CN105675959B - 高压通路电流检测电路 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种高压通路电流检测电路。该高压通路电流检测电路包括：采样电路，在采样状态下与高压通路相连接，在信号处理状态下与高压通路断开，用于对高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压；以及信号处理电路，在信号处理状态下与采样电路相连接，在采样状态下与采样电路断开，用于获取采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值，其中，采样电压值为采样电压的大小。通过本发明，解决了相关技术中使用高压芯片对高压通路上的电流进行检测的成本较高的问题。

Description

高压通路电流检测电路

技术领域

本发明涉及检测领域，具体而言，涉及一种高压通路电流检测电路。

背景技术

高压通路中的电流值不可以直接测量，图1是高压通路的示意图，如图1所示，VDDH为高压电压，I为高压通路中的电流，100为与高压通路连接的电路或电源。相关技术中对高压通路中的电流值进行检测的方法是采用可以工作在高压通路中的高压芯片，如高压放大器等，接入高压通路中，将高压通路中串联的阻值已知的电阻的压降转换为电流，再通过接地的电阻等电子元件将电流转换为采样电压，对采样电压进行测量以确定高压通路中的电流值。采用这种方法对高压通路中的电流值进行测量时，即使高压通路中的电阻压降较小，电阻两端的电势仍为高电势，无法采用低压芯片直接接在电阻的两端对电阻的电压进行采集，需要采用高压芯片采集高压通路中的电流，将电流转换为两端电势较低的采样电压方可采用低压芯片对采样电压进行检测。而这种高压芯片由于工作电压较高，可达二十伏特以上，因此制作过程较复杂，成本较高，且容易损坏。

针对相关技术中使用高压芯片对高压通路上的电流进行检测的成本较高的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种高压通路电流检测电路，以解决相关技术中使用高压芯片对高压通路上的电流进行采样的成本较高的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种高压通路电流检测电路。该高压通路电流检测电路包括：采样电路，在采样状态下与高压通路相连接，在信号处理状态下与高压通路断开，用于对高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压；以及信号处理电路，在信号处理状态下与采样电路相连接，在采样状态下与采样电路断开，用于获取采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值，其中，采样电压值为采样电压的大小。

进一步地，采样电路包括：第一开关电路，用于控制采样电路与高压通路连接或断开，信号处理电路包括：第二开关电路，用于控制信号处理电路与采样电路连接或断开。

进一步地，采样电路包括：阻抗元件，串联在高压通路中；以及采样电压储能元件，与阻抗元件并联，用于储存阻抗元件的压降，得到采样电压。

进一步地，采样电压储能元件为一个电容，或者，多个并联的电容。

进一步地，信号处理电路包括：电压比较电路，在信号处理状态下与采样电路相连接，在采样状态下与采样电路断开，用于接收采样电压并与参考电压相比较，输出比较结果；以及处理器，与电压比较电路相连接，用于根据比较结果确定采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值。

进一步地，该高压通路电流检测电路还包括：参考电压电路，与电压比较电路相连接，用于为电压比较电路提供参考电压。

进一步地，该高压通路电流检测电路还包括：反馈电路，与电压比较电路相连接，与参考电压电路相连接，用于根据电压比较电路输出的比较结果调节参考电压。

进一步地，采样电路包括：固定阻值电阻，串联在高压通路中；第一开关，第一端与固定阻值电阻的第一端相连接；第二开关，第一端与固定阻值电阻的第二端相连接；以及第一电容，第一端与第一开关的第二端相连接，第二端与第二开关的第二端相连接。

进一步地，电压比较电路包括：第三开关，第一端与第一输入电平相连接，第二端与第一电容的第一端相连接；第四开关，第一端与第一电容的第二端相连接；以及比较电路芯片，第一输入端与第四开关的第二端相连接，第二输入端用于接收参考电压，输出端用于输出比较结果。

进一步地，该高压通路电流检测电路还包括：第五开关，第一端与第一参考电平相连接；第六开关，第一端与第二参考电平相连接；第二电容，第一端与第五开关的第二端相连接，第二端与第六开关的第二端相连接；第七开关，第一端与第二输入电平相连接，第二端与第二电容的第一端相连接；以及第八开关，第一端与第二电容的第二端相连接，第二端与比较电路芯片的第二输入端相连接。

本发明通过在采样状态下与高压通路相连接且在信号处理状态下与高压通路断开的采样电路对高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压，以及在信号处理状态下与采样电路相连接且在采样状态下与采样电路断开的信号处理电路获取采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值，解决了相关技术中使用高压芯片对高压通路上的电流进行检测的成本较高的问题，进而达到了降低对高压通路上的电流进行检测的成本的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是高压通路的示意图；

图2是根据本发明第一实施例的高压通路电流检测电路的示意图；

图3是根据本发明第一实施例的高压通路电流检测电路中的采样电路的示意图；

图4是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路中的采样电路的示意图；

图5a是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图；

图5b是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图；

图6a是根据本发明第三实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图；

图6b是根据本发明第三实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图；

图7a是根据本发明第四实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图；

图7b是根据本发明第四实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图；

图8a是根据本发明第五实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图；以及

图8b是根据本发明第五实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，可包括没有清楚地列出的或对于这些产品或设备固有的其它单元。

本发明的实施例提供了一种高压通路电流检测电路。

图2是根据本发明第一实施例的高压通路电流检测电路的示意图。如图2所示，该高压通路电流检测电路包括采样电路10和信号处理电路20。

采样电路在采样状态下与高压通路相连接，在信号处理状态下与高压通路断开，采样电路可以在采样状态下对高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压，以供信号处理电路对该采样电压进行处理。信号处理电路在信号处理状态下与采样电路相连接，在采样状态下与采样电路断开，可以在信号处理状态下获取采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值，其中，采样电压值为采样电压的大小。采样电路通过在信号处理状态下与高压通路断开，使得信号处理电路在信号处理状态下与采样电路相连接时不与高压通路相连接，达到了可以采用低压芯片对采样电压进行信号处理的效果，进而降低了对高压通路上的电流进行检测的成本。上述采样状态下是高压通路电流检测电路对高压通路中的电流值进行采样的状态下，信号处理状态下是高压通路电流检测电路对采样电压进行信号处理以确定采样电压的状态下。高压通路电流检测电路在采样状态下将电流转换为采样电压，在信号处理状态下对采样电压进行信号处理，得到高压通路的电流值。

采样电路可以包括第一开关电路，第一开关电路用于控制采样电路与高压通路的连接或断开，信号处理电路可以包括第二开关电路，第二开关电路用于控制信号处理电路与采样电路连接或断开。第一开关电路在采样状态下控制连接采样电路与高压通路，以使采样电路对高压通路中的电流进行采样，转换为采样电压或其它采样参数，并存储该采样电压供信号处理电路对采样电压进行处理，第二开关电路在采样状态下控制采样电路与信号处理电路断开，以断开信号处理电路与高压通路的连接；第一开关电路在信号处理状态下断开采样电路与高压通路的连接，第二开关电路在信号处理状态下连接采样电路与信号处理电路，信号处理电路在信号处理状态下仍与高压通路保持断开，并可以与采样电路相连接，对采样电路存储的采样电压进行信号处理获取采样电压值，并计算出高压通路中的电流值。第一开关电路和第二开关电路的连接或断开可以是由中央处理器进行控制，也可以是由电路或芯片进行控制。

优选地，采样电路可以包括阻抗元件和采样电压储能元件。阻抗元件串联在高压通路中，阻抗元件上的电流与高压通路中的电流相同，阻抗元件的阻值已知，如果可以测得阻抗元件上的压降，则可以根据阻抗元件的电压压降与阻抗元件的阻值的比值得到高压通路中的电流值。阻抗元件可以是一个固定阻值的电阻，选取阻值较小的电阻可以降低对高压通路的影响，例如，选取10mΩ的电阻串联在高压通路中，对该电阻两端的电压压降进行采样，此外，阻抗元件还可以是阻值已知的任意形式的分压电子元件，如多个串并联的电阻等。采样电压储能元件与阻抗元件并联，用于储存阻抗元件的压降，得到采样电压。采样电路在信号处理状态下需要与高压通路断开连接，因此，采样电路需要采样电压储能元件对阻抗元件的压降进行存储，以使采样电路在与高压通路断开后，为信号处理电路提供阻抗元件两端的电压压降。采样电压储能元件可以是一个电容，或者多个并联的电容。电容并联在阻抗元件的两端，可以存储与阻抗元件两端的电压压降值相等的电荷，供信号处理电路获取并进行处理。

优选地，采样电路包括串联在高压通路中的定阻值电阻，第一端与固定阻值电阻的第一端相连接的一开关，第一端与固定阻值电阻的第二端相连接的二开关，以及第一端与第一开关的第二端相连接且第二端与第二开关的第二端相连接的一电容。

图3是根据本发明第一实施例的高压通路电流检测电路中的采样电路的示意图。如图3所示，采样电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第一开关sw1，第二开关sw2。VDDH为高压通路的高压电压，I为高压通路中流通的电流，100为与高压通路连接的电路或电源，R为阻值已知的固定电阻，R的第一端与VDDH相连接，R的第二端与100相连接。sw1的第一端与R的第一端相连接，sw2的第一端与R的第二端相连接，sw1的第二端与C1的第一端相连接，sw2的第二端与C1的第二端相连接。sw1和sw2在采样状态下连通，C1在采样状态下充电，sw1和sw2在信号处理状态下断开。

图4是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路中的采样电路的示意图。如图4所示，采样电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第三电容C3，第一开关sw1，第二开关sw2，第十开关sw10。固定阻值电阻R，第一电容C1，第一开关sw1，第二开关sw2的连接关系与本发明第一实施例的高压通路电流检测电路中的采样电路相同，在此不再赘述。sw10的第一端与C1的第一端相连接，sw10的第二端与C3的第一端相连接，C3的第二端与C1的第二端相连接。sw1、sw2和sw10在采样状态下连通，C1、C3在采样状态下充电，sw1、sw2和sw10在信号处理状态下断开。

信号处理电路可以包括电压比较电路和处理器。电压比较电路在信号处理状态下与采样电路相连接，在采样状态下与采样电路断开，用于接收采样电压并与参考电压相比较，输出比较结果，处理器与电压比较电路相连接，用于根据比较结果确定采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值。电压比较电路可以包括放大器、比较器或模数变换器(Analog to Digital Converter，简称ADC)等，将采样电压与参考电压相比较。处理器可以根据电压比较电路比较的结果确定出采样电压值，确定的方法可以是获取多次采样电压，与参考电压进行多次比较，其中，每次比较的参考电压值不同，直至处理器判断出接收到电压比较电路输出的采样电压与参考电压相同的比较结果。处理器在确定出采样电压值之后，可以计算出高压通路中的电流值。

该高压通路电流检测电路还可以包括参考电压电路，参考电压电路与上述信号处理电路中的电压比较电路相连接，用于为电压比较电路提供参考电压。该参考电压电路可以是由电容等储能元件在采样状态下存储好加在储能元件上的参考电压，在信号处理状态下将储能元件中存储的电荷放电，输入至电压比较电路，以使电压比较电路进行比较。该参考电压比较电路与电压比较电路的连接接口可以与采样电路与电压比较电路的连接接口相同或不同，参考电压比较电路与采样电路连接至电压比较电路的同一输入端时，参考电压与采样电压相加，如果参考电压与采样电压的正负极性相同，则输入至电压比较电路的输入端的电压值为参考电压的绝对值与采样电压的绝对值相加，如果参考电压与采样电压的正负极性相反，则输入至电压比较电路的输入端的电压值为参考电压的绝对值与采样电压的绝对值相减。优选地，电压比较电路包括第一端与第一输入电平相连接且第二端与第一电容的第一端相连接的第三开关，第一端与第一电容的第二端相连接的第四开关，以及第一输入端与第四开关的第二端相连接且第二输入端接收参考电压的比较电路芯片输出比较结果。

优选地，该高压通路电流检测电路还可以包括反馈电路，该反馈电路与上述的电压比较电路和参考电压电路相连接，可以根据电压比较电路输出的比较结果调节参考电压。电压比较电路输出参考电压与采样电压的比较结果，反馈电路根据参考电压与采样电压的比较结果调节参考电压值的大小，如果参考电压值大于采样电压值，则将参考电压调小，如果参考电压值小于采样电压值，则调大参考电压，如此反复多次比较直至电压比较电路的输出结果为参考电压值等于采样电压值，其中，可以根据电流值测量结果的精度要求约束判定参考电压值等于采样电压值的误差范围。

优选地，该高压通路电流检测电路还可以包括第一端与第一参考电平相连接的第五开关，第一端与第二参考电平相连接的第六开关，第一端与第五开关的第二端相连接且第二端与第六开关的第二端相连接的第二电容，第一端与第二输入电平相连接且第二端与第二电容的第一端相连接的第七开关，以及第一端与第二电容的第二端相连接且第二端与比较电路芯片的第二输入端相连接的第八开关。上述电路结构可以用于执行参考电压电路的功能，为高压通路电流检测电路提供参考电压。

该实施例提供的高压通路电流检测电路，通过在采样状态下与高压通路相连接且在信号处理状态下与高压通路断开的采样电路对高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压，以及在信号处理状态下与采样电路相连接且在采样状态下与采样电路断开的信号处理电路获取采样电压值并根据采样电压值确定高压通路的电流值，解决了相关技术中使用高压芯片对高压通路上的电流进行检测的成本较高的问题，进而达到了降低对高压通路上的电流进行检测的成本的效果。

图5a是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图，图5b是根据本发明第二实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图。在图5a和图5b中，高压通路电流检测电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第二电容C2，第一开关sw1，第二开关sw2，第三开关sw3，第四开关sw4，第五开关sw5，第六开关sw6，第七开关sw7，第八开关sw8，比较芯片A。VDDH为高压通路的高压电压，VDDL为比较芯片A所处电路中的低压电压，I为高压通路中流通的电流，100为与高压通路连接的电路或电源。vrefa、vrefb分别为第一输入电平和第二输入电平，用于使电容中的电荷输入至比较芯片A。vrefp、vrefn分别为第一参考电平和第二参考电平，用于为C2充电，向C2输入参考电压。

R的第一端与VDDH相连接，R的第二端与100相连接。sw1的第一端与R的第一端相连接，sw2的第一端与R的第二端相连接，sw1的第二端与C1的第一端相连接，sw2的第二端与C1的第二端相连接，sw3的第一端与vrefa相连接，sw3的第二端与C1的第一端相连接，sw4的第一端与C1的第二端相连接，sw4的第二端与A的同相输入端相连接，sw5的第一端与vrefp相连接，sw6的第一端与vrefn相连接，sw5的第二端与C2的第一端相连接，sw6的第二端与C2的第二端相连接，sw7的第一端与vrefb相连接，sw7的第二端与C2的第一端相连接，sw8的第一端与C2的第二端相连接，sw8的第二端与A的反相输入端相连接。

首先，如图5a所示，sw1、sw2、sw5、sw6连通，sw3、sw4、sw7、sw8断开，高压通路电流检测电路处于采样状态，C1充电，获取采样电压，C2充电，获取参考电压。其次，如图5b所示，sw1、sw2、sw5、sw6断开，sw3、sw4、sw7、sw8连通，高压通路电流检测电路处于信号处理状态，A的同相输入端接收的输入电压值为vrefa与采样电压值的总和，A的反相输入端接收的输入电压值为vrefb与参考电压值的总和，A根据两个输入端的比较输出比较结果。高压通路电流检测电路还可以包括反馈电路，根据A的输出结果调节vrefp、vrefn，使得C2在处于下一个采样状态时接收经过反馈调节后的参考电压。

图6a是根据本发明第三实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图，图6b是根据本发明第三实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图。在图6a和图6b中，高压通路电流检测电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第二电容C2，第一开关sw1，第二开关sw2，第三开关sw3，第四开关sw4，第五开关sw5，第六开关sw6，第七开关sw7，第八开关sw8，第九开关sw9，比较芯片A。VDDH为高压通路的高压电压，VDDL为比较芯片A所处电路中的低压电压，I为高压通路中流通的电流，100为与高压通路连接的电路或电源。vrefa、vrefb、vrefc分别为第一输入电平、第二输入电平和第三输入电平，用于使电容中的电荷输入至比较芯片A。vrefp、vrefn分别为第一参考电平和第二参考电平，用于为C2充电，向C2输入参考电压。

R的第一端与VDDH相连接，R的第二端与100相连接。sw1的第一端与R的第一端相连接，sw2的第一端与R的第二端相连接，sw1的第二端与C1的第一端相连接，sw2的第二端与C1的第二端相连接，sw3的第一端与vrefa相连接，sw3的第二端与C1的第一端相连接，sw4的第一端与C1的第二端相连接，sw4的第二端与A的同相输入端相连接，sw5的第一端与vrefp相连接，sw6的第一端与vrefn相连接，sw5的第二端与C2的第一端相连接，sw6的第二端与C2的第二端相连接，sw7的第一端与vrefb相连接，sw7的第二端与C2的第一端相连接，sw8的第一端与C2的第二端相连接，sw8的第二端与sw4的第一端相连接，sw9的第一端与vrefc相连接，sw9与A的反相输入端相连接。

首先，如图6a所示，sw1、sw2、sw5、sw6连通，sw3、sw4、sw7、sw8、sw9断开，高压通路电流检测电路处于采样状态，C1充电，获取采样电压，C2充电，获取参考电压。其次，如图6b所示，sw1、sw2、sw5、sw6断开，sw3、sw4、sw7、sw8、sw9连通，高压通路电流检测电路处于信号处理状态，A的同相输入端接收的输入电压值为vrefa、采样电压值、vrefb、参考电压值的总和，A的反相输入端接收第三输入电平vrefc，A根据两个输入端的比较输出比较结果。高压通路电流检测电路还可以包括反馈电路，根据A的输出结果调节vrefp、vrefn，使得C2在处于下一个采样状态时接收经过反馈调节后的参考电压。

图7a是根据本发明第四实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图，图7b是根据本发明第四实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图。在图7a和图7b中，高压通路电流检测电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第二电容C2，第三电容C3，第一开关sw1，第二开关sw2，第三开关sw3，第四开关sw4，第五开关sw5，第六开关sw6，第七开关sw7，第八开关sw8，第十开关sw10，第十一开关sw11，比较芯片A。该实施例包括本发明第二实施例的高压通路电流检测电路，在本发明第二实施例的高压通路电流检测电路的基础上，增加了第三电容C3，第十开关sw10和第十一开关sw11。sw10的第一端与C1的第一端相连接，sw10的第二端与C3的第一端相连接，C3的第二端与C2的第二端相连接，sw11的第一端与C3的第一端相连接，sw11的第二端与C3的第二端相连接。

高压通路电流检测电路的采样状态如图7a所示，sw1、sw2、sw5、sw6、sw10连通，sw3、sw4、sw7、sw8、sw11断开，C1与C3充电，均获取采样电压，C2充电，获取参考电压。高压通路电流检测电路的信号处理状态如图7b所示，sw1、sw2、sw5、sw6、sw10断开，sw3、sw4、sw7、sw8、sw11连通，A的同相输入端接收的输入电压值为vrefa与C1和C3上的采样电压值的总和，A的反相输入端接收的输入电压值为vrefb与C2上的参考电压值的总和，A根据两个输入端的比较输出比较结果。高压通路电流检测电路还可以包括反馈电路，根据A的输出结果调节vrefp、vrefn，使得C2在处于下一个采样状态时接收经过反馈调节后的参考电压。

图8a是根据本发明第五实施例的高压通路电流检测电路在采样状态下的示意图，图8b是根据本发明第五实施例的高压通路电流检测电路在信号处理状态下的示意图。在图8a和图8b中，高压通路电流检测电路包括：固定阻值电阻R，第一电容C1，第二电容C2，第三电容C3，第一开关sw1，第二开关sw2，第三开关sw3，第四开关sw4，第五开关sw5，第六开关sw6，第七开关sw7，第八开关sw8，第九开关sw9，第十开关sw10，第十一开关sw11，比较芯片A。该实施例包括本发明第三实施例的高压通路电流检测电路，在本发明第三实施例的高压通路电流检测电路的基础上，增加了第三电容C3，第十开关sw10和第十一开关sw11。sw10的第一端与C1的第一端相连接，sw10的第二端与C3的第一端相连接，C3的第二端与C2的第二端相连接，sw11的第一端与C3的第一端相连接，sw11的第二端与C3的第二端相连接。

高压通路电流检测电路的采样状态如图8a所示，sw1、sw2、sw5、sw6、sw10连通，sw3、sw4、sw7、sw8、sw9、sw11断开，C1与C3充电，均获取采样电压，C2充电，获取参考电压。高压通路电流检测电路的信号处理状态如图8b所示，sw1、sw2、sw5、sw6、sw10断开，sw3、sw4、sw7、sw8、sw9、sw11连通，A的同相输入端接收的输入电压值为vrefa、C1上的采样电压值、C3上的采样电压值、vrefb、C2上的参考电压值的总和，A的反相输入端接收第三输入电平vrefc，A根据两个输入端的比较输出比较结果。高压通路电流检测电路还可以包括反馈电路，根据A的输出结果调节vrefp、vrefn，使得C2在处于下一个采样状态时接收经过反馈调节后的参考电压。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种高压通路电流检测电路，其特征在于，包括：

采样电路，在采样状态下与高压通路相连接，在信号处理状态下与所述高压通路断开，用于对所述高压通路中的电流进行采样，得到并存储采样电压；以及

信号处理电路，在所述信号处理状态下与所述采样电路相连接，在所述采样状态下与所述采样电路断开，用于获取采样电压值并根据所述采样电压值确定所述高压通路的电流值，其中，所述采样电压值为所述采样电压的大小。

2.根据权利要求1所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，

所述采样电路包括：第一开关电路，用于控制所述采样电路与所述高压通路连接或断开，

所述信号处理电路包括：第二开关电路，用于控制所述信号处理电路与所述采样电路连接或断开。

3.根据权利要求1所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述采样电路包括：

阻抗元件，串联在所述高压通路中；以及

采样电压储能元件，与所述阻抗元件并联，用于储存所述阻抗元件的压降，得到所述采样电压。

4.根据权利要求3所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述采样电压储能元件为一个电容，或者，多个并联的电容。

5.根据权利要求1所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述信号处理电路包括：

电压比较电路，在所述信号处理状态下与所述采样电路相连接，在所述采样状态下与所述采样电路断开，用于接收所述采样电压并与参考电压相比较，输出比较结果；以及

处理器，与所述电压比较电路相连接，用于根据所述比较结果确定所述采样电压值并根据所述采样电压值确定所述高压通路的电流值。

6.根据权利要求5所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述高压通路电流检测电路还包括：

参考电压电路，与所述电压比较电路相连接，用于为所述电压比较电路提供所述参考电压。

7.根据权利要求6所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述高压通路电流检测电路还包括：

反馈电路，与所述电压比较电路相连接，与所述参考电压电路相连接，用于根据所述电压比较电路输出的比较结果调节所述参考电压。

8.根据权利要求5所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述采样电路包括：

固定阻值电阻，串联在所述高压通路中；

第一开关，第一端与所述固定阻值电阻的第一端相连接；

第二开关，第一端与所述固定阻值电阻的第二端相连接；以及

第一电容，第一端与所述第一开关的第二端相连接，第二端与所述第二开关的第二端相连接。

9.根据权利要求8所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述电压比较电路包括：

第三开关，第一端与第一输入电平相连接，第二端与所述第一电容的第一端相连接；

第四开关，第一端与所述第一电容的第二端相连接；以及

比较电路芯片，第一输入端与所述第四开关的第二端相连接，第二输入端用于接收所述参考电压，输出端用于输出所述比较结果。

10.根据权利要求9所述的高压通路电流检测电路，其特征在于，所述高压通路电流检测电路还包括：

第五开关，第一端与第一参考电平相连接；

第六开关，第一端与第二参考电平相连接；

第二电容，第一端与所述第五开关的第二端相连接，第二端与所述第六开关的第二端相连接；

第七开关，第一端与第二输入电平相连接，第二端与所述第二电容的第一端相连接；以及

第八开关，第一端与所述第二电容的第二端相连接，第二端与所述比较电路芯片的第二输入端相连接。