CN106652863B - 一种检测电路 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种检测电路，该检测电路包括第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。本发明的检测电路，能够提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。
Description
【技术领域】
本发明涉及显示器技术领域，特别是涉及一种检测电路。
【背景技术】
HVA配向技术主要是利用液晶中的高分子在紫外光和电场的共同作用下聚合，对液晶实现自动配向。其配向过程：首先在VA液晶中掺入一定比例的高纯度反应型液晶(趋光性单体，此种液晶既有普通液晶分子的液晶核，又在末端带有一个或多个亚克力基之类的可反应光能基)；随后上下基板之间外加一个电压，使液晶分子产生一个预倾角度；随后进行特定波长范围内的紫外光从阵列基板侧照射后，反应型液晶聚合成高分子网络吸引表层的液晶分子形成固定的预倾角。因此，HVA配向技术在紫外光照射液晶面板的同时，还需要施加一定的电压。
阵列测试是阵列基板通过检测机台向基板输入检测信号，再将其导入至面板内部，以检测面板是否存在不良现象，比如面板的内线路是否短路或者断路。
现有设计的检测线路可以进行显示面板的单驱检测和双驱检测，即面板双边检测电路可以分别从两边输入测试信号，这样就可以减少不良漏检率；然而，HVA固化的信号则只能单边输入，由于大尺寸面板的负载一般较大，可能会造成面板两边输入信号的延迟差异较大，而造成固化效果不一致，最终造成面板显示不良。
因此，有必要提供一种检测电路，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种检测电路，能够提高面板的不良检出率。
为解决上述技术问题，本发明提供一种检测电路，其包括：
第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；
第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；
配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；
控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。
在本发明的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于向所述显示面板输入测试信号，所述第一检测线组输入的测试信号和所述第二检测线组输入的测试信号相互独立。
在本发明的检测电路中，所述控制模块，还用于在对所述显示面板进行配向时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组通过所述配向线组连接。
在本发明的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于将所述配向线组输入的配向信号输入所述显示面板，所述第一检测线组输入的配向信号和所述第二检测线组输入的配向信号相同。
在本发明的检测电路中，所述配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接；
所述控制模块包括多个控制单元，所述控制单元与所述配向线一一对应；所述控制单元与对应的桥接配向线连接，所述桥接配向线为连接在所述主检测线和所述副检测线之间的配向线。
在本发明的检测电路中，所述控制单元用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述桥接配向线断开。
在本发明的检测电路中，所述控制单元包括控制端、输入端、输出端；
所述控制端用于输入控制信号，所述输入端与对应的所述桥接配向线的一端连接，所述输出端与对应的所述桥接配向线的另一端连接。
在本发明的检测电路中，所述控制单元包括开关元件。
在本发明的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都沿第一方向排列，所述配向线组沿第二方向排列。
在本发明的检测电路中，所述第一检测线组用于对第一驱动电路进行检测，所述第二检测线组用于对第二驱动电路进行检测，其中所述第一驱动电路和所述第二驱动电路分别位于显示面板的相对侧。
本发明的检测电路，在现有的检测电路的基础上增加控制模块，从而则既可以实现对显示面板的双边固化，又可以同时实现对显示面板的单边或者双边检测；从而提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。
【附图说明】
图1为本发明的显示面板中的检测电路的一结构示意图。
图2为本发明的显示面板中的检测电路的另一结构示意图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图1，图1为本发明显示面板中的检测电路的一结构示意图。
如图1所示，检测电路包括第一检测线组11、第二检测线组12以及配向线组13，其中配向线组13与第一检测线组11和第二检测线组连接12。
第一检测线组11和第二检测线组12都用于对显示面板14进行检测，该显示面板包括两个GOA电路15，配向线组13用于对显示面板14进行配向处理。
由于配向线组13与第一检测线组11和第二检测线组12连接，因此，在配向过程中，能够从左右两侧对面板进行双向配向。
上述检测电路，可以实现对显示面板的双边固化；不会出现显示不均的现象。然而，在进行显示面板的检测时，只能进行双边检测，从而会容易造成水平方向不良线路的漏检。
请参照图2，图2为本发明显示面板中的检测电路的另一结构示意图。
如图2所示，本发明的检测电路包括第一检测线组11、第二检测线组12、配向线组13以及控制模块20。
该第一检测线组11与显示面板14连接；该第一检测线组11包括多条主检测线L1至L4。所述第一检测线组11用于向所述显示面板14输入外界的测试信号。
所述第二检测线组12与所述显示面板14连接；第二检测线组12包括多条副检测线R1至R4，所述第二检测线组12与所述第一检测线组11相对设置。所述第二检测线组12用于向所述显示面板14输入外界的测试信号。
该配向线组13包括多条配向线H1至H4，所述配向线组13分别与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12连接；该配向线H1至H4用于输入外界的配向信号。每条配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接。
比如配向线H1与主检测线L1和副检测线R1连接。配向线H2与主检测线L2和副检测线R2连接。配向线H3与主检测线L3和副检测线R3连接。配向线H4与主检测线L4和副检测线R4连接。
在一实施方式中，所述第一检测线组11和所述第二检测线组12都沿第一方向(也即竖直方向)排列，所述配向线组13沿第二方向(也即水平方向)排列。
该控制模块20用于在对所述显示面板14进行检测时，使得所述第一检测线组11和所述第二检测线组12断开连接，也即使得配向线组13与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12之间的连接断开。第一检测线组11和第二检测线组12之间的配向线断开，从而使得所述第一检测线组11输入的测试信号和所述第二检测线组12输入的测试信号相互独立。
也即当其中一个检测线组输入外界的测试信号时，不会传递至第二检测线组中，从而能够实现对显示面板的单边检测。此外，也可以同时对这两个检测组输入检测信号，以实现对显示面板的双边检测。
在一实施方式中，当对所述显示面板14进行配向时，所述控制模块20还用于使得所述第一检测线组11和所述第二检测线组12连接，也即使得配向线组13与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12之间维持连接。
此时，第一检测线组11和第二检测线组12之间通过配向线连接，从而使得配向线输入的配向信号同时传递至所述第一检测线组11和所述第二检测线组12，之后所述第一检测线组11和所述第二检测线组12再将配向信号输入所述显示面板14。也即所述第一检测线组11输入的配向信号和所述第二检测线组12输入的配向信号相同。从而能够对面板进行双边配向，避免出现配向不均匀的现象。
所述控制模块20包括多个控制单元，在一实施方式中，所述控制单元包括开关元件。该开关元件可以为三极管、开关等元件。以开关元件为三极管为例，每个控制单元T1-T4对应一条配向线；也即配向线H1-H4分别对应控制单元T1-T4。
每个控制单元与对应的桥接配向线连接，所述桥接配向线为连接在所述主检测线和所述副检测线之间的配向线。比如控制单元T1与连接在主检测线L1和副检测线R1之间的配向线H1连接，也即连接在主检测线L1和副检测线R1之间的配向线H1为桥接配向线。
每个三极管包括控制端、输入端、输出端；比如三极管T1包括控制端22、输入端23以及输出端24，其中所述控制端22用于输入外界的控制信号，该控制信号可以由控制单元21提供。也即每个三极管的控制端都与控制单元21的输出端连接。通常控制单元21为输入端(pad)，而在进行面板测试的时候，该输入端输入外界的低电位信号或者直接悬空(不给信号)。此时，各个三极管关闭，面板两边给入的检测信号互不导通，则可以区分单边检测和双边检测，提高不良检出率和修复率而减少产品的生产成本。所述输入端23与对应的所述桥接配向线的一端连接，所述输出端24与对应的所述桥接配向线的另一端连接。
具体地，位于左侧的桥接配向线的一端与主检测线L1连接，另一端与输入端23连接，位于右侧的桥接配向线的一端与副检测线R1连接，另一端与输出端24连接。可以理解的，其余控制单元的连接方式与此类似。
在对显示面板进行配向时，控制信号的电平为高电位，使得各个控制单元闭合，也即使得配向线与对应的主检测线和副检测线之间维持连接状态，从而当配向线输入配向信号时，第一检测线组和第二检测线组可以将配向信号传递至显示面板的两侧，也即实现双边固化，从而避免出现不均的现象。
而在对显示面板进行检测时，控制信号的电平为低电位。使得各个控制单元断开，也即使得配向线与对应的主检测线和副检测线之间不再处于连接状态，也即使得所述桥接配向线断开。当检测线组输入检测信号时，显示面板两边输入的检测信号互不导通，因此可以对显示面板进行单边检测和双边检测，从而减少不良的漏检率。
可以理解的，对GOA电路也可以实现单边检测和双边检测，该显示面板14的两侧分别设置有第一驱动电路151和第二驱动电路152。
所述第一检测线组11用于对第一驱动电路151进行检测，所述第二检测线组12用于对第二驱动电路152进行检测。可以理解的，该驱动电路为GOA电路。
本发明的检测电路，在现有的检测电路的基础上增加控制模块，从而则既可以实现对显示面板的双边固化，又可以同时实现对显示面板的单边或者双边检测；从而提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (8)
1.一种检测电路，其特征在于，包括：
第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；
第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；
配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；
控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于向所述显示面板输入测试信号，所述第一检测线组输入的测试信号和所述第二检测线组输入的测试信号相互独立；
所述配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接；
所述控制模块包括多个控制单元，所述控制单元与所述配向线一一对应；所述控制单元与对应的桥接配向线连接，所述桥接配向线为连接在所述主检测线和所述副检测线之间的配向线。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述控制模块，还用于在对所述显示面板进行配向时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组通过所述配向线组连接。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，
所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于将所述配向线组输入的配向信号输入所述显示面板，所述第一检测线组输入的配向信号和所述第二检测线组输入的配向信号相同。
4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，
所述控制单元用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述桥接配向线断开。
5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，
所述控制单元包括控制端、输入端、输出端；
所述控制端用于输入控制信号，所述输入端与对应的所述桥接配向线的一端连接，所述输出端与对应的所述桥接配向线的另一端连接。
6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述控制单元包括开关元件。
7.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，
所述第一检测线组和所述第二检测线组都沿第一方向排列，所述配向线组沿第二方向排列。
8.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，
所述第一检测线组用于对第一驱动电路进行检测，所述第二检测线组用于对第二驱动电路进行检测，其中所述第一驱动电路和所述第二驱动电路分别位于显示面板的相对侧。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710096246.7A CN106652863B (zh) | 2017-02-22 | 2017-02-22 | 一种检测电路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710096246.7A CN106652863B (zh) | 2017-02-22 | 2017-02-22 | 一种检测电路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106652863A CN106652863A (zh) | 2017-05-10 |
| CN106652863B true CN106652863B (zh) | 2020-10-13 |
Family
ID=58845949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710096246.7A Active CN106652863B (zh) | 2017-02-22 | 2017-02-22 | 一种检测电路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106652863B (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN108010475B (zh) * | 2017-11-24 | 2021-06-22 | 苏州华星光电技术有限公司 | 一种显示面板 |
| CN108109566A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种检测电路及显示面板 |
| CN108053788A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-05-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板、显示装置和测试方法 |
| CN108766328B (zh) * | 2018-05-17 | 2021-07-20 | 友达光电（苏州）有限公司 | 检测电路及检测方法 |
| CN109637405B (zh) * | 2018-12-05 | 2021-04-06 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板的测试方法、装置及存储介质 |
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|---|---|---|---|---|
| JP4559712B2 (ja) * | 2003-06-11 | 2010-10-13 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | アレイ基板およびアレイ基板の検査方法 |
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2017
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|---|---|
| CN106652863A (zh) | 2017-05-10 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
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