CN106324395A - 一种上电复位测试方法及*** - Google Patents
一种上电复位测试方法及*** Download PDFInfo
- Publication number
- CN106324395A CN106324395A CN201610682169.9A CN201610682169A CN106324395A CN 106324395 A CN106324395 A CN 106324395A CN 201610682169 A CN201610682169 A CN 201610682169A CN 106324395 A CN106324395 A CN 106324395A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- test
- electrification reset
- switching
- power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了上电复位测试方法及***,上电复位测试方法,应用于对被测样品进行上电复位测试,包括下述步骤:S1.将开关机制具连接于所述被测样品的供电电源与所述被测样品之间,所述开关机制具提供一预设测试策略,所述测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;S2.将示波器的第一探头连接所述被测样品的第一测试点,将所述示波器的第二探头连接所述被测样品的第二测试点,所述示波器提供一预设触发模式;S3.启动所述开关机制具根据所述测试策略对所述被测样品进行上电复位测试,通过所述示波器获取所述被测样品的上电波形。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域,尤其涉及一种上电复位测试方法及***。
背景技术
一般来说,***都存在一个复位信号源,由该复位信号源作为输入,经电路处理后再分发出各级复位信号,最终作为各IC芯片的输入复位信号。上电复位测试是信号完整性测试中必不可少的测试项,它主要用来验证在***上电过程中复位信号的质量,确保上电过程中复位信号质量满足硬件设计要求。上电复位需要从波形完整性、时序完整性来关注信号质量。其中波形完整性是测量上电过程中波形是否有回沟、台阶、毛刺、振铃、过冲现象等等;而时序完整性则主要关注在必要的时间复位信号上电波形是否达到特定的电平值。
在上电复位测试中通常需要同时测量多路信号,最常见的是同时测量两路信号,此时需要同时用两个探头垂直点在相应的测试点上,然后再按下插线板开关对被测单板进行上电,一个人根本忙不过来。但如果专门有个人去按开关又会造成人力的浪费,导致测试效率低下。
发明内容
针对现有的上电复位测试存在的上述问题,现提供一种旨在实现节省人力,测试效率高的上电复位测试方法及***。
具体技术方案如下:
一种上电复位测试方法,应用于对被测样品进行上电复位测试,包括下述步骤:
S1.将开关机制具连接于所述被测样品的供电电源与所述被测样品之间,所述开关机制具提供一预设测试策略,所述测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
S2.将示波器的第一探头连接所述被测样品的第一测试点,将所述示波器的第二探头连接所述被测样品的第二测试点,所述示波器提供一预设触发模式;
S3.启动所述开关机制具根据所述测试策略对所述被测样品进行上电复位测试,通过所述示波器获取所述被测样品的上电波形。
优选的,所述触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
优选的,所述被测样品的所述供电电源为220V。
优选的,所述第一测试点为参考信号输入端管脚。
优选的,所述第二测试点为复位信号管脚。
一种上电复位测试***,应用于对被测样品进行上电复位测试,包括:
一示波器,所述示波器的第一探头连接所述被测样品的第一测试点,所述示波器的第二探头连接所述被测样品的第二测试点,所述示波器提供一预设触发模式,所述示波器用以根据所述触发模式获取所述被测样品的上电波形;
一开关机制具,连接于所述被测样品的供电电源与所述被测样品之间,所述开关机制具提供一预设测试策略,所述测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
所述开关机制具用以根据所述测试策略对所述被测样品进行上电复位测试,通过所述示波器获取所述被测样品的上电波形。
优选的,所述触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
优选的,所述被测样品的所述供电电源为220V。
优选的,所述第一测试点为参考信号输入端管脚。
优选的,所述第二测试点为复位信号管脚。
上述技术方案的有益效果:
上电复位测试方法通过开关机制具自动控制被测样品的上电掉电节省了人力,同时提高了测试效率;
上电复位测试***用于支持上电复位测试方法对被测样品进行自动的上电复位测试。
附图说明
图1为本发明所述的上电复位测试方法的一种实施例的方法流程图;
图2为本发明所述的上电复位测试***的一种实施例的连接图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,但不作为本发明的限定。
如图1-2所示,一种上电复位测试方法,应用于对被测样品3进行上电复位测试,包括下述步骤:
S1.将开关机制具2连接于被测样品3的供电电源1与被测样品3之间,开关机制具2提供一预设测试策略,测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
S2.将示波器4的第一探头连接被测样品3的第一测试点,将示波器4的第二探头连接被测样品3的第二测试点,示波器4提供一预设触发模式;
S3.启动开关机制具2根据测试策略对被测样品3进行上电复位测试,通过示波器4获取被测样品3的上电波形。
进一步地,第一测试点为参考信号输入端管脚,第二测试点为复位信号管脚。
在本实施例中,将开关机制具2连接于被测样品3与供电电源1之间;预先设置示波器4的显示范围,以某一通道作为触发源,设置好触发方式;根据被测样品3的需求对开关机制具2的测试策略进行相应的设置,以使被测样品3能够自动进行开关机(即上电、掉电)操作;选择好测试点,将示波器4的一探头(如1通道)垂直点在参考信号输入端管脚,将示波器4的另一探头(如2通道)垂直点在被测样品3的复位信号管脚;当被测样品3上电后,示波器4会自动抓取测试波形,以获取两个信号之间的横坐标距离(即为复位脉宽)。上电复位测试方法通过开关机制具2自动控制被测样品3的上电、掉电节省了人力,同时提高了测试效率。
在优选的实施例中,触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
在优选的实施例中,被测样品3的供电电源1为220V。
在本实施例中,被测样品3的电源线与一插线板连接,可将插线板的电源线中的火线断开连接到开关机制具2中继电器的端口上,插线板的电源插头接到220V的供电电源1上;开关机制具2可采用12V电源供电,开关机制具2可通过串口与一客户端连接,通过客户端对开关机制具2中的测试策略进行相应的测试,以及设置被测样品3的IP地址,设置被测样品3每次测试操作的测试时间(该测试时间需保证能够判定被测样品3是否启动正常)、上电时间(即上电复位的时间间隔,比测试操作的测试时间多几秒即可),设置掉电时间(即每次电源断开到电源再次上电的时间);设置被测样品3的开关机次数(通常3-5次即可)。
如图2所示,一种上电复位测试***,应用于对被测样品3进行上电复位测试,包括:
一示波器4,示波器4的第一探头连接被测样品3的第一测试点,示波器4的第二探头连接被测样品3的第二测试点,示波器4提供一预设触发模式,示波器4用以根据触发模式获取被测样品3的上电波形;
一开关机制具2,连接于被测样品3的供电电源1与被测样品3之间,开关机制具2提供一预设测试策略,测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
开关机制具2用以根据测试策略对被测样品3进行上电复位测试,通过示波器4获取被测样品3的上电波形。
进一步地,第一测试点为参考信号输入端管脚,第二测试点为复位信号管脚。
在本实施例中,将开关机制具2连接于被测样品3与供电电源1之间;预先设置示波器4的显示范围,以某一通道作为触发源,设置好触发方式;根据被测样品3的需求对开关机制具2的测试策略进行相应的设置,以使被测样品3能够自动进行开关机(即上电、掉电)操作;选择好测试点,将示波器4的一探头(如1通道)垂直点在参考信号输入端管脚,将示波器4的另一探头(如2通道)垂直点在被测样品3的复位信号管脚;当被测样品3上电后,示波器4会自动抓取测试波形,以获取两个信号之间的横坐标距离(即为复位脉宽)。上电复位测试方法通过开关机制具2自动控制被测样品3的上电、掉电节省了人力,同时提高了测试效率。在优选的实施例中,触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
在优选的实施例中,被测样品3的供电电源1为220V。
在本实施例中,被测样品3的电源线与一插线板连接,可将插线板的电源线中的火线断开连接到开关机制具2中继电器的端口上,插线板的电源插头接到220V的供电电源1上;开关机制具2可采用12V电源供电,开关机制具2可通过串口与一客户端连接,通过客户端对开关机制具2中的测试策略进行相应的测试,以及设置被测样品3的IP地址,设置被测样品3每次测试操作的测试时间(该测试时间需保证能够判定被测样品3是否启动正常)、上电时间(即上电复位的时间间隔,比测试操作的测试时间多几秒即可),设置掉电时间(即每次电源断开到电源再次上电的时间);设置被测样品3的开关机次数(通常3-5次即可)。
以上所述仅为本发明较佳的实施例,并非因此限制本发明的实施方式及保护范围,对于本领域技术人员而言,应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案,均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种上电复位测试方法,应用于对被测样品进行上电复位测试,其特征在于,包括下述步骤:
S1.将开关机制具连接于所述被测样品的供电电源与所述被测样品之间,所述开关机制具提供一预设测试策略,所述测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
S2.将示波器的第一探头连接所述被测样品的第一测试点,将所述示波器的第二探头连接所述被测样品的第二测试点,所述示波器提供一预设触发模式;
S3.启动所述开关机制具根据所述测试策略对所述被测样品进行上电复位测试,通过所述示波器获取所述被测样品的上电波形。
2.如权利要求1所述的上电复位测试方法,其特征在于,所述触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
3.如权利要求1所述的上电复位测试方法,其特征在于,所述被测样品的所述供电电源为220V。
4.如权利要求1所述的上电复位测试方法,其特征在于,所述第一测试点为参考信号输入端管脚。
5.如权利要求1所述的上电复位测试方法,其特征在于,所述第二测试点为复位信号管脚。
6.一种上电复位测试***,应用于对被测样品进行上电复位测试,其特征在于,包括:
一示波器,所述示波器的第一探头连接所述被测样品的第一测试点,所述示波器的第二探头连接所述被测样品的第二测试点,所述示波器提供一预设触发模式,所述示波器用以根据所述触发模式获取所述被测样品的上电波形;
一开关机制具,连接于所述被测样品的供电电源与所述被测样品之间,所述开关机制具提供一预设测试策略,所述测试策略包括上电时间、掉电时间和开关机次数;
所述开关机制具用以根据所述测试策略对所述被测样品进行上电复位测试,通过所述示波器获取所述被测样品的上电波形。
7.如权利要求6所述的上电复位测试***,其特征在于,所述触发模式包括:触发方式,触发位置,触发边沿类型,电平幅度和时基。
8.如权利要求6所述的上电复位测试***,其特征在于,所述被测样品的所述供电电源为220V。
9.如权利要求6所述的上电复位测试***,其特征在于,所述第一测试点为参考信号输入端管脚。
10.如权利要求6所述的上电复位测试***,其特征在于,所述第二测试点为复位信号管脚。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610682169.9A CN106324395B (zh) | 2016-08-17 | 2016-08-17 | 一种上电复位测试方法及*** |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610682169.9A CN106324395B (zh) | 2016-08-17 | 2016-08-17 | 一种上电复位测试方法及*** |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106324395A true CN106324395A (zh) | 2017-01-11 |
CN106324395B CN106324395B (zh) | 2019-09-13 |
Family
ID=57743714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610682169.9A Active CN106324395B (zh) | 2016-08-17 | 2016-08-17 | 一种上电复位测试方法及*** |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106324395B (zh) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108132434A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-06-08 | 上海贝岭股份有限公司 | Por电路的测试***及集成电路 |
CN108627715A (zh) * | 2017-03-21 | 2018-10-09 | 中兴通讯股份有限公司 | 单板状态的检测方法及装置 |
CN109030989A (zh) * | 2018-06-22 | 2018-12-18 | 深圳市金泰克半导体有限公司 | 验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法 |
WO2019056192A1 (zh) * | 2017-09-19 | 2019-03-28 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 上电复位时间的测量方法及*** |
CN109581124A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-04-05 | 西南技术物理研究所 | 一种用于焦平面探测器测试的开关机试验*** |
WO2020048166A1 (zh) * | 2018-09-05 | 2020-03-12 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种电源模块的测试方法 |
US10733411B2 (en) | 2017-06-13 | 2020-08-04 | Shenzhen GOODIX Technology Co., Ltd. | Optical biometric identification module, display apparatus, and electronic device |
CN113704039A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-11-26 | 北京同方信息安全技术股份有限公司 | 用于计算机产品测试的辅助测试设备、***和方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050049812A1 (en) * | 2003-09-01 | 2005-03-03 | Jie-Hong Wang | Universal test platform and test method for latch-up |
CN101435841A (zh) * | 2007-11-16 | 2009-05-20 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试***及方法 |
CN105093094A (zh) * | 2015-09-16 | 2015-11-25 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 芯片上电可靠性自动检测装置和检测方法 |
CN105699788A (zh) * | 2016-04-27 | 2016-06-22 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种供电时序的测量方法、示波器和*** |
-
2016
- 2016-08-17 CN CN201610682169.9A patent/CN106324395B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050049812A1 (en) * | 2003-09-01 | 2005-03-03 | Jie-Hong Wang | Universal test platform and test method for latch-up |
CN101435841A (zh) * | 2007-11-16 | 2009-05-20 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试***及方法 |
CN105093094A (zh) * | 2015-09-16 | 2015-11-25 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 芯片上电可靠性自动检测装置和检测方法 |
CN105699788A (zh) * | 2016-04-27 | 2016-06-22 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种供电时序的测量方法、示波器和*** |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108627715A (zh) * | 2017-03-21 | 2018-10-09 | 中兴通讯股份有限公司 | 单板状态的检测方法及装置 |
CN108627715B (zh) * | 2017-03-21 | 2022-09-02 | 中兴通讯股份有限公司 | 单板状态的检测方法及装置 |
US10733411B2 (en) | 2017-06-13 | 2020-08-04 | Shenzhen GOODIX Technology Co., Ltd. | Optical biometric identification module, display apparatus, and electronic device |
EP3480608A4 (en) * | 2017-09-19 | 2019-09-25 | Shenzhen Goodix Technology Co., Ltd. | METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING A POWER-ON RESET TIME |
CN109863410A (zh) * | 2017-09-19 | 2019-06-07 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 上电复位时间的测量方法及*** |
WO2019056192A1 (zh) * | 2017-09-19 | 2019-03-28 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 上电复位时间的测量方法及*** |
CN109863410B (zh) * | 2017-09-19 | 2021-03-05 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 上电复位时间的测量方法及*** |
US11287453B2 (en) | 2017-09-19 | 2022-03-29 | Shenzhen GOODIX Technology Co., Ltd. | Method and system for measuring power-on reset time |
CN108132434A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-06-08 | 上海贝岭股份有限公司 | Por电路的测试***及集成电路 |
CN109030989B (zh) * | 2018-06-22 | 2020-11-10 | 深圳市金泰克半导体有限公司 | 验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法 |
CN109030989A (zh) * | 2018-06-22 | 2018-12-18 | 深圳市金泰克半导体有限公司 | 验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法 |
WO2020048166A1 (zh) * | 2018-09-05 | 2020-03-12 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种电源模块的测试方法 |
US11360139B2 (en) | 2018-09-05 | 2022-06-14 | Zhengzhou Yunhai Information Technology Co., Ltd. | Method for testing a power module |
CN109581124A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-04-05 | 西南技术物理研究所 | 一种用于焦平面探测器测试的开关机试验*** |
CN113704039A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-11-26 | 北京同方信息安全技术股份有限公司 | 用于计算机产品测试的辅助测试设备、***和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106324395B (zh) | 2019-09-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106324395A (zh) | 一种上电复位测试方法及*** | |
CN205176220U (zh) | 一种便携式继电保护装置跳闸出口测试仪 | |
CN204116430U (zh) | 一种继电保护多路出口压板脉冲电压检测装置 | |
CN104237603A (zh) | 一种继电保护多路出口压板脉冲电压检测装置 | |
CN102854423A (zh) | 设备启动可靠性的测试方法 | |
CN103267940A (zh) | 多模块平行测试***及测试方法 | |
CN203396869U (zh) | 综合测试设备 | |
CN104993469A (zh) | 防呆保护电路 | |
CN107576906A (zh) | 一种手提式继电器校验平台及其使用方法 | |
CN103245869A (zh) | 一种集成电路电源管脚短路判定检测方法 | |
CN113156242A (zh) | 一种继电保护出口矩阵检测设备 | |
CN204299767U (zh) | 用于航空发动机点火***的自动测试*** | |
CN102809692A (zh) | 电源模块绝缘电阻及抗电强度测试装置及方法 | |
CN202939209U (zh) | 一种多路开关传动跳闸出口信号检测装置 | |
CN207588113U (zh) | 网口插拔装置和网口插拔检测*** | |
CN103063948A (zh) | 电能采集终端功能测试***及方法 | |
CN203133267U (zh) | 电能采集终端功能测试*** | |
CN108761314A (zh) | 电控板自动检测设备及其检测方法 | |
CN203466874U (zh) | 一种手机产线lcd自动测试装置 | |
CN210573652U (zh) | 一种服务器断电装置 | |
CN103207342A (zh) | 一种检修试验接地智能预警装置 | |
CN208705441U (zh) | 电控板自动检测设备 | |
CN201119084Y (zh) | 液晶面板模块熄灯复归装置 | |
CN105699877B (zh) | Soc芯片漏电流的分档自动测试装置及方法 | |
CN105841776A (zh) | 水位检测电路及其自检方法和烹饪器具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20200710 Address after: 313000 no.179-210, Zhizhou Avenue, Huaxi street, Changxing County, Huzhou City, Zhejiang Province Patentee after: CHANGXING TAIHU NENGGU TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 201600 Shanghai city Songjiang District Sixian Road No. 3666 Patentee before: Phicomm (Shanghai) Co.,Ltd. |