CN105699812A - 中低压电缆绝缘部老化的测试方法 - Google Patents

中低压电缆绝缘部老化的测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样；第二步，将电缆试样置于温度为固定温度的测试室内；第三步，当电缆试样与测试室温度一致时，测量电缆试样的绝缘部电阻值；第四步，计算电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，以判断电缆绝缘部是否老化。本发明具有简化电缆绝缘部老化的流程，提高检测效率的有益效果。

Description

中低压电缆绝缘部老化的测试方法
技术领域
本发明涉及一种电缆的测试方法。更具体地说，本发明涉及一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法。
背景技术
电缆是工业和民用实业发展中必不可少的电力设备，广泛用于电能传输、控制信号传输及通信***中，因此维护和监测电缆成为确保电力***、通信***和控制装备必不可少的工作。
绝缘老化上材料性能发生并可逆转的改变，并导致绝缘性能的降低，影响老化因素一半涉及热、电、环境等方面；而目前国内通常采用离线检测方法、带电监测方法和在线检测方法，但检测方法都过于复杂和低效，所以亟需一套简单且效果好的检测方法。
发明内容
本发明的一个目的是解决至少上述问题，并提供至少后面将说明的优点。
为了实现根据本发明的这些目的和其它优点，提供了一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，所述绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；
所述外屏蔽套由五层屏蔽材料构成，其中第一屏蔽层采用0.05mm的镀锌铜丝钩织网构成，所述第一屏蔽层位于所述屏蔽套底层，第二屏蔽层位于所述第一层屏蔽层外部，所述第二屏蔽层采用0.1mm的含镍质量百分比为80％的镍合金构成，第三屏蔽层位于所述第二屏蔽层外部，所述第三屏蔽层采用0.1mm的导电橡胶构成，第四屏蔽层位于所述第三屏蔽层外，所述第四屏蔽层采用0.05mm的含碳质量百分比为0.01％的碳钢材料构成，第五屏蔽层位于所述第四屏蔽层外，所述第五屏蔽层采用0.2mm的聚酯复丝构成，以提升所述外屏蔽套的电磁屏蔽效果；
所述屏蔽线单元包括两根相互绞合的导线和内屏蔽套，所述内屏蔽套由0.1mm的导电橡胶构成；
所述绝缘部由两层绝缘结构构成，其中第一层绝缘结构位于所述绝缘部底部，所述第一层绝缘结构采用0.1mm的热塑弹性体材料构成，第二层绝缘结构采用0.2mm的交联聚乙烯材料构成，且所述第二层绝缘结构位于所述第一层绝缘结构的上部，以提升所述绝缘部的绝缘能力；
所述中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：
第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样，以保证测试数据的精确性；
第二步，将所述至少三段长度相同的电缆试样置于温度为固定温度的测试室内，以保证测试数据的稳定性；
第三步，当所述至少三段长度相同的电缆试样与测试室温度一致时，用双臂电桥测量所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部电阻值；
第四步，计算所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，当所述平均电阻值大于或等于所述临界电阻值时，则电缆绝缘部性能良好，当所述平均电阻值小于所述临界电阻值时，则电缆绝缘部老化。
优选的是，所述绝缘线单元包括两根相互绞合的导线。
优选的是，所述导线由至少两股内径为0.1～0.3mm的镀锡铜线绞合而成，以增强导线的强度。
优选的是，所述导线由至少两股内径为0.15mm的镀锡铜线绞合而成，以增强导线的强度。
优选的是，所述接地线由至少两股相互绞合的镀锡铜线构成，以增强接地线的强度。
优选的是，所述测试室温度为20～25℃，以简化测算。
优选的是，所述临界电阻值为200Ω/km，，以判断电缆是否老化。
本发明型至少包括简化电缆绝缘部老化的流程，提高检测效率的有益效果。
本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
具体实施方式
下面对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
实施例1
本发明提供一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，所述绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；
所述绝缘线单元包括两根相互绞合的导线；所述接地线由至少两股相互绞合的镀锡铜线构成；所述导线由至少两股内径为0.1mm的镀锡铜线绞合而成，以增强导线的强度。
所述外屏蔽套由五层屏蔽材料构成，其中第一屏蔽层采用0.05mm的镀锌铜丝钩织网构成，所述第一屏蔽层位于所述屏蔽套底层，第二屏蔽层位于所述第一层屏蔽层外部，所述第二屏蔽层采用0.1mm的含镍质量百分比为80％的镍合金构成，第三屏蔽层位于所述第二屏蔽层外部，所述第三屏蔽层采用0.1mm的导电橡胶构成，第四屏蔽层位于所述第三屏蔽层外，所述第四屏蔽层采用0.05mm的含碳质量百分比为0.01％的碳钢材料构成，第五屏蔽层位于所述第四屏蔽层外，所述第五屏蔽层采用0.2mm的聚酯复丝构成，以提升所述外屏蔽套的电磁屏蔽效果；
所述屏蔽线单元包括两根相互绞合的导线和内屏蔽套，所述内屏蔽套由0.1mm的导电橡胶构成；
所述绝缘部由两层绝缘结构构成，其中第一层绝缘结构位于所述绝缘部底部，所述第一层绝缘结构采用0.1mm的热塑弹性体材料构成，第二层绝缘结构采用0.2mm的交联聚乙烯材料构成，且所述第二层绝缘结构位于所述第一层绝缘结构的上部，以提升所述绝缘部的绝缘能力；
所述中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：
第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样，以保证测试数据的精确性；
第二步，将所述至少三段长度相同的电缆试样置于温度为固定温度的测试室内，测试室温度为20℃，以保证测试数据的稳定性；
第三步，当所述至少三段长度相同的电缆试样与测试室温度一致时，用双臂电桥测量所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部电阻值；
第四步，计算所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，当所述平均电阻值大于或等于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部性能良好，当所述平均电阻值小于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部老化。
实施例2
本发明提供一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，所述绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；
所述绝缘线单元包括两根相互绞合的导线；所述接地线由至少两股相互绞合的镀锡铜线构成；所述导线由至少两股内径为0.15mm的镀锡铜线绞合而成，以增强导线的强度。
所述外屏蔽套由五层屏蔽材料构成，其中第一屏蔽层采用0.05mm的镀锌铜丝钩织网构成，所述第一屏蔽层位于所述屏蔽套底层，第二屏蔽层位于所述第一层屏蔽层外部，所述第二屏蔽层采用0.1mm的含镍质量百分比为80％的镍合金构成，第三屏蔽层位于所述第二屏蔽层外部，所述第三屏蔽层采用0.1mm的导电橡胶构成，第四屏蔽层位于所述第三屏蔽层外，所述第四屏蔽层采用0.05mm的含碳质量百分比为0.01％的碳钢材料构成，第五屏蔽层位于所述第四屏蔽层外，所述第五屏蔽层采用0.2mm的聚酯复丝构成，以提升所述外屏蔽套的电磁屏蔽效果；
所述屏蔽线单元包括两根相互绞合的导线和内屏蔽套，所述内屏蔽套由0.1mm的导电橡胶构成；
所述绝缘部由两层绝缘结构构成，其中第一层绝缘结构位于所述绝缘部底部，所述第一层绝缘结构采用0.1mm的热塑弹性体材料构成，第二层绝缘结构采用0.2mm的交联聚乙烯材料构成，且所述第二层绝缘结构位于所述第一层绝缘结构的上部，以提升所述绝缘部的绝缘能力；
所述中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：
第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样，以保证测试数据的精确性；
第二步，将所述至少三段长度相同的电缆试样置于温度为固定温度的测试室内，测试室温度为23℃，以保证测试数据的稳定性；
第三步，当所述至少三段长度相同的电缆试样与测试室温度一致时，用双臂电桥测量所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部电阻值；
第四步，计算所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，当所述平均电阻值大于或等于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部性能良好，当所述平均电阻值小于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部老化。
实施例3
本发明提供一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，所述绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；
所述绝缘线单元包括两根相互绞合的导线；所述接地线由至少两股相互绞合的镀锡铜线构成；所述导线由至少两股内径为0.3mm的镀锡铜线绞合而成，以增强导线的强度。
所述外屏蔽套由五层屏蔽材料构成，其中第一屏蔽层采用0.05mm的镀锌铜丝钩织网构成，所述第一屏蔽层位于所述屏蔽套底层，第二屏蔽层位于所述第一层屏蔽层外部，所述第二屏蔽层采用0.1mm的含镍质量百分比为80％的镍合金构成，第三屏蔽层位于所述第二屏蔽层外部，所述第三屏蔽层采用0.1mm的导电橡胶构成，第四屏蔽层位于所述第三屏蔽层外，所述第四屏蔽层采用0.05mm的含碳质量百分比为0.01％的碳钢材料构成，第五屏蔽层位于所述第四屏蔽层外，所述第五屏蔽层采用0.2mm的聚酯复丝构成，以提升所述外屏蔽套的电磁屏蔽效果；
所述屏蔽线单元包括两根相互绞合的导线和内屏蔽套，所述内屏蔽套由0.1mm的导电橡胶构成；
所述绝缘部由两层绝缘结构构成，其中第一层绝缘结构位于所述绝缘部底部，所述第一层绝缘结构采用0.1mm的热塑弹性体材料构成，第二层绝缘结构采用0.2mm的交联聚乙烯材料构成，且所述第二层绝缘结构位于所述第一层绝缘结构的上部，以提升所述绝缘部的绝缘能力；
所述中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：
第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样，以保证测试数据的精确性；
第二步，将所述至少三段长度相同的电缆试样置于温度为固定温度的测试室内，测试室温度为25℃，以保证测试数据的稳定性；
第三步，当所述至少三段长度相同的电缆试样与测试室温度一致时，用双臂电桥测量所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部电阻值；
第四步，计算所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，当所述平均电阻值大于或等于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部性能良好，当所述平均电阻值小于所述临界电阻值200Ω/km时，则电缆绝缘部老化。
尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节。

Claims (7)

1.一种中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述电缆包括屏蔽线单元、绝缘线单元、接地线、外屏蔽套和绝缘部，所述绝缘部设于外屏蔽套外部，所述屏蔽线单元、绝缘线单元和接地线在所述外屏蔽套内相互绞合；
所述外屏蔽套由五层屏蔽材料构成，其中第一屏蔽层采用0.05mm的镀锌铜丝钩织网构成，所述第一屏蔽层位于所述屏蔽套底层，第二屏蔽层位于所述第一层屏蔽层外部，所述第二屏蔽层采用0.1mm的含镍质量百分比为80％的镍合金构成，第三屏蔽层位于所述第二屏蔽层外部，所述第三屏蔽层采用0.1mm的导电橡胶构成，第四屏蔽层位于所述第三屏蔽层外，所述第四屏蔽层采用0.05mm的含碳质量百分比为0.01％的碳钢材料构成，第五屏蔽层位于所述第四屏蔽层外，所述第五屏蔽层采用0.2mm的聚酯复丝构成；
所述屏蔽线单元包括两根相互绞合的导线和内屏蔽套，所述内屏蔽套由0.1mm的导电橡胶构成；
所述绝缘部由两层绝缘结构构成，其中第一层绝缘结构位于所述绝缘部底部，所述第一层绝缘结构采用0.1mm的热塑弹性体材料构成，第二层绝缘结构采用0.2mm的交联聚乙烯材料构成，且所述第二层绝缘结构位于所述第一层绝缘结构的上部；
所述中低压电缆绝缘部老化的测试方法包括：
第一步，在被测电缆中选取至少三段长度相同的电缆试样；
第二步，将所述至少三段长度相同的电缆试样置于温度为固定温度的测试室内；
第三步，当所述至少三段长度相同的电缆试样与测试室温度一致时，用双臂电桥测量所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部电阻值；
第四步，计算所述至少三段长度相同的电缆试样的绝缘部平均电阻值，将所述平均电阻值与临界电阻值做出比较，当所述平均电阻值大于或等于所述临界电阻值时，则电缆绝缘部性能良好，当所述平均电阻值小于所述临界电阻值时，则电缆绝缘部老化。
2.如权利要求1所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述绝缘线单元包括两根相互绞合的导线。
3.如权利要求1和权利要求2所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述导线由至少两股内径为0.1～0.3mm的镀锡铜线绞合而成。
4.如权利要求1所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述导线由至少两股内径为0.15mm的镀锡铜线绞合而成。
5.如权利要求1所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述接地线由至少两股相互绞合的镀锡铜线构成。
6.如权利要求1所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述测试室温度为20～25℃。
7.如权利要求1所述的中低压电缆绝缘部老化的测试方法，其特征在于，所述临界电阻值为200Ω/km。
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