CN106226041A - 锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法，包括激光器、聚焦透镜、中间开有直径为1cm孔的黑屏、搁置被检测锥形光纤的调整架及白色观察屏，激光器出射的激光先经过聚焦透镜聚焦到黑屏的孔上，通过孔的光耦合进入被检测锥形光纤纤芯中，被检测锥形光纤出射的光照到白色观察屏上形成光斑。通过光斑来判断锥形光纤锥头是否存在。可以在进行物质浓度检测的过程中，不需要将锥形光纤从调整架上拿下，在不借助显微镜的情况下，直接通过锥形光纤出射光斑判断锥形光纤是否被破坏掉。这种判断方法具有节省实验时间，不需要显微镜等仪器的优点。

Description

锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法
技术领域
本发明涉及一种检测方法，特别涉及一种锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法。
背景技术
锥形光纤可以用于传感，进场扫描成像等领域。采用光敏聚合法在石英光纤端面制作锥形光纤，光纤为康宁公司的 SMF-28e单模光纤。制备流程为：(a)将聚合物单体、染料敏化剂和溶剂以一定比例混合；(b) 将端面切割平整的石英光纤置于该混合液中放置一定时间后取出，在范德华力作用下光纤端面会有一定量混合溶液；(c) 将波长为532nm的激光通过端面耦合法耦合进入光纤；(d) 光纤出射端在高斯光束的作用下，单体聚合形成锥形光纤。制备的锥形光纤如图1所示。
在锥形光纤上通过提拉法涂敷荧光指示剂，通过荧光猝灭方法可以进行溶解氧浓度，***物浓度和金属离子浓度等探测。但是在实际实验过程中，当对锥形光纤进行涂敷敏感材料和放入不同浓度的被测物质中，都会由于操作的不当引起锥形光纤断掉，但是锥形光纤直径只有纳米到微米量级，长度也为微米量级，无法通过肉眼判断锥形光纤是否断掉。本发明涉及一种锥形光纤锥头存在与否的判断方法。
发明内容
本发明是针对目前用锥形光纤做传感头时，在操作过程中光纤锥是否断掉无法用肉眼判断的问题，提出了一种锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法，不需要使用显微镜等仪器，快速进行检测判断。
本发明的技术方案为：一种锥形光纤锥头检测装置，包括激光器、聚焦透镜、中间开有直径为1cm孔的黑屏、搁置被检测锥形光纤的调整架及白色观察屏，激光器出射的激光先经过聚焦透镜聚焦到黑屏的孔上，通过孔的光耦合进入被检测锥形光纤纤芯中，被检测锥形光纤出射的光照到白色观察屏上形成光斑。
所述锥形光纤锥头检测装置的检测判断方法，通过观察被检测锥形光纤耦合光在白色观察屏上的光斑进行检测判断：如果白色观察屏上的光斑为环形，即中间为亮斑，周围有一圈暗环，最外圈为亮环，此时锥形光纤的锥头存在；如果观察屏上的光斑为一个亮斑，则锥形光纤的锥头已经断掉。
本发明的有益效果在于：本发明锥形光纤锥头检测装置及检测判断方法，可以在进行物质浓度检测的过程中，不需要将锥形光纤从调整架上拿下，在不借助显微镜的情况下，直接通过锥形光纤出射光斑判断锥形光纤是否被破坏掉。这种判断方法具有节省实验时间，不需要显微镜等仪器的优点。
附图说明
图1为40倍显微镜下的锥形光纤端头图；
图2为本发明锥形光纤锥头检测装置结构图。
具体实施方式
如图2所示锥形光纤锥头检测装置结构图，包括激光器1、聚焦透镜2、中间开有直径为1cm孔的黑屏3、搁置被检测锥形光纤4的调整架6及白色观察屏5，激光器1出射的激光先经过聚焦透镜2聚焦到黑屏3的孔上，通过孔的光耦合进入被检测锥形光纤4纤芯中，被检测锥形光纤4出射的光照到白色观察屏5上形成光斑。黑屏3可阻挡周围杂散光耦合进入被检测锥形光纤4，调节被检测锥形光纤4下面的调整架6，使聚焦透镜2出射激光耦合到锥形光纤纤芯中。
在进行物质浓度检测的过程中，不需要将被检测锥形光纤4从调整架6上拿下，直接给激光器1通电，通过观察被检测锥形光纤4耦合在屏上的光斑判断锥形光纤的锥头在实验过程中是否断掉。如果观察屏上的光斑为环形，即中间为亮斑，周围有一圈暗环，最外圈为亮环，此时锥形光纤的锥头存在。如果观察屏上的光斑为一个亮斑，则锥形光纤的锥头已经在做实验的过程中断掉。激光器输出光在可见光波段都可实现判断。

Claims (2)

1.一种锥形光纤锥头检测装置，其特征在于，包括激光器、聚焦透镜、中间开有直径为1cm孔的黑屏、搁置被检测锥形光纤的调整架及白色观察屏，激光器出射的激光先经过聚焦透镜聚焦到黑屏的孔上，通过孔的光耦合进入被检测锥形光纤纤芯中，被检测锥形光纤出射的光照到白色观察屏上形成光斑。
2.根据权利要求1所述锥形光纤锥头检测装置的检测判断方法，其特征在于，通过观察被检测锥形光纤耦合光在白色观察屏上的光斑进行检测判断：如果白色观察屏上的光斑为环形，即中间为亮斑，周围有一圈暗环，最外圈为亮环，此时锥形光纤的锥头存在；如果观察屏上的光斑为一个亮斑，则锥形光纤的锥头已经断掉。
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