CN105931592B - 检测及校正装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种检测及校正装置，其用以检测多条发光二极管串，该些发光二极管串的一端用以接收输入电压。上述检测及校正装置包含上拉单元、检测单元及校正单元。上拉单元用以可切换地耦接于该些发光二极管串。检测单元用以检测该些发光二极管串的反馈电压，根据该些反馈电压以输出控制信号。校正单元用以接收控制信号以控制上拉单元，俾使上拉单元进行切换以耦接于特定发光二极管串，并上拉特定发光二极管串的另一端的电压。

Description

检测及校正装置
技术领域
本发明有关于一种基本电子电路，且特别是有关于一种检测及校正装置。
背景技术
传统的显示装置的发光二极管驱动器会检测发光二极管串的状态，若发光二极管串产生短路或开路等异常情形，驱动器会相应地关闭异常发光二极管串，以避免增加整体功耗及产生额外的热量。然而，若关闭显示装置中的异常发光二极管串，将使得显示装置的画面亮度不均匀，影响使用者的观感。
由此可见，上述现有的方式，显然仍存在不便与缺陷，而有待改进。为了解决上述问题，相关领域莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来仍未发展出适当的解决方案。
发明内容
发明内容旨在提供本发明内容的简化摘要，以使阅读者对本发明内容具备基本的理解。此发明内容并非本发明内容的完整概述，且其用意并非在指出本发明实施例的重要/关键元件或界定本发明的范围。
为解决现有技术的问题，本发明内容的一技术态样关于一种检测及校正装置，此检测及校正装置用以检测多条发光二极管串，该些发光二极管串的一端用以接收输入电压。上述检测及校正装置包含上拉单元、检测单元及校正单元。上拉单元用以可切换地耦接于该些发光二极管串。检测单元用以检测该些发光二极管串的反馈电压，根据该些反馈电压以输出控制信号。校正单元用以接收控制信号以控制上拉单元，俾使上拉单元进行切换以耦接于特定发光二极管串，并上拉特定发光二极管串的另一端的电压。
因此，根据本发明的技术内容，本发明实施例藉由提供一种检测及校正装置，藉以改善异常发光二极管串被关闭后，显示装置的画面亮度不均匀而影响使用者的观感的问题。
在参阅下文实施方式后，本发明所属技术领域的技术人员当可轻易了解本发明的基本精神及其他发明目的，以及本发明所采用的技术手段与实施态样。
附图说明
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，附图说明如下：
图1为依照本发明一实施例绘示一种检测及校正装置与其所控制的发光二极管串的示意图。
图2为依照本发明另一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。
图3为依照本发明再一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。
图4为依照本发明又一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。
图5为依照本发明另一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。
图6为依照本发明一实施例绘示一种检测及校正装置与其所控制的发光二极管串的示意图。
图7为依照本发明另一实施例绘示一种如图6所示的检测及校正装置的部分电路示意图。
根据惯常的作业方式，图中各种特征与元件并未依比例绘制，其绘制方式是为了以最佳的方式呈现与本发明相关的具体特征与元件。此外，在不同附图间，以相同或相似的元件符号来指称相似的元件/部件。
其中，附图标记：
100：检测及校正装置
110：上拉单元
120：检测单元
122：反馈电压检测器
124：开路检测器
126：短路检测器
128：判断器
130：校正单元
131：电流导引器
136：亮度调整器
138：异常控制器
180：集成电路总线接口
112：导引模块
125：多工器
127A～127C：比较器
132：逻辑判断器
133：开路电流导引器
134：解多工器
具体实施方式
为了使本发明内容的叙述更加详尽与完备，下文针对了本发明的实施态样与具体实施例提出了说明性的描述；但这并非实施或运用本发明具体实施例的唯一形式。实施方式中涵盖了多个具体实施例的特征以及用以建构与操作这些具体实施例的方法步骤与其顺序。然而，亦可利用其他具体实施例来达成相同或均等的功能与步骤顺序。
除非本说明书另有定义，此处所用的科学与技术词汇的含义与本发明所属技术领域中的技术人员所理解与惯用的意义相同。此外，在不和上下文冲突的情形下，本说明书所用的单数名词涵盖该名词的复数型；而所用的复数名词时亦涵盖该名词的单数型。
另外，关于本文中所使用的“耦接”，可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。
图1为依照本发明一实施例绘示一种检测及校正装置与其所控制的发光二极管串的示意图。请参阅图1，检测及校正装置100用以检测多条发光二极管串L1～Ln，发光二极管串L1～Ln的一端用以接收输入电压，如发光二极管串L1的上端用以接收输入电压。
上述检测及校正装置100包含上拉单元110、检测单元120及校正单元130。于连接关系上，检测单元120耦接于校正单元130，校正单元130耦接于上拉单元110，上拉单元110用以可切换地耦接于发光二极管串L1～Ln。于电性操作上，发光二极管串L1～Ln的一端用以透过升压器而接收输入电压Vinb。检测单元120用以检测发光二极管串L1～Ln的反馈电压Vcs，并根据该些反馈电压Vcs以输出控制信号Scon。校正单元130用以接收控制信号Scon以控制上拉单元110，俾使上拉单元110进行切换以耦接于特定发光二极管串，并上拉特定发光二极管串的另一端的电压。
为利于理解本案的检测及校正装置100的操作方式，请一并参阅图1与图2，图2为依照本发明另一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图，如上拉单元110与发光二极管串L2的连接关系示意图。若发光二极管串L2出现短路或开路等异常情形，则检测单元120会检测出发光二极管串L2的反馈电压Vcs异常，并根据异常的反馈电压Vcs以输出控制信号Scon，随后，校正单元130接收控制信号Scon以控制上拉单元110，使得上拉单元110的导引模块112将发光二极管串L2的电流I2导引至低电压负载RL，而能减少低电压负载RL的输入电流。需说明的是，为便于理解，低电压负载于此处以等效电阻RL加以表示，并非低电压负载为电阻。此外，上拉单元110会提供电压Vin给发光二极管串L2，以上拉发光二极管串L2下端的电压，藉以降低发光二极管串L2两端的跨压，因而避免增加整体功耗及产生额外的热量。
图3为依照本发明再一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。如图所示，检测单元120包含短路检测器126及判断器128，校正单元130包含电流导引器131、亮度调整器136及异常控制器138。于连接关系上，短路检测器126耦接于判断器128，电流导引器131耦接于短路检测器126及判断器128，亮度调整器136耦接于短路检测器126及集成电路总线接口180。异常控制器138耦接于判断器128。
于电性操作上，短路检测器126用以检测并比较该些反馈电压Vcsn与短路参考电压，以输出检测信号Sd。判断器128用以根据检测信号Sd以输出控制信号Scon。此外，校正单元130的电流导引器131用以根据控制信号Scon以输出导引信号Sr(包含图1中的信号Sr1、Sr2)来控制图1、2的上拉单元110，使得上拉单元110将特定发光二极管串的电流导引至低电压负载RL。亮度调整器136用以根据检测信号Sd与集成电路总线接口180传送来的设定值Ds以调整短路与非短路的发光二极管串的电流而控制亮度。异常控制器138用以接收并根据控制信号Scon以输出错误信号Sf，俾使检测及校正装置100持续控制该些发光二极管串L1～Ln。
图4为依照本发明又一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。如图所示，判断器128包含多工器125及多个比较器127A～127C。多工器125耦接于比较器127B、127C。多工器125用以接收检测信号Sd与反馈电压Vcsn，并根据检测信号Sd以输出反馈电压Vcsn的一特定电压Vs。比较器127A～127C用以接收并比较特定电压Vs、输入电压Vin/Reuse间的关系，以输出控制信号Scon(如信号A、B、C)，供后续电路进行比较判断。在一实施例中，多工器125用以接收检测信号Sd与反馈电压Vcsn并据以输出特定电压Vs作为信号D，供异常控制之用。上述信号D会提供给错误控制单元(图中未示)，此错误控制单元收到信号D时，会持续输出错误信号给***端，如此一来，维修人员可透过***端读取得知发光二极管串L1～Ln发生故障。
图5为依照本发明另一实施例绘示一种如图1所示的检测及校正装置的部分电路示意图。如图所示，校正单元130包含逻辑判断器132及解多工器134。逻辑判断器132耦接于解多工器134。逻辑判断器132用以接收并根据控制信号Scon(如信号A、B、C)以输出切换信号Sw1、Sw2。解多工器134用以接收并根据切换信号Sw1、Sw2以切换图1的上拉单元110耦接于特定发光二极管串。
举例而言，请一并参阅图4与图5，若发光二极管串L2出现短路或开路等异常情形，多工器125根据检测信号Sd以输出发光二极管串L1～Ln的反馈电压Vcsn中的特定电压Vs(如Vcs2)。比较器127A用以接收并比较输入电压Vin/Reuse，此外，比较器127B、127C用以接收并比较特定电压Vs(如Vcs2)与输入电压Vin/Reuse，以输出控制信号Scon(如信号A、B、C)。随后，逻辑判断器132用以接收并根据控制信号Scon(如信号A、B、C)以输出切换信号Sw1、Sw2。解多工器134用以接收并根据切换信号Sw1、Sw2以输出调整信号Sr1、Sr2至图1的上拉单元110，而切换图1的上拉单元110以耦接于特定发光二极管串。
图6为依照本发明一实施例绘示一种检测及校正装置与其所控制的发光二极管串的示意图。相较于图1所示的检测及校正装置100，图6所示的检测及校正装置100A更包含开关单元140。举例而言，若发光二极管串L2出现开路异常情形，则检测单元120的开路检测器124会检测出发光二极管串L2的反馈电压Vcs异常，并根据异常的反馈电压Vcs以输出控制信号Scon，随后，校正单元130接收控制信号Scon以控制开关单元140以将发光二极管串L2的电流导引至低电压负载，俾使开路异常的发光二极管串L2有新的电流路径可以流通，而不需关闭发光二极管串L2，不会造成显示装置的画面亮度不均匀。
举例而言，若发光二极管串L2的二极管L27损坏导致开路，原本可透过二极管L27直接朝二极管L28流通的电流路径已不存在，此时可控制开启开关SW23，以绕过二极管L27，将发光二极管串L2的电流直接由二极管L26导引至低电压负载。在另一实施例中，若发光二极管串L2的二极管L21损坏导致开路，原本可透过二极管L21直接朝二极管L22流通的电流路径已不存在，此时可控制开启开关SW21、SW22，由电源VLED朝二极管L23供电，此时，电流由二极管L23朝二极管L24流动并流经开关SW22，以将发光二极管串L2的电流导引至低电压负载。于再一实施例中，开关单元140还包含其它开关SW24、SW25，以于发光二极管串L2的不同的二极管损坏导致开路时，重新导引电流路径，俾使开路异常的发光二极管串L2有新的电流路径可以流通，而不需关闭发光二极管串L2，不会造成显示装置的画面亮度不均匀。然本发明不以图6所示的开关的配置方式为限，其仅用以例示性地说明本发明的实现方式之一。
图7为依照本发明另一实施例绘示一种如图6所示的检测及校正装置的部分电路示意图。请参阅图7，检测单元120包含开路检测器124、短路检测器126及判断器128。校正单元130包含短路电流导引器131、开路电流导引器133、亮度调整器136及异常控制器138。于连接关系上，开路检测器124及短路检测器126皆耦接于判断器128，短路电流导引器131耦接于短路检测器126及判断器128，开路电流导引器133耦接于开路检测器124，亮度调整器136耦接于短路检测器126及集成电路总线接口180。异常控制器138耦接于开路检测器124及判断器128。
于电性操作上，请一并参阅图6与图7，开路检测器124用以检测并比较该些反馈电压Vcsn与开路参考电压，以输出检测信号Sd1。开关单元140用以可切换地耦接于该些发光二极管串L1～Ln。此外，校正单元130的开路电流导引器133接收并根据检测信号Sd1，以输出控制信号Sr1以控制开关单元140以将特定发光二极管串的电流导引至低电压负载。在一实施例中，上述短路参考电压的电压值高于开路参考电压的电压值。需说明的是，图6与图7中，与前述实施例具备相同名称与标号的元件，具有类似的电性操作，为使本案说明书简洁，于此不作赘述。
由上述本发明实施方式可知，应用本发明具有下列优点。本发明实施例藉由提供一种检测及校正装置，藉以改善异常发光二极管串被关闭后，显示装置的画面亮度不均匀而影响使用者的观感的问题。
虽然上文实施方式中公开了本发明的具体实施例，但其并非用以限定本发明，本发明所属技术领域的技术人员，在不悖离本发明的原理与精神的情形下，当可对其进行各种更动与修改，因此本发明的保护范围当以附随权利要求书所界定者为准。

Claims (8)

1.一种检测及校正装置，用以检测多条发光二极管串，其特征在于，该些发光二极管串的一端用以接收一输入电压，包含：
一上拉单元，用以可切换地耦接于该些发光二极管串；
一检测单元，用以检测该些发光二极管串的反馈电压，根据该些反馈电压以输出一控制信号；该检测单元包含：一短路检测器，用以检测并比较该些反馈电压与一短路参考电压，以输出一检测信号；以及一判断器，用以根据该检测信号以输出该控制信号；以及
一校正单元，用以接收该控制信号以控制该上拉单元，俾使该上拉单元进行切换以耦接于一特定发光二极管串，并上拉该特定发光二极管串的另一端的电压；
其中，该判断器包含：一多工器，用以接收该检测信号与该些反馈电压，并根据该检测信号以输出该些反馈电压的一特定电压；以及多个比较器，用以接收并比较该特定电压与一输入电压，以输出该控制信号。
2.如权利要求1所述的检测及校正装置，其特征在于，该上拉单元还用以将该特定发光二极管串的电流导引至一低电压负载。
3.如权利要求1所述的检测及校正装置，其特征在于，该校正单元包含：
一逻辑判断器，用以接收并根据该控制信号以输出一切换信号；以及
一解多工器，用以接收并根据该切换信号以切换该上拉单元，使该上拉单元耦接于该特定发光二极管串。
4.如权利要求3所述的检测及校正装置，其特征在于，该检测单元包含：
一开路检测器，用以检测并比较该些反馈电压与一开路参考电压，以输出该控制信号。
5.如权利要求4所述的检测及校正装置，其特征在于，还包含：
一开关单元，用以可切换地耦接于该些发光二极管串；
其中该校正单元根据该控制信号以控制该开关单元以将该特定发光二极管串的电流导引至一低电压负载。
6.如权利要求5所述的检测及校正装置，其特征在于，该校正单元更包含：
一亮度调整器，用以接收并根据该控制信号以调整该些发光二极管串的亮度。
7.如权利要求6所述的检测及校正装置，其特征在于，该校正单元还包含：
一异常控制器，用以接收并根据该控制信号以输出一错误信号，俾使该检测及校正装置持续控制该些发光二极管串。
8.如权利要求7所述的检测及校正装置，其特征在于，该短路参考电压的电压值高于该开路参考电压的电压值。
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