CN105444652A - 一种喷推导叶叶片检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种喷推导叶叶片检测方法，包括下述步骤：a、建立根部检测装置和顶部检测装置；b、在根部检测装置检测喷推导叶叶片根部；c、在顶部检测装置检测喷推导叶叶片顶部；根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。本发明方法解决了喷推导叶叶片根部、顶部形状难以检测的问题，检测结构准确，可效杜绝不合格产品进入装配工序，保证组装设备的质量，并为提高喷推导叶叶片铸造精度提供可靠的数据。
Description
技术领域
本发明涉及一种测量方法，特别是用于检测喷推导叶叶片根部和顶部轮廓的检测方法。
背景技术
喷推导叶叶片是一种精密铸造产品件，用于船舶设备，其材料为GB/T5613ZG03Cr22Ni5Mo3N双相不锈钢。喷推导叶叶片的形状为一空间复杂螺旋曲面，如图9所示，喷推导叶叶片8的展开后长度尺寸大于高度尺寸，喷推导叶叶片的厚度尺寸不同，两侧薄、中部厚。喷推导叶叶片的几何形状不规则，属薄壁件，产品件的刚性相对较差，在制造过程中，蜡件制造困难、工艺性较差，铸件的尺寸和形状精度难以控制，且目前尚无合适的检测方法对喷推导叶叶片根部和顶部的轮廓尺寸进行检测。喷推导叶叶片根部的底面为根部焊接面8-1，喷推导叶叶片顶部的顶面为顶部焊接面8-2，喷推导叶叶片根部、顶部的轮廓形状和根部底面、顶部顶面的轮廓尺寸达不到设计要求会直接导致产品件组装后设备的质量无法保证。
发明内容
本发明的目的在于提供一种喷推导叶叶片检测方法，采用本发明方法可以准确检测喷推导叶叶片根部轮廓形状、根部底面轮廓尺寸及喷推导叶叶片顶部廓形状、顶部顶面面轮廓尺寸是否符合设计要求，避免不合格产品件进入装配工序。
本发明的目的是通过下述技术方案实现的：
一种喷推导叶叶片检测方法，包括下述步骤：
a、建立根部检测装置和顶部检测装置：根部检测装置包括根部检测底座，在根部检测底座的两侧设置用于限定喷推导叶叶片宽度的限位导向轴，在根部检测底座上设有数个根部高度检测柱，各高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片根部底面的设计尺寸而确定；在根部检测底座上还设有数个根部凸面轮廓检测柱和数个根部凹面轮廓检测柱，各根部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凸面轮廓设计尺寸和各凸面轮廓检测柱的直径而确定，各根部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凹面轮廓设计尺寸和各凹面轮廓检测柱的直径而确定；
所述顶部检测装置包括顶部检测底座，在顶部检测底座一侧设有限位柱，在顶部检测底座上设有数个顶部高度检测柱，各顶部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片顶部顶面的设计尺寸而确定；在顶部检测底座上还设有数个顶部凸面轮廓检测柱和数个顶部凹面轮廓检测柱，各顶部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凸面轮廓设计尺寸和各顶部凸面轮廓检测柱的直径而确定，各顶部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凹面轮廓设计尺寸和各顶部凹面轮廓检测柱的直径而确定；
b、利用根部检测装置检测喷推导叶叶片根部：将喷推导叶叶片根部向下放置到根部检测底座由数个根部凸面轮廓检测柱、数个根部凹面轮廓检测柱和两侧的限位导向轴合围的区域内，喷推导叶叶片根部底面由数个根部高度检测柱支撑，各凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米，各根部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米；如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片根部轮廓不合格；如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片根部与各根部凸面轮廓检测柱及根部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片根部的轮廓是否合格；根据被测喷推导叶叶片根部底面与各根部高度检测柱间的间隙，判定被测喷推导叶叶片根部底面轮廓值是否合格；
c、利用顶部检测装置检测喷推导叶叶片顶部：将喷推导叶叶片顶部向下放置到顶部检测底座由数个顶部凸面轮廓检测柱、数个顶部凹面轮廓检测柱限定的区域内，喷推导叶叶片一侧触接限位柱，喷推导叶叶片顶部顶面由数个顶部高度检测柱支撑，各顶部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米；如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片顶部轮廓不合格；如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片与各顶部凸面轮廓检测柱及顶部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片顶部的轮廓是否合格；根据被测喷推导叶叶片顶部顶面与各顶部高度检测柱间的间隙，判定被测喷推导叶叶片顶部顶面轮廓是否合格；
根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。
上述喷推导叶叶片检测方法，所述根部检测底座的右侧设有第一限位导向轴，检测底座左侧设有第二限位导向轴和第三限位导向轴；根部检测底座上分布七个根部高度检测柱、六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱，各检测柱的高度和轴线位置如下：
建立三维直角坐标系，坐标系的X轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合，X轴正方向向右，坐标系的Y轴与第一限位导向轴的左侧边重合，Y轴正方向相对X轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z轴垂直于根部检测底座上平面，Z轴正方向向上，坐标原点位于根部检测底座上平面；
七个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部高度检测柱-3.5-67.3183.5
第二根部高度检测柱-110-12.7178.8
第三根部高度检测柱-22024.7163.6
第四根部高度检测柱-33045.1137.5
第五根部高度检测柱-44049.899.8
第六根部高度检测柱-55039.149.2
第七根部高度检测柱-630.320.91，
各根部高度检测柱的顶部为球面；
六个根部凸面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凸面轮廓检测柱-51-24.7193
第二根部凸面轮廓检测柱-163.225.3184
第三根部凸面轮廓检测柱-273.555.2158
第四根部凸面轮廓检测柱-384.767.2133
第五根部凸面轮廓检测柱-49662.482
第六根部凸面轮廓检测柱-607.240.424；
各根部凸面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米；
六个根部凹面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凹面轮廓检测柱-58.5-52.4187
第二根部凹面轮廓检测柱-167.5-8.8178
第三根部凹面轮廓检测柱-276.518.7166
第四根部凹面轮廓检测柱-385.431.5127
第五根部凹面轮廓检测柱-494.330.387
第六根部凹面轮廓检测柱-603.215.131；
各根部凹面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米；
上述坐标值的单位为毫米。
上述喷推导叶叶片检测方法，所述第一限位导向轴、第二限位导向轴和第三限位导向轴均可以相对自身的轴线原位转动；所述第一限位导向轴垂直于X轴，第一限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H1为221-221.5毫米；第二限位导向轴和第三限位导向轴均垂直于X轴，第二限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L1是654.8-655.1毫米，第二限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H2为70.4-70.7毫米；第三限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L2是675.7-676毫米，第三限位导向轴轴线距测量底座上平面距离H3为141.4-141.7毫米。
上述喷推导叶叶片检测方法，所述顶部检测底座的右侧设有限位柱，顶部检测底座上分布六个顶部高度检测柱、七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱，各检测柱的高度和轴线位置如下：
建立三维直角坐标系，坐标系的X1轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合，X1轴正方向向右，坐标系的Y1轴与限位柱Y1方向的中心线向左偏移2.8mm，Y1轴正方向相对X1轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z1轴垂直于顶部检测底座上平面，Z1轴正方向向上，坐标原点位于顶部检测底座上平面；
六个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部高度检测柱-5581.11
第二顶部高度检测柱-164.7-12.77.1
第三顶部高度检测柱-274.9-40.418
第四顶部高度检测柱-384.3-71.146.9
第五顶部高度检测柱-494.5-81.475.8
第六顶部高度检测柱-604.3-72.4126.9，
各顶部高度检测柱的顶部为球面；
七个顶部凸面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凸面轮廓检测柱2.8109.89
第二顶部凸面轮廓检测柱-105.529.716
第三顶部凸面轮廓检测柱-216.3-34.423
第四顶部凸面轮廓检测柱-327.8-77.446
第五顶部凸面轮廓检测柱-483.9-97.276
第六顶部凸面轮廓检测柱-550.2-96.2116
第七顶部凸面轮廓检测柱-661.5-74.3171；
各顶部凸面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米；
七个顶部凹面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凹面轮廓检测柱-12125.816
第二顶部凹面轮廓检测柱-114.460.49
第三顶部凹面轮廓检测柱-223.51.923
第四顶部凹面轮廓检测柱-332-39.439
第五顶部凹面轮廓检测柱-442.2-60.369
第六顶部凹面轮廓检测柱-548.9-62.5107
第七顶部凹面轮廓检测柱-657.8-46.4163，
各顶部凹面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米；
所述限位柱的高度Z1坐标值为15、限位柱的轴线坐标值X1为2.8、Y1坐标值为125.1；
上述坐标值的单位为毫米。
本发明所述方法，根据喷推导叶叶片的根部设计要求和顶部设计要求分别建立相应的根部检测装置和顶部检测装置，根部检测装置和顶部检测装置分别在根部检测底座和顶部检测底座上设置相应的检测柱。对喷推导叶叶片根部检测时，根据喷推导叶叶片根部相对设置在根部检测底座上各检测柱的位置关系判定被测喷推导叶叶片根部形状是否合格；同理，对喷推导叶叶片顶部检测时，根据喷推导叶叶片顶部相对设置在顶部检测底座上各检测柱的位置关系判定被测喷推导叶叶片顶部形状是否合格。本发明方法解决了喷推导叶叶片根部、顶部形状难以检测的问题，检测结构准确，可效杜绝不合格产品进入装配工序，保证组装设备的质量，并为提高喷推导叶叶片铸造精度提供可靠的数据。
附图说明
图1是根部检测装置的结构示意图；
图2是图1的俯视图；
图3是喷推导叶叶片根部检测示意图；
图4是图3的俯视图；
图5是顶部检测装置的结构示意；
图6图5的俯视图；
图7是喷推导叶叶片顶部检测示意图；
图8是图7的俯视图；
图9是喷推导叶叶片示意图。
图中各标号清单为：1、根部检测底座，2、第二限位导向轴，3、第三限位导向轴，4、第一限位导向轴，5-1、第一根部高度检测柱，5-2、第二根部高度检测柱5-3、第三根部高度检测柱，5-4、第四根部高度检测柱，5-5、第五根部高度检测柱，5-6、第六根部高度检测柱，5-7、第七根部高度检测柱，6-1、第一根部凹面轮廓检测柱，6-2、第二根部凹面轮廓检测柱，6-3、第三根部凹面轮廓检测柱，6-4、第四根部凹面轮廓检测柱，6-5、第五根部凹面轮廓检测柱，6-6、第六根部凹面轮廓检测柱，7-1、第一根部凸面轮廓检测柱，7-2、第二根部凸面轮廓检测柱，7-3、第三根部凸面轮廓检测柱，7-4、第四根部凸面轮廓检测柱，7-5、第五根部凸面轮廓检测柱，7-6、第六根部凸面轮廓检测柱，8、喷推导叶叶片，8-1、根部焊接面，8-2、顶部焊接面，9、顶部检测底座，10、限位柱，11-1、第一顶部高度检测柱，11-2、第二顶部高度检测柱，11-3、第三顶部高度检测柱，11-4、第四顶部高度检测柱，11-5、第五顶部高度检测柱，11-6、第六顶部高度检测柱，12-1、第一顶部凹面轮廓检测柱，12-2、第二顶部凹面轮廓检测柱，12-3、第三顶部凹面轮廓检测柱，12-4、第四顶部凹面轮廓检测柱，12-5、第五顶部凹面轮廓检测柱，12-6、第六顶部凹面轮廓检测柱，12-7、第七顶部凹面轮廓检测柱，13-1、第一顶部凸面轮廓检测柱，13-2、第二顶部凸面轮廓检测柱，13-3、第三顶部凸面轮廓检测柱，13-4、第四顶部凸面轮廓检测柱，13-5、第五顶部凸面轮廓检测柱，13-6、第六顶部凸面轮廓检测柱，13-7第七顶部凸面轮廓检测柱。
具体实施方式
本发明所述喷推导叶叶片检测方法，包括对喷推导叶叶片根部的检测和顶部的检测，喷推导叶叶片根部的检测在预先建立的根部检测装置上实现，喷推导叶叶片顶部的检测在预先建立的顶部检测装置上实现。根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。
参看图1、图2，所述根部检测装置包括根部检测底座1，根部检测底座既是装配检测柱的基础，也是检测的基准面。在根部检测底座右侧设有第一限位导向轴4，第一限位导向轴经支架支撑，可以相对自身的轴线原位转动。在检测底座左侧设有第二限位导向轴2和第三限位导向轴3，第二限位导向轴2和第三限位导向轴3也是经支架支撑，第二限位导向轴2和第三限位导向轴均可以相对自身的轴线原位转动。在根部检测底座上分布七个根部高度检测柱、六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱。各根部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片根部底面的设计尺寸而确定；各根部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凸面轮廓设计尺寸和各凸面轮廓检测柱的直径而确定；各根部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凹面轮廓设计尺寸和各根部凹面轮廓检测柱的直径而确定。各检测柱的高度和轴线位置如下确定：在根部检测底座上建立三维直角坐标系，坐标系的X轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合，X轴正方向向右；坐标系的Y轴与第一限位导向轴的左侧边重合，Y轴正方向相对X轴正方向逆时针旋转90°；坐标系的Z轴过X轴、Y轴交点并垂直于根部检测底座上平面，Z轴正方向向上，坐标原点位于根部检测底座上平面；
在上述三维直角坐标系中七个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部高度检测柱5-1-3.5-67.3183.5
第二根部高度检测柱5-2-110-12.7178.8
第三根部高度检测柱5-3-22024.7163.6
第四根部高度检测柱5-4-33045.1137.5
第五根部高度检测柱5-5-44049.899.8
第六根部高度检测柱5-6-55039.149.2
第七根部高度检测柱5-7-630.320.91。
各根部高度检测柱的顶部为球面。
六个根部凸面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凸面轮廓检测柱7-1-51-24.7193
第二根部凸面轮廓检测柱7-2-163.225.3183
第三根部凸面轮廓检测柱7-3-273.555.2158
第四根部凸面轮廓检测柱7-4-384.767.2133
第五根部凸面轮廓检测柱7-5-49662.482
第六根部凸面轮廓检测柱7-6-607.240.424；
各根部凸面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
六个根部凹面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凹面轮廓检测柱6-1-58.5-52.4187
第二根部凹面轮廓检测柱6-2-167.5-8.8178
第三根部凹面轮廓检测柱6-3-276.518.7166
第四根部凹面轮廓检测柱6-4-385.431.5127
第五根部凹面轮廓检测柱6-5-494.330.387
第六根部凹面轮廓检测柱6-6-603.215.131；
各根部凹面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
上述坐标值的单位均为毫米。
上述各根部高度检测柱中心实际位置相对各自X、Y坐标值的公差均为±0.02毫米，各根部高度检测柱高度尺寸相对各自Z坐标值的公差为±0.02毫米；各根部凸面轮廓检测柱中心实际位置相对各自X、Y坐标值的公差均为±0.02毫米，各根部凸面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Z坐标值的公差为±1毫米；各根部凹面轮廓检测柱中心实际位置相对各自X、Y坐标值的公差均为±0.02毫米，各根部凹面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Z坐标值的公差为±1毫米。
仍参看图1、图2，第一、第二、第三限位导向轴在根部检测底座上的位置根据喷推导叶叶片长度方向的两条侧边的设计尺寸而设定。所述第一限位导向轴4垂直于X轴，第一限位导向轴的轴线距根部测量底座上平面距离H1为221-221.5毫米；第二限位导向轴2和第三限位导向轴3均垂直于X轴，第二限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L1是654.8-655.1毫米，第二限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H2为70.4-70.7毫米，第三限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L2是675.7-676毫米，第三限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H3为141.4-141.7毫米。
参看图3、图4，检测喷推导叶叶片根部的具体操作如下：将喷推导叶叶片根部朝下、凹面朝前，沿第一、第二、第三限位导向轴滑入由六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱围成的检测空间中，喷推导叶叶片两条侧边分别与第一、第二、第三限位导向轴相切。喷推导叶叶片根部底面由数个根部高度检测柱支撑，各根部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米，各根部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米。如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片根部不合格；如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片根部轮廓与各根部凸面轮廓检测柱、凹面根部轮廓检测柱之间的间隙是否符合设计公差要求而判断喷推导叶叶片根部轮廓是否合格；同时使用塞尺测量各根部高度检测柱与喷推导叶叶片根部底面检测位的间隙量，并根据间隙量是否符合设计公差要求而判断被测喷推导叶叶片根部检测点高度值是否合格。
参看图5、图6，所述顶部检测装置包括顶部检测底座9，顶部检测底座既是装配检测柱的基础，也是检测的基准面。顶部检测底座的右侧设有限位柱10，顶部检测底座上分布六个顶部高度检测柱、七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱。各顶部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片顶部顶面的设计尺寸而确定；各顶部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凸面轮廓设计尺寸和各顶部凸面轮廓检测柱的直径而确定；各顶部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凹面轮廓设计尺寸和各顶部凹面轮廓检测柱的直径而确定。各检测柱的高度和轴线位置如下确定：建立三维直角坐标系，坐标系的X1轴与顶部检测底座的长度方向的中心线重合，X1轴正方向向右，坐标系的Y1轴相对限位柱的中心线向左偏移2.8mm，Y1轴正方向相对X1轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z1轴过X1轴、Y1轴交点并轴垂直于顶部检测底座上平面，Z1轴正方向向上，坐标原点位于顶部检测底座上平面；
六个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部高度检测柱11-1-5581.11
第二顶部高度检测柱11-2-164.5-12.77.1
第三顶部高度检测柱11-3-274.9-40.418
第四顶部高度检测柱11-4-384.3-71.146.9
第五顶部高度检测柱11-5-494.5-81.475.8
第六顶部高度检测柱11-6-604.3-72.4126.9，
各顶部高度检测柱的顶部为球面。
七个顶部凸面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凸面轮廓检测柱13-15.8109.89
第二顶部凸面轮廓检测柱13-2-105.529.716
第三顶部凸面轮廓检测柱13-3-216.3-34.423
第四顶部凸面轮廓检测柱13-4-327.8-77.446
第五顶部凸面轮廓检测柱13-5-483.9-97.276
第六顶部凸面轮廓检测柱13-6-550.2-96.2116
第七顶部凸面轮廓检测柱13-7-661.5-74.3171；
各顶部凸面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
七个顶部凹面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凹面轮廓检测柱12-1-12125.816
第二顶部凹面轮廓检测柱12-2-114.460.49
第三顶部凹面轮廓检测柱12-3-223.51.923
第四顶部凹面轮廓检测柱12-4-332-39.439
第五顶部凹面轮廓检测柱12-5-442.2-60.369
第六顶部凹面轮廓检测柱12-6-548.9-62.5107
第七顶部凹面轮廓检测柱12-7-657.8-46.4163，
各顶部凹面轮廓检测柱的直径为16±0.009毫米。
所述限位柱的10的高度Z1坐标值为16、限位柱的轴线坐标值X1为2.8、Y1坐标值为125.1。
上述坐标值的单位均为毫米。
各顶部高度检测柱中心实际位置相对各自X1、Y1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部高度检测柱高度尺寸相对各自Z1坐标值的公差为±0.02毫米；各顶部凸面轮廓检测柱中心实际位置相对各自X1、Y1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部凸面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Z1坐标值的公差为±1毫米；各顶部凹面轮廓检测柱中心实际位置相对各自X1、Y1坐标值的公差均为±0.02毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高度尺寸相对各自Z1坐标值的公差为±1毫米；限位柱的高度尺寸相对其Z1坐标值的公差为±1毫米，限位柱的轴线实际位置相其X1、Y1坐标值的公差均为0.02毫米。
参看图7、图8，检测喷推导叶叶片顶部的具体操作如下：将喷推导叶叶片顶部朝下、凸面朝前，置入由七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱围成的检测区域中，喷推导叶叶片右侧边与限位柱触接，喷推导叶叶片顶部顶面由六个顶部高度检测柱支撑，各顶部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部底面6-20毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部底面6-20毫米。如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片顶部不合格；如果可以顺利放置，则顶据喷推导叶叶片顶部轮廓与各顶部凸面轮廓检测柱、凹面顶部轮廓检测柱之间的间隙否符合设计公差要求而判断喷推导叶叶片顶部轮廓是否合格；同时使用塞尺测量各顶部高度检测柱与喷推导叶叶片顶部底面检测位的间隙量，并顶据间隙量否符合设计公差要求而判断被测喷推导叶叶片顶部检测点高度值是否合格。
如果用于检测喷推导叶叶片轮廓的各检测柱直径改变，则对应上述各检测柱轴线的坐标值相应发生变化，需要结合推导叶叶片轮廓曲线和检测柱的半径在坐标系中做出推导叶叶片轮廓曲线的等距线，再根据推导叶叶片轮廓的检测点在等距线上找出与检测点相切圆（半径为检测柱的半径）的圆心，该圆心即为测柱轴线坐标值，上述坐标值的变化落入本发明的保护范围中。
Claims (4)
1.一种喷推导叶叶片检测方法，其特征在于，包括下述步骤：
a、建立根部检测装置和顶部检测装置：根部检测装置包括根部检测底座，在根部检测底座的两侧设置用于限定喷推导叶叶片宽度的限位导向轴，在根部检测底座上设有数个根部高度检测柱，各高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片根部底面的设计尺寸而确定；在根部检测底座上还设有数个根部凸面轮廓检测柱和数个根部凹面轮廓检测柱，各根部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凸面轮廓设计尺寸和各凸面轮廓检测柱的直径而确定，各根部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片根部凹面轮廓设计尺寸和各凹面轮廓检测柱的直径而确定；
所述顶部检测装置包括顶部检测底座，在顶部检测底座一侧设有限位柱，在顶部检测底座上设有数个顶部高度检测柱，各顶部高度检测柱的位置和高度根据喷推导叶叶片顶部顶面的设计尺寸而确定；在顶部检测底座上还设有数个顶部凸面轮廓检测柱和数个顶部凹面轮廓检测柱，各顶部凸面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凸面轮廓设计尺寸和各顶部凸面轮廓检测柱的直径而确定，各顶部凹面轮廓检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凹面轮廓设计尺寸和各顶部凹面轮廓检测柱的直径而确定；
b、利用根部检测装置检测喷推导叶叶片根部：将喷推导叶叶片根部向下放置到根部检测底座由数个根部凸面轮廓检测柱、数个根部凹面轮廓检测柱和两侧的限位导向轴合围的区域内，喷推导叶叶片根部底面由数个根部高度检测柱支撑，各凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米，各根部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米；如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片根部轮廓不合格；如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片根部与各根部凸面轮廓检测柱及根部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片根部的轮廓是否合格；根据被测喷推导叶叶片根部底面与各根部高度检测柱间的间隙，判定被测喷推导叶叶片根部底面轮廓值是否合格；
c、利用顶部检测装置检测喷推导叶叶片顶部：将喷推导叶叶片顶部向下放置到顶部检测底座由数个顶部凸面轮廓检测柱、数个顶部凹面轮廓检测柱限定的区域内，喷推导叶叶片一侧触接限位柱，喷推导叶叶片顶部顶面由数个顶部高度检测柱支撑，各顶部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米，各顶部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米；如果喷推导叶叶片无法放置，则判定被测喷推导叶叶片顶部轮廓不合格；如果可以顺利放置，则根据喷推导叶叶片与各顶部凸面轮廓检测柱及顶部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片顶部的轮廓是否合格；根据被测喷推导叶叶片顶部顶面与各顶部高度检测柱间的间隙，判定被测喷推导叶叶片顶部顶面轮廓是否合格；
根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。
2.根据权利要求1所述的喷推导叶叶片检测方法，其特征在于：所述根部检测底座（1）的右侧设有第一限位导向轴（4），检测底座左侧设有第二限位导向轴（2）和第三限位导向轴（3）；根部检测底座上分布七个根部高度检测柱、六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱，各检测柱的高度和轴线位置如下：
建立三维直角坐标系，坐标系的X轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合，X轴正方向向右，坐标系的Y轴与第一限位导向轴的左侧边重合，Y轴正方向相对X轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z轴垂直于根部检测底座上平面，Z轴正方向向上，坐标原点位于根部检测底座上平面；
七个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部高度检测柱（5-1）-3.5-67.3183.5
第二根部高度检测柱（5-2）-110-12.7178.8
第三根部高度检测柱（5-3）-22024.7163.6
第四根部高度检测柱（5-4）-33045.1137.5
第五根部高度检测柱（5-5）-44049.899.8
第六根部高度检测柱（5-6）-55039.149.2
第七根部高度检测柱（5-7）-630.320.91，
各根部高度检测柱的顶部为球面；
六个根部凸面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凸面轮廓检测柱（7-1）-51-24.7193
第二根部凸面轮廓检测柱（7-2）-163.225.3184
第三根部凸面轮廓检测柱（7-3）-273.555.2158
第四根部凸面轮廓检测柱（7-4）-384.767.2133
第五根部凸面轮廓检测柱（7-5）-49662.482
第六根部凸面轮廓检测柱（7-6）-607.240.424；
各根部凸面轮廓检测柱的直径为ф16±0.009毫米；
六个根部凹面轮廓检测柱高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X坐标Y坐标Z坐标
第一根部凹面轮廓检测柱（6-1）-58.5-52.4187
第二根部凹面轮廓检测柱（6-2）-167.5-8.8178
第三根部凹面轮廓检测柱（6-3）-276.518.7166
第四根部凹面轮廓检测柱（6-4）-385.431.5127
第五根部凹面轮廓检测柱（6-5）-494.330.387
第六根部凹面轮廓检测柱（6-6）-603.215.131；
各根部凹面轮廓检测柱的直径为ф16±0.009毫米；
上述坐标值的单位为毫米。
3.根据权利要求2所述的喷推导叶叶片检测方法，其特征在于，所述第一限位导向轴、第二限位导向轴和第三限位导向轴均可以相对自身的轴线原位转动；所述第一限位导向轴（4）垂直于X轴，第一限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H1为221-221.5；第二限位导向轴（2）和第三限位导向轴（3）均垂直于X轴，第二限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L1是654.8-655.1毫米，第二限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离H2为70.4-70.7毫米；第三限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L2是675.7-676毫米，第三限位导向轴轴线距测量底座上平面距离H2为141.4-141.7毫米。
4.根据权利要求1所述的喷推导叶叶片检测方法，其特征在于：所述顶部检测底座（9）的右侧设有限位柱（10），顶部检测底座上分布六个顶部高度检测柱、七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱，各检测柱的高度和轴线位置如下：
建立三维直角坐标系，坐标系的X1轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合，X1轴正方向向右，坐标系的Y1轴相对限位柱Y1方向的中心线向左偏移2.8mm，Y1轴正方向相对X1轴正方向逆时针旋转90°，坐标系的Z1轴垂直于顶部检测底座上平面，Z1轴正方向向上，坐标原点位于顶部检测底座上平面；
六个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部高度检测柱（11-1）-5581.11
第二顶部高度检测柱（11-2）-164.5-12.77.1
第三顶部高度检测柱（11-3）-274.9-40.418
第四顶部高度检测柱（11-4）-384.3-71.146.9
第五顶部高度检测柱（11-5）-494.5-81.475.8
第六顶部高度检测柱（11-6）-604.3-72.4126.9，
各顶部高度检测柱的顶部为球面；
七个顶部凸面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凸面轮廓检测柱（13-1）5.8109.89
第二顶部凸面轮廓检测柱（13-2）-105.529.716
第三顶部凸面轮廓检测柱（13-3）-216.3-34.423
第四顶部凸面轮廓检测柱（13-4）-327.8-77.446
第五顶部凸面轮廓检测柱（13-5）-483.9-97.276
第六顶部凸面轮廓检测柱（13-6）-550.2-96.2116
第七顶部凸面轮廓检测柱（13-7）-661.5-74.3171；
各顶部凸面轮廓检测柱的直径为ф16±0.009毫米；
七个顶部凹面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下：
X1坐标Y1坐标Z1坐标
第一顶部凹面轮廓检测柱（12-1）-12125.816
第二顶部凹面轮廓检测柱（12-2）-114.460.49
第三顶部凹面轮廓检测柱（12-3）-223.51.923
第四顶部凹面轮廓检测柱（12-4）-332-39.439
第五顶部凹面轮廓检测柱（12-5）-442.2-60.369
第六顶部凹面轮廓检测柱（12-6）-548.9-62.5107
第七顶部凹面轮廓检测柱（12-7）-657.8-46.4163，
各顶部凹面轮廓检测柱的直径为ф16±0.009毫米；
所述限位柱（10）的高度Z1坐标值为16、限位柱的轴线坐标值X1为2.8、Y1坐标值为125.1；
上述坐标值的单位为毫米。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2015-11-30 CN CN201510845297.6A patent/CN105444652A/zh active Pending
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