CN106680643B - Incell自容模组面板的检测方法 - Google Patents

Incell自容模组面板的检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种Incell自容模组面板的检测方法。所述检测方法包括：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，所述透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将所述透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定所述Incell自容模组面板的异常状态。

Description

Incell自容模组面板的检测方法
技术领域
本发明涉及触摸显示领域，尤其涉及一种Incell自电容面板的性能检测方法。
背景技术
随着显示技术的飞速发展，触摸屏的应用已经非常普及。其中，Incell(内嵌式)触摸屏将触摸屏的触控电极内嵌在液晶显示屏内部，可以减薄模组的厚度、降低制作成本，受到消费者和面板厂商的青睐。Incell触摸屏利用自电容或互电容的原理检测手指触摸的位置，其中，Incell自电容(简称，Incell自容)触摸屏由于其触控感应的准确度和信噪比比较高而被广泛应用。Incell自容触摸屏的工作原理为：在触摸屏中设置多个同层设置且相互独立的自电容电极，每个自容电极通过单独的引出线与触控检测芯片连接，当人体未触碰屏幕时，各个自容电极所承受的电容为一个固定值；而当人体触碰屏幕时，触碰位置对应的自容电极所承受的电容为固定值叠加人体电容，触控检测芯片通过检测各个自容电极的电容值的变化可以判断出触控检测位置。
Incell自容触摸屏在覆盖装饰用的cover玻璃(盖板玻璃)之前会经历模组阶段。现在开发的Incell自容模组面板在模组阶段(如图1A所示)是将位于有效区(Active Area，简称AA区)中的公共电极(Com电极)分成各自独立且彼此分开的多个区块作为触控电极，每个触控电极(例如，110)仅与一条Rx信号线(例如，接收线，金属导线等)电连接且通过该条Rx信号线连接到集成电路(IC)输出端的pin(管脚)(未示出)，当通过每条Rx信号线向相应的触控电极施加公共电压时，可以显示图像。然而，与每个触控电极连接的每条Rx信号线是贯穿整个AA区的，在制程时会发生Rx信号线与非对应的触控电极短路的情况，即，一条Rx信号线连接到多个触控电极的情况。
目前，为了避免不良产品的流出，通常会在模组阶段通过IC提供电信号以及通过光学元件提供光信号来检测Incell自容模组面板的显示性能，但是由于未覆盖可供触摸的cover玻璃而无法进行触控性能的检测(现有技术中是在覆盖cover玻璃之后，用手触摸或模拟手指触摸cover玻璃来进行触控性能的检测)，如此在模组检测时可能会漏掉触控性能不佳的样品，导致良品率降低和后续返工的麻烦。
发明内容
为克服现有技术的不足，本发明提出了一种Incell(内嵌式)自容模组面板的检测方法，通过对Incell自容模组面板增加模组检测元件和检测电路，使得能够在模组时不仅对Incell自容模组面板的显示性能进行检测，还能够对Incell自容模组面板的触控性能进行检测，从而避免不良产品的流出，提高产品的良品率。
根据本发明的示例性实施例的一方面，提供了一种Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法包括以下步骤：设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，透明导电层设置在透明的载体玻璃上使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上；电路连接步骤，将透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及检测步骤，控制集成电路依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定Incell自容模组面板的异常状态。
多个触控电极各自独立且彼此分开，并且位于同一层上而形成触控电极层。
在设置步骤中，使透明导电层的面积大于或等于Incell自容模组面板的有效区的面积。
检测步骤还包括：当检测电路检测到的电流值大于或小于预定电流值时，确定Incell自容模组面板处于异常状态。
检测方法还包括移除步骤，在完成检测步骤之后，移除透明导电层。
Incell自容模组面板的有效区还包括TFT玻璃层、液晶材料和彩色滤光片层，其中，触控电极层设置在TFT玻璃层上，彩色滤光片层设置在触控电极层上方，液晶材料设置在触控电极与彩色滤光片之间。
在设置步骤中，透明导电层直接接触Incell自容模组面板。
透明导电层的材料为铟锡氧化物。
附图说明
通过下面结合附图进行的对实施例的描述，本发明的上述和/或其它目的和优点将会变得更加清楚，其中：
图1A是示出现有技术中Incell自容模组面板的俯视结构图；
图1B是示出图1A中虚线框中所示的一个触控电极区域的放大图；
图2是示出根据本发明示例性实施例对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法和结构图；
图3是示出沿着图2中的线I-I’截取的剖视图。
具体实施方式
现将详细描述本发明的示例性实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中，相同的标号指示相同的部分。以下将通过参照附图来说明所述实施例，以便解释本发明。
图1A是示出现有技术中Incell自容模组面板的俯视结构图。图1B是示出图1A中虚线框中所示的一个触控电极区域110的放大图。
Incell自容模组面板100包括有效区(AA区)和围绕AA区的***区，在***区中设置连接走线120和集成电路(IC)等。AA区中设有公共电极和设置在公共电极上方的多条Rx信号线(例如，130、131……等)。多条Rx信号线可以是起电连接作用和接收/传输信号的导线(例如接收线、金属线等)，在AA区中沿竖直方向平行布置并且均位于与公共电极不同的层上。在AA区中，公共电极被分成各自独立且彼此分开的多个区块，每个区块作为一个触控电极，每个触控电极仅通过一条Rx信号线连接到IC。
例如，触控电极110通过连接构件140(例如，连接导线、金属孔等)而连接到Rx信号线130，Rx信号线130的另一端连接至一个IC输出pin(管脚)(未示出)并且通过连接走线120中的一条连接走线而连接到一个IC输出焊盘(未示出)，从而实现触控电极110与IC板的连接。类似地，每一个触控电极与每一条Rx信号线一一对应且通过连接构件来电连接，从而将每个触控电极均连接到IC板。
然而，与每个触控电极连接的每条Rx信号线是贯穿整个AA区的，在制程时会发生Rx信号线与非对应的触控电极短路的情况，即，一条Rx信号线连接到多个触控电极的情况。
为了避免不良产品的流出，根据本发明的实施例的检测方法不仅可以检测Incell自容模组面板的显示性能，而且可以检测Incell自容模组面板的触控性能。
图2是示出根据本发明示例性实施例对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法和结构图。
参照图2，对Incell自容模组面板100进行模组检测的方法包括：首先，在Incell自容模组面板100上方设置透明导电层210，使得透明导电层210覆盖且接近整个Incell自容模组面板100的AA区，其中，透明导电层210的面积可以大于或等于Incell自容模组面板100的AA区的面积，透明导电层210可以由铟锡氧化物构成，但不限于此。然后，将所述透明导电层210与地电性连接，并且在透明导电层210与地之间连接一个检测电路220，检测电路220可以是实现检测电流功能的电路结构，但不限于此，也可以是实现检测其他电路功能(例如电压等)的任何形式的电路结构。之后，控制集成电路(IC)依次向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试方波，正常情况下，透明电极与地之间会有电流流过，利用检测电路220检测此电流的大小，根据检测电流的大小可以确定所述Incell自容模组面板的触控性能是否为异常状态。在下文中，将结合图3来具体说明该检测方法的原理。
图3是示出沿着图2中的线I-I’截取的剖视图。
如图3所示，Incell自容模组面板100的AA区包括TFT玻璃层310、触控电极层320、液晶材料(未示出)和彩色滤光片层330，但不限于此。其中，TFT玻璃层310是设置有电极图案且具有薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)功能的基板玻璃层。触控电极层320设置在TFT玻璃层310上，并且包括多个彼此独立且分开的触控电极，每个触控电极可以是块状，但不限于此，每个触控电极也可以是圆形或其他形状的电极。彩色滤光片层330设置在触控电极层320的上方，可以精确选择期望通过的小范围波段光波，而反射掉其他不希望通过的波段。液晶材料(未示出)设置在触控电极层320与彩色滤光片层330之间的空间，液晶材料在不同电压的作用下会呈现不同的光特性。
透明导电层210可以设置在透明的载体玻璃350(但不限于此)上形成透明导电层构件。该透明导电层构件可拆卸地设置在Incell自容模组面板100上方，例如，可以使透明导电层210接近或直接接触Incell自容模组面板100的上表面，当向触控电极层320中的一个触控电极提供电信号时，透明导电层210可以与触控电极层320中的被提供电信号的触控电极之间形成电容。
结合图2和图3，在模组检测时，控制IC依次向每条Rx信号线提供测试方波，即，控制IC依次向每个触控电极输入测试方波，在正常情况下，被输入测试方波的一个触控电极单独与透明导电层210形成具有预定电容值的电容，此时透明导电层210形成为透明电极并且与地之间会有电流流过，通过检测电路220可以检测到此电流，正常状态下检测到的电流可以具有预定电流值。
例如，首先控制IC经由一条Rx信号线130向触控电极110输入测试方波，此时不向其他Rx信号线提供电信号，如果Rx信号线130仅连接到触控电极110而未连接到其他触控电极，则为正常工作状态；正常工作状态下，触控电极110与透明导电层210形成具有预定值的电容，此时，透明导电层210形成为透明电极并且与地之间会有电流流过，检测电路220可以检测到预定电流值的电流。类似地，依次给每一条Rx信号线以及与其对应的触控电极提供测试方波，通过检测电流220来检测其电流值是否为预定电流值，直到完成所有触控电极的检测。
然而，如果Incell自容模组面板存在异常，则检测电路会检测到大于或小于预定电流值的电流。具体来说，如果一条Rx信号线连接到两个或多个触控电极(即，Rx信号线发生短路)，则当向该条Rx信号线提供测试方波时，与其连接的这些触控电极均被提供电信号而与透明导电层210形成具有大于预定电容值的电容，此时，透明导电层210与地之间仍会有电流流过，但是检测电路会检测到大于预定电流值的电流。如果一条Rx信号线未连接到与其对应的触控电极(或连接被断开)，也未与其他触控电极连接，则当向该条Rx信号线提供测试方波时，所有的触控电极均未接收到电信号，则透明电极与地之间没有电流流过，检测电路检测的电流可能为0(小于预定电流值)。因此，如果检测电路检测到大于或小于预定电流值的电流，则说明Incell自容模组面板存在异常。
综上分析，控制IC依次向每条Rx信号线提供测试方波(即，依次向每个触控电极提供测试方波)，从而依次测试每个触控电极的触控性能，通过检测电路220依次检测流过的电流值，直到完成所有触控电极的测试为止，当检测电路220检测到的所有电流值均为预定电流值(或者在预定电流值的容差范围内)时，说明Incell自容模组面板为正常状态，其触控性能良好，为良品；然而，当检测电路检测到的所有电流值中存在明显大于或小于预定电流值的电流时，则说明Incell自容模组面板为异常状态，其触控性能存在问题，为不良产品。
此外，由于透明导电层构件可拆卸地设置在Incell自容模组面板上，因此在完成检测之后，可以移除该透明导电层构件，从而该透明导电层构件可以用于其他模组面板的检测、进而简化检测步骤，并且不影响后续制造工艺(例如，覆盖装饰用的盖板玻璃等)。
因此，根据本发明的模组检测方法，不仅能够对Incell自容模组面板的显示性能进行检测，还能够对Incell自容模组面板的触控性能进行检测，从而避免不良产品的流出，提高产品的良品率。
尽管已经参照本发明的示例性实施例具体显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离由权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims (9)

1.一种Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法包括以下步骤：
设置步骤，在包括多个触控电极的Incell自容模组面板上方设置透明导电层，使得透明导电层覆盖且接近整个Incell自容模组面板的有效区，其中，所述透明导电层设置在透明的载体玻璃上，使得透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板上方且位于Incell自容模组面板与透明的载体玻璃之间；
电路连接步骤，将所述透明导电层与地电性连接，并且在透明导电层与地之间连接检测电路；以及
检测步骤，依次通过每条Rx信号线向Incell自容模组面板的每个触控电极输入测试信号，通过检测电路检测到的电流来确定所述Incell自容模组面板的异常状态。
2.根据权利要求1所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述多个触控电极各自独立且彼此分开，并且位于同一层上而形成触控电极层。
3.根据权利要求1所述的Incell自容模组面板的检测方法，在所述设置步骤中，所述透明导电层的面积大于或等于Incell自容模组面板的有效区的面积。
4.根据权利要求2所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述检测步骤还包括：
当检测电路检测到的电流值大于或小于预定电流值时，确定Incell自容模组面板处于异常状态。
5.根据权利要求2所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述检测方法还包括移除步骤，在完成检测步骤之后，移除所述透明导电层。
6.根据权利要求2所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述Incell自容模组面板的有效区还包括TFT玻璃层、液晶材料和彩色滤光片层，其中，所述触控电极层设置在TFT玻璃层上，彩色滤光片层设置在触控电极层上方，所述液晶材料设置在触控电极层与彩色滤光片层之间，
其中，在所述设置步骤中，将透明导电层设置在彩色滤光片层的上方而接近或直接接触所述彩色滤光片层。
7.根据权利要求1所述的Incell自容模组面板的检测方法，在所述设置步骤中，透明导电层直接接触所述Incell自容模组面板。
8.根据权利要求1至7任一项所述的Incell自容模组面板的检测方法，所述透明导电层的材料为铟锡氧化物。
9.一种用于检测Incell自容模组面板的透明导电层构件，所述透明导电层构件包括载体玻璃以及设置在载体玻璃上的透明导电层，所述透明导电层可拆卸地设置在Incell自容模组面板的上方以检测Incell自容模组面板的异常状态，其中，所述透明导电层的材料为铟锡氧化物，
所述透明导电层覆盖整个Incell自容模组面板的有效区，
所述透明导电层与触控电极层中的通过Rx信号线被提供测试信号的触控电极之间形成电容，
每个触控电极通过对应的信号线由控制IC依次提供测试方波，检测电路依次检测流过的电流值，当检测电路检测到的所有电流值均为预定电流值，判断所述Incell自容模组面板正常；当检测电路检测到的所有电流值中存在明显大于或小于预定电流值的电流时，判断所述Incell自容模组面板异常。
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