CN105589003B - 自动化检测设备 - Google Patents
自动化检测设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105589003B CN105589003B CN201510383626.XA CN201510383626A CN105589003B CN 105589003 B CN105589003 B CN 105589003B CN 201510383626 A CN201510383626 A CN 201510383626A CN 105589003 B CN105589003 B CN 105589003B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- detection
- buffer
- probe
- support frame
- vertical support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 61
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 37
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 17
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本发明提供一种自动化检测设备，包括检测载盘、基座、检测支架、致动器、电性测头以及缓冲单元，其中检测载盘的周缘设置多个凹槽提供承载待测电子元件，在检测载盘一距离处设有基座，此基座设有一平台，及其沿伸设置一垂直支架，检测支架与致动器皆设于此垂直支架上的一处，电性测头系设于该检侧支架的另一侧，以及缓冲单元系设于该电性测头与该检侧支架的另一侧的间。本发明的自动化检测设备，相较于习知技术，其有效解决了先前仅能以人工方式进行的检测步骤，更进一步将绕线电感的检测达成自动化。
Description
技术领域
本发明涉及电子元件的测试装置，特别涉及一种自动化检测设备。
背景技术
在电子元件制程中，因各制程步骤间无法避免的原因会产生缺陷，因此为维持产品质量的稳定，必须针对生产的电子元件进行缺陷检测，以根据检测结果分析造成这些缺陷的原因并进一步掌握，以达到提升电子元件制程良率以及可靠度的目的。
其中对于绕线电感的检测，现有技术仅能以人工方式进行，此外，绕线电感的检测还必须将探针精准接触到绕线点感量测表面上的接点，这样，不但降低了人工检测的速度和人力工时的限制，且无法精准掌握测试时的接触点，因此如何解决检测精准度及缩短检测时间，进一步提高绕线电感的生产效率及控制生产质量，为各方所面临与重视的课题。
由此可见，上述现有电子元件的制造方法的技术仍有诸多缺点，并不是一种较好的设计，亟需加以改进。
发明内容
本发明提供一种自动化检测设备，包括检测载盘、基座、检测支架、致动器、电性测头以及缓冲单元，其中检测载盘的周缘设有多个凹槽，其中，各该凹槽用于承载一电子元件，在检测载盘一距离处设有基座，此基座设有一平台，该平台可于该基座上滑动，其中该平台设有垂直支架，检测支架的一侧与致动器都设置在该垂直支架的一处，其中致动器提供驱动力使检测支架在该垂直支架上沿垂直方向滑动，电性测头，该电性测头设在该检侧支架的另一侧，用于对该电子元件进行电性测试以及一缓冲单元，该缓冲单元设在该电性测头与该检侧支架的另一侧的间。
其中，还设有致动轴，该致动器透过该致动轴与该检测支架连接，该致动器为通过磁力吸附设在该检侧支架上的致动磁块，从而进一步带动该检测支架在该垂直支架上沿垂直方向滑动。
其中，该垂直支架设有垂直滑轨，该检测支架通过该垂直滑轨在该垂直支架上沿垂直方向滑动。
其中，该垂直支架设有致动座，该致动器通过该致动座设在该垂直支架上。
其中，该基座设有水平滑轨，该平台通过该水平滑轨在该基座上沿水平方向滑动。
其中，该缓冲单元设有多个缓冲轴，各该缓冲轴的一部分套设有缓冲滑块，各该缓冲轴的另一部分套设缓冲弹簧，而该缓冲单元靠近该缓冲滑块的一端与该电性测头连接，该缓冲单元靠近该缓冲弹簧的另一端与该检侧支架的另一侧连接，各该缓冲轴穿过该检侧支架并与对应多个调整螺丝连接，将该检侧支架的另一侧夹设于各该缓冲弹簧与对各该调整螺丝之间。
其中，该电性测头设有固定座及多个探针单元，该固定座与各该探针单元连接，其中该探针单元包含探针锁件及探针头，该探针锁件的一端与该固定座连接，该探针锁件的另一端与该探针头连接。
其中该探针头的一端与该探针锁件的另一端连接并沿伸设有凹曲面及凸曲面，而该探针头的该凹曲面与另一探针头的该凹曲面相邻设置。
上列详细说明仅为针对本发明的可行实施例的具体说明，该实施例并不用于限制本发明的专利范围，凡未脱离本发明技术精神所为的等效实施或变更，均应包含于本案的专利范围中。
综上所述，本案不但在空间型态上确属创新，并能较现有设备增加上述多项功效，应已充分符合新颖性及创造性的法定发明专利要件，且依法提出申请，恳请贵局核准本件发明专利申请案，以励发明，非常感谢。
附图说明
图1为本发明的自动化检测设备的示意图；
图2为本发明的自动化检测设备的示意图；
图3为本发明的电性测头示意图；以及
图4为本发明的缓冲单元示意图。
符号说明：
100 检测载盘
200 基座
300 检测支架
400 致动器
500 电性测头
600 缓冲单元
700 电子元件
110 凹槽
210 平台
211 垂直支架
410 致动座
420 致动轴
430 致动磁块
510 固定座
520 探针单元
521 探针锁件
522 探针头
610 缓冲轴
620 缓冲滑块
630 缓冲弹簧
640 调整螺丝
具体实施方式
为利于审查员了解本发明的技术特征、内容与优点及其所能达到的功效，现将本发明结合附图，并以实施例的表达形式详细说明如下，而其中所使用的附图，其目的仅用于示意及辅助理解说明书，且不一定为本发明实施后的真实比例与精准配置，故不应就所附的图的比例与配置关系解读、局限本发明于实际实施上的权利范围，在此先说明。
请参阅图1和图2，为本发明的自动化检测设备的示意图，包括检测载盘100、基座200、检测支架300、致动器400、电性测头500以及缓冲单元600，其中检测载盘100在周缘处设有多个凹槽110，此凹槽110用于承载待测的电子元件700并将其旋转及定位至默认的测试位置，其中本发明针对测试的电子元件700为绕线电感，基座200设置在检测载盘100的一距离处，其中基座200内部设有水平滑轨，设置在其上的平台210于通过该水平滑轨沿基座200的水平方向滑动，以利于调整与电子元件700的水平距离，平台上210还设有垂直支架211，检测支架300和致动器400都设在垂直支架211上，致动器400借助致动座410定位在垂直支架211上，垂直支架211内侧设有垂直滑轨，检测支架300在测试电子元件700时通过该垂直滑轨沿垂直方向滑动，而检测支架300和致动器400的间透过致动轴420连接，致动器400利用其内部电磁线圈配合电力带动设在检测支架300的致动磁块430，进一部驱动检测支架300在沿垂直支架211滑动，电性测头500设在检侧支架300的另一侧，以对该电子元件700进行检测，以及缓冲单元600设在该电性测头500与检侧支架300之间。
请参阅图3，为本发明的电性测头示意图，电性测头500设有固定座510及与该固定座510连接的两个探针单元520，其中探针单元520包含探针锁件521及探针头522，探针锁件522的一端设于固定座510，另一端与探针头522连接，探针头522具有凹曲面523及凸曲面524，而探针头522的凹曲面523与另一探针头522的凹曲面523相邻设置形成“Y”型结构，当长时间测试电子元件700时，此“Y”型结构可为电性测头500提供更佳的散热效果。
请参阅图4，为本发明的电性测头示意图，其中该缓冲单元600设有多个缓冲轴610，缓冲轴610的一部分套设有缓冲滑块620，另一部分套设缓冲弹簧630，缓冲滑块620与电性测头500连接，缓冲弹簧630与该检侧支架300连接，并将检侧支架300夹设于缓冲弹簧630与对应调整螺丝640之间，其中缓冲弹簧630提供缓冲效果，当电子元件700暂停检测时，进一步利用调整螺丝640微调电性测头500与电子元件700的垂直距离。
本发明的自动化检测设备，相对于现有技术，其优点在于有效解决了先前仅能以人工方式进行的检测步骤，且将绕线电感的检测并入生产线中，借此提升检测的速度，提升检测的精准度及准确率外，还进一步实现了绕线电感的检测自动化。
上列详细说明为针对本发明的一可行实施例的具体说明，该实施例并不用以限制本发明的专利范围，凡未脱离本发明技术精神所为的等效实施或变更，均应包含于本案的专利范围中。
综上所述，本案不仅于技术思想上确属创新，并具备现有传统方法所不及的上述多项功效，已充分符合新颖性及创造性的法定发明专利要件，故依法提出申请，恳请贵局核准本件发明专利申请案，以励发明，非常感谢。
Claims (6)
1.一种自动化检测设备，包括：
检测载盘，该检测载盘的周缘设有多个凹槽，各该凹槽用于承载一电子元件；
基座，该基座设在该检测载盘一距离处，该基座设有一平台，该平台可在该基座上滑动，该平台设有一垂直支架；
检测支架，该检测支架的一侧设在该垂直支架的一处；
致动器，该致动器设于该垂直支架的一处，该致动器驱动该检测支架在该垂直支架上沿垂直方向滑动；
电性测头，该电性测头设于该检侧支架的另一侧，用于对该电子元件进行电性测试；以及
缓冲单元，该缓冲单元设于该电性测头与该检侧支架的另一侧之间；
其中，该电性测头设有一固定座及多个探针单元，该固定座与各该探针单元连接，该探针单元包含探针锁件及探针头，该探针锁件的一端与该固定座连接，该探针头的一端与该探针锁件的另一端连接并沿伸设有凹曲面及凸曲面，而该探针头的该凹曲面与另一探针头的该凹曲面相邻设置。
2.如权利要求1所述的自动化检测设备，其特征在于，还设有致动轴及多个致动磁块，该致动器通过该致动轴与该检测支架连接，各该致动磁块设在该检测支架上，该致动器借由磁力吸附移动各该致动磁块，进一步带动该检测支架在该垂直支架上沿垂直方向滑动。
3.如权利要求2所述的自动化检测设备，其特征在于，该垂直支架设有垂直滑轨，该检测支架通过该垂直滑轨在该垂直支架上沿垂直方向滑动。
4.如权利要求1所述的自动化检测设备，其特征在于，该垂直支架设有致动座，该致动器通过该致动座设在该垂直支架上。
5.如权利要求1所述的自动化检测设备，其特征在于，该基座设有水平滑轨，该平台通过该水平滑轨在该基座上沿水平方向滑动。
6.如权利要求1所述的自动化检测设备，其特征在于，该缓冲单元设有多个缓冲轴，各该缓冲轴的一部分套设有缓冲滑块，各该缓冲轴的另一部分套设缓冲弹簧，而该缓冲单元靠近该缓冲滑块的一端与该电性测头连接，该缓冲单元靠近该缓冲弹簧的另一端与该检侧支架的另一侧连接，各该缓冲轴穿过该检侧支架并与对应多个调整螺丝连接，将该检侧支架的另一侧夹设于各该缓冲弹簧与对各该调整螺丝之间。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW103138952 | 2014-11-10 | ||
| TW103138952A TW201617631A (zh) | 2014-11-10 | 2014-11-10 | 自動化層測設備 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105589003A CN105589003A (zh) | 2016-05-18 |
| CN105589003B true CN105589003B (zh) | 2018-08-24 |
Family
ID=55928739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510383626.XA Active CN105589003B (zh) | 2014-11-10 | 2015-07-03 | 自动化检测设备 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105589003B (zh) |
| TW (1) | TW201617631A (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106019110B (zh) * | 2016-05-17 | 2019-01-22 | 西北工业大学 | 一种发光电子元件的自动检测装置 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1639577A (zh) * | 2002-03-22 | 2005-07-13 | 电子科学工业公司 | 测试探针对准设备 |
| CN201237608Y (zh) * | 2008-07-30 | 2009-05-13 | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 | 一种电子元器件自动测试转盘 |
| CN102129038A (zh) * | 2010-01-20 | 2011-07-20 | 中山天贸电池有限公司 | 电池测漏与测短路一体的自动检测机及工作方法 |
| CN102187232A (zh) * | 2008-10-14 | 2011-09-14 | 惠普开发有限公司 | 使用探针的电路板测试 |
| CN103008251A (zh) * | 2012-12-04 | 2013-04-03 | 中怡(苏州)科技有限公司 | 一种用于产品检测的载盘 |
| CN103286076A (zh) * | 2012-02-10 | 2013-09-11 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于测试电子元件的分选*** |
| CN103308450A (zh) * | 2012-03-09 | 2013-09-18 | 胜利科技股份有限公司 | 静电感应吸附式电子部件检测台 |
| CN203838307U (zh) * | 2014-03-27 | 2014-09-17 | 赵小波 | 小型断路器绝缘性能测试机 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7274202B2 (en) * | 2005-10-07 | 2007-09-25 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Carousel device, system and method for electronic circuit tester |
-
2014
- 2014-11-10 TW TW103138952A patent/TW201617631A/zh unknown
-
2015
- 2015-07-03 CN CN201510383626.XA patent/CN105589003B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1639577A (zh) * | 2002-03-22 | 2005-07-13 | 电子科学工业公司 | 测试探针对准设备 |
| CN201237608Y (zh) * | 2008-07-30 | 2009-05-13 | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 | 一种电子元器件自动测试转盘 |
| CN102187232A (zh) * | 2008-10-14 | 2011-09-14 | 惠普开发有限公司 | 使用探针的电路板测试 |
| CN102129038A (zh) * | 2010-01-20 | 2011-07-20 | 中山天贸电池有限公司 | 电池测漏与测短路一体的自动检测机及工作方法 |
| CN103286076A (zh) * | 2012-02-10 | 2013-09-11 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于测试电子元件的分选*** |
| CN103308450A (zh) * | 2012-03-09 | 2013-09-18 | 胜利科技股份有限公司 | 静电感应吸附式电子部件检测台 |
| CN103008251A (zh) * | 2012-12-04 | 2013-04-03 | 中怡(苏州)科技有限公司 | 一种用于产品检测的载盘 |
| CN203838307U (zh) * | 2014-03-27 | 2014-09-17 | 赵小波 | 小型断路器绝缘性能测试机 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201617631A (zh) | 2016-05-16 |
| CN105589003A (zh) | 2016-05-18 |
| TWI530699B (zh) | 2016-04-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102636667A (zh) | 电阻测试辅助夹具 | |
| CN102262026B (zh) | 密封条植绒摩擦试验仪 | |
| CN203534535U (zh) | 一种玻璃片下垂度自动测量仪 | |
| CN105589003B (zh) | 自动化检测设备 | |
| CN203465489U (zh) | 一种基板的承载机构 | |
| CN203069874U (zh) | 一种显微镜的载物台 | |
| CN208432196U (zh) | 一种电芯厚度检测装置 | |
| CN114289351A (zh) | 一种互感器工频耐压复试工装 | |
| TWI631346B (zh) | 探針機及探針尖端位置定位和獲得探針與清針紙接觸資訊的方法 | |
| CN107806851B (zh) | 一种线盘的检验装置及方法 | |
| CN103592067B (zh) | 一种汽车刮水器刮片导条分布力测试方法及设备 | |
| CN103776414A (zh) | 平面度检测装置 | |
| CN204286373U (zh) | Pcb板翘曲自动测试装置 | |
| CN110646648A (zh) | 一种波形测试探针装置 | |
| CN203929054U (zh) | 汽车散热器检测装置 | |
| CN204758729U (zh) | 基板自动测试设备 | |
| CN109507043B (zh) | 一种触摸屏测试装置及其使用方法 | |
| CN104089559A (zh) | 一种电池测厚装置 | |
| CN210376579U (zh) | 一种可用于检测多种晶圆的中测台 | |
| CN211425288U (zh) | 一种轴承座轴承孔高度检测治具 | |
| CN106152996B (zh) | 一种检验产品平面度的分板工装 | |
| CN206037984U (zh) | 一种检验产品平面度的分板工装 | |
| CN205619902U (zh) | 一种手机平面度检测装置 | |
| CN205966544U (zh) | 离合器盖总成压盘平行度自动检测生产线 | |
| CN210038054U (zh) | 一种主板测试装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Tu Suiyu Inventor before: Tu Suiyu |
|
| COR | Change of bibliographic data | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |