CN105556345A - 用于估计地下储层中的孔隙度分布的***和方法 - Google Patents

Abstract

公开了一种用于从代表地质地层的电阻率图像测井估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的***和方法。基于第一电阻率值的代表岩石基质的归一化因子和基于第二电阻率值的图像点因子被计算和比较以识别与次生孔隙度对应的电阻率图像测井中的点。根据需要，基于不同的第一电阻率值和不同的第二电阻率值，归一化因子和图像点因子被重新计算以识别与次生孔隙度对应的电阻率图像测井中的附加点，直到满足终止准则。该方法可以进一步包括孔隙度校准操作和一个或多个伪影校正。

Description

用于估计地下储层中的孔隙度分布的***和方法

技术领域

本发明一般涉及用于处理测井曲线的方法和***以及，特别地，用于估计地下储层中包括次生孔隙度的孔隙度分布的方法和***。

背景技术

油气勘探生产通过理解地下储层中的孔隙度分布来辅助。在一些地质地层中，特别是碳酸盐岩地层中，孔隙度分布在从岩心栓尺度到井间距离的一个或多个尺度上可以是显著不均匀的。

通过检查岩心样品或评估测井曲线，可以估计孔隙度。然而，当孔隙空间结构在短于岩心测量的间距或短于测井灵敏度的尺度上变化时，这些方式具有困难。在存在非常大的孔隙(例如，晶洞)时，岩心样品可能不足以大到捕捉单个大的晶洞出现也不足以捕捉表征井尺度上的流体流动所需的晶洞的代表分布。这些问题在许多碳酸盐岩油气田中是常见的。

发明内容

本文描述的是用于估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的计算机实现的方法的各种方式的实现。

公开了一种用于从代表地质地层的电阻率图像测井估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的由计算机实现的方法，该方法包括：基于第一电阻率值计算代表岩石基质的归一化因子；基于第二电阻率值计算图像点因子；将图像点因子与归一化因子比较以识别与次生孔隙度对应的电阻率图像测井中的点；基于不同的第一电阻率值和不同的第二电阻率值重新计算归一化因子和图像点因子；将重新计算的归一化因子与重新计算的成像点因子重新比较以识别与次生孔隙度对应的电阻率图像测井中的附加点；以及重复重新计算和重新比较步骤直到满足终止准侧。该方法可以进一步包括孔隙度校准操作和一个或多个伪影校正。

在另一实施例中，公开了一种计算机***，该计算机***包括数据源或存储设备、至少一个计算机处理器以及用户界面，以实现用于估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的方法。

在又一实施例中，公开了一种制品，该制品包括在其上具有计算机可读代码的计算机可读介质，该计算机可读代码被配置为实现用于估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的方法。

以上发明内容部分被提供以引入以简化形式的概念的选择，该简化形式的概念被在具体实施方式部分中在下面进一步描述。该发明内容不是意在识别所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不是意在用于限制所要求保护的主题的范围。此外，所要求保护的主题不限于解决本公开内容的任何部分中所注的任何或全部缺点的实现。

附图说明

关于下面的具体实施方式、权利要求以及附图，本发明的这些和其它特征将被更好地理解，其中：

图1是地质地层中的孔隙度的图；

图2本发明的实施例的流程图；

图3A是电阻率成像工具的图；

图3B是电阻率成像工具的一部分的图；

图4说明了本发明的实施例的中间步骤；

图5说明了来自本发明的实施例的用于孔隙度分布和次生孔隙度估计的结果；以及

图6示意性地说明了用于执行根据本发明的实施例的方法的***。

具体实施方式

本发明可以在被计算机执行的***和计算机方法的一般环境中被描述和实现。这种计算机可执行的指令可以包括程序、例程、对象、部件、数据结构以及计算机软件技术，其可以被用于执行特定的任务和处理抽象数据类型。本发明的软件实现可以被以不同的语言编码，以在各种计算机平台和环境中应用。将被理解的是，本发明的范围和基本原则不限于任何特定的计算机软件技术。

然而，本领域技术人员将理解，使用硬件和软件配置中的任何一个或硬件和软件配置的结合，本发明可以被实践，该硬件和软件配置包括但不限于具有单和/或多处理器计算机、手持设备、平板设备、可编程消费电子设备、微型计算机、大型计算机等的***。本发明也可以在分布式计算环境中实践，其中任务由通过一个或多个数据通信网络链接的服务器或其它处理设备执行。在分布式计算环境中，程序模块可以被定位在包括存储器存储设备的本地和远程计算机存储介质两者中。本发明也可以作为井下传感器或测量设备的部分或作为实验室测量设备的部分被实践。

此外，用于与计算机处理器(诸如CD、预先录制的盘或其它等价设备)一起使用的制品可以包括有形计算机程序存储介质和在其上记录的、用于指导计算机处理器促进本发明的实现和实践的程序部件。这些设备和制品也落在本发明的精神和范围内。

现在参考附图，本发明的实施例将被描述。本发明可以通过多种方式实现，多种方式包括，例如，作为***(包括计算机处理***)、方法(包括由计算机实现的方法)、装置、计算机可读介质、计算机程序产品、图形用户界面、web门户或有形地固定在计算机可读存储器中的数据结构。本发明的几个实施例在下面被讨论。随附的附图只说明了本发明的典型实施例，并且因此不被考虑为限制它的范围和宽度。

本发明涉及估计地质地层中的孔隙度分布，特别是具有次生孔隙(诸如没有限制，晶洞、模孔或溶蚀增强裂缝)的碳酸盐岩地层中的孔隙度分布。石油勘探生产中，在例程测量的所有长度尺度(从岩心栓尺度到井间距离)上，显著非均匀的孔隙度分布在碳酸盐岩储层中是常见的。在建立用于地质储量和可采储量估计的储层模型中，孔隙度的精确代表是期望的。

在具有盐水充填的简单均匀的孔隙***的岩石中，阿尔奇公式(Archies’slaw)把孔隙度与地层电阻率因子F联系起来，如

$F=\frac{1}{{\mathrm{\φ}}^m}$

其中，F是完全水饱和岩石的电阻率R₀与地层水电阻率R_w的比

$F=\frac{R_0}{R_W}$

以及m是岩性指数或胶结因子。本领域技术人员知道，当存在油气时，作为含油气岩石的电阻率R_t与完全水饱和岩石的电阻率R₀的比的电阻率指数I(即，I＝R_t/R₀)与岩石的含水饱和度S_w相关，如：

$I=\frac{1}{{S_w}^n}$

其中，n是饱和度指数。在砂岩中，已经表明m和n非常接近等于2，并且使用两个关系式，众所周知的阿尔奇公式被获得：

$S_w^n=\frac{R_W}{R_t}/{\mathrm{\φ}}^m.$

其中饱和度指数n可以显著不等于2的至少两种情况存在：在亲油储层中(其中甚至在低含油饱和度时油覆盖颗粒表面并且开始阻塞孔喉以及抑制电传导)，以及在具有非均匀孔隙空间的岩石中。胶结因子m与电流路径的弯曲部分相关，在理想储层中取值1，在理想储层中裂缝提供直的传导路径而不与颗粒(粒间)孔隙度相互作用。在另一方面，孤立孔隙具有孔隙度但对岩石传导性没有贡献，有效地提升了针对母岩的F和m。

在碳酸盐岩中，从岩心或测井测量确定系数m和n的方式已经被使用。当孔隙空间结构在短于岩心测量的间距或短于测井灵敏度的长度尺度上变化时，这些方式可能具有困难。在存在非常大的孔隙(例如，晶洞)时，岩心样品可能既不足以大到捕捉单个晶洞出现也不足以捕捉表征井尺度上的流体流动所需的晶洞的代表分布。发生在小的长度尺度上的孔隙‐空间结构中的变化的出现以及晶洞的出现两者，在许多碳酸盐岩油气田中是非常常见的。图1示出了碳酸盐岩地层10中的孔隙度的代表图。岩石基质具有孔隙11。可以存在次生孔隙，诸如晶洞12。在一些位置(诸如致密岩石13)中，孔隙度可以非常低，基本为零。当这些致密岩石区域占据厚度大于孔隙度测井的分辨率的层时，从总孔隙度测井上显示的它们的呈现非常低(例如，低于1％)。该示例不是意在限制，因为致密岩石的区域的确定可能被孔隙度测井中的伪影复杂化。在一些矿物的情况中，可以从岩心识别致密区域，并且这些区域中的最小电阻率图像值可以从图像中推断出且用作临界值(cut‐off)以在井的其它区域中从图像识别这些致密区域。

如图2的方法15中指示的，本发明获得电阻率图像测井(一种或多种)(操作20)，从其孔隙度分布被估计。电阻率图像测井具有显著高于传统裸眼电阻率测井的分辨率，并且将钻孔周围的电极测量阵列的结果显示为深度和方位相关的图像。电阻率图像工具的示例可以在图3A和3B中看到。

探针可以是多道(multi‐trace)或多垫(multi‐pad)测量探针。例如，图3A说明了用于在钻孔表征中使用的探针100，其包括在一端具有多个向外延伸的构件140的大体细长(elongated)的轴120。向外延伸的构件140均可以包括垫160(在图3B中更详细地示出)，以用于询问钻孔的区域。所说明的垫160包括传感器200的多个对，以用于监测电流，该电流由于在定位在工具上其它地方的电极之间应用交流激励电压而流动。

在使用中，探针100一般下降进入要被表征的钻孔。在达到适当的深度时，探针被回收并且当探针上升通过材料时进行测量，其中适当的深度可以是井底或选定的中间深度。在许多情况中，探针100将具有四个垫160，使得可以在具有不同方位的四个区域中表征井孔。在另一示例中，探针100可以具有六个垫160，其表征六个不同的方位周围的区域。垫160可以伴随有也具有多个传感器200的对的折板260。

在垫160和/或折板260上的传感器200测量通过地质地层且与地层传导性成比例的电流。每个传感器200将测量它紧邻区域中的电流，从而测量直接面对它的地质地层的传导性。电阻率与所测量的电流成反比，并且比例的系数对于均质区域内的所有电极是相同的。对于假如电极数目很大的其它情况中的所有电极，比例的系数被很好地近似为相同。测量结果被处理以获得在本领域中被称为原始图像的阵列。为了观看时更好地对比，图像通常被进一步处理。然而，为了保留图像值与电阻率的关系，只需要将原始成像校准为传统浅‐电阻率测量，而无需对比增强程序。

图4在列52中示出了原始图像测井的示例，列52中的原始图像测井来自于由斯伦贝谢(Schlumberger)全井眼微成像器(FMI)电阻率成像工具记录的数据。来自四个垫折板的四个测量在图像中表现为与它们在钻孔中的测量位置的方位对应的位置处的各个列。列50代表钻孔中的深度(具有出于机密而改变的基准)。列54示出了校准成像。列56将校准值示出为黑虚线，并且将得出的平均校准成像值示出为浅实线。校准值还在列57中以灰度示出，并且平均校准成像值在列58中示出。

已经开发了使用阿尔奇公式对图像中的每个点的孔隙度建模的方法，并且该方法可以包括使用来自其它孔隙度信息和传统电阻率测量的约束。一种方法通过检查图像导出孔隙度的分布并且统计地定义关于孔隙度的临界值，估计与次生孔隙的区域对应的孔隙度的分数。然而，这种类型的分析不适合于传导性矿物和页岩。该方法可以过高估计其中岩石基质具有(在钻孔周围)按方位突然出现的显著孔隙度变化的区域中的次生孔隙度。

再次参考图2，获得电阻率图像测井(操作20)可以包括在钻孔中运行探针或接收由工具记录的数据，将其处理以获得原始图像以及校准原始成像。一旦已经获得数据，本发明假设岩石基质遵守阿尔奇公式或类似的关系式

${\mathrm{\φ}}_i={\left(\frac{1}{{S_w}^n}\frac{R_w}{r_i}\right)}^{1/m}\≡\frac{C}{{r_i}^{1/m}},---\left(1\right)$

其中，φ_i和r_i分别是对精细分辨率电阻率测量的第i个电极作贡献的第i个孔室(cell)中的岩石基质孔隙度和电阻率，R_w是基质孔隙中的盐水的电阻率，以及C是针对给定参考深度处钻孔周围的恒定含水饱和度S_w、盐度和温度的恒定值。岩石基质不包括其中孔隙度可以被假设为零的致密岩石的区域(图1，致密岩石13)。

经由基质中的孔隙体积以及被次生孔隙(图1中的晶洞12)影响的区域中的空隙体积解释岩石中空隙的总体积，被设置为针对给定参考深度处钻孔周围的恒定含水饱和度、盐度和温度的恒定值C可以关联到参考孔隙度测井φ：

$\mathrm{\φ}\×V_{total}=V_{cell}\×\underset{i=1}{\overset{N_{ma}}{\Σ}}\frac{C}{{r_i}^{1/m}}+V_{\sec }---\left(2\right)$

其中，φ可以从岩心测量或测井曲线(诸如中子‐密度交会)中确定，V_sec是由精细分辨率测量感测的被次生孔隙占据的体积，V_total是近似形状为圆柱壳的钻孔区域的体积，其被提供给定深度处的参考孔隙度的工具探测，并且包括分别被精细分辨率电阻率测量的一个电极感测的未覆盖孔室，V_cell是被高分辨率的电阻率测量最直接探测的区域(孔室)的体积(即，对于电阻率图像工具，这是分配为图像中的给定像素负责的独有体积，尽管针对该工具的灵敏体积更大)。在实施例中，我们假设比V_sec/V_total被由次生孔隙占据的电阻率图像像素的数目与区域的电阻率图像像素的总数目的比很好地近似。该假设不被用于限制本发明的范围，因为所考虑的比可以被假设为与区域或地层的另一比例系数特征相关。此外，N_ma是被基质占据的孔室的数目，且V_total和V_cell经由孔室的总数目N相关为：

V_total＝N×V_cell(3)

而V_total和V_sec被相关为_：

$\frac{N_{ma}}{N}=1-\frac{N_{\sec }}{N}-\frac{V_{tight}}{V_{total}}\≡1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}}---\left(4\right)$

其中，V_tight是被基本没有孔隙度的致密岩石占据的区域的体积，并且N_sec是被精细分辨率电阻率测量感测为由次生孔隙占据的孔室的数目。我们将感测的体积分数v＝N_sec/N称为次生孔隙度。在分辨率远高于包含在次生孔隙中的大孔的特征大小的测量中，N_sec＝V_sec/V_cell，且N_sec/N＝V_sec/V_total。然而，对于与所感测的大孔的大小相同级别的分辨率的测量，测量可以检测区域中的空隙的存在，区域中对于正在感测所述空隙的像素的总数目的大部分而言，孔隙度显著低于100％。

将方程(2)的左边和右边除以V_total，并且使用方程(3)和(4)，得到：

$\mathrm{\φ}=(1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}})\×\frac{1}{N_{ma}}\×\underset{i=1}{\overset{N_{ma}}{\Σ}}\frac{c}{{r_i}^{1/m}}+{\mathrm{\φ}}_v---\left(5\right)$

这里，我们将φ_v称为次生孔隙度，因为其是被次生孔隙占据的体积与总体积的比。这可以被与体积分数v联系为φ_v＝v×φ_high，其中φ_high是被分配到其中精细分辨率电阻率测量可以感测空隙的区域中的平均孔隙度。在分辨率远高于被次生孔隙占据的区域的大小的测量中，φ_high＝1，但是对于与例如所感测的晶洞的维度之一具有相同级别的分辨率而言，该参数大约为50％。这些数目是常见参数值的示例，但不意在限制；其它平均孔隙度值是可能的并且落入本发明的范围中。

从方程(1)和(5)，岩石基质孔室的孔隙度可以解释为：

${\mathrm{\&phi;}}_i=\frac{\mathrm{\&phi;}-{\mathrm{\&phi;}}_v}{1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}}}\&times;\frac{\frac{1}{{r_i}^{1/m}}}{<\frac{1}{r^{1/m}}{>}_{\mathrm{ma}}},---\left(6\right)$

其中，<r^1/m>_ma是基质孔室上的精细分辨率电阻率的m次根倒数的平均值：

$<\frac{1}{r^{1/m}}{>}_{ma}=\frac{1}{N_{\mathrm{ma}}}\underset{j=1}{\overset{N_{ma}}{\&Sigma;}}\frac{1}{{r_j}^{1/m}}---\left(7\right)$

在如下的情况中，方程(6)是不可应用的：

$\frac{(\mathrm{\&phi;}-{\mathrm{\&phi;}}_v)\&times;\frac{1}{{r_i}^{1/m}}}{(1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}})\&times;<\frac{1}{r^{1/m}}{>}_{ma}}>1,---\left(8\right)$

其可以在致密区域占据高比例时或针对高传导性区域中的像素发生(其中，r_i的值相对于其被认为在基质中的对等体太低)。通常将临界值强加到电阻率或传导性以描绘致密岩石的区域或次生孔隙的区域。不等式(8)中的限制的实际方面是，当致密岩石的区域不存在或已经例如利用强加为针对属于致密岩石区域的点的最小电阻率的临界值r_tight被描述时，它可以被迭代地使用以寻找针对次生孔隙空隙的最大电阻率临界值。从针对其孔隙度分布被计算的区域中的最低电阻率r_i开始，可以被称为图像点或孔室因子的不等式(8)中的分子被找到。再次参考图2，图像点因子被在操作24中计算为：

$(\mathrm{\&phi;}-{\mathrm{\&phi;}}_v)\&times;\frac{1}{{r_i}^{1/m}},$

其中次生孔隙度φ_v＝0对应于在第一迭代中还没有孔室被分配给次生孔隙度。类似地，如图2操作22中示出的，可以被称为归一化因子的不等式(8)中的分母可以被计算，其中所有孔室(除了致密区域)属于基质，即，带入平均值的最小电阻率被设置为区域中的最低电阻率图像值r_min：

$(1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}})\&times;<\frac{1}{r^{1/m}}>$ r≥rmin并且孔室不在致密区域中。

典型地，针对不大于参考孔隙度测井的分辨率的钻孔的区域，方法15被执行。方法15可以被在多个感兴趣区域处执行，其中归一化因子和图像点因子被针对每个感兴趣区域独立地计算。

在方法15的操作26中，孔隙度被基于归一化因子和图像点因子分配。如果图像点因子小于归一化因子，方程(6)可以用于将孔隙度分配到不在致密区域(致密区域中孔隙度被建模为零)中的所有孔室。如果成像因子不小于归一化因子，该电阻率的所有孔室被分配到次生孔隙度，并且针对基质孔室的最小电阻率r_min、次生孔隙度φ_v和体积分数v被相应地更新，从而最小基质电阻率被设置为下一最低电阻率值。如果次生孔隙度不超过合理的限制(例如，25％)，其被称为图2的操作28处的终止准则，该方法进入下一迭代，其中下一最低电阻率值关于其是否满足使其适合于最低基质电阻率的不等式(8)被测试。25％的示例不是意在限制；终止准则可以由用户基于感兴趣的地质区域的任何已知或假设属性提供。一个示例是非常大的晶洞或洞穴的存在，以及井径变化可以用于定义关于终止准则中的次生孔隙度的更高的限制。迭代被执行，直到针对设置为基质孔室中的最小电阻率r_i不等式(8)被满足，或体积分数v超过高的限制。在后者情况中，致密岩石的区域可以被调整为不包括感兴趣区域的更大的部分(例如，在被临界值描述的情况中，对于属于基质的该点考虑的最大电阻率现在被重新分配到致密岩石，并且评估次生孔隙度的迭代方法可以再次从0继续开始)。如果在例如，对于给定的致密岩石体积v<25％时没有电阻率被发现满足不等式(8)，在对致密岩石体积的连续调整后迭代方法可以被实施，直到不再有具有在针对该井的电阻率图像值范围的上半部分中的电阻率的点。在这一情况中，关于这是否是例如主要为致密岩石的区域或高比例页岩的区域，从其它测井信息进行评估。根据该区域中是否存在泥或非常致密的岩石，这一评估接着继续将孔室孔隙度分配为针对两组孔室φ_{high_res.}和φ_{low_res.}(高电阻率和低电阻率组)中的每一组的恒定值，观察到该区域的孔隙度必须匹配参考孔隙度。

当图像伪影校正被执行时，高和低电阻率组孔室可以在致密岩石或泥的区域中调整。在一个实施例中，这一校正依据几何结构考虑完成。它使用被识别为在次生孔隙的区域中的电阻率图像中的点的筛选来识别可能的泥层或噪声。如果泥和致密岩石的电阻率被合理地假设为恒定值并且该恒定值已知，在进入图像孔隙度计算前，该校正将包含调整图像值自身。在其中只有致密岩石和次生孔隙存在的区域中，针对该区域的次生孔隙度被获得为：

φ_v＝φ-φ_{high_res}.×N_high/N

其中N_high是具有高电阻率的孔室的数目，并且从而φ_{high_res}.被设置为针对该井中的致密岩石的平均值。

尽管图2的方法15示出了在归一化因子22的计算后发生的图像点因子24的计算，但这不是意在限制。这些计算可以被以任何次序或同时完成。

也可以期望校准方法15。通过将电阻率图像测井与岩心测量相比较，这可以被完成。例如，在其中存在以岩心和电阻率图像两者显示的类似大小的多个晶洞的区域中，岩心中的晶洞大小可以用于推断成像特征中哪些点属于晶洞，并且哪些可能是传导性图像伪影。在一个实施例中，通过将较低的值分配给针对次生孔隙区域(例如，晶洞、模孔大小等)的局部平均孔隙度φ_high，这一校准步骤校正伪影。

一旦推断出哪些孔室属于次生孔隙，每个基质孔室被根据方程(6)分配孔隙度。方法15的中间和最终结果的示例可以在图5中看到。这里，深度在列60中表示，并且原始成像在列62中看到。校准的图像在列64中。孔隙度图像在列66中；浅阴影指示具有低孔隙度的区域，并且深阴影指示更高的孔隙度。孔隙度也表示在列67和68中。列67示出了孔隙度分布，并且列68示出了针对次生孔隙度(黑虚线)、总孔隙度(长虚线，短虚线)以及局部基质孔隙度(浅灰实线)的平均值。为了获得感兴趣区域中的基质中的总孔隙体积，平均局部基质孔隙度被乘以基质体积。为了获得感兴趣区域中被次生孔隙占据的总体积，次生孔隙度被乘以该区域的总体积。

当方法15终止时，可以验证结果。这可以例如通过从其它测井曲线(诸如伽马射线测井和/或井径测井)识别高传导性区域以及从次生孔隙度中消除这些区域和所有相邻高传导性点被完成。

用于执行图2的方法15的***700被在图6中示意性地说明。该***包括数据源/存储设备70，数据源/存储设备70可以包括数据存储设备或计算机存储器等。数据源/存储设备70可以包含电阻率图像测井数据。来自数据源/存储设备70的数据可以可用于处理器72，诸如可编程的通用计算机。处理器72被配置为执行实现方法15的计算机模块。这些计算机模块可以包括用于计算归一化因子的归一化模块74、用于计算图像点因子的图像点模块75以及用于将归一化因子与图像点因子比较以确定次生孔隙在哪里存在的孔隙度模块76。这些模块可以以迭代方式被实现不止一次。该***可以包括界面部件，诸如用户界面79。用户界面79可以被用于既显示原始数据和经处理的数据又容许用户在选项中选择以用于实现该方法的各方面。通过示例的方式并且不限制，在处理器72上计算的孔隙度分布可以显示在用户界面79上，存储在数据源设备或存储器70上，或既被显示又被存储。

尽管在前述说明书中，本发明已经关于它的某些优选实施例被描述，并且许多细节已经被提出以用于说明的目的，但是对于本领域技术人员将显而易见的是，本发明容许变化并且本文描述的某些其它细节可以显著改变而不脱离本发明的基本原理。此外，应当理解在本文中任一实施例中示出或描述的结构特征或方法步骤还可以在其它实施例中使用。

Claims (15)

1.一种用于从代表地质地层的电阻率图像测井估计地质地层的感兴趣区域中孔隙度分布的由计算机实现的方法，所述方法包括：

a.基于第一电阻率值计算代表岩石基质的归一化因子；

b.基于第二电阻率值计算图像点因子；

c.将图像点因子与归一化因子比较以识别电阻率图像测井中与次生孔隙度对应的点；

d.基于不同的第一电阻率值和不同的第二电阻率值重新计算归一化因子和图像点因子；

e.将重新计算的归一化因子与重新计算的图像点因子重新比较以识别电阻率图像测井中与次生孔隙度对应的附加点；以及

f.重复重新计算和重新比较步骤，直到满足终止准则。

2.根据权利要求1所述的方法，其中图像点因子被如下计算：

$(\mathrm{\&phi;}-{\mathrm{\&phi;}}_v)\&times;\frac{1}{{r_i}^{1/m}}$

其中，φ是参考孔隙度，φ_v是次生孔隙度，m是胶结因子，以及r_i是第二电阻率值。

3.根据权利要求1所述的方法，其中归一化因子被如下计算：

$(1-v-\frac{V_{tight}}{V_{total}})\&times;<\frac{1}{r^{1/m}}{>}_{ma}$

其中，v是代表次生孔隙度的体积分数，V_tight是感兴趣岩层的由具有基本零孔隙度的岩石占据的体积，V_total是感兴趣岩层的体积，以及

$<\frac{1}{r^{1/m}}{>}_{ma}=\frac{1}{N_{ma}}\underset{j=1}{\overset{N_{ma}}{\&Sigma;}}\frac{1}{{r_j}^{1/m}}$

其中，N_ma是感兴趣岩层体积中被岩石基质占据的孔室的数目，m是胶结因子，以及r_j是在孔室j处的电阻率图像值并且不小于第一电阻率值，第一电阻率值被用于定义属于基质的孔室。

4.根据权利要求1所述的方法，其中当针对感兴趣区域的基质部分的图像点因子小于归一化因子时满足终止准则。

5.根据权利要求2所述的方法，其中当次生孔隙度不再小于参考孔隙度时达到终止准则。

6.根据权利要求1所述的方法，还包括孔隙度校准步骤。

7.根据权利要求6所述的方法，其中使用基于晶洞大小、模孔大小或它们的组合的信息，孔隙度校准步骤被执行。

8.根据权利要求7所述的方法，其中晶洞大小或模孔大小由岩心成像分析确定。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括在计算操作之前应用电阻率图像测井的伪影校正。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法在地质地层中的多个感兴趣区域处被重复。

11.根据权利要求10所述的方法，还包括在满足终止准则之后确定孔隙度分布以及将伪影校正应用到孔隙度分布，其中通过使用其它测井识别不与次生孔隙度对应的高传导性区域，伪影校正被计算。

12.根据权利要求11所述的方法，其中其它测井包括伽马射线测井。

13.根据权利要求11所述的方法，其中其它测井包括井径测井。

14.一种用于估计感兴趣的地质地层中的孔隙度分布的***，所述***包括：

a.包含代表感兴趣的地下区域的测井数据的数据源；

b.配置为执行计算机模块的计算机处理器，所述计算机模块包括：

i.用于基于第一电阻率值计算代表岩石基质的归一化因子的归一化模块；

ii.用于基于第二电阻率值计算图像点因子的图像点模块；

iii.用于将图像点因子与归一化因子比较以识别电阻率成像测井中与次生孔隙度对应的点的孔隙度模块；以及

c.用户界面。

15.一种包括在其上具有计算机可读代码的计算机可读介质的制品，所述计算机可读代码被配置为实现用于从代表地质地层的电阻率图像测井估计地质地层的感兴趣区域中的孔隙度分布的方法，所述方法包括：

a.基于第一电阻率值计算代表岩石基质的归一化因子；

b.基于第二电阻率值计算图像点因子；

c.将图像点因子与归一化因子比较以识别电阻率图像测井中与次生孔隙度对应的点；

d.基于不同的第一电阻率值和不同的第二电阻率值重新计算归一化因子和图像点因子；

e.将重新计算的归一化因子与重新计算的图像点因子重新比较以识别电阻率图像测井中与次生孔隙度对应的附加点；以及

f.重复重新计算和重新比较步骤，直到满足终止准则。