CN105486689A - 光学检测机 - Google Patents

光学检测机 Download PDF

Info

Publication number
CN105486689A
CN105486689A CN201510976138.XA CN201510976138A CN105486689A CN 105486689 A CN105486689 A CN 105486689A CN 201510976138 A CN201510976138 A CN 201510976138A CN 105486689 A CN105486689 A CN 105486689A
Authority
CN
China
Prior art keywords
support
optical detector
polaroid
backboard
support plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510976138.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN105486689B (zh
Inventor
吴自强
许玉佩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Hirose Opto Co Ltd filed Critical Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority to CN201711088362.0A priority Critical patent/CN107655899A/zh
Priority to CN201510976138.XA priority patent/CN105486689B/zh
Publication of CN105486689A publication Critical patent/CN105486689A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105486689B publication Critical patent/CN105486689B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明提供一种光学检测机，用于检测面板，该光学检测机包含背光模组与支撑平台，该背光模组包含：背板，该背板上设置有复数个可升降支撑件；光学膜片，该光学膜片设置于该背板或该支撑平台上，且该光学膜片对应该复数个可升降支撑件设置有复数个第一通孔；以及背光源，该背光源设置于该背板与该光学膜片之间；该支撑平台为透明平台，设置于该背光模组上，且该支撑平台上设置有复数个吸附孔以及对应该复数个可升降支撑件的复数个第二通孔；其中，该复数个可升降支撑件可穿过该复数个第一通孔及该复数个第二通孔以支撑该面板。本发明的光学检测机，提高了点亮效果，同时利于偏光片的更换。

Description

光学检测机
技术领域
本发明涉及一种光学检测机，尤其涉及一种巨观光学检测机。
背景技术
显示面板的制备过程通常包含阵列基板的制备、彩膜基板制备以及阵列基板与彩膜基板对组形成显示面板等制程，而阵列基板、彩膜基板以及显示面板的制备过程中都需要进行基板或者面板的巨观检查，主要检查一些色不均、膜破等巨观缺陷。
而检查此类缺陷通常要借助巨观检查机，请参考图1，图1为现有巨观检查机的示意图，如图所示，巨观检查机10包含背光模组11与支撑平台12，背光模组11与支撑平台12为分离式，当支撑平台12承接显示面板13后旋转至竖直位置，之后背光模组11移动至支撑平台12的后方，然后对显示面板13进行巨观检查。由于背光模组11与支撑平台12是分离式的，导致背光模组11与支撑平台12之间的距离相对较远，点亮效果不好，影响检查效果；另一方面，随着玻璃基板的尺寸越来越大，背光模组需要用到的光学膜片如偏光片及扩散板等尺寸也越来越大，而背光模组的光学膜片整面更换也显得越来越困难，且每次需要同时更换偏光片及扩散板，也造成了扩散板的浪费。
发明内容
因此，本发明的目的之一在于提供一种光学检测机，以解决现有技术中的光学检测机检查效果不好及光学膜片更换困难的技术问题。
本发明提供一种光学检测机，用于检测面板，该光学检测机包含背光模组与支撑平台，该背光模组包含：背板，该背板上设置有复数个可升降支撑件；光学膜片，该光学膜片设置于该背板或该支撑平台上，且该光学膜片对应该复数个可升降支撑件设置有复数个第一通孔；以及背光源，该背光源设置于该背板与该光学膜片之间；该支撑平台为透明平台，设置于该背光模组上，且该支撑平台上设置有复数个吸附孔以及对应该复数个可升降支撑件的复数个第二通孔；其中，该复数个可升降支撑件可穿过该复数个第一通孔及该复数个第二通孔以支撑该面板。
作为进一步可选的技术方案，该支撑平台包含第一支撑平板、第二支撑平板以及第三支撑平板，该第一支撑平板靠近该光学膜片设置，该第三支撑平板用于直接接触该面板，该第二支撑平板设置于该第一支撑平板与该第三支撑平板之间；该第二支撑平板具有吸附腔，该第一支撑平板对应该吸附腔设置有复数个吸附安装孔，该第三支撑平板对应该吸附腔设置该复数个吸附孔。
作为进一步可选的技术方案，该复数个吸附安装孔对应该吸附腔的端部设置。
作为进一步可选的技术方案，该复数个第二通孔依次穿过该第一支撑平板、该第二支撑平板以及该第三支撑平板，且避开该吸附腔。
作为进一步可选的技术方案，该光学膜片包含扩散板及偏光片，该扩散板邻近该背光源设置，该偏光片邻近该支撑平台设置。
作为进一步可选的技术方案，该背板包含第一板体与第二板体，该支撑平台包含相对的第一侧边与第二侧边，该第一板体铰接于该第一侧边，该第二板体铰接于该第二侧边；该第一板体可绕该第一侧边旋转，及/或该第二板体可绕该第二侧边旋转，使得该背板被开启，以更换该偏光片。
作为进一步可选的技术方案，该偏光片固定于该背板的内壁上。
作为进一步可选的技术方案，该背板上设置有滑槽，该光学膜片可滑入或滑出该滑槽，以更换该偏光片。
作为进一步可选的技术方案，该光学检测机还包含挺性透明基板，该挺性透明基板设置于该偏光片与该扩散板之间，且该偏光片粘贴于该挺性透明基板上。
作为进一步可选的技术方案，该偏光片包含复数个区域，该复数个区域可拆分。
与现有技术相比，本发明的光学检测机将背光模组与支撑平台设置于一体式机构，减小了背光模组与支撑平台间的距离，提高了点亮效果，有利于提高检测效果；另一方面，对于大尺寸的面板，本发明的光学检测机的偏光片的更换更加方便。
附图说明
图1为现有巨观检查机的示意图；
图2A为本发明一实施例的光学检测机的示意图；
图2B为图2A的光学检测机的分解示意图；
图3A为本发明一实施例的支撑平台的示意图；
图3B为图3A的支撑平台的分解示意图；
图4A为本发明一实施例的光学检测机更换偏光片的示意图；
图4B为图4A中的偏光片的示意图。
图5为本发明一实施例的升降机构的示意图。
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。
请参考图2A至图2B，图2A为本发明一实施例的光学检测机的示意图；图2B为图2A的光学检测机的分解示意图。本实施例中光学检测机100包含背光模组20与支撑平台40，用于检测面板。背光模组20包含背板22、光学膜片24以及背光源(未绘示)，背光源设置于背板22与光学膜片24之间；背板22上设置有复数个可升降支撑件221，光学膜片24设置于背板22上或支撑平台40上，且光学膜片24对应复数个可升降支撑件221设置有复数个第一通孔241。支撑平台40还包含支撑框架30以及外框架(未绘示)，支撑框架30设置于背光模组20及支撑平台40之间，用于支撑支撑平台40；光学膜片24具体可以设置于支撑平台40的支撑框架30上。背光模组20及支撑平台40可旋转地固定于外框架上，以便面板检查时操作人员能够进行多视角观察。
再请一并参考图3A及图3B，图3A为本发明一实施例的支撑平台的示意图；图3B为图3A的支撑平台的分解示意图。支撑平台40为透明平台，其设置于背光模组20上，且支撑平台40上设置有复数个吸附孔431以及对应该复数个可升降支撑件221的复数个第二通孔441；其中，复数个可升降支撑件221可穿过复数个第一通孔221及复数个第二通孔441以支撑面板。光学检测机100还具有压框50，用于将支撑平台40平坦固定在支撑框架30上。
于一实施例中，支撑平台40包含第一支撑平板41、第二支撑平板42以及第三支撑平板43，第一支撑平板41靠近光学膜片24设置，第三支撑平板43用于直接接触面板，第二支撑平板42设置于第一支撑平板41与第三支撑平板43之间；第二支撑平板42具有吸附腔421，第一支撑平板41对应吸附腔421设置有复数个吸附安装孔411，第三支撑平板43对应吸附腔421设置复数个吸附孔431。
于一实施例中，复数个吸附安装孔411对应吸附腔421的端部设置，避开吸附腔421的中间位置，从而减少连接至吸附安装孔411的真空管路对背光的遮挡，降低对背光的不利影响。
于一实施例中，复数个第二通孔441依次穿过第一支撑平板41、第二支撑平板42以及第三支撑平板43，且避开吸附腔421；当待测面板至于支撑平台40，开始对支撑平台40吸真空，并在第一支撑平板41及吸附腔421之间形成密闭真空腔室，从而实现对待测面板的吸附固定。
再请参考图4A及图4B，图4A为本发明一实施例的光学检测机更换偏光片的示意图；图4B为图4A中的偏光片的示意图。光学膜片24包含扩散板(未绘示)及偏光片242，扩散板邻近背光源设置，偏光片242邻近支撑平台40设置。背板22包含第一板体223与第二板体224，支撑平台40包含相对的第一侧边401与第二侧边402，第一板体223铰接于第一侧边401，第二板体224铰接于第二侧边402；第一板体223可绕第一侧边401旋转，及/或第二板体224可绕第二侧边402旋转，使得背板22被开启，如图4A所示，从而使得设置于背板22与支撑平台40之间的偏光片242得以更换。
于一较佳实施例中，偏光片242可以固定于背板22的内壁225上，以减少第一板体223或第二板体224旋转时，复数个可升降支撑件221与偏光片242之间的干涉。但不以此为限，偏光片242亦可以固定于支撑框架30上或者扩散板(未绘示)上，本领域人员可以根据实际需求做适应性设计。
再请一并参考图5，图5为本发明一实施例的升降机构的示意图。光学检测机100用于不同面板的检测时，可以更换为对应所述面板的偏光片。更换偏光片242时首先利用升降机构222将复数个可升降支撑件221自复数个第一通孔241中退出，之后旋转拉开第一板体223及第二板体224，打开背光模组20的背板22，如图4A所示，即可实现偏光片242的更换。
或者，于另一实施例中，可以在背板22上设置有滑槽，将偏光片242以滑入或滑出的滑动方式更换。通常滑动方式更换用于较小尺寸的面板，而打开背板22更换偏光片的方式可的同时适应于大小尺寸的面板。
于一较佳实施例中，光学检测机100还包含挺性透明基板243，挺性透明基板243设置于偏光片242与扩散板之间，且偏光片242粘贴于挺性透明基板243上，从而提高了偏光片242的挺性，如此更换偏光片242时的操作手法更加简便，只需将挺性透明基板243换下即可，不需要一起更换扩散板，同时降低了成本。
于另一实施例中，偏光片242包含复数个区域，图4B中以4个区域A、B、C、D示意，且该四个区域A、B、C、D可拆分，从而当面板的尺寸较大时，现有的较小尺寸的偏光片仍能够适用，且更换也更为方便。
综上可见，本发明的光学检测机将背光模组与支撑平台设置于一体式机构，减小了背光模组与支撑平台间的距离，提高了点亮效果，有利于提高检测效果；另一方面，对于大尺寸的面板，本发明的光学检测机的偏光片的更换更加方便。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。

Claims (10)

1.一种光学检测机，用于检测面板，该光学检测机包含背光模组与支撑平台，其特征在于，
该背光模组包含：
背板，该背板上设置有复数个可升降支撑件；
光学膜片，该光学膜片设置于该背板或该支撑平台上，且该光学膜片对应该复数个可升降支撑件设置有复数个第一通孔；以及
背光源，该背光源设置于该背板与该光学膜片之间；
该支撑平台为透明平台，设置于该背光模组上，且该支撑平台上设置有复数个吸附孔以及对应该复数个可升降支撑件的复数个第二通孔；
其中，该复数个可升降支撑件可穿过该复数个第一通孔及该复数个第二通孔以支撑该面板。
2.如权利要求1所述的光学检测机，其特征在于，该支撑平台包含第一支撑平板、第二支撑平板以及第三支撑平板，该第一支撑平板靠近该光学膜片设置，该第三支撑平板用于直接接触该面板，该第二支撑平板设置于该第一支撑平板与该第三支撑平板之间；该第二支撑平板具有吸附腔，该第一支撑平板对应该吸附腔设置有复数个吸附安装孔，该第三支撑平板对应该吸附腔设置该复数个吸附孔。
3.如权利要求2所述的光学检测机，其特征在于，该复数个吸附安装孔对应该吸附腔的端部设置。
4.如权利要求2所述的光学检测机，其特征在于，该复数个第二通孔依次穿过该第一支撑平板、该第二支撑平板以及该第三支撑平板，且避开该吸附腔。
5.如权利要求1所述的光学检测机，其特征在于，该光学膜片包含扩散板及偏光片，该扩散板邻近该背光源设置，该偏光片邻近该支撑平台设置。
6.如权利要求5所述的光学检测机，其特征在于，该背板包含第一板体与第二板体，该支撑平台包含相对的第一侧边与第二侧边，该第一板体铰接于该第一侧边，该第二板体铰接于该第二侧边；该第一板体可绕该第一侧边旋转，及/或该第二板体可绕该第二侧边旋转，使得该背板被开启，以更换该偏光片。
7.如权利要求6所述的光学检测机，其特征在于，该偏光片固定于该背板的内壁上。
8.如权利要求5所述的光学检测机，其特征在于，该背板上设置有滑槽，该光学膜片可滑入或滑出该滑槽，以更换该偏光片。
9.如权利要求5所述的光学检测机，其特征在于，该光学检测机还包含挺性透明基板，该挺性透明基板设置于该偏光片与该扩散板之间，且该偏光片粘贴于该挺性透明基板上。
10.如权利要求5所述的光学检测机，其特征在于，该偏光片包含复数个区域，该复数个区域可拆分。
CN201510976138.XA 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机 Active CN105486689B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711088362.0A CN107655899A (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机
CN201510976138.XA CN105486689B (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510976138.XA CN105486689B (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711088362.0A Division CN107655899A (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105486689A true CN105486689A (zh) 2016-04-13
CN105486689B CN105486689B (zh) 2018-01-23

Family

ID=55673811

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510976138.XA Active CN105486689B (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机
CN201711088362.0A Pending CN107655899A (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711088362.0A Pending CN107655899A (zh) 2015-12-23 2015-12-23 光学检测机

Country Status (1)

Country Link
CN (2) CN105486689B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107655899A (zh) * 2015-12-23 2018-02-02 苏州精濑光电有限公司 光学检测机
CN107664642A (zh) * 2017-11-01 2018-02-06 航天新长征大道科技有限公司 一种外观瑕疵快速检测装置
WO2018205635A1 (zh) * 2017-05-08 2018-11-15 苏州精濑光电有限公司 柔性基板的承载装置及承载方法
CN110286507A (zh) * 2019-06-27 2019-09-27 苏州精濑光电有限公司 一种基板检测装置
CN112764266A (zh) * 2020-12-31 2021-05-07 惠州视维新技术有限公司 背光模组、显示装置以及显示装置的检测方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1773301A (zh) * 2004-11-11 2006-05-17 三星电子株式会社 显示面板用检查装置及该显示面板用检查装置的检查方法
JP2006178107A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査装置
TW200706890A (en) * 2005-04-08 2007-02-16 Nihon Micronics Kk Inspection apparatus
TWI321650B (zh) * 2005-09-26 2010-03-11 Nihon Micronics Kk
CN103376059A (zh) * 2012-04-26 2013-10-30 技佳唯斯股份有限公司 光学检测装置
CN103698918A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 京东方科技集团股份有限公司 直下式背光模组测试装置
CN205301192U (zh) * 2015-12-23 2016-06-08 苏州精濑光电有限公司 光学检测机

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105486689B (zh) * 2015-12-23 2018-01-23 苏州精濑光电有限公司 光学检测机

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1773301A (zh) * 2004-11-11 2006-05-17 三星电子株式会社 显示面板用检查装置及该显示面板用检查装置的检查方法
JP2006178107A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査装置
TW200706890A (en) * 2005-04-08 2007-02-16 Nihon Micronics Kk Inspection apparatus
TWI321650B (zh) * 2005-09-26 2010-03-11 Nihon Micronics Kk
CN103376059A (zh) * 2012-04-26 2013-10-30 技佳唯斯股份有限公司 光学检测装置
CN103698918A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 京东方科技集团股份有限公司 直下式背光模组测试装置
CN205301192U (zh) * 2015-12-23 2016-06-08 苏州精濑光电有限公司 光学检测机

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107655899A (zh) * 2015-12-23 2018-02-02 苏州精濑光电有限公司 光学检测机
WO2018205635A1 (zh) * 2017-05-08 2018-11-15 苏州精濑光电有限公司 柔性基板的承载装置及承载方法
CN107664642A (zh) * 2017-11-01 2018-02-06 航天新长征大道科技有限公司 一种外观瑕疵快速检测装置
CN110286507A (zh) * 2019-06-27 2019-09-27 苏州精濑光电有限公司 一种基板检测装置
CN112764266A (zh) * 2020-12-31 2021-05-07 惠州视维新技术有限公司 背光模组、显示装置以及显示装置的检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105486689B (zh) 2018-01-23
CN107655899A (zh) 2018-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105486689A (zh) 光学检测机
KR101362330B1 (ko) 디스플레이용 패널의 검사장치
KR101325762B1 (ko) 광학검사 장치
KR101146722B1 (ko) 디스플레이용 패널의 검사장치
KR101325761B1 (ko) 광학 검사장치
CN105424717A (zh) 多重瑕疵检出的光学检测设备
CN109297991B (zh) 一种玻璃表面缺陷检测***及方法
CN103135264B (zh) 遮光元件加工装置
CN205301192U (zh) 光学检测机
KR101683094B1 (ko) 인덱스형 셀 검사장치
JP2013118183A (ja) 基板検査装置
KR101663755B1 (ko) 인덱스형 액정 셀 검사장치
KR101275731B1 (ko) 글래스 기판용 외관 검사 장치
KR20110066778A (ko) 표시장치용 검사장치
CN203705754U (zh) 一种液晶显示面板检测装置
KR20200052781A (ko) 곡면커버에필름을부착하는방법
WO2018030603A1 (ko) 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치
CN106501276B (zh) 光学检测中对平板显示屏背光源施加压力的装置和方法
JP2010127738A (ja) カラーフィルタ表面検査機
CN104781655A (zh) 罐体的针孔检查装置
CN107797315A (zh) 自动贴合装置
CN101576492A (zh) 镀膜基片检测装置及镀膜基片检测方法
CN220340089U (zh) 触摸屏盖板玻璃检验灯箱
KR101691879B1 (ko) 기판 지지 장치
CN105204196B (zh) 基板抽检方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant