CN106370666A - 电子元件外观检测装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子元件外观检测装置及其检测方法。电子元件外观检测装置包括输送机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构输送电子元件，传感器于检测电子元件通过时发出触发信号，控制器于收到触发信号时取得输送电子元件至多个取像位置所需的多个时间区间，并分别于计时多个时间区间经过时驱动对应的取像模块撷取电子元件的元件影像，并且对元件影像进行瑕疵检测处理以产生检测结果。

Description

电子元件外观检测装置及其检测方法

技术领域

本发明是有关于检测装置及检测方法，尤其是电子元件外观检测装置及电子元件外观检测方法。

背景技术

现有的电子元件外观检测装置分别于多个取像模块旁设置对应的多个传感器，当一电子元件被输送至该多个传感器之一的一感测区时，该传感器可触发一感测信号。接着，该电子元件外观检测装置的一控制器可依据该感测信号来驱动对应被触发的该传感器的该取像模块来撷取该电子元件的一元件影像，并对所撷取的该元件影像进行分析，以判断该电子元件外观是否有瑕疵。

然而，由于该电子元件不断移动，且现有的电子元件外观检测装置并未考虑该传感器进行感测的一感测时间及该控制器进行判断并驱动取像模块的一取像时间之间的一时间差。因此，现有的电子元件外观检测装置常发生于拍摄时电子元件未完整落于取像范围中(即该取像模块未拍摄到完整的该电子元件)的状况。更进一步地，该控制器依据不完整的该元件影像所产生的检测结果将具有较低的精确度。

是以，现有技术的电子元件外观检测装置存在上述缺失，而无法准确地撷取完整元件影像，而亟待更有效的方案提出。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种用于检测微尺寸电子元件并可实时触发影像撷取的电子元件外观检测装置及电子元件外观检测方法。

本发明提供一种电子元件外观检测装置，包括一基座、一输送机构、一传感器、多个取像模块及电性连接该传感器及该多个取像模块的一控制器。该输送机构包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘。该传感器于检测该电子元件通过时发出一触发信号。该多个取像模块分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取。该控制器包括一时间取得模块、一计时模块、该撷取控制模块及一检测模块。该时间取得模块于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间。该计时模块于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号。该撷取控制模块依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像。该检测模块依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。

本发明另外提供一种电子元件外观检测方法，运用于包括一输送机构、一传感器、多个取像模块及一控制器的一电子元件外观检测装置，包括下列步骤：a)该传感器于检测该输送机构所输送的一电子元件通过时发出一触发信号；b)该控制器于收到该触发信号时取得输送该电子元件至对应该多个取像模块的多个取像位置分别所需的多个时间区间；c)于计时各该时间区间经过时，分别驱动对应的各该取像模块对该电子元件进行影像撷取并产生多个元件影像；及d)依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生用以表示该电子元件的外观是否有瑕疵的一检测结果。

本发明经由计算电子元件的输送时间并实时主动触发影像撷取，可使电子元件完整落于取像范围内，而可取得较佳检测影像，进而提升检测结果的精确度。

附图说明

图1为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第一立体示意图。

图2为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第二立体示意图。

图3为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第三立体示意图。

图4为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第四立体示意图。

图5为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的俯视图。

图6为本发明第一具体实施例的输送机构及供料机构的示意图。

图7为本发明第一具体实施例的分料机构第一立体示意图。

图8为本发明第一具体实施例的分料机构的第二立体示意图。

图9为本发明第一具体实施例的控制器架构图。

图10为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测方法的流程图。

图11为本发明第二具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。

图12为本发明第三具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。

图13为本发明第四具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。

其中，附图标记：

1…电子元件外观检测装置

100…基座

200…输送机构

210…传感器

220…旋转盘

230…马达

231…驱动轴

232…角度编码器

240…静电刷

300…供料机构

310…震动盘

311…整列轨道

320…储料桶

321…供料道

330…下料轨道

400…取像模块

410…摄影镜头

420…反射镜

430…直立滑轨

500…分料机构

510…集料盒

511…活动缓冲挡板

520…吹嘴

521…电磁阀

522…枢转轴

600…控制器

601…时间取得模块

602…计时模块

603…撷取控制模块

604…检测模块

605…位置检测模块

606…分类模块

700…内存

701…电脑程序

S100-S112…检测步骤

S200-S210…供料步骤

S1040-S1046…时间区间取得步骤

S300-S304…显示及分类步骤

具体实施方式

兹就本发明的一较佳实施例，配合图式，详细说明如后。

首请参阅图1-5，图1为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第一立体示意图，图2为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第二立体示意图，图3为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第三立体示意图，图4为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第四立体示意图，图5为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测装置的俯视图。

如图所示，本实施例的电子元件外观检测装置1(以下简称检测装置1)主要包括有一基座100、一输送机构200、一传感器210、多个取像模块400及一控制器(如图9所示的控制器600)。本实施例中不限定基座100的形式。

请同时参阅图6，为本发明第一具体实施例的输送机构及供料机构的示意图。该输送机构200设置在该基座100上，并主要包括有一旋转盘220及一马达230。

该马达230设置于该基座100上，且该马达230的一驱动轴231较佳为直立配置。较佳地，该马达230为直驱式马达(Direct Drive Motor,DD motor)。

该旋转盘220用以输送多个电子元件(为方便说明，以下将以输送一个该电子元件为例来进行说明)。较佳地，该旋转盘220用以输送大量微尺寸的该电子元件，并可为玻璃制的圆环状透明盘，但不以此限定。该旋转盘220呈水平配置而并动力连接该马达230。该旋转盘220的圆心配置于该马达230的该驱动轴231的延伸在线，藉此该旋转盘220能被该马达230驱动而水平自转。

请同时参阅图1-5，该传感器210设置在该基座100上，并对应该旋转盘220配置。该传感器210可感测该旋转盘22所输送的该电子元件是否通过一感测区，并于检测到该电子元件通过该感测区时触发一触发信号。较佳地，该传感器210为遮断式光学传感器，并可产生自该旋转盘220上方贯穿的光束。该传感器210可沿着该旋转盘220的旋转方向与一下料轨道330的末端相邻配置。较佳地，该传感器210排列在该下料轨道330的末端之后。

藉此，该旋转盘220旋转时可先接收该下料轨道330投下的该电子元件，以旋转方式输送该电子元件，并使该电子元件通过该传感器210。并且，该电子元件于通过该感测区时时，可遮断该传感器210所产生的光束，而可使该传感器210触发该触发信号。

该多个取像模块400分别设置于该基座100上的不同位置，用以分别对该电子元件的不同视角(如上视角、下视角、前视角、后视角、左视角或右视角)进行影像撷取。该多个取像模块400分别环绕该旋转盘220配置。较佳地，各该取像模块400分别依据不同的取像角度而沿不同的角度邻近该旋转盘220配置，以分别撷取该电子元件的不同视角的一元件影像。各该取像模块400主要包括用以进行光电转换以产生该元件影像的一感光元件(图未标示)及用以汇聚光线的一摄影镜头410。各该取像模块400可分别包括一直立滑轨430。各该直立滑轨430为直立配置，并纵向平行于该旋转盘220的正向。并且，各该直立滑轨430上可滑动地设置该摄影镜头410。

较佳地，该摄影镜头410直接朝向该旋转盘220配置，以直接对该电子元件进行影像撷取，但不以此限定。于本发明的另一实施例中，该取像模块400亦可视需求而经由一反射镜420进行取像。举例来说，该摄影镜头410朝向该反射镜420配置，且该反射镜420对应该旋转盘220配置，藉以反射该旋转盘220上承载的该电子元件的另一视角的光线至该摄影镜头410。藉此，该取像装置400不须大幅变更设配置位置即可经由该反射镜来420来间接撷取该电子元件的不同视角的影像(如该电子元件的后视角(即由该旋转盘220内侧朝外测观看该电子元件的视角)的影像)。

值得一提的是，用户可于该旋转盘220上预先为该多个取像模块400分别定义一取像位置，其中各该取像位置分别位于各该取像模块400的一拍摄范围内。当该电子元件经过任一该取像位置时，所对应的该取像模块400可撷取最佳的特定视角的该元件影像(如包括完整电子元件的该元件影像，或是外观最清晰的该元件影像)。较佳地，各该取像位置分别依据各该取像模块400的配置位置及等效焦长、用户欲取得的该电子元件的视角范围及环境照明来决定，但不以此限定。

续请同时参阅图1-5及图9，图9为本发明第一具体实施例的控制器架构图。如图9所示，该控制器600电性连接该传感器210及该多个取像模块400，并且主要包括一时间取得模块601、一计时模块602、一撷取控制模块603及一检测模块604。

该时间取得模块601可于收到该触发信号时，取得将该电子元件自一当前位置(即该感测区)输送至该多个取像位置分别所需的多个时间区间。

以三组该取像模块400(分别为对应第一取像位置的第一取像模块、对应第二取像位置的第二取像模块及对应第三取像位置的第三取像模块)为例，该时间取得模块601收到该触发信号时，可先取得该当前位置、该第一取像位置、该第二取像位置、该第三取像位置及该旋转盘220的一旋转速度。接着依据该当前位置、该第一取像位置及该旋转速度计算出一第一时间区间(如1秒)，依据该当前位置、该第二取像位置及该旋转速度计算出一第二时间区间(如1.5秒)，并依据该当前位置、该第三取像位置及该旋转速度计算出一第三时间区间(如3秒)。

虽于前述例子中，该多个时间区间经由实时计算所取得，但不应以此限定。于本发明的另一实施例中，该检测装置1更包括电性连接该控制器600的一内存700。该控制器600预先计算并储存该多个时间区间于该内存700中，并于收到该触发信号时直接自该内存700读取该多个时间区间。

该计时模块602连接该时间取得模块601，于接受触发后分别计时该多个时间区间是否经过，并于每计时该多个时间区间之一经过时，发出对应的一影像撷取信号。

举例来说，该计时模块602于计时该第一时间区间(如1秒)经过时，可发出对应该第一取像模块的一第一影像撷取信号；于计时该第二时间区间(如1.5秒)经过时，可发出对应该第二取像模块的一第二影像撷取信号；并于计时该第三时间区间(如3秒)经过时，可发出对应该第三取像模块的一第三影像撷取信号。

该撷取控制模块603连接该计时模块602，用以依据所收到的该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块400来撷取该电子元件的不同视角的多个元件影像。

举例来说，该撷取控制模块603于收到该第一影像撷取信号时，可驱动该第一取像模块进行影像撷取，以撷取该电子元件的第一视角(如上视角)的该元件影像；于收到该第二影像撷取信号时，可驱动该第二取像模块进行影像撷取，以撷取该电子元件的第二视角(如下视角)的该元件影像；并于收到该第三影像撷取信号时，可驱动该第三取像模块进行影像撷取，以撷取该电子元件的第三视角(如前视角)的该元件影像。

该检测模块604连接该撷取控制模块603，用以依据所撷取的该多个元件影像对该电子元件进行一瑕疵检测处理，并产生用以表示该电子元件的外观是否有瑕疵的一检测结果(如有瑕疵、无瑕疵或需重测三种结果之一，或第一种类瑕疵、第二种类瑕疵、无瑕疵或需重测四种结果之一)。

较佳地，该检测装置1可进一步包括电性连接该控制器600的一输出装置(图中未示)，例如一显示器、一喇叭或一打印机等。该检测模块604可经由该输出装置输出该检测结果(如将该检测结果以影像方式显示于该显示器、该检测结果以语音方式以该喇叭输出或将该检测结果以图文方式以该打印机列出)。

较佳地，该内存700可进一步预先储存多个无瑕疵元件影像。该瑕疵检测处理为一图像处理(如灰阶化/半色调化处理、特征像素分析处理、频率分析处理、差异分析处理、其他图像处理或上述的任意组合)。具体而言，该瑕疵检测处理是将该多个无瑕疵元件影像与所撷取的该多个元件影像逐一进行比对，以分别判断该电子元件的各视角的外观是否存在瑕疵。

本发明经由计算电子元件的输送时间并实时主动触发影像撷取，可确保在取像时电子元件完整落于取像范围内，而可取得较佳检测影像，进而提升检测结果的精确度。并且，由于本发明经由计时来主动触发影像撷取，而非经由传感器被动触发影像撷取，可有效避免因传感器的感测时间及控制器判断并驱动取像模块的取像时间之间的一时间差所造成的取像延迟，而可取得更佳的元件影像。

复请参阅图9，于本发明的另一实施例中，该输送机构200更包括电性连接该马达230及该控制器600的一角度编码器232。该角度编码器232内建有圆形角度坐标，并可取得该旋转盘220(或该马达230)的角度位置(如角度值)。该控制器600更包括连接该时间取得模块601的一位置检测模块605。该位置检测模块605经由该角度编码器232取得该马达230当前所在的角度值，并取得分别对应该多个取像模块400的多个角度值。并且，该时间取得模块601将该马达当前所在的角度值作为该当前位置，并将分别对应该多个取像模块400的该多个角度值分别做为该多个取像位置。较佳地，各该取像模块400的该取像位置依据该角度编码器232的角度坐标预先储存于该内存700中。并且，该旋转盘220的该旋转速度亦可同样预先储存于该内存700中。

具体而言，当该电子元件通过该感测区时，该传感器210触发该触发信号，该位置检测模块605收到该触发信号时，自该角度编码器232取得该马达230当时所在的角度值，并藉此定义此角度值(即该当前位置)为该电子元件的一行经路径的原点。接着，该时间取得模块601可依据前述原点、该旋转速度及该多个取像模块400的多个角度值来精准地推算该电子元件到达各该取像位置的时间点，以便于该些时间点到达时分别驱动对应的各该取像模块400撷取影像。

举例来说，该位置检测模块605收到该触发信号时可取得该马达230当时所在的角度值(以10度为例)并作为该当前位置，并取得该第一取像位置(以20度为例)、该第二取像位置的(以30度为例)及该第三取像位置(以40度为例)。接着，该时间取得模块601可依据该当前位置、该旋转速度(以5度/秒为例)及该多个角度值计算出该电子元件到达该第一取像位置需2秒，到达该第二取像位置需4秒，到达该第三取像位置需6秒。并且，该时间取得模块601可于2秒后发出该第一影像撷取信号，于4秒后发出第二影像撷取信号，并于6秒后发出第三影像撷取信号。

本发明藉由角度编码器可对旋转盘的旋转方向进行精确定位，并仅须单一传感器来定位电子元件的行经路径的原点，即可精确推断电子元件到达各取像位置以及其他机构的精确时间。由于定位快速且精确，故本发明可以更快速度取像，并且取像质量更佳，而可确保检测的准确率。

复请参阅图1-6。于本发明的另一实施例中，该检测装置1更包括设置在该基座100上的一供料机构300。该供料机构300主要包括一震动盘310及一储料桶320。

该储料桶320用以容纳待检测的该电子元件。具体而言，该储料桶320经由一供料道321送出该储料桶320内的该电子元件。该供料道321朝向该震动盘310内配置而可将该电子元件投入该震动盘310内。

该震动盘310用以经由震动排列该电子元件。具体而言，该震动盘310内形成有一整列轨道311。该整列轨道311延伸呈单圈环形。当多个该电子元件被投入该震动盘310内时，将落入该整列轨道311之中，并将因该震动盘310的震动而一列排列于该整列轨道311之中。更进一步地，该整列轨道311延伸出与其相连接的一下料轨道330，完成整列的该电子元件将被送入该下料轨道330。较佳地，该下料轨道330的末端延伸至该旋转盘220上方并与该传感器210相邻。并且，该下料轨道330沿着该旋转盘220的旋转方向的切线方向配置。当该旋转盘220旋转时，该电子元件被从该下料轨道330的末端一一投下至该旋转盘220上，以使该电子元件随该旋转盘220旋转而被沿圆环形的该行经路径输送。

较佳地，该震动盘310及该储料桶320皆设置于基座100，但不以此限定。于本发明的另一实施例中，该储料桶320附设在该震动盘310上方，且该供料道321朝向该震动盘310内配置。

本发明经由控制供料道的出料速度可有效控制电子元件的下料速度。并且，本发明令电子元件在震动盘内的整列轨道仅经过单圈路径，可有效缩短电子元件被震动的时间，进而避免电子元件因震动而损坏。

于本发明的另一实施例中，该震动盘310与该基座100间设置有一缓冲器(图中未示)。该缓冲器可减少该震动盘310震动时造成该基座100摇晃，以避免因该旋转盘220上的该电子元件抖动而影响取像精确度。

于本发明的另一实施例中，该供料机构300更包括一去静电风扇(图中未示)。该去静电风扇的出风方向朝向该震动盘310配置，对该震动盘310中的该电子元件进行一去静电处理，以去取该电子元件所带电荷。具体而言，该电子元件多为环氧树脂(Eploxy)封装，因此容易带有负电荷，该去静电风扇可去除该震动盘310内的该电子元件所带的负电荷。

于本发明的另一实施例中，该输送机构200更包括一静电刷240。该静电刷240设置在该基座100并接触该旋转盘220。藉此，当旋转盘220旋转时能够与静电刷240相互摩擦而使旋转盘220上产生与该电子元件所带电荷电性相反的电荷(如正电荷，容后详述)。

具体而言，当不带电荷的该电子元件(即已经过该去静电处理的该电子元件)被输送到该下料轨道330的末端时，会因与该下料轨道330摩擦而带有少许电荷(如负电荷)。当该电子元件被从该下料轨道330的末端投下至该旋转盘220上时，带有电荷(如负电荷)的该电子元件将吸附固定于带有电性相反电荷(如正电荷)的该旋转盘220，如此一来，该电子元件较不易因上方的该震动盘310的震动或该旋转盘220的转动而改变在该旋转盘220上的位置。

续请同时参阅图1-5及7-8，图7为本发明第一具体实施例的分料机构第一立体示意图，图8为本发明第一具体实施例的分料机构的第二立体示意图。如图所示，该检测装置1可进一步包括一分料机构500。

该分料机构500包括设置在该基座100上的多个集料盒510以及对应各集料盒510的多个吹嘴520。各该吹嘴520分别朝向对应的该集料盒510配置。本发明中，该分料机构500可区分多个类别，例如有瑕疵、无瑕疵、需重测等，并且各类别分别对应设置有一个该吹嘴520及一个该集料盒510。该旋转盘220介于该多个吹嘴520与对应的该多个集料盒510之间。各该吹嘴520分别连接一正压气源且各该吹嘴520上分别设置有电性连接该控制器600的一电磁阀521。

更进一步地，该控制器600更包括连接该检测模块604的一分类模块606。该分类模块606于检测该电子元件被输送到达该分料机构500时，可依据该检测结果控制对应的该电磁阀521，以使对应的该吹嘴520吹气，而将该电子元件吹入对应的该集料盒510中。

较佳地，各该吹嘴520的一吹气位置(如经由该角度编码器232取得的对应各该吹嘴520的角度值)可先被预存于该内存700中。该分类模块606除依据该检测结果决定需驱动的该吹嘴520外，可进一步依据该电子元件的该当前位置、该旋转盘220的该旋转速度及该吹气位置计算一吹嘴时间区间。并于计时该吹嘴时间区间经过时，主动且实时地驱动该吹嘴520吹气(此处主动驱动该吹嘴520的方式与前述主动驱动该取像模块400的方式相似，于此不再赘述)。

本发明经由计算电子元件的输送时间并实时主动驱动吹嘴吹气，可使电子元件准确落于对应的集料盒中，而可有效避免分类错误。并且，由于本发明是经由计时来主动驱动吹嘴吹气，而非经由传感器被动驱动吹嘴吹气，可有效避免因传感器的感测时间及控制器判断并驱动吹嘴的驱动时间之间的时间差所造成的吹气延迟，而可使电子元件更准确地落于对应的集料盒中。

较佳地，各该集料盒510内分别设有一活动缓冲挡板511。各该吹嘴520分别朝向对应的该集料盒510内的该活动缓冲挡板511配置。当该吹嘴520将该旋转盘220上的该电子元件吹入对应的该集料盒510时，该电子元件先撞击该活动缓冲挡板511并减速，随后落入该集料盒510底部。该活动缓冲挡板511可为但不限于一软板或枢设在该集料盒510内的硬板。

本发明经由配置活动缓冲挡板于集料盒中，可有效避免电子元件因高速撞击集料盒内壁而损坏，进而提升检测后电子元件的良率。

请参阅图8，本发明的该检测装置1更包括一种替换结构，可有效地且快速地进行元件汰换或维护。

具体而言，各该吹嘴520分别藉由一枢转轴522可枢转地连接该基座100。各该枢转轴522与该旋转盘220相互平行配置。藉此各该吹嘴520可直接向上翻转而自该旋转盘220上退开，以方便进行汰换或维护。

另，由于该电子元件的尺寸微小，易于输送过程中磨损该旋转盘220。受损的该旋转盘220将难以稳定输送该电子元件，并可能影响定位精确度，而须进行更换(即该旋转盘220属于耗材)。

为解决上述该旋转盘220的更换问题，本发明的该检测装置1除上述各该吹嘴520可向上翻转退让外，各该取像模块400的该镜头310亦可沿该直立滑轨430向上(翻转)退让。本发明的该检测装置1于该多个吹嘴520及该多个取像模块400退让后，可有效腾出方便更换该旋转盘220的一维护空间。并且，于前述退让过程中，并不会造成该旋转盘220(或替换后的该旋转盘220)于旋转方向上的位移。因此于更换完该旋转盘220后，该多个取像模块400及该多个吹嘴520可直接向下(翻转)归位，且不需再重新对于该旋转盘220的旋转方向校正定位，而可有效减少维护耗时。

值得一提的是，该时间取得模块601、该计时模块602、该撷取控制模块603、该检测模块604、该位置检测模块605及该分类模块606可经由硬件模块方式实现(如电子电路或已刻录数字电路的集成电路)，亦可经由软件模块方式实现(如韧体(fireware)、程序(program)或应用程序编程接口(ApplicationProgramming Interface，API))，但不以此为限。当前述模块经由软件模块方式实现时，前述各模块间的连接指程序间的链接(link)。

当该时间取得模块601、该计时模块602、该撷取控制模块603、该检测模块604、该位置检测模块605及该分类模块606经由软件模块方式实现时，该内存700可储存一电脑程序701，该电脑程序记录有用于实现前述各该模块的程序代码或机械码(machine code)。该控制器600执行该电脑程序701的程序代码或机械码后，可实现前述各该模块601-606的功能。

续请参阅图10，为本发明第一具体实施例的电子元件外观检测方法的流程图。本发明各实施例的电子元件外观检测方法(以下简称该检测方法)主要皆运用于图1-9所示的该检测装置1。

步骤S100：该传感器210检测该输送机构200所输送的该电子元件是否通过该传感器210的该感测区。该输送机构200较佳经由该旋转盘220输送该电子元件，但亦可经由一输送带来输送该电子元件，并且该检测装置1的各元件围绕该输送带配置，不加以限定。

较佳地，该传感器210为遮断式光学传感器，并可依据所产生的光束是否被遮断来检测该电子元件是否通过该感测区。若检测该电子元件通过，则执行该步骤S102。否则，重复执行该步骤S100以持续检测。

步骤S102：该传感器210发出该触发信号至该控制器600。

步骤S104：该控制器600收到该触发信号时，分别取得输送该电子元件至对应该多个取像模块400的该多个取像位置所需的该多个时间区间。

较佳地，该控制器600可进一步具有一连料检测功能。具体而言，当该控制器600判断多个该触发信号的接收时间过于密集(如仅间隔0.1秒)时，可直接判定当前通过的多个该电子元件有连料的情况发生(即多个该电子元件的间隔过小)。

接着，对当前通过的多个该电子元件进行定位，但不计时该多个时间区间，而是直接将多个该电子元件的该检测结果皆设定为需重测，并令该分料机构500将多个该电子元件分类至对应的该集料盒510内。藉此，可有效避免多个该电子元件因连料而被误判为有瑕疵，进而有效提升检测正确率。

并且，当连料的多个该电子元件通过各该取像模块400的该取像位置时，该控制器600可不驱动各该取像模块400进行影像撷取(换句话说，该控制器可不执行步骤S106-S112，而直接结束该检测方法)，以避免撷取到无用的该元件影像。

步骤S106：该控制器600计时任一该多个时间区间是否经过。若任一该多个时间区间经过，则执行步骤S108。否则，重复执行该步骤S106以持续计时。

步骤S108：该控制器600驱动对应的该取像模块400来撷取该电子元件的特定视角的该元件影像，其中被驱动的该取像模块400对应于该步骤S106中被判定已经经过的该时间区间。

步骤S110：该控制器600判断该多个时间区间是否皆已经过。换句话说，该控制器600判断是否该多个取像模块400(分别对应该多个时间区间，并分别用于拍摄该电子元件的不同视角)皆已完成对该电子元件的影像撷取动作。若判断该多个时间区间皆已经过，则执行步骤S112。否则，重复执行该步骤S106以持续计时，直到该多个取像模块400皆完成对该电子元件的影像撷取动作为止。

步骤S112：该控制器600依据所取得的该多个元件影像对该电子元件进行该瑕疵检测处理，并产生用以表示该电子元件的外观是否有瑕疵的该检测结果。

续请参阅图11，为本发明第二具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。本实施例的检测方法与第一实施例差异在于，本实施例的检测方法于该步骤S100前更包括下列步骤：

步骤S200：该供料机构300将该电子元件自该储料桶320输送至该震动盘310。

步骤S202：该供料机构300对该电子元件进行该去静电处理。较佳地，该供料机构300系经由该去静电风扇来进行该去静电处理。

步骤S204：该供料机构300震动该震动盘310以排列该电子元件，并将排列后的该电子元件输送至该震动盘310延伸出的该下料轨道330。

步骤S206：该供料机构300使该电子元件带有电荷。较佳地，该供料机构300经由使该电子元件摩擦该下料轨道330来使该电子元件带有负电荷。

步骤S208：该输送机构200使该旋转盘带有与该电子元件所带电荷电性相反的电荷。较佳地，该输送机构200系使该旋转盘220摩擦该静电刷240，以使该旋转盘带有与该电子元件携带电荷电性相反的电荷。

步骤S210：该供料机构300经由该下料轨道330输送该电子元件至该旋转盘220。由于此时该电子元件与该旋转盘220带有彼此电性相反的电荷，该电子元件将吸附固定于该旋转盘220。接着执行该步骤S100。

续请参阅图12，为本发明第三具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。于本实施例中，该输送机构200经由该旋转盘220输送该电子元件。本实施例的检测方法与第一实施例差异在于，本实施例的检测方法的该步骤S104更包括下列步骤：

步骤S1040：该控制器600取得该电子元件于该旋转盘220上的该当前位置。较佳地，该控制器600经由该角度编码器232取得驱动该旋转盘220水平旋转的该马达230当前的角度值，并作为该当前位置。

步骤S1042：该控制器600取得该多个取像位置。较佳地，该控制器600将分别对应该多个取像模块的多个角度值做为该多个取像位置。

步骤S1044：该控制器600取得该旋转盘220的该旋转速度。

步骤S1046：该控制器600依据所取得的该当前位置、该旋转速度及该多个取像位置计算该多个时间区间。接着执行该步骤S106。

续请参阅图13，为本发明第四具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。本实施例的检测方法与第一实施例差异在于，本实施例的检测方法于该步骤S112之后更包括下列步骤：

步骤S300：该控制器600输出该检测结果。例如，将该检测结果以影像方式显示于该显示器，或经由网络上传至一远程服务器。

步骤S302：该控制器600检测该电子元件是否到达该分料机构500。较佳地，该控制器600依据该检测结果自该多个吹气位置中选择对应的该吹气位置，并主动(如经由该角度编码器232及计时该吹嘴时间区间是否经过)或被动(如经由设置于该分料机构旁的另一传感器触发)检测该电子元件是否到达该吹气位置。若该控制器600检测该电子元件到达该分料机构500，则执行该步骤S304。否则，重复执行该步骤S302以持续检测。

步骤S304：该控制器600依据该检测结果控制对应的该多个吹嘴520之一吹气，以将该电子元件吹入对应的该集料盒510。

以上所述仅为本发明的较佳具体实例，非用以局限本发明的专利范围，故举凡运用本发明内容所为的等效变化，均同理皆包含于本发明所附权利要求的保护范围内，合予陈明。

Claims (20)

1.一种电子元件外观检测装置，其特征在于，包括：

一基座；

一输送机构，包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘；

一传感器，于检测该电子元件通过时发出一触发信号；

多个取像模块，分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取；及

一控制器，电性连接该传感器及该多个取像模块，包括：

一时间取得模块，于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间；

一计时模块，于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号；

一撷取控制模块，依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像；及

一检测模块，依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。

2.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一供料机构，包括：

一震动盘，设置于该基座，经由震动排列该电子元件，该震动盘延伸有末端延伸至该旋转盘上方并与该传感器相邻的一下料轨道，用以输送该电子元件至该旋转盘并经由摩擦使该电子元件带有电荷；及

一储料桶，容纳待检测的该电子元件，并具有朝向该震动盘内配置并用以输送该电子元件至该震动盘的一供料道。

3.如权利要求2所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该供料机构更包括一去静电风扇，该去静电风扇的出风方向朝向该震动盘配置，以对该电子元件进行一去静电处理。

4.如权利要求3所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一静电刷，设置在该基座且接触该旋转盘，以使该旋转盘带有与该电子元件所带电荷电性相反的电荷。

5.如权利要求2所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该震动盘内形成有一整列轨道，该整列轨道延伸呈单圈环形且连接该下料轨道，并且该震动盘与该基座之间设置有一缓冲器。

6.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该传感器为一遮断式光学传感器，于所产生的光束被遮断时发出该触发信号。

7.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该旋转盘呈水平配置，并且各该取像模块设置于该基座上并环绕该旋转盘配置；该时间取得模块依据该电子元件于该旋转盘上的一当前位置、该多个取像位置及该旋转盘的一旋转速度来计算该多个时间区间。

8.如权利要求7所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该输送机构更包括电性连接该马达及该控制器的一角度编码器，该控制器更包括一位置检测模块，该位置检测模块经由该角度编码器取得该马达当前的角度值，并取得分别对应该多个取像模块的多个角度值，该时间取得模块将该马达当前的角度值作为该当前位置，并将对应该多个取像模块的该多个角度值分别做为该多个取像位置。

9.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一分料机构，包括：

多个集料盒，设置在该基座上；及

多个吹嘴，分别朝向对应的该多个集料盒配置且分别设置有电性连接该控制器的一电磁阀，其中该旋转盘介于该多个吹嘴与该多个集料盒之间。

10.如权利要求9所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该控制器更包括一分类模块，于检测该电子元件到达该分料机构时，依据该检测结果控制对应的该电磁阀，以使对应的该吹嘴吹气而将该电子元件吹入对应的该集料盒。

11.如权利要求9所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，各该集料盒内分别枢设有一活动缓冲挡板，且各该吹嘴分别朝向相对应的该集料盒内的该活动缓冲挡板配置；各该吹嘴分别藉由一枢转轴可枢转地连接该基座，而且各该枢转轴与该旋转盘相互平行配置。

12.一种电子元件外观检测方法，其特征在于，运用于包括一输送机构、一传感器、多个取像模块及一控制器的一电子元件外观检测装置，包括下列步骤：

a)该传感器于检测该输送机构所输送的一电子元件通过时发出一触发信号；

b)该控制器于收到该触发信号时取得输送该电子元件至对应该多个取像模块的多个取像位置分别所需的多个时间区间；

c)于计时各该时间区间经过时，分别驱动对应的各该取像模块对该电子元件进行影像撷取并产生多个元件影像；及

d)依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生用以表示该电子元件的外观是否有瑕疵的一检测结果。

13.如权利要求12所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该步骤a之前更包括下列步骤：

a1)将该电子元件自一储料桶输送至一震动盘；

a2)经由一去静电风扇对该电子元件进行一去静电处理；及

a3)震动该震动盘以排列该电子元件。

14.如权利要求13所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该输送机构经由一旋转盘输送该电子元件；于该步骤a3之后更包括下列步骤：

a4)使该电子元件带有电荷；

a5)使该旋转盘带有与该电子元件所带电荷电性相反的电荷；及

a6)输送该电子元件至该旋转盘。

15.如权利要求14所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该步骤a4使该电子元件摩擦该震动盘延伸出的一下料轨道，以使该电子元件带有负电荷；该步骤a5使该旋转盘摩擦一静电刷，以使该旋转盘带有正电荷。

16.如权利要求12所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该传感器为一遮断式光学传感器；该步骤a中，该传感器依据所产生的光束是否被遮断来检测该电子元件是否通过。

17.如权利要求12所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该输送机构经由一旋转盘输送该电子元件；该步骤b包括下列步骤：

b1)取得该电子元件于该旋转盘上的一当前位置；

b2)取得该多个取像位置及该旋转盘的一旋转速度；及

b3)依据该当前位置、该旋转速度及该多个取像位置计算该多个时间区间。

18.如权利要求17所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，该步骤b1经由一角度编码器取得驱动该旋转盘水平旋转的一马达当前的角度值，以作为该当前位置；该步骤b2将该多个取像模块的多个角度值做为该多个取像位置。

19.如权利要求12所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，更包括步骤e：输出该检测结果。

20.如权利要求12所述的电子元件外观检测方法，其特征在于，更包括一步骤f：依据该检测结果控制对应的一吹嘴进行吹气，以将该电子元件吹入该吹嘴对应的一集料盒。