CN105553477A - 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法 - Google Patents

一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105553477A
CN105553477A CN201510906007.4A CN201510906007A CN105553477A CN 105553477 A CN105553477 A CN 105553477A CN 201510906007 A CN201510906007 A CN 201510906007A CN 105553477 A CN105553477 A CN 105553477A
Authority
CN
China
Prior art keywords
rhf1201
flex
digital
test
digital converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510906007.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105553477B (zh
Inventor
许伟达
徐导进
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Original Assignee
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST filed Critical Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Priority to CN201510906007.4A priority Critical patent/CN105553477B/zh
Publication of CN105553477A publication Critical patent/CN105553477A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105553477B publication Critical patent/CN105553477B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1071—Measuring or testing
    • H03M1/1095—Measuring or testing for ac performance, i.e. dynamic testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法包括：根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试***，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。

Description

一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术，特别涉及一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法。
背景技术
RHF1201是一种12位50Msps模数转换器，为流水线结构，具有抗辐照，数据误差纠正，优化速度功耗比等优点，在宇航型号中有广泛的应用。MicroFLEX是一种大规模集成电路测试***，具有高速，高精度测试的功能，且有比较完善的窗口编辑界面，适合用于高速器件的测试，在FLEX上开发RHF1201的测试程序并设计相关测试线路，可较好地满足测试要求。
发明内容
本发明解决的问题是现有技术中模数转化器RHF1201测试难度大、精度低的问题；为解决所述问题，本发明提供一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法。
本发明提供的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法包括：根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试***，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。
进一步，测试积分线性误差、差分线性误差时，激励信号输入端与模拟信号源连接；模拟信号源提供幅度为±1V，频率2MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获。
进一步，测试全谐波失真、动态范围、信噪比、信号与噪声扭曲比时，激励信号输入端与模拟信号源连接；模拟信号源提供幅度为±1V，频率15MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获。
进一步，测量满量程误差、双极零点误差时，激励信号输入端与POOLII仪表中超过分辨率的Vsource连接；通过改变Vsource值，达到数字通道满量程和双极零点，计算满量程误差和双极零点误差。
进一步，测量数字输入漏电流测试时，用数字通道上的参数测量单元PMU施加输入要求的高低电平，分别测量输入器件管脚的电流。
进一步，测试参考源电平时，器件上电，用DC30仪表VI源测量器件参考电源产生的电压值。
进一步，测试数字输出高低电平、漏电流时，：用POOLII仪表中超高分辨率的Vsource连接激励信号输入端，通过改变Vsource值，达到数字通道全“1”或全“0”状态，用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电流来测量高低电平的电压值；用数字通道激励OEB管脚，使所有数字输出处于高阻抗状态，用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电压来测量漏电流。
进一步，测试电源供应时，用DC30通道加电压测电流。
本发明与现有技术相比，其优点是：解决了传统高精度模数转换器电路高分辨率，高线性度，动态参数无法测试的缺点，充分考虑了在进行高速测试时，继电器的开关速率、开关性能对测试结果的影响，采用合适的继电器和测试线路，保证了测试的速度和精度，实现了稳定的高速测试功能。
附图说明
图1是本发明的高速50Msps、12位模数转换器RHF1201测试电路示意图。
具体实施方式
下文中，结合附图和实施例对本发明做进一步阐述。
本发明的实施例提供了一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，图1所示为测试电路示意图，参考图1，测试包括以下步骤：
1．积分线性误差（IntegralLinearityError）、差分线性误差（DifferentialLinearityError）：继电器S3闭合，BBACSRC1+、BBACSRC-提供激励信号，激励信号为幅度为±1V，频率为2MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获；用统计直方图计算INL，DNL。
2．全谐波失真（THD），动态范围（SFDR），信噪比（SNR），信号与噪声扭曲比（SINAD）：继电器S3闭合，BBACSRC1+，BBACSRC-送幅度±1V，频率15MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获；用DSP计算THD，SFDR，SNR，SINAD。
3．满量程误差（FullScaleError），双极零点误差（BipolarZeroError）：继电器S3断开、S5闭合，用POOLII仪表中超高分辨率的Vsource作为激励信号，通过改变Vsource值，达到数字通道满量程和双极零点，计算满量程误差和双极零点误差。
4．数字输入漏电流测试：用数字通道上的参数测量单元PMU施加输入要求的高低电平，分别测量输入器件管脚的电流。
5．参考源电平测试：器件上电，用DC30仪表VI源测量器件参考电源产生的电压值。
6．数字输出高低电平、漏电流测试：继电器S3断开、S5闭合，用POOLII仪表中超高分辨率的Vsource作为激励信号，通过改变Vsource值，达到数字通道全“1”或全“0”状态，用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电流来测量高低电平的电压值。用数字通道激励OEB管脚，使所有数字输出处于高阻抗状态，在数字输出管脚用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电压来测量漏电流。
7.电源PowerSupply：用DC30通道加电压测电流。
综上，本发明的实施例中，对于不同参数，采用不同功能、不同性能要求的激励信号进行测试，在线性参数测试时，采用高性能任意波发生器产生符合测试要求1Vpp的2Mhz正弦波，并用50Msps采样率捕获数据，计算动态线性参数，非常接近器件真实运行环境；在测试高性能动态参数时，用高性能24位任意波发生器直接产生15Mhz信号激励到RHF1201；在测试高分辨率要求的每位数字输出高低电平参数时，用超高分辨率电压源激励到RHF1201。考虑到满足高性能测试的要求，输出管脚采用50欧姆阻抗匹配，继电器S3带宽100Mhz以上，每个继电器连接USERPOWER12V和UDBxx，继电器均选用HFS-1A-12LD。
本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。

Claims (8)

1.一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试***，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。
2.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测试积分线性误差INL、差分线性误差DNL时，激励信号输入端与模拟信号源连接；模拟信号源提供幅度为±1V，频率2MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获。
3.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测试全谐波失真THD、动态范围SFDR、信噪比SNR、信号与噪声扭曲比SINAD时，激励信号输入端与模拟信号源连接；模拟信号源提供幅度为±1V，频率15MHz的差分正弦波；数字通道DSSC采用速率50Mhz捕获。
4.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测量满量程误差、双极零点误差时，激励信号输入端与POOLII仪表中超高分辨率的Vsource连接；通过改变Vsource值，达到数字通道满量程和双极零点，计算满量程误差和双极零点误差。
5.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测量数字输入漏电流测试时，用数字通道上的参数测量单元PMU施加输入要求的高低电平，分别测量输入器件管脚的电流。
6.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测试器件内嵌参考源电平时，器件上电，用DC30仪表VI源测量器件参考电源产生的电压值。
7.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测试数字输出高低电平、漏电流时：用POOLII仪表中超高分辨率的Vsource连接到器件激励信号输入端，通过改变Vsource值，达到数字通道全“1”或全“0”状态，用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电流来测量高低电平的电压值；用数字通道激励OEB管脚，使所有数字输出处于高阻抗状态，所有数字输出管脚用数字通道上的参数测量单元PMU施加规定的电压来测量漏电流。
8.依据权利要求1所述的基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法，其特征在于，测试电源供应时，用DC30通道加电压测电流。
CN201510906007.4A 2015-12-09 2015-12-09 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法 Active CN105553477B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510906007.4A CN105553477B (zh) 2015-12-09 2015-12-09 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510906007.4A CN105553477B (zh) 2015-12-09 2015-12-09 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105553477A true CN105553477A (zh) 2016-05-04
CN105553477B CN105553477B (zh) 2020-12-18

Family

ID=55832442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510906007.4A Active CN105553477B (zh) 2015-12-09 2015-12-09 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105553477B (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101088223A (zh) * 2004-12-23 2007-12-12 泰拉丁公司 利用参数测定单元进行转换器测试
US20110246809A1 (en) * 2010-04-02 2011-10-06 Dewhirst Adam H Synchronization of Converters Having Varying Group-Delays in a Measurement System
CN102420610A (zh) * 2010-09-27 2012-04-18 飞思卡尔半导体公司 测试数模及模数转换器的方法
CN102868402A (zh) * 2012-09-18 2013-01-09 上海航天测控通信研究所 一种测试模数转换器主要性能指标的测试方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101088223A (zh) * 2004-12-23 2007-12-12 泰拉丁公司 利用参数测定单元进行转换器测试
US20110246809A1 (en) * 2010-04-02 2011-10-06 Dewhirst Adam H Synchronization of Converters Having Varying Group-Delays in a Measurement System
CN102420610A (zh) * 2010-09-27 2012-04-18 飞思卡尔半导体公司 测试数模及模数转换器的方法
CN102868402A (zh) * 2012-09-18 2013-01-09 上海航天测控通信研究所 一种测试模数转换器主要性能指标的测试方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
STMICROELECTRONICS GROUP OF COMPANIES: "Rad-hard 12-bit 0.5 to 50 Msps A/D converter", 《IC资料网》 *
韩剑坡: "PCU03-ABS芯片A/D模块测试程序开发", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库（信息科技辑）》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN105553477B (zh) 2020-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Dallet et al. Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters
Cataliotti et al. A PC-based wattmeter for accurate measurements in sinusoidal and distorted conditions: Setup and experimental characterization
JPH06273458A (ja) 電力測定装置および方法
Pejić et al. Comparator offset error suppression in stochastic converters used in a watt-hour meter
CN105553477A (zh) 一种基于flex测试模数转换器rhf1201的方法
CN105807128A (zh) 将多周期策略用于数模转换测量交流电压的方法及***
Li et al. Wide bandwidth cell impedance spectroscopy based on digital auto balancing bridge method
CN115656745A (zh) 用于谐波作用下油纸绝缘空腔缺陷分析的方法及装置
Korhonen et al. Combining the standard histogram method and a stimulus identification algorithm for A/D converter INL testing with a low-quality sine wave stimulus
Medawar et al. Static integral nonlinearity modeling and calibration of measured and synthetic pipeline analog-to-digital converters
Crotti et al. Frequency calibration of voltage transformers by digital capacitance bridge
CN105717393A (zh) 一种用于电子元器件的参数测试***以及测试方法
Corrado et al. An overview of different signal sources for histogram based testing of ADCs
TWI284206B (en) Conductive line inductor measurement and modeling method and system
Bergsten et al. An electrical power reference system up to 1 MHz
Karakana et al. Design and prototype development of a digital instrument for measuring single phase power quality parameters
Vora et al. ADC static characterization using nonlinear ramp signal
Simić et al. Development of the signal generator applied to testing of instruments for electrical power quality measurement
CN100425998C (zh) 一种测试单板电容的方法
Kim et al. Optimized signature-based statistical alternate test for mixed-signal performance parameters
Arsov et al. Estimation of uncertainty in measurement of power quality characteristics with a virtual measurement instrument
Medawar et al. ADC characterization by dynamic integral nonlinearity
Grubmüller et al. Fast, high accuracy, freely programmable single cell battery measurement system
Vora et al. A proposal for concurrent estimation of static and dynamic nonlinearity of ADC
Sheng et al. Exploring dynamics of embedded ADC through adapted digital input stimuli

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant