CN105762246B - 一种垂直结构发光二极管及其制作方法 - Google Patents

一种垂直结构发光二极管及其制作方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105762246B
CN105762246B CN201610259089.2A CN201610259089A CN105762246B CN 105762246 B CN105762246 B CN 105762246B CN 201610259089 A CN201610259089 A CN 201610259089A CN 105762246 B CN105762246 B CN 105762246B
Authority
CN
China
Prior art keywords
layer
cellular
reflection mirror
gan layers
bragg reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610259089.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105762246A (zh
Inventor
蔡立鹤
张永
陈凯轩
李俊贤
刘英策
陈亮
魏振东
吴奇隆
周弘毅
邬新根
黄新茂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiamen Changelight Co Ltd
Original Assignee
Xiamen Changelight Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen Changelight Co Ltd filed Critical Xiamen Changelight Co Ltd
Priority to CN201610259089.2A priority Critical patent/CN105762246B/zh
Publication of CN105762246A publication Critical patent/CN105762246A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105762246B publication Critical patent/CN105762246B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/10Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • H01L33/0066Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
    • H01L33/007Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound comprising nitride compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • H01L33/06Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

一种垂直结构发光二极管及其制作方法,涉及发光二极管生产技术领域。在相邻的元胞之间的沟槽中,于其中一个元胞的N‑GaN层、量子阱层和P‑GaN层的同一侧蒸镀第二布拉格反射镜层;然后在沟槽中的ITO层、第一布拉格反射镜层和第二布拉格反射镜层及制有第二布拉格反射镜层的元胞的N‑GaN层的外表面制作形成金属层,使相邻的两个元胞形成串联;在各个串联的元胞的一个元胞的N‑GaN层上方制作N电极,在另一个无胞的ITO层上方制作P电极。本发明工艺简单、合理,方便制作,可以有效地提高电流的扩展能力,提高散热能力,增强光效,并在元胞侧壁形成DBR结构,可大大增强侧壁的光反射率,增强光效。

Description

一种垂直结构发光二极管及其制作方法
技术领域
本发明涉及发光二极管生产技术领域。
背景技术
现有工业化生产的高压芯片是由多个正装芯片排列组合形成的,目前的芯片大部分是横向结构,这种结构在通较大电流的情况下会存在电流堵塞,散热差的缺点,这也是导致高功率发光二极管光衰而不利于广泛应用的原因。
发明内容
本发明目的是提出一种能提高电流的扩展能力,增强光效,提高散热能力的垂直结构发光二极管。
本发明在衬底的一侧通过金属键合层连接布拉格反射镜层,在布拉格反射镜层的一侧通过刻蚀的沟槽分别设置至少两个元胞,各元胞分别由金属反射层、ITO层、P-GaN层、量子阱层和N-GaN层组成,所述各元胞的金属反射层、ITO层、P-GaN层、量子阱层和N-GaN层依次设置在布拉格反射镜层的同一侧;在所述元胞中的一个元胞的N-GaN层上设置N电极,在所述元胞中的另一个元胞的ITO层上设置P电极;每两个相邻的元胞之间通过中部设置在沟槽内的金属层相互串联,所述金属层的一端连接在该两个相邻的元胞中的一个元胞的ITO层上,所述金属层的另一端连接在该两个相邻的元胞中的另一个元胞的N-GaN层上,其特点是:在沟槽内的金属层与N-GaN层、量子阱层、P-GaN层之间分别设置侧向布拉格反射镜层,所述侧向布拉格反射镜层在沟槽内端与上述布拉格反射镜层相连。
本发明以上垂直结构的高压产品,可以有效地提高电流的扩展能力,提高散热能力,增强光效,并在元胞侧壁形成DBR结构,可大大增强侧壁的光反射率,增强光效。
本发明的另一目的是提出以上产品的制作工艺,包括以下步骤:
1)在一临时衬底的同侧依次外延生长形成N-GaN层、量子阱层和P-GaN层;
2)在P-GaN层表面制作形成ITO层,然后再制作形成金属反射层;
3)图形化地刻蚀掉部分金属反射层和ITO层,使各元胞之间以第一沟槽相互隔离;
4)在金属反射层表面和第一沟槽中蒸镀第一布拉格反射镜层;
5)剥离去除临时衬底和缓冲层,直至N-GaN层完全暴露,再在第一布拉格反射镜层的表面沉积金属键合层,然后将永久衬底键合在金属键合层一侧;
6)刻蚀去除各元胞之间的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层,直至露出各元胞的部分ITO层和第一布拉格反射镜层,使各元胞之间以第二沟槽相互隔离;
7)在相邻的元胞之间的第二沟槽中,于其中一个元胞的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层的同一侧蒸镀第二布拉格反射镜层;然后在第二沟槽中的ITO层、第一布拉格反射镜层和第二布拉格反射镜层及制有第二布拉格反射镜层的元胞的N-GaN层的外表面制作形成金属层,使相邻的两个元胞形成串联;
8)在各个串联的元胞的一个元胞的N-GaN层上方制作N电极,在另一个无胞的ITO层上方制作P电极。
本发明工艺简单、合理,方便制作,形成的产品良率高,稳定性好,与常规正装不同的工艺产品比较,本发明提高了电流的扩展及散热能力。
进一步地,本发明所述第二布拉格反射镜层的厚度为2000Å~3000Å。该厚度可以充分保护侧壁绝缘,亦可将侧壁光反射出去,极大程度避免光损失。
附图说明
图1至图6为本发明的制作过程图。
图7为本发明的一种结构示意图。
具体实施方式
一、制作工艺:
1、在一临时衬底1的同侧依次外延生长形成缓冲层2、N-GaN层3、量子阱层4和P-GaN层5。
2、在P-GaN层5表面采用SPUTTER工艺溅射一层厚度为600 Å~900Å的ITO层6,然后再蒸镀8000 Å~10000 Å的金属反射层7,制成的外延片如图1所示。
3、采用黄光光刻工艺,利用感应偶和等离子(ICP)图形化地刻蚀掉部分金属反射层和ITO层,使各元胞之间以第一沟槽相互隔离,结果如图2所示。
4、在金属反射层7表面和第一沟槽中蒸镀第一布拉格反射镜层(DBR)8,结果如图3所示。在金属反射层7表面蒸镀的DBR厚度大约在30000Å~50000Å。
5、采用激光剥离技术剥离去除临时衬底1和缓冲层2,直至N-GaN层3完全暴露,再在第一布拉格反射镜层8的表面沉积厚度为10000 Å的金属键合层9,然后采用晶圆键合的方式将永久衬底10键合在金属键合层9的一侧,结果如图4所示。可采用的永久衬底如硅等材料。
6、在N-GaN层的表面通过黄光工艺,通过调节刻蚀气体BCl3 和Cl2的比例,刻蚀去除各元胞之间的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层,直至露出各元胞的部分ITO层7和第一布拉格反射镜层8,使各元胞之间以第二沟槽相互隔离,结果如图5所示。
7、在相邻的元胞之间的第二沟槽中,于其中一个元胞的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层的同一侧蒸镀厚度大约为2000Å~3000Å的第二布拉格反射镜层11,结果如图6所示。
然后采用常规方法,在第二沟槽中的ITO层6、第一布拉格反射镜层8和第二布拉格反射镜层11及制有第二布拉格反射镜层11的元胞的N-GaN层3的外表面制作形成金属层12,使相邻的两个元胞形成串联。
8、采用常规方法,在各个串联的元胞的一个元胞的N-GaN层3上方制作N电极13,在另一个元胞的ITO层6上方制作P电极14。结果如图7所示。
二、产品结构特点:
如图7所示,在永久衬底10的一侧通过金属键合层9连接布拉格反射镜层8,在布拉格反射镜层8的一侧通过刻蚀的沟槽分别设置至少两个元胞,各元胞分别由金属反射层7、ITO层6、P-GaN层5、量子阱层4和N-GaN层3组成,各元胞的金属反射层7、ITO层6、P-GaN层5、量子阱层4和N-GaN层3依次设置在布拉格反射镜层8的同一侧。
在一个元胞的N-GaN层3上设置N电极13,在另一个元胞的ITO层6上设置P电极14。
每两个相邻的元胞之间通过中部设置在沟槽内的金属层12相互串联,金属层12的一端连接在该两个相邻的元胞中的一个元胞的ITO层6上,金属层12的另一端连接在该两个相邻的元胞中的另一个元胞的N-GaN层3上。
在沟槽内的金属层12与N-GaN层3、量子阱层4、P-GaN层5之间分别设置侧向布拉格反射镜层11,侧向布拉格反射镜层11在沟槽内端与布拉格反射镜层8相连。

Claims (3)

1.一种垂直结构发光二极管,在衬底的一侧通过金属键合层连接布拉格反射镜层,在布拉格反射镜层的一侧通过刻蚀的沟槽分别设置至少两个元胞,各元胞分别由金属反射层、ITO层、P-GaN层、量子阱层和N-GaN层组成,所述各元胞的金属反射层、ITO层、P-GaN层、量子阱层和N-GaN层依次设置在布拉格反射镜层的同一侧;在所述元胞中的一个元胞的N-GaN层上设置N电极,在所述元胞中的另一个元胞的ITO层上设置P电极;每两个相邻的元胞之间通过中部设置在沟槽内的金属层相互串联,所述金属层的一端连接在该两个相邻的元胞中的一个元胞的ITO层上,所述金属层的另一端连接在该两个相邻的元胞中的另一个元胞的N-GaN层上,其特征在于:在沟槽内的金属层与N-GaN层、量子阱层、P-GaN层之间分别设置侧向布拉格反射镜层,所述侧向布拉格反射镜层在沟槽内端与上述布拉格反射镜层相连。
2.一种如权利要求1所述垂直结构发光二极管的制作方法,包括以下步骤:
1)在一临时衬底的同侧依次外延生长形成缓冲层、N-GaN层、量子阱层和P-GaN层;
2)在P-GaN层表面制作形成ITO层,然后再制作形成金属反射层;
3)图形化地刻蚀掉部分金属反射层和ITO层,使各元胞之间以第一沟槽相互隔离;
4)在金属反射层表面和第一沟槽中蒸镀第一布拉格反射镜层;
5)剥离去除临时衬底和缓冲层,直至N-GaN层完全暴露,再在第一布拉格反射镜层的表面沉积金属键合层,然后将永久衬底键合在金属键合层一侧;
6)刻蚀去除各元胞之间的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层,直至露出各元胞的部分ITO层和第一布拉格反射镜层,使各元胞之间以第二沟槽相互隔离;
7)将相邻元胞之间以金属层形成串联;
8)在串联的元胞组的一个元胞的N-GaN层上方制作N电极,在另一个元胞的ITO层上方制作P电极;
其特征在于:在步骤7)中,先在相邻的元胞之间的第二沟槽中,于其中一个元胞的N-GaN层、量子阱层和P-GaN层的同一侧蒸镀第二布拉格反射镜层;再在第二沟槽中的ITO层、第一布拉格反射镜层和第二布拉格反射镜层及制有第二布拉格反射镜层的元胞的N-GaN层的外表面制作形成金属层。
3.根据权利要求2所述的制作方法,其特征在于所述第二布拉格反射镜层的厚度为2000Å~3000Å。
CN201610259089.2A 2016-04-25 2016-04-25 一种垂直结构发光二极管及其制作方法 Active CN105762246B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610259089.2A CN105762246B (zh) 2016-04-25 2016-04-25 一种垂直结构发光二极管及其制作方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610259089.2A CN105762246B (zh) 2016-04-25 2016-04-25 一种垂直结构发光二极管及其制作方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105762246A CN105762246A (zh) 2016-07-13
CN105762246B true CN105762246B (zh) 2017-11-28

Family

ID=56324836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610259089.2A Active CN105762246B (zh) 2016-04-25 2016-04-25 一种垂直结构发光二极管及其制作方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105762246B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108365061B (zh) * 2018-02-06 2020-01-14 映瑞光电科技(上海)有限公司 一种led芯片及其制造方法
CN110085619B (zh) * 2019-04-30 2021-04-27 厦门乾照光电股份有限公司 一种垂直高压发光二极管芯片及其制作方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1749308A4 (en) * 2004-04-28 2011-12-28 Verticle Inc SEMICONDUCTOR DEVICES WITH VERTICAL STRUCTURE
KR20140073351A (ko) * 2012-12-06 2014-06-16 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
CN104134723A (zh) * 2014-08-08 2014-11-05 映瑞光电科技(上海)有限公司 垂直型led芯片结构及其制备方法
CN104409465B (zh) * 2014-11-20 2017-02-22 厦门乾照光电股份有限公司 一种高发光效率的高压发光二极管制作方法
CN205645854U (zh) * 2016-04-25 2016-10-12 厦门乾照光电股份有限公司 一种垂直结构发光二极管

Also Published As

Publication number Publication date
CN105762246A (zh) 2016-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103069589B (zh) 发光器件、发光结构及其制造方法
US8535958B2 (en) Method for fabricating light emitting diode
CN105552180B (zh) 一种新型高压led的制作方法
TWI354381B (en) Opto-electronic semiconductor component
CN105655462B (zh) 高压直流氮化镓基发光二极管及其制造方法
CN102201426B (zh) 发光二极管及其制作方法
JP2010157679A (ja) 発光ダイオードのチップレベルパッケージ
CN102916028A (zh) 发光二极管阵列及其制造方法
CN103441196B (zh) 发光元件及其制造方法
CN205645854U (zh) 一种垂直结构发光二极管
CN102067345A (zh) 用于制备具有双面钝化的半导体发光器件的方法
CN103620802A (zh) 串联连接分段式发光二极管
WO2009097786A1 (zh) 垂直结构的半导体芯片
CN102569541B (zh) 半导体发光芯片制造方法
CN105762246B (zh) 一种垂直结构发光二极管及其制作方法
CN102130245A (zh) 发光二极管及其制造方法
CN102522400B (zh) 一种防静电损伤的垂直发光器件及其制造方法
CN104993031B (zh) 高压倒装led芯片及其制造方法
CN109891610A (zh) 一种发光二极管元件及其制作方法
CN109791964A (zh) 一种发光二极管芯片及其制作方法
KR101480551B1 (ko) 수직구조 그룹 3족 질화물계 반도체 발광다이오드 소자 및이의 제조 방법
CN101980391A (zh) 发光二极管及其制造方法
CN106784217A (zh) 复合衬底、半导体器件结构及其制备方法
CN103840073B (zh) 倒装发光二极管器件及其制造方法
CN102655195B (zh) 发光二极管及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant