CN106404252A - 光学膜片翘曲力测量装置 - Google Patents

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CN106404252A CN201610727752.7A CN201610727752A CN106404252A CN 106404252 A CN106404252 A CN 106404252A CN 201610727752 A CN201610727752 A CN 201610727752A CN 106404252 A CN106404252 A CN 106404252A
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Abstract

本发明关于一种翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，该测量装置包括：测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；第一连接杆，其设置于该测量平台上；测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。本发明可以更加准确的判断光学膜片当前的翘曲范围，提高检测的精确程度，进而使得产品分级更加准确及合理。

Description

光学膜片翘曲力测量装置
技术领域
本发明涉及一种光学薄膜翘曲力的测量装置，尤其有关于一种能够自动检测光学薄膜翘曲力的测量装置。
背景技术
显示器是用于传输计算机的监视器、数字电视以及移动电话等的图像信息的媒介，且由诸如LCD玻璃的各种产品来实现，与更高的清晰度和功能多样化相应的技术正在快速发展之中。伴随着消费者对各种显示器的显示效果的追求，偏光片已经成为提高显示器的显示品质的关键组件之一。
然因为偏光板为多层光学薄膜经层叠贴合所制得，各层光学薄膜的刚性并不完全相同，因此偏光板易产生翘曲问题。
***台上，该平台上具有特定翘曲规格的治具，人员以目视法确认光学薄膜的翘曲状况是否位于该治具的翘曲规格内，若位于该规格内，即判定该光学薄膜为良品，反之，则判定为不良品。然而，以此人工目视检测的方法会耗费太多时间，且因各人员判定标准的差异导致检测结果有所误差。再者，前述治具进行检测，只能将光学薄膜分为良品和不良品，并无法获得各光学薄膜的实际翘曲数值。
而另一***台1的表面11，待偏光板2呈稳定状态后，人员将利用刻度尺3依序量测偏光板2的角一21、角二22、角三23及角四24相对于平台1表面11的翘曲高度H，以获得该待检测偏光板2的实际翘曲数值，进而偏光板2的翘曲是否符合翘曲规格。虽然，此方法可获得偏光板2的实际翘曲数值，但缺点同于前述人工目视检测法，亦会耗费太多时间，且因各人员判定标准的差异导致检测结果有所误差。
发明内容
有鉴于上述习知技术的问题，本发明的目的在于提供一种测量光学薄膜翘曲的测量装置，以期克服现有光学薄膜翘曲检测方法耗时多及不易获得实际翘曲力数值的技术问题。
本发明提供的翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，该测量装置包括：测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；第一连接杆，其设置于该测量平台上；测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。
可选的，当该测力传感器接触该测量平台上的该光学膜片的翘曲部，继续驱动该第一连接杆以该第一速度朝向该测量平台移动，使得该翘曲部与该测量平台的表面平行，停止驱动该第一连接杆。
可选的，还包括第二连接杆，该第二连接杆与该第一连接杆交叉设置，且该第一连接杆沿该第二连接杆滑动。
可选的，该第二连接杆与该第一连接杆垂直。
可选的，还包括固定架，该固定架与该测量平台相连接，且该第二连接杆与该固定架相连接。
可选的，该光学膜片为偏光片。
可选的，还包括定位件，该定位设置于该测量平台上并用于定位该待测光学膜片。
可选的，该第一速度为10m/min。
可选的，还包括显示单元，该显示单元用以显示该翘曲力。
可选的，该测力传感器为称重传感器。
与现有技术相比，本发明通过设置测力传感器于第一连接杆上，且通过升降机构驱动第一连接杆以第一速度朝向测量平台移动，接触光学膜片的翘曲部，进而获得翘曲部的翘曲力，从而可以更加准确的判断光学膜片当前的翘曲范围，提高检测的精确程度，进而使得产品分级更加准确及合理。
附图说明
图1为习知偏光板翘曲检测方法的示意图。
图2为本发明的光学膜片翘曲力测量装置的示意图。
图3为本发明的光学膜片翘曲力测量装置测量结束的示意图。
具体实施方式
为使本发明的特征、内容与优点及其所能达成的功效更容易了解，以下将结合附图、并以实施例的表达形式详细说明如下，而其中所使用的图式，其主旨仅为示意及辅助说明书之用，未必为本发明实施后的真实比例与精准配置，故不应就附图的比例与配置广西解读、局限本发明于实力实施上的权利范围，和先叙明。
以下将参照相关的图式，说明依本发明的光学膜片翘曲力测量装置的实施例，为使便于理解，下述实施例中的相同元件以相同的符号标示来说明。
图2为本发明的光学膜片翘曲力测量装置的示意图。测量装置10用于测量待测光学膜片200的翘曲力，其包括测量平台100、第一连接杆301、测力传感器400及升降机构305，其中，第一连接杆307位于测量平台100上；测力传感器400设置于第一连接杆307的端部；升降机构306枢接于第一连接杆307，第一连接杆307可沿着升降机构306往复移动；升降机构306以第一速度驱动第一连接杆307移动并使得测力传感器400与光学膜片200的翘曲部201接触，以测量光学膜片200的翘曲部201的翘曲力。
在本实施例中，光学膜片200的翘曲部201为光学膜片200的第一边角，且翘曲部201与测量平台100的表面101之间呈一角度A。在测量翘曲部201的翘曲力的过程中，当测力传感器400与光学膜片200的翘曲部201接触，升降装置306继续驱动第一连接杆307以第一速度朝向测量平台100移动，且当翘曲部201与测量平台100的表面101之间的夹角A为0°时，即，翘曲部201与表面101平行，而平整地贴合于表面101上，此时，停止驱动第一连接杆307，并依据测力传感器400施加于翘曲部201的作用力可计算出翘曲部201的翘曲力数值。上述计算过程可通过中央控制器(未图示)获得，中央控制器电性连接测力传感器400，以便于互相进行数据传输。本实施例中测力传感器400较佳的为称重传感器。
继续参照图2，第一连接杆307在升降机构306上的往复移动例如升降机构306具有贯穿孔，第一连接杆307穿设于贯穿孔中，进而于贯穿孔中往复移动。在本实施例中，为了增加第一连接杆307的移动范围，升降机构306可继续与辅助升降机构305固定连接，辅助升降机构305滑动的连接于辅助连接杆301上，辅助升降机构305具有滑槽，辅助连接杆301具有滑块303，滑槽与滑块303配合，使得辅助升降机构305可沿着辅助连接杆301往复移动。
测量装置10还包括第二连接杆302，第二连接杆302与辅助连接杆301滑动连接，第二连接杆302具有滑块304，辅助连接杆301面对滑块304的一侧的表面上设置于与滑块304相对应的滑槽，滑槽与滑块304配合，使得辅助连接杆301可沿着第二连接杆302往复移动，进而使得第一连接杆305在辅助连接杆301的带动下沿着第二连接杆302移动。其中，第一连接杆307、辅助连接杆301及第二连接杆302的连动方式，能够依据测量的需要，将测力传感器400移动至光学膜片200的任意翘曲部上。在本实施例中，第一连接杆307与辅助连接杆301平行，第一连接杆307与第二连接杆302交叉设置，较佳的第一连接杆307实质上与第二连接杆302垂直。
测量装置10还包括固定架308，固定架308设置于表面101上，且与第二连接杆相连接。在本发明的优选实施例中，固定架308可拆卸的连接于平台100的表面101上，以便于调整测力传感器400至相对应的位置。
继续参照图2，放置于测量平台100的表面101上的光学膜片200例如为偏光片，且测量平台100的表面101上设置多个定位件，定位件包括定位尺501与多个定位柱502。本实施例中光学膜片200具有四个角边，第一角边201与第四角边204为翘曲状态，即第一角边201与第四角边204分别与表面101形成夹角，第二角边202与第三角边203则为非翘曲状态，即第二角边202与第三角边203分别与表面101平行。
此外，测量装置10还可以具有显示单元601，用于显示测得的翘曲力数值。为了曾加操作的便利性，测量装置10还包括用于控制开启或者关闭的控制按钮602、603。
图3为本发明的光学膜片翘曲力测量装置测量结束的示意图。
请同时参照图2至图3，当将待测的光学膜片200放置于测量平台100的表面101上，通过定位柱502和定位尺501对光学膜片200进行定位，升降机构306与辅助升降机构306的至少其中之一，驱动第一连接杆307移动而将测力传感器400设置于光学膜片200的翘曲部201处，并使得测力传感器400与翘曲部201接触；接着，继续驱动第一连接杆307以10m/min的速率朝向表面101移动，至翘曲部201与表面101平行，并停止驱动第一连动杆307，此时，测力传感器400测量翘曲部201由翘曲状态至非翘曲状态时的力量变化，此力量变化可以被视作翘曲部201出的翘曲力数值。
进一步的为了增加翘曲力测量结果的准确度，降低***误差，还包括，将标准光学膜片放置于测量平台100的表面101上，通过定位柱502和定位尺501对标准光学膜片进行定位，重复上述测量过程，测力传感器400获得标准光学膜片的对应区域的受力变化。而标准光学膜片的对应区域的受力变化，可用于对上述翘曲部201出的翘曲力进行校正，已获得更准确的翘曲力测量结果。
上述校正过程，例如，将光学膜片200的翘曲部201的各个测量阶段的受力变化制作成相应的受力变化曲线，将标准光学膜片的各个测量阶段的受力变化同样的制成相应的标准受力变化曲线，通过中央处理器将上述受力变化曲线与标准受力变化曲线进行比对，进而获得更准确地翘曲力。
综上所述，本发明通过设置测力传感器于第一连接杆上，且通过升降机构驱动第一连接杆以第一速度朝向测量平台移动，接触光学膜片的翘曲部，进而获得翘曲部的翘曲力，从而可以更加准确的判断光学膜片当前的翘曲范围，提高检测的精确程度，进而使得产品分级更加准确及合理。
当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种翘曲力测量装置，用于检测光学膜片，其特征在于，该测量装置包括：
测量平台，其用于放置于待检测的该光学膜片；
第一连接杆，其设置于该测量平台上；
测力传感器，其设置于该第一连接杆的端部；以及
升降机构，该升降机构连接并驱动该第一连接杆以第一速度朝向该测量平台移动，使得该测力传感器接触该光学膜片的翘曲部，以测量该光学膜片的该翘曲部的翘曲力。
2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，当该测力传感器接触该测量平台上的该光学膜片的翘曲部，继续驱动该第一连接杆以该第一速度朝向该测量平台移动，使得该翘曲部与该测量平台的表面平行，停止驱动该第一连接杆。
3.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括第二连接杆，该第二连接杆与该第一连接杆交叉设置，且该第一连接杆沿该第二连接杆滑动。
4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，该第二连接杆与该第一连接杆垂直。
5.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括固定架，该固定架与该测量平台相连接，且该第二连接杆与该固定架相连接。
6.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，该光学膜片为偏光片。
7.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括定位件，该定位设置于该测量平台上并用于定位该待测光学膜片。
8.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，该第一速度为10m/min。
9.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括显示单元，该显示单元用以显示该翘曲力。
10.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，该测力传感器为称重传感器。
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