CN106448522A - 检测电路、栅极驱动电路及显示面板 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测电路、一种栅极驱动电路以及一种显示面板。检测电路用于对栅极驱动电路进行检测，检测电路包括至少一条检测信号线和检测控制模块，每条时钟信号线对应一条检测信号线，检测信号线用于与移位寄存器单元的输出端相连，检测控制模块包括时钟信号输入端和检测信号输入端，时钟信号输入端用于与每组时钟信号线相连，检测信号输入端与检测信号线相连，且检测控制模块用于比较输入移位寄存器单元的时钟信号和与时钟信号线相应的检测信号线输入至检测控制模块的输入信号是否一致，当时钟信号和输入信号不一致时，检测控制模块输出故障信号。可以方便地对移位寄存器单元进行检测，准确判定栅极驱动电路的良率，节约成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种检测电路、一种包括该检测电路的栅极驱动电路以及一种包括该栅极驱动电路的显示面板。
背景技术
随着显示产业的发展，对显示面板屏幕的分辨率要求越来越高，因此显示面板倾向于窄边框设计，使得由薄膜晶体管本身实现的栅极驱动(即GOA)的技术得到广泛应用。但是，由于薄膜晶体管本身及其他外界因素的影响，在生产过程中，该部分易产生不良及损坏。由于显示面板栅极驱动单元数目较多，对不良发生的位置并不能快速的得到确定，这对深入解析及进一步的修复该显示面板带来困难。
传统的检测上述不良发生的位置的方法，主要是通过在最后一个栅极驱动单元伸出测试金属图案进行信号的检测，但是并不能准确确定不良在屏幕上发生的具***置。
因此，如何准确确定不良在屏幕上发生的具***置成为本领域亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种检测电路、一种包括该检测电路的栅极驱动电路以及一种包括该栅极驱动电路的显示面板。
为了实现上述目的，本发明的第一方面，提供了一种检测电路，所述检测电路用于对栅极驱动电路进行检测，所述栅极驱动电路包括级联的移位寄存器单元，所述栅极驱动电路还包括至少一组时钟信号线，每组所述时钟信号线包括至少一条时钟信号线，所述检测电路包括至少一条检测信号线和检测控制模块，每条时钟信号线对应一条检测信号线，所述检测信号线用于与所述移位寄存器单元的输出端相连，所述检测控制模块包括时钟信号输入端和检测信号输入端，所述时钟信号输入端用于与每组所述时钟信号线相连，所述检测信号输入端与所述检测信号线相连，且所述检测控制模块用于比较输入所述移位寄存器单元的时钟信号和与所述时钟信号线相应的检测信号线输入至所述检测控制模块的输入信号是否一致，当所述时钟信号和输入信号不一致时，所述检测控制模块输出故障信号。
优选地，所述检测电路还包括多个开关元件和使能信号线，所述开关元件包括第一连接端、第二连接端和控制端，每个所述开关元件的控制端与所述使能信号线电连接，其中，多个所述开关元件与多个所述移位寄存器单元一一对应设置，所述开关元件在该开关元件的控制端接收到有效信号时导通，且每个所述移位寄存器单元的输出端与该移位寄存器单元所对应的所述开关元件的第一连接端电连接，且该开关元件的第二连接端与该移位寄存器单元所对应的检测信号线电连接。
优选地，所述开关元件包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极形成为控制端，所述薄膜晶体管的第一极形成为第一连接端，第二极形成为第二连接端。
优选地，所述检测控制模块还用于根据所述故障信号的时刻来判定发生故障的移位寄存器单元的级数。
优选地，所述检测控制模块包括至少一个比较子模块和至少一个计数子模块，每条检测信号线对应一个比较子模块和一个计数子模块；所述比较子模块包括时钟信号输入端和检测信号输入端，所述比较子模块的时钟信号输入端用于与所述时钟信号线电连接，所述比较子模块的检测信号输入端用于与所述检测信号线电连接，所述计数子模块的输入端与所述检测信号线电连接；所述比较子模块用于比较输入所述移位寄存器单元的时钟信号和与所述时钟信号线相应的检测信号线输入至所述检测控制模块的输入信号是否一致，当所述时钟信号和输入信号不一致时，所述比较子模块输出故障信号；所述计数子模块用于统计在发生所述故障信号的时刻之前所述检测信号线中的高电平脉冲数量，并根据所述高电平脉冲数量确定发生故障的移位寄存器单元的级数。
优选地，所述计数子模块包括计数器和运算单元，所述计数器能够统计接收到的脉冲信号的个数，所述运算单元能够根据所述脉冲信号的个数计算发生故障的移位寄存器单元的级数。
优选地，每组时钟信号线包括第一时钟信号线和第二时钟信号线，检测信号线包括与第一时钟信号线对应的第一检测信号线和与第二时钟信号线对应的第二检测信号线，且所述第一检测信号线用于与奇数行的所述移位寄存器单元的输出端电连接，所述第二检测信号线用于与偶数行的所述移位寄存器单元的输出端电连接。
优选地，当所述计数子模块包括计数器和运算单元时，所述运算单元根据下述公式计算发生故障的移位寄存器单元的级数：
对于奇数行发生故障的移位寄存器单元的级数计算公式：
L＝2M+1；其中L为发生故障的移位寄存器单元的级数，M为发生故障时刻之前第一检测信号线输入至与第一检测信号线对应的计数器中的高电平脉冲数量；
对于偶数行发生故障的移位寄存器单元的级数计算公式：
L＝2N；其中L为发生故障的移位寄存器单元的级数，N为发生故障时刻之前第二检测信号线输入至与第二检测信号线对应的计数器中的高电平脉冲数量。
本发明的第二方面，提供了一种栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括级联的移位寄存器单元，所述栅极驱动电路还包括至少一组时钟信号线，每组所述时钟信号线包括至少一条时钟信号线，所述栅极驱动电路包括上述结构的检测电路，所述检测信号线与所述移位寄存器单元的输出端相连。
本发明的第三方面，提供了一种显示面板，所述显示面板被划分为显示区域和环绕显示区域的周边区域，所述显示面板包括上述的栅极驱动电路，当所述检测控制模块包括比较子模块时，所述周边区域设置有输出块，所述比较子模块的输出端均与所述输出块电连接。
本发明的检测电路，利用检测控制模块可以对任意一个时钟信号线所对应的移位寄存器单元进行检测，该检测控制模块可以接收移位寄存器单元的输入信号(即时钟信号)和输出信号。当输出信号与相应的时钟信号不匹配时，则判定该移位寄存器单元存在故障。可以方便地对全部移位寄存器单元进行检测，并且可以根据故障信号，准确判定栅极驱动电路的良率，节约成本。
本发明的栅极驱动电路，具有上述结构的检测电路，能够准确统计栅极驱动电路的良率，同时，还可以对发生故障的移位寄存器单元进行准确定位，以便进行进一步的分析。
本发明的显示面板，具有上述结构的栅极驱动电路，能够准确统计栅极驱动电路的良率，同时，还可以对发生故障的移位寄存器单元进行准确定位，以便进行进一步的分析。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明中检测电路的结构示意图。
附图标记说明
100：检测电路；
110：检测信号线；
111：第一检测信号线；
112：第二检测信号线；
120：检测控制模块；
121：比较子模块；
121a：第一比较器；
121b：第二比较器；
122：计数子模块；
122a：第一计数器；
122b：第二计数器；
130：开关元件；
140：使能信号线；
200：栅极驱动电路；
210：移位寄存器单元；
220：时钟信号线；
221：第一时钟信号线；
222：第二时钟信号线。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
参考图1，本发明的第一方面，涉及一种检测电路100，该检测电路100用于对栅极驱动电路200进行检测。其中，栅极驱动电路200包括级联的移位寄存器单元210，以及至少一组时钟信号线220，每组时钟信号线220包括至少一条时钟信号线，该时钟信号线220为级联的移位寄存器单元210提供时钟信号。
上述检测电路100包括至少一条检测信号线110和检测控制模块120。其中，每条时钟信号线220对应一条检测信号线110，该检测信号线110用于与移位寄存器单元210的输出端相连，用于在对该栅极驱动电路200进行检测时，接收相应移位寄存器单元210的输出信号。
检测控制模块120包括时钟信号输入端(图中并未示出)和检测信号输入端(图中并未示出)。其中，时钟信号输入端用于与每组时钟信号线220相连，检测信号输入端与每条检测信号线110相连。检测控制模块120用于比较输入移位寄存器单元210的时钟信号和与该时钟信号线220相应的检测信号线110输入至检测控制模块120的输入信号是否一致，当时钟信号和输入信号不一致时，该检测控制模块120输出故障信号。
需要说明的是，上述的检测电路100还可以包括报警模块(图中并未示出)。其中，检测控制模块120可以将故障信号输出至报警模块，报警模块接收到故障信号后发出报警信号，用以提示技术人员及时发现栅极驱动电路200存在故障，需要进行及时修复。
本实施例的检测电路100，利用检测控制模块120可以对任意一个时钟信号线220所对应的移位寄存器单元210进行检测，该检测控制模块120可以接收移位寄存器单元210的输入信号(即时钟信号)和输出信号。当输出信号与相应的时钟信号不匹配时，则判定该移位寄存器单元210存在故障。可以方便地对全部移位寄存器单元210进行检测，并且可以根据故障信号，准确判定栅极驱动电路200的良率，节约成本。
需要说明的是，对于该检测电路100与栅极驱动电路200的位置关系以及检测控制模块120的具体结构并没有作出限定，为了便于检测以及布线，一般的，该检测电路100的检测控制模块120置于最后一行移位寄存器单元210的下方。另外，该检测控制模块120，例如，可以包括比较器，用于比较输入的两个电平信号。
优选地，为了可以选择性地对栅极驱动电路200进行检测，上述检测电路100还可以包括多个开关元件130和使能信号线140。其中，开关元件130包括第一连接端(图中并未示出)、第二连接端(图中并未示出)和控制端(图中并未示出)，控制端与使能信号线140电连接。多个开关元件130与多个移位寄存器单元210一一对应设置，开关元件130在该开关元件130的控制端接收到有效信号(例如，高电平信号)时导通，每个移位寄存器单元210的输出端与该移位寄存器单元210所对应的开关元件130的第一连接端电连接，且该开关元件130的第二连接端与该移位寄存器单元210所对应的检测信号线110电连接。
本实施例的检测电路100，利用使能信号线140对开关元件130的控制端进行控制，进而控制该检测电路100处于检测状态或非检测状态。当需要检测时，只需要对该使能信号线140进行使能，则移位寄存器单元210的输出信号便通过该开关元件130传输至检测控制模块120，完成检测过程。当需要正常显示时，只需要将该使能信号线处于低电平，实现了选择性地对栅极驱动电路200进行检测的过程。
需要说明的是，对于开关元件130的具体结构并没有作出限定，开关元件130的一个优选地结构为薄膜晶体管，当然，其他能够实现同样功能的器件也可以。
更进一步，当开关元件130为薄膜晶体管时，该薄膜晶体管的栅极形成为控制端，薄膜晶体管的第一极形成为第一连接端，第二极形成为第二连接端。
应当理解的是，当薄膜晶体管的第一极连接高电平时，该第一极为源极，相应第二极为漏极。当薄膜晶体管的第二极连接高电平时，该第二极为源极，相应第一极为漏极。
在图1中的具体实施方式中，薄膜晶体管为N型晶体管，使能信号线140提供高电平信号时，薄膜晶体管的第一极和第二极导通。
优选地，上述检测控制模块120还用于根据故障信号的时刻来判定发生故障的移位寄存器单元210的级数。
本实施例的检测电路100，对栅极驱动电路200的整体良率进行检测，同时，还能够对发生故障的移位寄存器单元210的级数进行确定，能够方便技术人员迅速确定发生故障的移位寄存器单元所在级数，提高修复效率。
需要说明的是，对于检测控制模块120如何通过故障信号的时刻来判定发生故障的移位寄存器单元210的级数，并没有作出限定。例如，其可以通过统计检测控制模块120中所接收到的高电平脉冲数量进行确定。当然，也可以通过其他方法对发生故障的移位寄存器单元200的级数进行确定。
优选地，上述检测控制模块120包括至少一个比较子模块121和至少一个计数子模块122。其中，每条检测信号线110对应一个比较子模块121和一个计数子模块122。
其中，比较子模块121包括上述的时钟信号输入端和检测信号输入端，且时钟信号输入端用于与时钟信号线220电连接，检测信号输入端用于与检测信号线110电连接。比较子模块121用于比较输入移位寄存器单元210的时钟信号以及相应的检测信号线110输入至检测控制模块120的输入信号是否一致，当时钟信号和输入信号不一致时，比较子模块121输出故障信号，便于技术人员及时发现故障，对栅极驱动电路200进行修复。
需要说明的是，上述中，当时钟信号和输入信号一致时，可以输出高电平信号。当不一致时，可以输出低电平信号，该低电平信号即为上述的故障信号。
另外，计数子模块122也包括一个输入端(图中并未示出)，其输入端与检测信号线110电连接。计数子模块122用于统计在发生故障信号的时刻之前检测信号线110中的高电平脉冲数量，并根据高电平脉冲数量确定发生故障的移位寄存器单元210的级数。
本实施例的检测电路100，利用比较子模块121对该比较子模块121所接收到的信号进行比对，当不一致时，输出故障信号。利用计数子模块122，统计全部移位寄存器单元210输出信号的高电平脉冲数量，根据该数量确定发生故障的移位寄存器单元210的级数，简单便捷，能够准确确定发生故障的移位寄存器单元210，不需要逐个排查，节约成本。
优选地，计数子模块122包括计数器和运算单元(图中并未示出)，计数器能够统计接收到的脉冲信号的个数，运算单元能够根据脉冲信号的个数计算发生故障的移位寄存器单元210的级数。
本实施例的检测电路100，利用计数器统计高电平脉冲数量，运算单元根据该高电平脉冲数量进行计算，以确定发生故障的移位寄存器单元210的级数。结构简单，且能够准确判断发生故障的移位寄存器单元210，便于后续维修。
更进一步地，该检测电路100还可以包括显示模块(图中并未示出)，计数子模块122可以与该显示模块相连，用于显示计数结果以及发生故障的移位寄存器单元210的级数。
优选地，每组时钟信号线220包括第一时钟信号线221和第二时钟信号线222，检测信号线110包括与第一时钟信号线221对应的第一检测信号线111和与第二时钟信号线222对应的第二检测信号线112。第一检测信号线111用于与奇数行的移位寄存器单元210的输出端电连接，第二检测信号线112用于与偶数行的移位寄存器单元210的输出端电连接。
更进一步地，上述的比较子模块121包括第一比较器121a和第二比较器121b，计数器包括第一计数器122a和第二计数器122b，其中第一比较器121a的时钟信号输入端用于与第一时钟信号线221电连接，第一比较器121a的检测信号输入端与第一检测信号线111电连接。第一计数器122a的输入端与第一检测信号线111电连接。第二比较器121b的时钟信号输入端用于与第二时钟信号线222电连接，第二比较器121b的检测信号输入端与第二检测信号线112电连接。第二计数器122b的输入端与第二检测信号线112电连接。
更进一步地，如图1所示，本实施例的工作原理为，第一时钟信号线221的时钟信号CLK，传输至奇数行中第一行的移位寄存器单元，即GOA 1，GOA 1的输出信号经薄膜晶体管传输至第一检测信号线111，第一检测信号线111将该信号分别传递至第一比较器121a和第一计数器122a，第一时钟信号线221的时钟信号CLK还传输至第一比较器121a，第一比较器121a对其接收的两个信号(高电平脉冲信号)进行比较，两者一致时，表示该级移位寄存器单元210正常，同时，第一计数器122a中也接收到高电平脉冲信号，并开始计数。当不一致时，表示该级移位寄存器单元存在异常，同时，第一计数器122a中接收不到高电平脉冲信号。第二时钟信号线222的时钟信号CLKB，传输至偶数行中第一行的移位寄存器单元，即GOA2，GOA 2的输出信号经薄膜晶体管传输至第二检测信号线112，第二检测信号线112将该信号分别传递至第二比较器121b和第二计数器122b，第二时钟信号线222的时钟信号CLKB还传输至第二比较器121b，第二比较器121b对其接收的两个信号(高电平脉冲信号)进行比较，两者一致时，表示该级移位寄存器单元210正常，同时，第二计数器122b中也接收到高电平脉冲信号，并开始计数。当不一致时，表示该级移位寄存器单元210存在异常，同时，第二计数器122b中接收不到高电平脉冲信号。其余各行依次类推，在此不作赘述，其中GOA 1至GOA n+1分别代表第一至第n+1行移位寄存器单元210，其中n为正整数。
本实施例中，采用每组采用两个时钟信号线，其中该两个时钟信号线中的时钟信号互为反向时钟信号，可以实现对栅极驱动电路200进行分时检测，以便使得检测结果更加准确。
应当理解的是，第一比较器121a和第二比较器121b均包括一个输出端，在对该栅极驱动电路200进行检测时，可以将该输出端均连接至位于非显示区的金属测试块(图中并未示出)，检测结果可以通过该金属测试块体现出来，同时该金属测试块位于非显示区，不会影响显示面板的正常显示。
优选地，可以采用下述公式确定发生故障的移位寄存器单元210的级数：
对于奇数行发生故障的移位寄存器单元210的级数计算公式：
L＝2M+1；其中L为发生故障的移位寄存器单元210的级数，M为发生故障时刻之前第一检测信号线111输入至与第一检测信号线111对应的第一计数器122a中的高电平脉冲数量。
对于偶数行发生故障的移位寄存器单元210的级数计算公式：
L＝2N；其中L为发生故障的移位寄存器单元210的级数，N为发生故障时刻之前第二检测信号线112输入至与第二检测信号线122对应的第二计数器122b中的高电平脉冲数量。
本实施例中，通过上述的计算公式，可以准确判定出发生故障的移位寄存器单元210所在的级数，准确高效。
本发明的第二方面，涉及一种栅极驱动电路200。栅极驱动电路200包括级联的移位寄存器单元210，还包括至少一组时钟信号线220，每组时钟信号线220包括至少一条时钟信号线220。该栅极驱动电路200还包括上述任意一种结构的检测电路100，其中，检测信号线110与移位寄存器单元210的输出端相连。
本实施例的栅极驱动电路200，具有上述结构的检测电路100，能够准确统计栅极驱动电路200的良率，同时，还可以对发生故障的移位寄存器单元210进行准确定位，以便进行进一步的分析。
本发明的第三方面，涉及一种显示面板(图中并未示出)，显示面板被划分为显示区域(图中并未示出)和环绕显示区域的周边区域(图中并未示出)，显示面板包括上述结构的栅极驱动电路200，周边区域设置有输出块(图中并未示出)，第一比较器121a和第二比较器121b的输出端均与该输出块电连接，更进一步地，该输出块可以为一定大小的金属块(Pad)。
本实施例的显示面板，具有上述结构的栅极驱动电路200，能够准确统计栅极驱动电路200的良率，同时，还可以对发生故障的移位寄存器单元210进行准确定位，以便进行进一步的分析。
上述显示面板可以应用于显示器、GPS导航仪、手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备中。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种检测电路，所述检测电路用于对栅极驱动电路进行检测，所述栅极驱动电路包括级联的移位寄存器单元，所述栅极驱动电路还包括至少一组时钟信号线，每组所述时钟信号线包括至少一条时钟信号线，其特征在于，所述检测电路包括至少一条检测信号线和检测控制模块，每条时钟信号线对应一条检测信号线，所述检测信号线用于与所述移位寄存器单元的输出端相连，所述检测控制模块包括时钟信号输入端和检测信号输入端，所述时钟信号输入端用于与每组所述时钟信号线相连，所述检测信号输入端与所述检测信号线相连，且所述检测控制模块用于比较输入所述移位寄存器单元的时钟信号和与所述时钟信号线相应的检测信号线输入至所述检测控制模块的输入信号是否一致，当所述时钟信号和输入信号不一致时，所述检测控制模块输出故障信号。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括多个开关元件和使能信号线，所述开关元件包括第一连接端、第二连接端和控制端，每个所述开关元件的控制端与所述使能信号线电连接，其中，多个所述开关元件与多个所述移位寄存器单元一一对应设置，所述开关元件在该开关元件的控制端接收到有效信号时导通，且每个所述移位寄存器单元的输出端与该移位寄存器单元所对应的所述开关元件的第一连接端电连接，且该开关元件的第二连接端与该移位寄存器单元所对应的检测信号线电连接。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述开关元件包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极形成为控制端，所述薄膜晶体管的第一极形成为第一连接端，第二极形成为第二连接端。
4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测控制模块还用于根据所述故障信号的时刻来判定发生故障的移位寄存器单元的级数。
5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述检测控制模块包括至少一个比较子模块和至少一个计数子模块，每条检测信号线对应一个比较子模块和一个计数子模块；所述比较子模块包括时钟信号输入端和检测信号输入端，所述比较子模块的时钟信号输入端用于与所述时钟信号线电连接，所述比较子模块的检测信号输入端用于与所述检测信号线电连接，所述计数子模块的输入端与所述检测信号线电连接；所述比较子模块用于比较输入所述移位寄存器单元的时钟信号和与所述时钟信号线相应的检测信号线输入至所述检测控制模块的输入信号是否一致，当所述时钟信号和输入信号不一致时，所述比较子模块输出故障信号；所述计数子模块用于统计在发生所述故障信号的时刻之前所述检测信号线中的高电平脉冲数量，并根据所述高电平脉冲数量确定发生故障的移位寄存器单元的级数。
6.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述计数子模块包括计数器和运算单元，所述计数器能够统计接收到的脉冲信号的个数，所述运算单元能够根据所述脉冲信号的个数计算发生故障的移位寄存器单元的级数。
7.根据权利要求1至6任意一项所述的检测电路，其特征在于，每组时钟信号线包括第一时钟信号线和第二时钟信号线，检测信号线包括与第一时钟信号线对应的第一检测信号线和与第二时钟信号线对应的第二检测信号线，且所述第一检测信号线用于与奇数行的所述移位寄存器单元的输出端电连接，所述第二检测信号线用于与偶数行的所述移位寄存器单元的输出端电连接。
8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，当所述计数子模块包括计数器和运算单元时，所述运算单元根据下述公式计算发生故障的移位寄存器单元的级数：
对于奇数行发生故障的移位寄存器单元的级数计算公式：
L＝2M+1；其中L为发生故障的移位寄存器单元的级数，M为发生故障时刻之前第一检测信号线输入至与第一检测信号线对应的计数器中的高电平脉冲数量；
对于偶数行发生故障的移位寄存器单元的级数计算公式：
L＝2N；其中L为发生故障的移位寄存器单元的级数，N为发生故障时刻之前第二检测信号线输入至与第二检测信号线对应的计数器中的高电平脉冲数量。
9.一种栅极驱动电路，所述栅极驱动电路包括级联的移位寄存器单元，所述栅极驱动电路还包括至少一组时钟信号线，每组所述时钟信号线包括至少一条时钟信号线，其特征在于，所述栅极驱动电路包括权利要求1至8任意一项所述的检测电路，所述检测信号线与所述移位寄存器单元的输出端相连。
10.一种显示面板，所述显示面板被划分为显示区域和环绕显示区域的周边区域，其特征在于，所述显示面板包括权利要求9所述的栅极驱动电路，当所述检测控制模块包括比较子模块时，所述周边区域设置有输出块，所述比较子模块的输出端均与所述输出块电连接。
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