CN106610468B - 扫描链、扫描链构建方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种扫描链、扫描链构建方法及装置，涉及集成电路技术领域，解决了现有技术中扫描链的故障诊断精度不高的问题。所述方法包括：提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。本发明适用于在具有复杂结构的大规模数字芯片电路中进行扫描链的构建。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种扫描链、扫描链构建方法及装置。
背景技术
通常，集成电路在流片前主要通过硅前验证(Pre-silicon Verification)来保证芯片的正确性。随着芯片的设计规模越来越大，复杂度越来越高，硅前验证的时间受到制约，使得芯片的硅前验证的工作难以充分进行，导致流片后的芯片存在故障。因此，需要在流片后对芯片进行硅后调试(Post-silicon Debug)，以发现并定位遗留在芯片中的错误，进一步保证芯片的正确性。
芯片的扫描链面积约占整个芯片的15％～30％，是最易产生故障的区域之一。据统计，扫描链故障数约占芯片总故障数的50％，扫描链自身的故障是影响芯片良率的主要因素。因此，当扫描链故障发生时，如何快速准确的定位扫描链故障，找到发生故障的原因，是提高芯片良率和缩短芯片产品周期的关键。
现有技术中可能出现的扫描链结构如图1和图2所示，如图1所示，属于同一个扫描单元o的扇入扫描单元a、b、c、d位于同一条扫描链上；如图2所示，属于同一个扫描单元o的扇出扫描单元a、b、c、d位于同一条扫描链上。对于上述扫描链结构来说，当扫描链发生故障时，很难准确的定位扫描链中出现故障的扫描单元。
在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：
现有技术所构建的扫描链结构中，扇入到同一个扫描单元的多个扫描单元可能分配到同一条扫描链上，同一个扫描单元所扇出的多个扫描单元可能分配到同一条扫描链上，导致扫描链的故障诊断精度不高。
发明内容
本发明提供的扫描链、扫描链构建方法及装置，能够提升扫描链的故障诊断精度。
第一方面，本发明提供一种扫描链构建方法，包括：
提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；
获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；
创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；
由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
第二方面，本发明提供一种扫描链构建装置，包括：
扫描单元提取模块，用于提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；
相关度获取模块，用于获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；
空扫描链创建模块，用于创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；
扫描链构建模块，用于由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
第三方面，本发明提供一种扫描链，所述扫描链中任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
本发明实施例提供的扫描链、扫描链构建方法及装置，获取由电路中所有扫描单元组成的扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度，由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所创建的空扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。与现有技术相比，本发明能够将相关度大的扫描单元分配到不同的扫描链上，尽可能避免将扇入到同一个扫描单元的扫描单元分配到同一条扫描链上，以及避免将同一个扫描单元所扇出的扫描单元分配到同一条扫描链上，从而可以提升扫描链的故障诊断精度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1和图2为现有技术中的扫描链结构示意图；
图3为本发明一实施例提供的扫描链构建方法的流程图；
图4为本发明另一实施例提供的扫描链构建方法中步骤S22的详细流程图；
图5为本发明另一实施例提供的扫描链构建方法中步骤S24的详细流程图；
图6为本发明另一实施例提供的扫描链构建方法中基于扇入电路逻辑构建的扫描链的结构示意图；
图7为本发明另一实施例提供的扫描链构建方法中基于扇出电路逻辑构建的扫描链的结构示意图；
图8和图9为本发明另一实施例提供的扫描链构建方法中基于扫描单元的物理位置构建的扫描链的结构示意图；
图10为本发明一实施例提供的扫描链构建装置的结构示意图；
图11为本发明另一实施例提供的扫描链构建装置中的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种扫描链构建方法，如图3所示，所述扫描链构建方法包括：
S11、提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合。
其中，所述扫描单元可以为带有扫描功能的触发器或锁存器，但不仅限于此。
S12、获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度。
其中，所述任意两个扫描单元的相关度可以根据任意两个扫描单元的扇入相关度、扇出相关度、物理位置相关度计算得到。
其中，两个扫描单元的相关度是一个量化的数值，用于反映两个扫描单元在逻辑结构以及物理位置上的整体关系紧密程度。扇入相关度反映扇入到同一个扫描单元的两个扫描单元在逻辑结构上的关系紧密程度；扇出相关度反映从同一个扫描单元扇出的两个扫描单元在逻辑结构上的关系紧密程度；物理位置相关度反映两个扫描单元在物理位置上的关系紧密程度。
S13、创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链。
其中，所述空扫描链即该扫描链中包含0个扫描单元。
S14、由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
其中，所述相关度阈值和扫描链最大链长为预先设定；所述相关度阈值的初始值可以为人为设置的经验值，也可以为扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度之和的平均值；所述扫描链最大链长可以为扫描单元集合中扫描单元的个数除以电路中芯片测试管脚的个数。
本发明实施例提供的扫描链构建方法，获取由电路中所有扫描单元组成的扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度，由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所创建的空扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。与现有技术相比，本发明能够将相关度大的扫描单元分配到不同的扫描链上，尽可能避免将扇入到同一个扫描单元的扫描单元分配到同一条扫描链上，以及避免将同一个扫描单元所扇出的扫描单元分配到同一条扫描链上，从而可以提升扫描链的故障诊断精度。
本发明实施例还提供一种扫描链构建方法，本发明实施例扫描链构建方法的具体流程如下：
S21、提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合G。
其中，扫描单元集合G中扫描单元的个数为L，L为大于等于2的整数。
S22、获取所述扫描单元集合G中任意两个扫描单元的相关度。
具体地，如图4所示，所述步骤S22可以包括以下步骤：
S221、根据扫描单元集合G中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇入相关度。
若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>与扇入到同一个扫描单元o的扫描单元的个数M呈正相关函数，也就是说，扇入到同一个扫描单元o的扫描单元越多，M值越大，则R扇入<a,b>的值越大；反之，扇入到同一个扫描单元o的扫描单元越少，M值越小，则R扇入<a,b>的值越小；
其中，正相关是指两个变量变动方向相同，一个变量由大到小或由小到大变化时，另一个变量也由大到小或由小到大变化。例如，因变量Y与自变量X互为正相关函数，则因变量Y随着自变量X的变化而发生相同方向的变化。
可选地，R扇入<a,b>的值可以等于M。
若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>为0。
S222、根据扫描单元集合G中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇出相关度。
若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>与同一个扫描单元o所扇出的扫描单元的个数M呈负相关函数，也就是说，同一个扫描单元o所扇出的扫描单元越多，M值越大，则R扇出<a,b>的值越小；反之，同一个扫描单元o所扇出的扫描单元越少，M值越小，则R扇出<a,b>的值越大；
其中，负相关是指两个变量变动方向相反，一个变量由大到小或由小到大变化时，另一个变量则由小到大或由大到小变化。例如，因变量Y与自变量X互为负相关函数，则因变量Y随着自变量X的变化而发生相反方向的变化。
可选地，R扇出<a,b>的值可以等于M_max/M，其中，M_max表示电路中同一个扫描单元o所扇出的扫描单元个数的最大值。
若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>为0。
S223、根据扫描单元集合G中任意两个扫描单元a和b的物理位置，获取扫描单元a和b的物理位置相关度。
其中，如果某区域对物理位置的约束要求越严苛，则物理位置相关度的值越大；如果某区域对物理位置的约束要求越宽松，则物理位置相关度的值越小。
其中，根据扫描单元的物理位置，所述电路可以划分为k个区域，为每个区域分配相应的物理位置相关度值，k为大于等于1的整数。
可选地，每个区域分配的物理位置相关度Wdomain_i可以等于i，i为整数且取值范围为1≤i≤k。其中，domain_i代表第i个区域。
其中，i值越大，表示区域domain_i对物理位置的约束要求越严苛；i值越小，表示区域domain_i对物理位置的约束要求越宽松。
若扫描单元a和b都位于第i个区域，则扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于它们所在区域的物理位置相关度Wdomain_i；
若扫描单元a和b分别位于不同的区域，则扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于1。
S224、根据上述获取到的扫描单元a和b的扇入相关度、扇出相关度和物理位置相关度，计算扫描单元a和b的相关度。
具体地，扫描单元a和b的相关度R<a,b>计算公式如下：
S23、创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链。
具体地，创建N条空的扫描链，形成扫描链集合F，并设定相关度阈值和扫描链最大链长，其中，N为大于等于1的整数。
其中，所述空的扫描链即扫描链中包含0个扫描单元；相关度阈值的初始值可以为扫描单元集合G中所有扫描单元a和b的相关度R<a,b>之和的平均值；扫描链最大链长可以为扫描单元集合G中扫描单元的个数L除以电路中芯片测试管脚的个数。
S24、由所述扫描单元集合G中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合F中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合G中删除，直至所述扫描链集合F中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
具体地，如图5所示，所述步骤S24可以包括以下步骤：
S241、提取扫描单元集合G中的第一个扫描单元，放入扫描链集合F中的其中一条空的扫描链f。
S242、依次选取扫描单元集合G中的一个扫描单元g，若扫描单元g与已经在扫描链中的任意一个扫描单元的相关度均小于相关度阈值，则将扫描单元g放入该扫描链f中，并将扫描单元G中的扫描单元g删除；否则，继续选取扫描单元集合G中的下一个扫描单元。
S243、判断该扫描链f是否达到扫描链最大链长，若达到扫描链最大链长，则执行步骤S244；若未达到扫描链最大链长，则执行步骤S245。
S244、判断扫描链集合F中是否还有空的扫描链，若还有空的扫描链，则返回执行步骤S241；若没有空的扫描链，则执行步骤S247。
S245、判断所述扫描单元集合G中的扫描单元是否都已选取过，若没有，则返回执行步骤S242；若都已选取过，则执行步骤S246。
S246、增加相关度阈值，返回执行步骤S242。
S247、根据最终得到的扫描链集合对电路进行扫描链的构建。
其中，根据所述最终的扫描链集合，可以获知每条扫描链所分配的扫描单元的个数、分配了哪些扫描单元以及所分配的扫描单元的顺序。
具体地，可以根据最终得到的扫描链集合生成扫描路径文件，将生成的扫描路径文件导入EDA工具，通过EDA工具对电路进行扫描链的构建。扫描链构建完成之后，采用时序分析工具对电路进行时序评估。如果时序分析的结果不理想，例如芯片中高速模块的数据路径的延时过大，则可以调整扫描单元集合G中任意两个扫描单元a和b的物理位置相关度，并重新计算扫描单元集合G中任意两个扫描单元a和b的相关度，然后按照上述过程重新构建扫描链结构，直到得到一个较佳的时序分析结果。
按照上述实施例所提供的扫描链构建方法，最终得到的基于扇入电路逻辑构建的扫描链的结构如图6所示；基于扇出电路逻辑构建的扫描链的结构如图7所示；基于扫描单元的物理位置构建的扫描链的结构如图8或图9所示，其中，图9所示的基于扫描单元的物理位置构建的扫描链的结构为优选的扫描链结构。
由图6、图7、图8、图9可以看出，采用本发明实施例提供的扫描链的构建方法，能够尽可能避免将扇入到同一个扫描单元的扫描单元分配到同一条扫描链上，以及避免将同一个扫描单元所扇出的扫描单元分配到同一条扫描链上，以及尽可能地将物理位置上关系紧密的扫描单元分配到同一条扫描链上，从而可以提升扫描链的故障诊断精度。
本发明实施例提供一种扫描链构建装置，如图10所示，所述扫描链构建装置包括：
扫描单元提取模块11，用于提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合。
其中，所述扫描单元可以为带有扫描功能的触发器或锁存器，但不仅限于此。
相关度获取模块12，用于获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度。
其中，所述任意两个扫描单元的相关度可以根据任意两个扫描单元的扇入相关度、扇出相关度、物理位置相关度计算得到。
空扫描链创建模块13，用于创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链。
其中，所述空扫描链即该扫描链中包含0个扫描单元。
扫描链构建模块14，用于由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
其中，所述相关度阈值和扫描链最大链长为预先设定；所述相关度阈值的初始值可以为人为设置的经验值，也可以为扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度之和的平均值；所述扫描链最大链长可以为扫描单元集合中扫描单元的个数除以电路中芯片测试管脚的个数。
本发明实施例提供的扫描链构建装置，获取由电路中所有扫描单元组成的扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度，由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所创建的空扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。与现有技术相比，本发明能够将相关度大的扫描单元分配到不同的扫描链上，尽可能避免将扇入到同一个扫描单元的扫描单元分配到同一条扫描链上，以及避免将同一个扫描单元所扇出的扫描单元分配到同一条扫描链上，从而可以提升扫描链的故障诊断精度。
进一步地，如图11所示，所述相关度获取模块12可以包括：
扇入相关度获取子模块121，用于根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>；
扇出相关度获取子模块122，用于根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>；
物理位置相关度获取子模块123，用于根据扫描单元a和b的物理位置，获取扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，其中，根据扫描单元的物理位置，所述电路划分为k个区域，每个区域具有相应的物理位置相关度，domain_i为第i个区域，其中，i为整数且取值范围为1≤i≤k，k为大于等于2的正整数；
相关度计算子模块124，用于根据扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>、扇出相关度R扇出<a,b>和物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，计算扫描单元a和b的相关度R<a,b>，其中，
可选地，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇入，则所述扇入相关度获取子模块121获取的扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>与扇入到同一个扫描单元o的扫描单元的个数M呈正相关函数，也就是说，扇入到同一个扫描单元o的扫描单元越多，M值越大，则R扇入<a,b>的值越大；反之，扇入到同一个扫描单元o的扫描单元越少，M值越小，则R扇入<a,b>的值越小；
若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇入，则所述扇入相关度获取子模块获取的扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>为0。
可选地，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇出，则所述扇出相关度获取子模块122获取的扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>与同一个扫描单元o所扇出的扫描单元的个数M呈负相关函数，也就是说，同一个扫描单元o所扇出的扫描单元越多，M值越大，则R扇出<a,b>的值越小；反之，同一个扫描单元o所扇出的扫描单元越少，M值越小，则R扇出<a,b>的值越大；
若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇出，则所述扇出相关度获取子模块获取的扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>为0为0。
可选地，若扫描单元a和b都位于第i个区域，则所述物理位置相关度获取子模块123获取的扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于它们所在区域的物理位置相关度Wdomain_i；其中，每个区域分配的物理位置相关度Wdomain_i可以等于i，i＝1,2,…,k。其中，i值越大，表示区域domain_i对物理位置的约束要求越严苛；i值越小，表示区域domain_i对物理位置的约束要求越宽松。；
若扫描单元a和b分别位于不同的区域，则所述物理位置相关度获取子模块获取的扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于1。
进一步地，所述扫描链构建模块14，还用于当所述扫描链集合中的一扫描链未达到扫描链最大链长时，增加所述相关度阈值，并由当前扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长。
本发明实施例还提供一种扫描链，所述扫描链中任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值。
可选的，任意两个扫描单元a和b的相关度R<a,b>按照如下公式计算得到：
其中，R扇入<a,b>为扫描单元a和b的扇入相关度，R扇出<a,b>为扫描单元a和b的扇出相关度，Wdomain_i<a,b>为扫描单元a和b的物理位置相关度。
所述扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>、扇出相关度R扇出<a,b>以及物理位置相关度Wdomain_i<a,b>的定义可以参照上述扫描链构建方法实施例中所述。
可选的，所述相关度阈值为电路中所有扫描单元中任意两个扫描单元的相关度之和的平均值。
进一步地，所述扫描链中的所有扫描单元不属于同一个扫描单元的扇入扫描单元，和/或所述扫描链中的所有扫描单元不属于同一个扫描单元的扇出扫描单元，和/或所述扫描链中所有扫描单元位于电路的同一个区域。
其中，根据扫描单元的物理位置，所述电路可以划分为k个区域。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (8)
1.一种扫描链构建方法，其特征在于，包括：
提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；
获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；
创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；
由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值；
其中，所述获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度包括：
根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>，其中，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>与扇入到同一个扫描单元o的扫描单元的个数M呈正相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>为0；
根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>，其中，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>与同一个扫描单元o所扇出的扫描单元的个数M呈负相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>为0；
根据扫描单元a和b的物理位置，获取扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，其中，根据扫描单元的物理位置，所述电路划分为k个区域，每个区域具有相应的物理位置相关度，domain_i为第i个区域，其中，i为整数且取值范围为1≤i≤k，k为大于等于1的整数；
根据扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>、扇出相关度R扇出<a,b>和物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，计算扫描单元a和b的相关度R<a,b>，其中，
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据扫描单元a和b的物理位置，获取扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>包括：
若扫描单元a和b都位于第i个区域，则扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于它们所在区域的物理位置相关度Wdomain_i；
若扫描单元a和b分别位于不同的区域，则扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于1。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长包括：
若所述扫描链集合中的一扫描链未达到扫描链最大链长，则增加所述相关度阈值，并由当前扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长。
4.一种扫描链构建装置，其特征在于，包括：
扫描单元提取模块，用于提取电路中的所有扫描单元，组成扫描单元集合；
相关度获取模块，用于获取所述扫描单元集合中任意两个扫描单元的相关度；
空扫描链创建模块，用于创建扫描链集合，所述扫描链集合中的各扫描链均为空扫描链；
扫描链构建模块，用于由所述扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链集合中的一扫描链，并将所提取的扫描单元从所述扫描单元集合中删除，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长，其中，同一条扫描链中的任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值；
所述相关度获取模块，还用于根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>，其中，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>与扇入到同一个扫描单元o的扫描单元的个数M呈正相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>为0；以及根据所述扫描单元集合中任意两个扫描单元a和b的逻辑关系，获取扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>，其中，若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>与同一个扫描单元o所扇出的扫描单元的个数M呈负相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>为0；以及根据扫描单元a和b的物理位置，获取扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，其中，根据扫描单元的物理位置，所述电路划分为k个区域，每个区域具有相应的物理位置相关度，domain_i为第i个区域，其中，i为整数且取值范围为1≤i≤k，k为大于等于1的整数；根据扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>、扇出相关度R扇出<a,b>和物理位置相关度Wdomain_i<a,b>，计算扫描单元a和b的相关度R<a,b>，其中，
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，若扫描单元a和b都位于第i个区域，则所述物理位置相关度获取子模块获取的扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于它们所在区域的物理位置相关度Wdomain_i；
若扫描单元a和b分别位于不同的区域，则所述物理位置相关度获取子模块获取的扫描单元a和b的物理位置相关度Wdomain_i<a,b>等于1。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述扫描链构建模块，还用于当所述扫描链集合中的一扫描链未达到扫描链最大链长时，增加所述相关度阈值，并由当前扫描单元集合中依次提取一扫描单元放入所述扫描链，直至所述扫描链集合中的各扫描链均达到扫描链最大链长。
7.一种扫描链，其特征在于，所述扫描链中任意两个扫描单元的相关度小于相关度阈值，其中，任意两个扫描单元a和b的相关度R<a,b>按照如下公式计算得到：
其中，R扇入<a,b>为扫描单元a和b的扇入相关度，R扇出<a,b>为扫描单元a和b的扇出相关度，Wdomain_i<a,b>为扫描单元a和b的物理位置相关度；
若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>与扇入到同一个扫描单元o的扫描单元的个数M呈正相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇入，则扫描单元a和b的扇入相关度R扇入<a,b>为0；
若扫描单元a和b属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>与同一个扫描单元o所扇出的扫描单元的个数M呈负相关函数，若扫描单元a和b不属于同一个扫描单元o的扇出，则扫描单元a和b的扇出相关度R扇出<a,b>为0。
8.根据权利要求7所述的扫描链，其特征在于，所述扫描链中的所有扫描单元不属于同一个扫描单元的扇入扫描单元，和/或所述扫描链中的所有扫描单元不属于同一个扫描单元的扇出扫描单元，和/或所述扫描链中所有扫描单元位于电路的同一个区域。
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