CN105400514A - 一种有序的图案化远程荧光晶体材料及其制备方法和用途 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种有序的图案化远程荧光晶体材料及其制备方法和用途：利用短脉冲激光直接在荧光晶体材料表面制作微米结构阵列，通过制作的微米结构阵列来增强基于该荧光晶体材料的LED器件的光提取效率。本发明克服了荧光晶体材料质地坚硬、耐干湿法刻蚀的不足，具有步骤简便、加工速度快、制作效率高，而且低温、低污染的特点，制作的微米结构稳定性良好，在白光LED领域具有很高的推广应用价值。
Description
技术领域
本发明涉及提高采用远程荧光结构设计的白光、绿光、黄光、红光LED器件的发光效率和性能的方法，具体涉及激光加工远程荧光(remotephosphor)晶体材料来提高材料的光提取效率的方法。
背景技术
跟白炽灯(incandescentlamp)、节能灯(fluorescentlamp)这一类传统照明器件相比，白光LED(Lightemittingdiode)具有耗电量小、发光效率高、使用寿命长、节能环保等优点，在日常照明等领域有广泛的应用。目前，获取白光LED的技术主要是利用蓝光LED芯片激发Ce:YAG(Y3Al5O12)荧光粉使其发出黄光，黄光和剩余的蓝光混合得到白光。传统的荧光粉封装的结构中，荧光粉(尺寸大小0.1微米～100微米)混合硅胶(silicone)或者透光树胶(epoxy)或者旋涂式玻璃(spinonglass，SOG)被喷涂或者旋涂到蓝光LED芯片表面。有以下不利因素：(1)荧光粉紧贴芯片，荧光粉产生的热量通过LED芯片传递。提高了芯片自身的温度，从而缩短白光LED的使用寿命；(2)由于喷涂和旋涂工艺本身的不确定因素的限制，即使同样的LED芯片也会由于不同区域荧光粉的厚度、浓度的差异，导致了最后得到的白光LED之间的色温、发光特性等存在差异，影响了产品良品率；(3)YAG颗粒和载体材料(例如silicone或者epoxy，或者SOG)的分界面都会发生散射。决定散射强度大小的是这些分界面(亦即散射中心)两面材料的折射率的差别。因此微米颗粒荧光粉载体材料混合体涂覆LED芯片后，近一半的光会被散射。只有小部分的光可以从芯片表面出射。其他的散射光被芯片、封装材料重新吸收损失掉了。光线在YAG颗粒之间的边界也会发生散射，因此采用荧光粉颗粒直接通过高温高压制作的陶瓷片(ceramicplatelet)也存在上述的光散射问题。
单晶或者多晶Ce:YAG荧光晶体材料非常适合作为上述荧光材料的替代材料。上述不利因素问题在使用单晶或者多晶Ce:YAG荧光晶体材料后都能得到很大程度上的缓解[Laser&PhotonicsReviews,Vol.8,No.1,158-164(2014)]。主要是它们比传统荧光粉和荧光陶瓷片有更少的光线散射中心，其中单晶荧光陶瓷较多晶荧光陶瓷散射更小。除此之外Ce:YAG单晶或者多晶透明荧光晶体材料相比荧光粉颗粒具有激发发射效率高、受热稳定、热导率高、机械强度好等优点。然而光在单晶或者多晶Ce:YAG荧光晶体材料中传播受到全反射角的限制。由于Ce:YAG荧光晶体的折射率(～1.82)与空气的折射率相差很大，入射角大于33.1°的光线在YAG和空气界面处发生全反射而无法出射晶体表面，导致了光损失，并且增加了YAG材料发热量。最后影响了白光LED的发光效率。因此需要一种简单有效的方法来改变单晶、多晶荧光晶体材料的光提取特性。
目前，主要的改进白光LED用Ce:YAG荧光晶体的出光效率的方法包括：1)针对体材料本身的表面非均匀性地粗化。采用湿法刻蚀的方法直接对陶瓷表面进行粗化，粗糙表面可以改变光子在陶瓷内散射的角度，增大光子从Ce:YAG陶瓷中逃逸出去的概率。AlanPiquette等人提出一种湿法腐蚀荧光陶瓷的方法(Osram公司，专利号US20140001156A1)。利用煮沸的浓磷酸+硫酸溶液湿法刻蚀荧光陶瓷，粗化其表面，腐蚀出谷状结构，进而增强白光LED整体的输出光强和正向出射光强。但是由于Ce:YAG晶体耐酸碱腐蚀，该方法刻蚀速度非常缓慢，耗时长且刻蚀条件苛刻，提高了制造成本，无法进行大批量生产。2)在YAG体材料上面通过物理或者化学的方法沉积其他材料(例如SiO2，TiO2，SiNx等)并图案化。然后将该材料制作成微纳米结构，从而在Ce:YAG荧光陶瓷的表面形成一层周期性的微纳米结构材料，辅助增强出光。例如在Ce:YAG陶瓷晶体的上表面引入聚苯乙烯球、TiO2、SiNx等材料的微纳米结构来提高陶瓷的出光效率[OpticsExpress,Vol.19,No.25,25593(2011)；OpticsLetters,Vol.38,No.15,2796(2013)；Nanotechnology,24(2013)085302；JournalofMaterialsChemistryC,1(2013)1732；JournalofMaterialsChemistryC，2(2014)7513]。但是此类方法需要借助添加纳米球掩膜、蒸镀金属、干法刻蚀等多种手段结合来完成，加工步骤复杂且成本较高；其次，附着在荧光陶瓷表面的微纳米结构受外部环境(例如，高温，湿度，酸碱性环境等)的影响，易破裂、脱落，稳定性差，使用寿命有限。
发明内容
本发明的目的在于提供一种有序的图案化远程荧光晶体材料及其制备方法和用途。
为达到上述目的，本发明采用了以下技术方案：
一种有序的图案化远程荧光晶体材料，包括远程荧光晶体材料本体以及通过激光烧蚀形成于所述远程荧光晶体材料本体表面的微米结构阵列。
所述微米结构阵列为周期性排列的孔洞，孔洞的直径为5μm～30μm，孔洞的深度为1μm～5μm，相邻孔洞的间距为5μm～50μm。
所述远程荧光晶体材料本体选自Lu3Al5O12:Ce、Tb3Al5O12:Ce、Y3Al5O12:Ce、(LuY)3Al5O12:Ce、Y3(Al,Ga)5O12：Ce或Y3(Al,Si)5(O,N)12:Ce荧光晶体材料。
上述有序的图案化远程荧光晶体材料的制备方法，包括以下步骤：
1)将待加工的远程荧光晶体材料置于可以二维水平方向自由移动的载物台上，然后将短脉冲激光聚焦在所述待加工的远程荧光晶体材料的表面或表面上方；
2)控制所述载物台带动所述待加工的远程荧光晶体材料移动，使短脉冲激光逐点扫描该远程荧光晶体材料的表面，得到表面加工形成微米结构阵列的远程荧光晶体材料。
所述微米结构阵列中单个结构的形状、尺寸和间距通过脉冲激光功率、脉冲重复频率、激光焦平面与材料表面的间距以及载物台的移动速度来综合控制。
所述短脉冲激光的脉冲宽度为50fs～100ns，波长为355nm～800nm，重复频率为10Hz～170kHz，功率为0.001W～0.5W，激光能量密度阈值为30J/cm2～50J/cm2，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s。
所述制备方法还包括以下步骤：经过步骤2)后，将表面加工形成微米结构阵列的远程荧光晶体材料放入浓硫酸与双氧水的混合酸溶液中或者放入浓硫酸中浸泡，以去除激光烧蚀残渣，浓硫酸与双氧水的体积比为3:1～7:1。
所述待加工的远程荧光晶体材料选自厚度为0.1mm～5mm的Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料；对于该材料，情况一：所述短脉冲激光的脉冲宽度为1ns～100ns，波长为300nm～400nm，重复频率为1kHz～30kHz，功率为0.01W～0.3W，激光光斑聚焦直径为20μm，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s；或者，情况二：所述短脉冲激光的脉冲宽度为20fs～200fs，波长为355nm～800nm，重复频率为10Hz～100kHz，功率为0.01W～0.5W，激光光斑聚焦直径为20μm，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s。
所述Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料的吸收峰在420～460nm之间，发射峰在510～570nm之间；所述Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料中Ce3+的掺杂浓度为0.01～1at％(原子分数)。
上述有序的图案化远程荧光晶体材料在增强LED发光器件光提取效率中的用途。
所述LED发光器件采用蓝光LED芯片或紫外LED芯片，发射光峰值波长在440nm～460nm或300nm～380nm之间。
本发明由于采取以上技术方案，具有以下优点：
1.在晶体表面引入图案化结构后，使LED实现了在同样输入电流下，具有更高的光电转换效率和LED的发光效率。且引入图案化结构后，更多的光子从荧光晶体材料表面出射，LED的正面/侧面出光比增加。
2.本发明中荧光晶体材料表面的微米结构阵列加工速度快、制作效率高。以间距为10μm的微米孔为例，能够在一小时之内制作出可覆盖700个LED芯片面积(250×572μm)的大规模微米孔阵列。本发明克服了传统加工方法中成本高、效率低的问题，该方法低温、低污染，而且工艺步骤简便、易于实施，因此在LED领域具有广阔的实际应用前景。
3.本发明制备于荧光晶体材料表面的微米结构阵列的尺寸和间距均可控，可以制备出有序的大规模微孔阵列。
4.本发明所制备的图案化结构阵列继承了晶体材料的特性，物理和化学特性稳定，抗氧化，抗辐射，机械强度高，稳定性良好。
附图说明
图1是实施例中经激光加工具有微米孔阵列的Ce:YAG荧光晶体材料的扫描电子显微镜(SEM)图，孔间的间距为10μm，每个微米孔的直径为7.5μm，孔深3μm；其中，(a)为300倍放大倍率下SEM图，(b)为1200倍放大倍率下SEM图，(c)为7000倍放大倍率下SEM图。
图2是微米孔尺寸(直径和深度)分别随355nm短脉冲激光功率(a)、光斑焦平面上移距离(b)的变化规律图。
图3是Ce:YAG荧光晶体材料用于白光LED封装结构的示意图；图中：1为LED封装基座，2为蓝光LED芯片，3为电极引线，4为填充物(硅胶或环氧树脂等，或者空气)，5为Ce:YAG荧光晶体材料，6为Ce:YAG荧光晶体材料表面由激光加工的微米孔阵列。
图4是在250mA蓝光LED芯片激发下，通过积分球测量的表面具有微米结构阵列Ce:YAG荧光晶体材料与平滑表面Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED的4π立体角内全部电致发光谱(EL)对比图，其中蓝光LED的峰值波长为445nm。
图5是在250mA蓝光LED芯片激发下，光谱探测器位于0度(垂直于YAG表面)时，表面具有微米结构阵列Ce:YAG荧光晶体材料与平滑表面Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED电致发光光谱对比图。
图6是在250mA蓝光LED芯片激发下，光谱探测器在与法线成80度角度时表面具有微米结构阵列Ce:YAG荧光晶体材料与平滑表面Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED的电致发光光谱对比图。
图7是表面具有微米结构阵列Ce:YAG荧光晶体材料与平滑表面Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED光电转换效率绝对值的比较。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作详细说明。
本发明提供一种简单高效的对单晶、多晶透光荧光晶体材料进行表面图案化的方法，来减小光线在荧光晶体材料中的全反射，提高LED芯片以及荧光晶体材料的光提取效率。从而增强LED发光效率(lm/W)。本发明提出的图案化单晶或多晶荧光晶体材料可代替传统荧光粉，在LED芯片激发下，获得较高的光电转换效率(lm/W)。光学均匀性好，亮度高。简化了封装技术，器件受热影响小，稳定性提高，寿命长，其结构简单性能优异。尤其适合大功率白光LED器件。
荧光晶体材料可以为Lu3Al5O12:Ce、Tb3Al5O12:Ce、Y3Al5O12:Ce、(LuY)3Al5O12:Ce、Y3(Al,Ga)5O12：Ce或Y3(Al,Si)5(O,N)12:Ce。
这种方法同样适合其他荧光材料。涉及的透光单晶、多晶YAG荧光晶体材料，包括但不限于发黄光的Ce:YAG(Ce3+掺杂Y3Al5O12)透明荧光材料。进一步还可以通过在YAG材料中掺杂或者共掺杂Tb、Pr、Eu、Nd、Tm、Dy稀土发光离子，实现发光波长调控。掺杂基材包括但是不限于Y2O3、LuAG、Lu2O3、Sc2O3、MgAl2O4、CaF2、ZnS。在LED芯片激发下，发出一种或者多波段的光。
下面以Y3Al5O12:Ce为例，采用蓝光LED芯片或紫外LED芯片激发透明YAG材料，由蓝光LED芯片或紫外LED芯片发光和受激发的YAG材料所发的黄光混合形成白光。由此，提出一种简便的增强白光LED用Ce:YAG荧光晶体材料光提取效率的方法：利用短脉冲激光直接在Ce:YAG荧光晶体材料表面制作微米结构阵列，通过制作的微米结构阵列来增强白光LED用Ce:YAG荧光晶体材料光提取效率。这里的短脉冲激光包括能量密度达到一定程度(例如，本发明采用的激光能量密度阈值为30～50J/cm2，不同波长可能能量密度阈值不同)，脉冲宽度在飞秒(1-100fs)至纳秒(1-100ns)级别，波长在355nm至800nm波长的激光(例如，355nm，或其他波长小于400nm的UV激光，或者其他长波长激光)。
实施例1
该方法的具体实施步骤如下：
步骤1：将待加工的厚度0.3mm的Ce:YAG荧光晶体材料(单晶)置于可以二维水平方向自由移动的载物台上，短脉冲激光经物镜聚焦在荧光晶体材料的一侧表面。
所述步骤1中，所述Ce:YAG荧光晶体材料为双面抛光，Ce:YAG荧光晶体材料的吸收峰在450nm，发射峰在550nm；所述Ce:YAG荧光晶体材料的Ce掺杂浓度为0.03at％；所述短脉冲激光的脉冲宽度为40ns、波长为355nm，重复频率为1kHz，载物台移动速度为10mm/s。短脉冲激光功率为0.15W、激光光斑聚焦在材料表面(光斑直径20μm)。
步骤2：由于激光特殊的加工特性，在Ce:YAG荧光晶体材料上以激光汇聚焦点为中心产生一个光烧蚀区，产生脉冲峰值能量特别高，使焦点处温度迅速上升。在非常短的时间内达到YAG材料沸点。将焦点处材料气化形成蒸汽。同时气化材料被喷嘴高速高压喷出的气体带走，形成表面孔洞结构。通过计算机软件控制载物台带动材料移动，在Ce:YAG荧光晶体材料一侧表面制作出微米结构阵列，参见图1。
通过调控激光的输出功率以及激光焦平面到Ce:YAG荧光晶体材料上表面的距离，可得到不同直径、不同深度的微米结构阵列，参见图2，由图2可以看出，随着激光功率逐渐增大，单个微米结构的直径从6μm增大到17μm，深度从1.5μm增大到5μm；随着光斑焦平面与材料间距逐渐增大，单个微米结构的直径会从18μm增大到26μm，而深度则会从5μm减小到1.5μm；配合调整激光的重复频率和载物台的移动速度，可以改变微米结构分布的周期和间距；调整激光的扫描轨迹，可以获得不同图案分布的微米结构阵列。
步骤3：把以上经过加工的Ce:YAG荧光晶体材料放入80摄氏度的浓硫酸(质量分数：98％)与双氧水(质量分数：30％)的混合酸(体积比为3:1)溶液中浸泡半小时，浓硫酸与双氧水清洗前后Ce:YAG荧光晶体材料表面形貌改变不大，孔洞深度略有增大。主要目的是清除表面的激光烧蚀残渣。(这里浓硫酸与双氧水清洗并不是必须的，短脉冲激光冲击表面已经可以形成微米结构，酸液只是将烧蚀残渣去除，使孔洞更平滑)然后用去离子水清洗掉残留的酸，最后用氮气吹干，得到图案化Ce:YAG荧光晶体材料。单独使用浓硫酸需要更长的清洗时间，加热清洗相比常温清洗可以加快清洗速度。
利用激光加工得到的图案化Ce:YAG荧光晶体材料制作白光LED的过程，包括以下步骤：
步骤1：将蓝光LED芯片2(发射光峰值波长在440～460nm之间)安装于LED封装基座1中央，并接好电极引线3；
步骤2：把以上带有微米结构阵列的图案化Ce:YAG荧光晶体材料粘附于LED封装基座1上方，有微米结构阵列的一面朝上(即微米结构背向LED芯片)，得到远程荧光转换结构白光LED，结构如图3所示。参见图4，可以看出本发明所提出的方法可以显著增强白光LED(图3)的光提取效率，提高荧光材料将蓝光光子转换为黄光光子的比例。参见图5和图6，可以看出微米结构阵列图案化Ce:YAG荧光晶体材料主要增强了正面(垂直于YAG表面)光线出射的强度，而在侧面(与法线成较大角度)方向增强比例较弱。图案化荧光晶体材料改变了光出射的方向性，使得LED正面/侧面出光比增强。参见图7，使用具有微米结构阵列的Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED的电转换效率绝对值较平滑表面Ce:YAG荧光晶体材料覆盖型白光LED提高了15％左右。
表1是积分球内测得的350mA电流驱动下，蓝光芯片激发平滑表面荧光晶体材料和图案化荧光晶体材料的光学特性对比。总的来说本发明制备的图案化荧光晶体材料的总光通量增加，蓝光-黄光转化效率大幅提高。
表1
实施例2
步骤1：将待加工的厚度为0.3mm的Ce:YAG荧光晶体材料(单晶)置于可以二维水平方向自由移动的载物台上，短脉冲激光经物镜聚焦在荧光晶体材料的一侧表面。
所述步骤1中，所述Ce:YAG荧光晶体材料为双面抛光，Ce:YAG荧光晶体材料的吸收峰在450nm，发射峰在550nm；所述Ce:YAG荧光晶体材料的Ce掺杂浓度为0.03at％；所述短脉冲激光的脉冲宽度为50fs、波长为800nm，重复频率为1kHz，载物台移动速度为10mm/s。短脉冲激光功率为0.05W、激光光斑聚焦在材料表面(光斑直径20μm)。
步骤2：由于激光特殊的加工特性，在Ce:YAG荧光晶体材料上以激光汇聚焦点为中心产生一个光烧蚀区，产生脉冲峰值能量特别高，使焦点处温度迅速上升。在非常短的时间内达到YAG材料沸点。将焦点处材料气化形成蒸汽。同时气化材料被喷嘴高速高压喷出的气体带走，形成表面孔洞结构。得到的阵列单个微米结构的直径为5μm，深度为2μm，孔洞表面比较粗糙，不平滑。
尽管提出了上述实施例，但是，本发明激光微加工制作的微米结构可以是周期性排列方式，包括但不限于微米凹坑、微米槽、微米透镜，微米孔洞；微米结构也可以按非周期性排列方式排列。
荧光晶体材料单侧表面加工微米结构时，其在LED封装结构中可以朝向LED芯片或背向LED芯片，效果上的区别在于：当有微米结构的一面朝向LED芯片时，既可以减弱从芯片出射的激发光被荧光晶体材料反射回去的比例，又可以增强荧光晶体材料的光提取效率；当有微米结构的一面背向LED芯片时，只能增强荧光晶体材料的光提取效率。同时，在荧光晶体材料两侧表面均制作微米结构会更好，朝向LED芯片一面的微米结构可以有效减弱激发光被荧光晶体材料反射回去的比例，使双面的微米结构可以极大增强荧光晶体材料的光提取效率。
Claims (10)
1.一种有序的图案化远程荧光晶体材料，其特征在于：包括远程荧光晶体材料本体以及通过激光烧蚀形成于所述远程荧光晶体材料本体表面的微米结构阵列。
2.根据权利要求1所述一种有序的图案化远程荧光晶体材料，其特征在于：所述微米结构阵列为周期性排列的孔洞，孔洞的直径为5μm～30μm，孔洞的深度为1μm～5μm，相邻孔洞的间距为5μm～50μm。
3.根据权利要求1所述一种有序的图案化远程荧光晶体材料，其特征在于：所述远程荧光晶体材料本体选自Lu3Al5O12:Ce、Tb3Al5O12:Ce、Y3Al5O12:Ce、(LuY)3Al5O12:Ce、Y3(Al,Ga)5O12：Ce或Y3(Al,Si)5(O,N)12:Ce荧光晶体材料。
4.一种制备如权利要求1所述有序的图案化远程荧光晶体材料的方法，其特征在于：包括以下步骤：
1)将待加工的远程荧光晶体材料置于可以二维水平方向自由移动的载物台上，然后将短脉冲激光聚焦在所述待加工的远程荧光晶体材料的表面或表面上方；
2)控制所述载物台带动所述待加工的远程荧光晶体材料移动，使短脉冲激光逐点扫描该远程荧光晶体材料的表面，得到表面加工形成微米结构阵列的远程荧光晶体材料。
5.根据权利要求4所述一种制备有序的图案化远程荧光晶体材料的方法，其特征在于：所述短脉冲激光的脉冲宽度为20fs～100ns，波长为355nm～800nm，重复频率为10Hz～170kHz，功率为0.001W～0.5W，激光能量密度阈值为30J/cm2～50J/cm2，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s。
6.根据权利要求4所述一种制备有序的图案化远程荧光晶体材料的方法，其特征在于：所述制备方法还包括以下步骤：经过步骤2)后，将表面加工形成微米结构阵列的远程荧光晶体材料放入浓硫酸与双氧水的混合酸溶液中或者放入浓硫酸中浸泡，以去除激光烧蚀残渣，浓硫酸与双氧水的体积比为3:1～7:1。
7.根据权利要求4所述一种制备有序的图案化远程荧光晶体材料的方法，其特征在于：所述待加工的远程荧光晶体材料选自厚度为0.1mm～5mm的Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料；所述短脉冲激光的脉冲宽度为1ns～100ns，波长为300nm～400nm，重复频率为1kHz～30kHz，功率为0.01W～0.3W，激光光斑聚焦直径为20μm，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s；或者，所述短脉冲激光的脉冲宽度为20fs～200fs，波长为355nm～800nm，重复频率为10Hz～100kHz，功率为0.01W～0.5W，激光光斑聚焦直径为20μm，所述载物台的移动速度为1mm/s～100mm/s。
8.根据权利要求7所述一种制备有序的图案化远程荧光晶体材料的方法，其特征在于：所述Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料的吸收峰在420～460nm之间，发射峰在510～570nm之间；所述Y3Al5O12:Ce荧光晶体材料中Ce3+的掺杂浓度为0.01～1at％。
9.一种如权利要求1所述有序的图案化远程荧光晶体材料在增强LED发光器件光提取效率中的用途。
10.根据权利要求9所述一种有序的图案化远程荧光晶体材料在增强LED发光器件光提取效率中的用途，其特征在于：所述LED发光器件采用蓝光LED芯片或紫外LED芯片，发射光峰值波长在440nm～460nm或300nm～380nm之间。
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