二开关管的受控端。
10.一种用于微波通信装置的测试设备，其包括直流电源，且用于对所述微波通信装置进行特性测试，其特征在于，所述测试设备还包括如权利要求1至9任一项权利要求所述的测试信号生成电路。
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