CN105940321A

CN105940321A - 放射线检测器

Info

Publication number: CN105940321A
Application number: CN201480074230.0A
Authority: CN
Inventors: 中泽诚之
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2014-01-28
Filing date: 2014-01-28
Publication date: 2016-09-14
Also published as: US20160334517A1; JPWO2015114740A1; WO2015114740A1

Abstract

根据本发明所涉及的放射线检测器，能够提供一种通过抑制A/D转换电路(13)的个数来紧凑且电力消耗小地进行正确的动作的放射线检测器。即，本发明为以下结构：通过使直到从光检测器(3)输出的模拟信号被输入到A/D转换电路(13)为止的时间延长，来使从光检测器(3)同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路(13)。通过这样，能够利用一个A/D转换电路(13)将从光检测器(3)输出的所有模拟信号进行数字化。

Description

放射线检测器

技术领域

本发明涉及一种通过荧光来检测放射线的放射线检测器，特别是涉及一种能够确定荧光的入射位置的放射线检测器。

背景技术

对以往的使放射线药剂的分布成像的正电子发射断层摄影装置(PET)的具体结构进行说明。以往的PET装置具备将检测放射线的放射线检测器圆环状地排列而构成的检测器环。该检测器环对从被检体内的放射性药剂放出的彼此为相反方向的一对γ射线(湮灭放射线对)进行检测。

对放射线检测器51的结构进行说明。如图9所示，放射线检测器51具备：二维地排列闪烁体晶体而得到的闪烁体52、对从被闪烁体52吸收的γ射线发出的荧光进行检测的光检测器53以及确定荧光的产生位置的位置运算部54。光检测器53具备检测元件被排列为矩阵状而得到的检测面。而且，光检测器53的检测面与闪烁体52的一面以光学方式进行连接(例如参照专利文献1)。

入射到闪烁体52的放射线被转换为多个光子而朝向光检测器53。此时，光子一边空间上扩散一边进入闪烁体52的内部，从而入射到排列为矩阵状的光检测器53的各个检测面。也就是说，由荧光产生的多个光子同时被分配给多个检测元件来进行检测。

放射线检测器51是利用由多个检测元件捕捉到的荧光的检测数据来获知在闪烁体2的何处发出荧光的结构。即，放射线检测器51通过多个检测元件来求出检测面上的荧光的光束的重心位置。该重心位置本身意味着产生荧光的位置。在映射被检体的放射性药剂时使用该位置数据。

对以往的放射线检测器51计算荧光的重心的方法进行说明。为了简便，设为光检测器53的检测面如图10所示那样由2×2的检测元件构成。将从检测元件a1……a4输出的荧光的检测信号设为A1……A4。A1……A4表示各检测元件a1……a4检测出的荧光的强度。将中心的位置设为原点，来如下那样表示荧光的光束在x方向上的重心位置X。

X＝{(A1+A3)-(A2+A4)}/{(A1+A2+A3+A4)}……(1)

如果将(A1+A3)设为Xa、将(A2+A4)设为Xb，则X＝(Xa-Xb)/(Xa+Xb)的关系成立。

同样地，将a5的位置设为原点，来如下那样表示荧光的光束在y方向上的重心位置Y。

Y＝{(A1+A2)-(A3+A4)}/{(A1+A2+A3+A4)}……(2)

如果将(A1+A2)设为Ya、将(A3+A4)设为Yb，则Y＝(Ya-Yb)/(Ya+Yb)的关系成立。

现有结构的放射线检测器51基于这样的原理来计算荧光的重心，并区分构成闪烁体52的闪烁体晶体中的哪一个发出了荧光。当闪烁体52放出荧光时，光检测器53将该检测数据Xa、Xb、Ya、Yb发送到位置运算部54。位置运算部54基于上述(1)式、(2)式来计算荧光在放射线检测器51中的产生位置、即X、Y。

专利文献1：日本特开2008-122167号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在现有结构的放射线检测器中存在如下问题。

即，现有结构的放射线检测器存在电路复杂这样的问题。

根据现有装置，当发出荧光时，针对一个荧光生成检测数据Xa、Xb、Ya、Yb，并向位置运算部54同时送出这些检测数据。因而，在光检测器53与位置运算部54之间针对每个检测数据Xa、Xb、Ya、Yb设置了专用的线。而且，光检测器53所输出的检测数据为模拟数据。位置运算部54为了进行如(1)式、(2)式那样的运算，必须将这些检测数据转换为数字数据。从检测数据Xa、Xb、Ya、Yb被同时从光检测器53送出看来，也需要同时进行各检测数据的数字化。因而，在现有装置中，如图9所示那样各个检测数据都需要A/D转换电路。图9的附图标记ENG是表示荧光的强度的模拟数据。该模拟数据也被与检测数据Xa、Xb、Ya、Yb同时从光检测器53送出，因此该模拟数据也需要A/D转换电路。

A/D转换电路是复杂的电路。根据现有结构，需要多个(在图9的例子中为五个)这种复杂的A/D转换电路。在PET装置中，也有时甚至需要排列例如一百个放射线检测器51，PET装置中包含的A/D转换电路的个数相当多。从PET装置的小型化、降低成本的观点出发，不期望发生这种情况。另外，A/D转换电路在动作时需要大量电力。因而，从抑制电力消耗的观点出发，不期望具有许多A/D转换电路的PET装置。

另外，从必须在从光检测器53一齐输出检测数据Xa、Xb、Ya、Yb的同时使多个A/D转换电路进行动作来看，在使多个A/D转换电路进行动作时，放射线检测器51的电力消耗急剧上升。这种电力消耗的变化妨碍A/D转换电路的稳定的动作，与输出有关的数字数据成不了正确的值。还由于被供给到A/D转换电路的时钟信号而产生这种数字数据的紊乱。在想要使多个A/D转换电路同步地驱动时无论如何都需要时钟信号，不能省略该信号。

本发明是鉴于这种情况而完成的，其目的在于提供一种通过抑制A/D转换电路的个数来紧凑且电力消耗小地进行正确的动作的放射线检测器。

用于解决问题的方案

本发明为了解决上述问题而采用如下结构。

即，本发明所涉及的放射线检测器的特征在于，具备：闪烁体，其将放射线转换为荧光；光检测器，其输出表示闪烁体的荧光的产生位置的多个模拟信号和表示荧光的强度的模拟信号；A/D转换电路，其将各模拟信号转换为数字信号；信号延迟单元，其通过使直到从光检测器输出的模拟信号被输入到A/D转换电路为止的时间延长，来使从光检测器同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路；以及位置计算单元，其基于各数字信号来计算在闪烁体的何处产生了荧光。

[作用和效果]根据本发明所涉及的放射线检测器，能够提供一种通过抑制A/D转换电路的个数来紧凑且电力消耗小地进行正确的动作的放射线检测器。即，本发明为以下结构：通过使直到从光检测器输出的模拟信号被输入到A/D转换电路为止的时间延长，来使从光检测器同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路。通过这样，能够利用一个A/D转换电路将从光检测器输出的所有模拟信号进行数字化。根据本发明，不需要放射线检测器具备多个A/D转换电路，因此能够抑制电力消耗，能够相应地降低噪声。另外，根据本发明所涉及的放射线检测器，不需要使A/D转换电路同步的时钟信号，因此也不会产生由时钟信号引起的噪声。

另外，更为优选的是，在上述放射线检测器中具备：累积判定单元，其基于从由光检测器输入表示在闪烁体中产生了荧光的触发信号起直到输入下一个触发信号为止的经过时间间隔，来判定是否发生累积，该累积是在向闪烁体入射放射线而产生的荧光不断衰减的过程中再次向闪烁体入射放射线从而使正在衰减的荧光的强度再次增强的现象；以及滤波器单元，其废弃从光检测器输出的与累积有关的信号，不使该信号输入到A/D转换电路。

[作用和效果]上述结构使本发明更为具体。能够提供如下一种放射线检测器：只要废弃从光检测器输出的与累积有关的信号以不使该信号输入到A/D转换电路，就能够进行可靠性更高的放射线的检测。

另外，更为优选的是，在上述放射线检测器中，A/D转换电路将正发生拖尾的信号强度设定为基线并执行下次的数字化动作，该拖尾是信号强度不会随着所输入的模拟信号的衰减加剧而逐渐变化的现象。

[作用和效果]上述结构使本发明更为具体。在模拟信号被一个一个地输入到A/D转换电路时，如果将与前一个模拟信号所产生的拖尾有关的信号强度设定为输入基线，并将下一个模拟信号进行数字化，则不会由于拖尾的影响而过多地估计下一个模拟信号。

另外，更为优选的是，在上述放射线检测器中，信号延迟单元针对由检测到荧光的光检测器同时输出的各模拟信号中的最初被输入到A/D转换电路的模拟信号，不进行动作。

[作用和效果]

根据上述结构，信号延迟单元针对最初被输入到A/D转换电路的模拟信号，不进行信号的延迟，因此能够提供一种动作尽量不延迟、响应性良好的放射线检测器。

另外，更为优选的是，在上述放射线检测器中，信号延迟单元通过使各模拟信号各延迟规定的时间，来错开各模拟信号输入到A/D转换电路的定时。

[作用和效果]

根据上述结构，构成为信号延迟单元使各模拟信号各延迟规定的时间。如果像这样决定规定的时间，则也可以不对各模拟信号分别设定延迟时间。

发明的效果

根据本发明所涉及的放射线检测器，能够提供一种通过抑制A/D转换电路的个数来紧凑且电力消耗小地进行正确的动作的放射线检测器。即，本发明为以下结构：通过使直到从光检测器输出的模拟信号被输入到A/D转换电路为止的时间延长，来使从光检测器同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路。通过这样，能够利用一个A/D转换电路将从光检测器输出的所有模拟信号进行数字化。

附图说明

图1是说明实施例1所涉及的放射线检测器的整体结构的功能框图。

图2是说明实施例1所涉及的光检测器的结构的俯视图。

图3是说明实施例1所涉及的模拟信号的时间过程图。

图4是说明实施例1所涉及的模拟信号被一齐发出的情形的时间过程图。

图5是说明使实施例1所涉及的模拟信号各自以不同的间隔延迟的情形的时间过程图。

图6是说明实施例1所涉及的模拟信号以不同的定时输入到A/D转换电路的情形的时间过程图。

图7是说明实施例1所涉及的荧光的累积的时间过程图。

图8是对实施例1所涉及的A/D转换电路的基线的复位进行说明的时间过程图。

图9是说明现有结构所涉及的放射线检测器的示意图。

图10是说明现有结构所涉及的放射线检测器的示意图。

具体实施方式

下面，基于实施例来说明用于实施发明的方式。

实施例1

<放射线检测器的整体结构>

如图1所示，实施例1所涉及的放射线检测器1具备：纵横地排列闪烁体晶体C而构成的闪烁体2；光检测器3，其设置在闪烁体2的下表面，检测从闪烁体2发出的荧光；以及光导单元4，其配置在介于闪烁体2与光检测器3之间的位置。各闪烁体晶体C由Ce扩散的Lu_2(1-X)Y_2XSiO₅(以下称为LYSO)构成。当放射线入射到闪烁体2时，放射线被转换为荧光。

光检测器3输出辨别所入射的荧光的与x和y有关的位置所需的模拟信号。更加具体地说，光检测器3具有例如将检测元件3a排列为纵8×横8的矩阵状而得到的检测面3b，该检测面3b与闪烁体2以光学方式进行连接，当产生荧光时，各检测元件3a对荧光进行检测。光检测器3基于检测元件3a的荧光的检测结果来输出表示荧光的产生位置的模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb和表示荧光的强度的模拟信号ENG。

对光检测器3所输出的模拟信号进行说明。如图2所示那样将检测面3b的中心点设为原点，以该原点为基准来表示荧光的产生位置。将从原点来看的左侧的区域设为RXa，将从原点来看的右侧的区域设为RXb。将从原点来看的上侧的区域设为RYa，将从原点来看的下侧的区域设为RYb。

光检测器3一边进行规定的加权运算一边针对区域Rxa、区域RXb、区域Rya、区域Ryb这四个区域将由检测元件3a输出的荧光的检测强度进行合计来获取合计值。将该合计值称为模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb。另外，光检测器3除了输出与荧光的产生位置有关的上述模拟信号以外，还输出表示荧光强度的模拟信号ENG。该模拟信号ENG是整个检测面3b上的荧光检测的结果，因此不具有与荧光的产生位置有关的信息。取而代之地，模拟信号ENG具有与荧光所涉及的放射线的能量有关的信息。

为了将由闪烁体2产生的荧光引导至光检测器3而设置了光导单元4。因而，光导单元4与闪烁体2和光检测器3以光学方式耦合。

<关于A/D转换电路13>

作为进行各种计算处理之前的阶段，这样的模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG被A/D转换电路13转换为数字信号。图3概念性地表示对模拟信号Xa进行的数字化处理。模拟信号Xa是脉冲状的信号，以时间对模拟信号Xa的强度进行积分而得到的值是指区域RXa中的荧光的强度。因而，A/D转换电路13以时间对模拟信号Xa进行积分并将其结果作为数字信号DXa进行输出。对于其它模拟信号Xb、Ya、Yb、ENG，也同样存在这种情况。A/D转换电路13以时间对模拟信号Xb、Ya、Yb、ENG进行积分并将其结果作为数字信号DXb、DYa、DYb、DENG进行输出。

<输出模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG的定时>

光检测器3在检测出荧光时输出模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG。而且，如图4的时间过程图所示那样，各模拟信号的输出的定时为同时。由于各模拟信号是针对相同的荧光的输出。如果不考虑这种情况地使模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG输入到A/D转换电路13，则只是对相当于各模拟信号的合计的信号进行A/D转换，无法得到与各模拟信号对应的数字信号DXa、DXb、DYa、DYb、DENG。

<关于信号延迟部11>

在此，根据本发明，具备信号延迟部11，不使各模拟信号同时输入到A/D转换电路13。该信号延迟部11为以下结构：通过使直到从光检测器3输出的模拟信号被输入到A/D转换电路13为止的时间延长，来使从光检测器3同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路13。

在本实施例中为以下结构；使由光检测器3输出的五种模拟信号各延迟0.5μs地按顺序输入到A/D转换电路13。信号延迟部11所具有的四个延迟电路A～D实现这种动作。其中，延迟电路A使所输入的模拟信号Xb延迟0.5μs地输入到A/D转换电路13。同样地，延迟电路B使所输入的模拟信号Ya延迟1μs地输入到A/D转换电路13，延迟电路C使所输入的模拟信号Yb延迟1.5μs地输入到A/D转换电路13。而且，延迟电路D使所输入的模拟信号ENG延迟2μs地输入到A/D转换电路13。信号延迟部11相当于本发明的信号延迟单元。

图5表示信号延迟部11的输出。信号延迟部11使模拟信号Xb相对于模拟信号Xa延迟0.5μs，使模拟信号Ya相对于模拟信号Xa延迟1μs，使模拟信号Xb相对于模拟信号Xa延迟1.5μs，使模拟信号ENG相对于模拟信号Xa延迟2μs，各模拟信号通过共用的配线被输入到A/D转换电路13所涉及的电路。此时，如图6所示那样将模拟信号按Xa、Xb、Ya、Yb、ENG的顺序依次输入到A/D转换电路13，各模拟信号不会互相叠加。另外，在将放射线检测器1用于PET装置的情况下，放射线的计数率非常低，在100μs的期间内检测出放射线的时间只不过是10μs的期间。因而，即使是图5所示的放射线的检测数据的数字化需要现有结构的5倍的时间的结构，也能够具有充裕的时间来进行数字化动作。

这样，根据本发明，通过信号延迟部11使各个模拟信号相对于某一个模拟信号分别延迟不同的固有时间。信号延迟部11通过使各模拟信号各延迟规定的时间(在上述例子中为0.5μs)来错开各模拟信号输入到A/D转换电路13的定时。通过这样，也可以不对各模拟信号分别设定延迟时间。

另外，根据上述结构，不延迟的模拟信号为Xa，但本发明能够使其它模拟信号不延迟。而且，根据上述结构，延迟时间0.5μs、1μs、1.5μs、2μs对应于模拟信号Xb、Ya、Yb、ENG，但本发明能够适当变更该对应关系。另外，各模拟信号以0.5μs的幅度延迟，但该数值也能够适当变更。

此外，模拟信号Xa不通过任一延迟电路A～D而被输入到A/D转换电路13。因而，信号延迟部11具有个数比由光检测器3输出的模拟信号的种类少一个的延迟电路。延迟电路的个数之所以这样，是由于只要使其它模拟信号相对于一种模拟信号适当延迟就足以使多个模拟信号按顺序输入到A/D转换电路13。这样，信号延迟部11针对检测出荧光的光检测器3同时输出的各模拟信号中的最初被输入到A/D转换电路13的模拟信号，不进行动作。通过这样，信号延迟部11针对最初被输入到A/D转换电路13的模拟信号，不进行信号的延迟，因此动作尽量不延迟，作为检测器的响应提高。

与实现A/D转换电路13的电路相比，信号延迟部11所具有的延迟电路A～D的构造简单且电力消耗也少。因而，与具有模拟信号的种类数的A/D转换部的现有结构相比，本发明所涉及的放射线检测器为紧凑且电力消耗少的放射线检测器。

<关于位置计算部14>

各模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG通过滤波器部12并被A/D转换电路13转换为数字信号DXa、DXb、DYa、DYb、DENG。这些数字信号中的与荧光的位置确定有关的数字信号DXa、DXb、DYa、Dyb被发送到位置计算部14。位置计算部14基于下面的两式来计算荧光的产生位置(X、Y)。这样，位置计算部14基于各数字信号来计算在闪烁体2的何处产生了荧光。滤波器部12相当于本发明的滤波器单元，位置计算部14相当于本发明的位置计算单元。

X＝(DXa-DXb)/(DXa+DXb)

Y＝(DYa-DYb)/(DYa+DYb)

荧光的产生位置(X、Y)和荧光的能量DENG与表示荧光的产生时间的数据汇总在一起，并作为表示荧光的检测结果的数据组而从放射线检测器1输出。

<关于累积判定部15>

累积判定部15判定是否发生了累积。首先，对该累积这样的现象进行说明。当向闪烁体2入射放射线时产生荧光，闪烁体2发光。该发光在逐渐变弱的同时持续一段时间，直至收敛为止耗费固定的时间。光检测器3所输出的模拟信号成为拖着图3那样的尾巴的脉冲状是表示闪烁体2的发光逐渐变弱的情形。累积判定部15相当于本发明的累积判定单元。

图7利用由光检测器3与模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG分开地测量出的荧光的发光强度的随时间变化来表示向没有充分地收敛发光的闪烁体2入射了放射线的情形。如图那样两个荧光重合的现象是由于在短时间内向放射线检测器1的闪烁体2入射多条放射线而引起的，被称为累积。

光检测器3逐次监视荧光的发光强度，当发光强度上升达到固定的阈值a时产生触发信号Tr。该触发信号Tr被发送到累积判定部15。

当发送触发信号Tr时，累积判定部15待机到被发送下一个触发信号Tr为止。而且，当从发送了前一个触发信号Tr的时间点起直到发送下一个触发信号Tr的时间点为止的间隔T为规定的时间以下时，累积判定部15判定为发生了累积，并将其判定结果Dp发送到滤波器部12。滤波器部12废弃通过这样发送来的与累积有关的各模拟信号，不使该模拟信号发送到后级的A/D转换电路13。通过这样，滤波器部12废弃从光检测器3输出的与累积有关的信号，不使该信号输入到A/D转换电路13。

另外，滤波器部12向A/D转换电路13、位置计算部14发送表示废弃一部分信号的意思的信号，使各模拟信号中的、在因发送顺序早而被判定为发生累积之前到达A/D转换电路13的与累积有关的模拟信号Xa等数字信号废弃。

这样，累积判定部15基于从由光检测器3输入表示在闪烁体2中产生了荧光的触发信号Tr起直到输入下一个触发信号Tr为止的经过时间间隔来判定是否发生了累积，该累积是在向闪烁体2入射放射线而产生的荧光不断衰减的过程中向闪烁体2再次入射放射线从而使正在衰减的荧光的强度再次增强的现象。

这样，触发信号Tr用于辨别累积，但除此以外，触发信号Tr也能够用作表示A/D转换电路13、位置计算部14的动作开始的信号。

<关于基线的复位>

接着，对作为本发明的特征之一的由A/D转换电路13进行的基线的复位进行说明。如上所述，由于在闪烁体2中产生的荧光完全收敛要耗费时间，因此反映了荧光的强度的模拟信号Xa、Xb、Ya、Yb、ENG也是完全变为0要耗费时间。图8上侧表示以具有时间差的方式被输入到A/D转换电路13的模拟信号Xa和模拟信号Xb。图8是示出被输入到A/D转换电路13的信号的时间过程图，与示出由光检测器3检测出的发光强度的时间过程图的图7不同，因此需要注意。

如图8的上侧所示，当向A/D转换电路13发送模拟信号Xa时，A/D转换电路13的输入在强度降得相当低之后怎么也不为0。也就是说，模拟信号Xa发生了拖尾，该拖尾的影响在A/D转换电路13的输入侧也完全没有收敛。当忽略该拖尾而将下一个模拟信号Xb发送到A/D转换电路13时，如图8的上侧所示，向A/D转换电路13发送了将与模拟信号Xb有关的信号和与模拟信号Xa的拖尾有关的信号进行求和而得到的信号。如果成为这种情况，则如图8的上侧所示，在对模拟信号Xb进行A/D转换时，大了用斜线表示的模拟信号Xa的信号强度地进行估计。

本发明的A/D转换电路13为了解决这种缺陷而进行了基线的复位。基线是指在A/D转换电路13接收模拟信号时被定义为0的信号强度，A/D转换电路13通过设定与输入有关的偏差来调整该基线。该基线与最初未向A/D转换电路13输入任何电流(或者未施加任何电压)的状态一致。A/D转换电路13基于该基线来识别模拟信号Xa的强度。A/D转换电路13以如下方式进行基线的复位：在测量出模拟信号Xa的大小之后，在输入下一个模拟信号Xb之前测量所输入的电流的大小(或者电压的大小)，将该电量的大小等新设定为基线。在该动作之后，当对模拟信号Xb进行A/D转换时，图8的中间所示的用斜线表示的模拟信号Xb的信号强度的积分值被数字化。这样，如果在输入模拟信号Xb之前进行基线的复位，则在进行模拟信号Xb的数字化时不会出现之前的模拟信号Xa的拖尾的影响。

对于后续的模拟信号Ya、Yb、ENG，也同样存在这种情况。因而，本发明的A/D转换电路13如图8的下面的箭头所示那样构成为：即将输入模拟信号Ya、Yb、ENG之前将输入侧的基线复位。能够基于模拟信号Xa来获知各模拟信号Xb、Ya、Yb、ENG在哪个定时被输入到A/D转换电路13。即，通过信号延迟部11的设定来决定在从接收到模拟信号Xa起延迟了固有的延迟时间的定时输入各模拟信号。

按照以上情况，本发明的A/D转换电路13基于信号延迟部11的设定例如使与模拟信号Xb有关的基线的复位在从开始输入模拟信号Xa的时间点起经过0.5μs之前事先完成。优选在从开始输入前一个模拟信号Xa的时间点起尽可能经过时间的时间点进行基线的复位。这是由于随着时间经过，前一个模拟信号Xa的拖尾成分逐渐稳定。对于其它模拟信号Ya、Yb、ENG，A/D转换电路13也使基线的复位在从开始输入模拟信号Xa的时间点起分别经过1μs、1.5μs、2μs之前事先完成。通过这样，A/D转换电路13将正发生拖尾的信号强度设定为基线并执行下一次数字化动作，该拖尾是指信号强度不会随着所输入的模拟信号的衰减加剧而逐渐变化。

另外，通过放射线检测器1所具备的运算装置来实现各部12、14、15。也可以通过CPU来实现这些各部。

如上所述，根据本发明，能够提供一种通过抑制A/D转换电路13的个数来紧凑且电力消耗小地进行正确的动作的放射线检测器1。即，本发明为以下结构：通过使直到从光检测器3输出的模拟信号被输入到A/D转换电路13为止的时间延长，来使从光检测器3同时输出的各模拟信号按顺序输入到A/D转换电路13。通过这样，能够利用一个A/D转换电路13将从光检测器3输出的所有模拟信号进行数字化。根据本发明，放射线检测器不需要具备多个A/D转换电路13，因此能够抑制电力消耗，能够相应地降低噪声。另外，根据本发明所涉及的放射线检测器1，不需要使A/D转换电路13同步的时钟信号，因此也不会产生由时钟信号引起的噪声。

另外，如上所述，能够提供如下一种放射线检测器：只要废弃从光检测器3输出的与累积有关的信号从而不使该信号输入到A/D转换电路13，就能够进行可靠性更高的放射线的检测。

而且，如上所述，在模拟信号被一个一个地输入到A/D转换电路13时，如果将与前一个模拟信号产生的拖尾有关的信号强度设定为输入基线并将下一个模拟信号进行数字化，则不会由于拖尾的影响而过多地估计下一个模拟信号。

本发明并不限于上述结构，能够如下面那样变形并实施。

(1)各实施例中的各设定值是例示的。因而，能够自由地变更各设定值。

(2)上述各实施例所说的闪烁体晶体由LYSO构成，但在本发明中，也可以取而代之地利用LGSO(Lu_2(1-X)G_2XSiO₅)、GSO(Gd₂SiO₅)等其它材料来构成闪烁体晶体。根据本变形例，能够提供一种更加廉价的放射线检测器以及放射线检测器的制造方法。

(3)在上述各实施例中，光检测器可以是光电倍增管，也可以使用光电二极管、雪崩光电二极管、半导体检测器等。

产业上的可利用性

如上所述，本发明应用于医用装置。

附图标记说明

2：闪烁体；3：光检测器；11：信号延迟部(信号延迟单元)；12：滤波器部(滤波器单元)；13：A/D转换电路；14：位置计算部(位置计算单元)；15：累积判定部(累积判定单元)。

Claims

1.一种放射线检测器，其特征在于，具备：

闪烁体，其将放射线转换为荧光；

光检测器，其输出表示所述闪烁体的荧光的产生位置的多个模拟信号和表示荧光的强度的模拟信号；

A/D转换电路，其将各模拟信号转换为数字信号；

信号延迟单元，其通过使直到从所述光检测器输出的模拟信号被输入到所述A/D转换电路为止的时间延长，来使从所述光检测器同时输出的各模拟信号按顺序输入到所述A/D转换电路；以及

位置计算单元，其基于各数字信号来计算在所述闪烁体的何处产生了荧光。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，还具备：

累积判定单元，其基于从由所述光检测器输入表示在所述闪烁体中产生了荧光的触发信号起直到输入下一个触发信号为止的经过时间间隔，来判定是否发生累积，该累积是在向所述闪烁体入射放射线而产生的荧光不断衰减的过程中再次向所述闪烁体入射放射线从而使正在衰减的荧光的强度再次增强的现象；以及

滤波器单元，其废弃从所述光检测器输出的与累积有关的信号，不使该信号输入到所述A/D转换电路。

3.根据权利要求1或2所述的放射线检测器，其特征在于，

所述A/D转换电路将正发生拖尾的信号强度设定为基线并执行下次的数字化动作，该拖尾是信号强度不会随着所输入的模拟信号的衰减加剧而逐渐变化的现象。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

所述信号延迟单元针对由检测到荧光的所述光检测器同时输出的各模拟信号中的最初被输入到所述A/D转换电路的模拟信号，不进行动作。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

所述信号延迟单元通过使各模拟信号各延迟规定的时间，来错开各模拟信号输入到所述A/D转换电路的定时。